Title:
物質検査装置、物質検査システム及び物質検査方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2015145546
Kind Code:
A1
Abstract:
物質を検査するための装置において、省スペース化、低コスト化を実現するために、微粒子検査装置（１００）は、検査対象となる物質を捕集する複数の捕集口（１０１）と、それぞれの捕集口（１０１）に対で接続され、この捕集口（１０１）で捕集された微粒子（１０を濃縮する遠心分離装置（１０２）と、それぞれの遠心分離装置（１０２）に接続しており、遠心分離装置（１０２）の各々から濃縮された微粒子（１０）を取得し、該微粒子（１０）の分析を行う共通の分析装置（１０５）を備えることを特徴とする。
Inventors:
Masakazu Sugaya
Hideo Kashima
Koichi Terada
Yasuaki Takada
Hisashi Nagano
Hideo Kashima
Koichi Terada
Yasuaki Takada
Hisashi Nagano
Application Number:
JP2016509646A
Publication Date:
April 13, 2017
Filing Date:
March 24, 2014
Export Citation:
Assignee:
株式会社日立製作所
International Classes:
G01N1/02; G01N1/00; G01N1/28
Domestic Patent References:
| JPS54156591U | 1979-10-31 | |||
| JPH02198333A | 1990-08-06 |
Foreign References:
| WO2012063796A1 | 2012-05-18 | |||
| WO2013175947A1 | 2013-11-28 | |||
| US5760314A | 1998-06-02 |
Attorney, Agent or Firm:
Isono International Patent and Trademark Office