Title:
光干渉計を介した光信号の伝送を利用する温度測定システム及び方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2023528463
Kind Code:
A
Abstract:
温度測定技術は、光信号発生器を使用して、ある波長の入力光信号を生成することと、入力光信号を第１のビームと第２のビームに分割することと、第１のビームを干渉計の第１のアームを介して光学的に伝送することと、第２のビームを干渉計の第２のアームを介して伝送することであって、第２のアームが、第１のビームに対する第２のビームにおける位相シフトを生じさせる、ことと、伝送された第１のビーム及び伝送されて位相シフトした第２のビームの少なくとも一部を結合して出力光信号を生成することと、出力光信号の光信号強度を測定することと、測定光信号強度を温度と相関させて測定温度を生成することと、を含む。あるいは、入力光信号は、２つ以上の干渉計を介して伝送されてもよい。【選択図】図１Ａ
Inventors:
Thadayon, Mohammad Amin
Williamson, Kevin Earl.
Williamson, Kevin Earl.
Application Number:
JP2022574427A
Publication Date:
July 04, 2023
Filing Date:
June 03, 2021
Export Citation:
Assignee:
Fluke Corporation
International Classes:
G01K5/52
Attorney, Agent or Firm:
Hiroshi Arafune
Yoshio Arafune
Yoshio Arafune
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