Title:
検査装置及びそのプローブモジュール
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2024045003
Kind Code:
A
Abstract:
【課題】検査装置及びそのプローブモジュールの提供。【解決手段】本発明は、検査装置及びそのプローブモジュールを開示するものであり、プローブモジュールを介して電池テストスタンドと試験対象電池との間に電気的接続経路を提供し、プローブモジュールは、基台、第１極性片体、第２極性片体、第１上接続組、第２上接続組、第１下接続具、及び第２下接続具を含む。第１極性片体を介して第１上接続組は電池テストスタンドに対応して結合され、第１下接続具が試験対象電池に対応して結合される。第２極性片体を介して、第２上接続組は電池テストスタンドに対応して結合され、第２下接続具が試験対象電池に対応して結合される。よって、プローブモジュールを交換する際に、電池テストスタンドにすでに固定されているケーブルを扱う必要がない。また各極性は、それぞれ電池テストスタンドと試験対象電池に対応した専用結合要素を有するため、信頼性が向上する。【選択図】図１
Inventors:
Hayashi Kawasawa
wenzhenzhou
Tan Se Qing
Zhang Wenji
Chen Yingzheng
wenzhenzhou
Tan Se Qing
Zhang Wenji
Chen Yingzheng
Application Number:
JP2023109680A
Publication Date:
April 02, 2024
Filing Date:
July 04, 2023
Export Citation:
Assignee:
Chroma Ate Inc.
International Classes:
H01M10/42; H01R31/06
Attorney, Agent or Firm:
Katsumi Iseki
Shuhei Kaneko
Shuhei Kaneko