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Title:
性能測定方法、および性能測定装置、ならびに性能測定システム
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2023547215
Kind Code:
A
Abstract:
本出願の実施形態は、性能測定方法、および性能測定装置、ならびに性能測定システムを提供する。方法では、ビット転送入口ルータBFIRは、第1のパケットを取得し、第1のパケットは、BFIRの識別子、ビット列、および性能測定のために使用される第1のパラメータを含み、ビット列は、1つまたは複数のビット転送出口ルータBFERを識別するために使用されて、第1のパケットは、マルチキャストデータを伝送するために使用されず、およびBFIRは、第1のパケットに含まれるビット列に基づいて、第1のパケットを1つまたは複数のBFERへ送信する。

Inventors:
Yari Wang
Zhou Natural
Application Number:
JP2023526157A
Publication Date:
November 09, 2023
Filing Date:
September 06, 2021
Export Citation:
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Assignee:
HUAWEI TECHNOLOGIES CO.,LTD.
International Classes:
H04L43/0876
Attorney, Agent or Firm:
Katsugo Akazawa
Ikudai Kubota