Title:
曲面フイルムおよびその製造方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2021523412
Kind Code:
A
Abstract:
約０．５から約１．０のＲ／＃により与えられる峻度を有する曲面を画成する光学的に透明なレンズを含む光学素子が開示されている。その曲面上にフイルムが配置されている。そのフイルムは屈折率層を含む。その屈折率層よりも大きい屈折率を有する複合層が、曲面上に配置されている。その複合層は、ＨｆＯ２およびＡｌ２Ｏ３を含む。その複合層は、モル分率ＸのＨｆＯ２を有し、ここで、Ｘは約０．０５から約０．９５であり、その複合層中のＡｌ２Ｏ３のモル分率は、１−Ｘである。
Inventors:
Hoang, Min-Hoang
Kim, Chang-kyu
Kim
Park, Suho
One, Jue
Kim, Chang-kyu
Kim
Park, Suho
One, Jue
Application Number:
JP2020563526A
Publication Date:
September 02, 2021
Filing Date:
May 10, 2019
Export Citation:
Assignee:
CORNING INCORPORATED
International Classes:
G02B1/115; C23C16/40
Domestic Patent References:
| JP2009258711A | 2009-11-05 | |||
| JP5906507B1 | 2016-04-20 | |||
| JPH07244204A | 1995-09-19 | |||
| JPH10319209A | 1998-12-04 | |||
| JP2009156954A | 2009-07-16 | |||
| JP2005173029A | 2005-06-30 | |||
| JP2005195625A | 2005-07-21 | |||
| JP2012119046A | 2012-06-21 | |||
| JP2011084760A | 2011-04-28 |
Foreign References:
| WO2001023914A1 | 2001-04-05 | |||
| US20150097165A1 | 2015-04-09 |
Other References:
M. BONVALOT ET AL: ""Combined spectroscopic ellipsometry and attenuated total reflection analyses of Al2O3/HfO2 nanolami", THIN SOLID FILMS, vol. 518, no. 18, JPN6023008653, 1 July 2010 (2010-07-01), pages 5057 - 5060, XP055610466, ISSN: 0005008462, DOI: 10.1016/j.tsf.2010.02.034
KONSTANTY MARSZALEK ET AL: ""Optical properties of the Al2O3/SiO2 and Al2O3/HfO2/SiO2 antireflective coatings"", MATERIALS SCIENCE-POLAND, vol. 32, no. 1, JPN6023008652, 1 January 2014 (2014-01-01), pages 80 - 87, ISSN: 0005008463
KONSTANTY MARSZALEK ET AL: ""Optical properties of the Al2O3/SiO2 and Al2O3/HfO2/SiO2 antireflective coatings"", MATERIALS SCIENCE-POLAND, vol. 32, no. 1, JPN6023008652, 1 January 2014 (2014-01-01), pages 80 - 87, ISSN: 0005008463
Attorney, Agent or Firm:
Yanagita Seiji
Hiroyuki Sakano
Hideaki Takahashi
Hiroyuki Sakano
Hideaki Takahashi