Title:
検査方法、検査装置および生産システム
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2024020718
Kind Code:
A
Abstract:
【課題】リフロー処理後における基板への部品の半田付け具合を高精度に検査することができる検査方法、検査装置および生産システムを提供する。【解決手段】この発明は、リフロー処理前に取得された部品画像から部品におけるリード先端部の実測位置に関連する位置情報が取得されるとともに、当該位置情報に基づいて検査領域が設定される。つまり、位置情報に応じて検査領域が移動され、部分画像には、常にリード先端部の像およびリード先端部の周辺像が含まれる。その結果、部分画像から基板への部品の半田付け具合を高精度に検査することが可能となっている。【選択図】図５
Inventors:
Takuro Tsukada
Application Number:
JP2022123109A
Publication Date:
February 15, 2024
Filing Date:
August 02, 2022
Export Citation:
Assignee:
YAMAHA HATSUDOKI KABUSHIKI KAISHA
International Classes:
H05K3/34; H05K13/04; H05K13/08
Attorney, Agent or Firm:
Shoichi Swing
Kazumasa Ohnishi
Kazumasa Ohnishi