Login| Sign Up| Help| Contact|

Patent Searching and Data


Title:
CRYSTAL GROWING METHOD
Document Type and Number:
WIPO Patent Application WO/2019/052210
Kind Code:
A1
Abstract:
A crystal growing method, sequentially comprising a knot seeding stage and a continuous seeding stage. For a transition stage between the two stages, a continuous seeding process is used. A knot seeding process and a continuous seeding process are integrated to design a composite seeding process to meet actual production requirements; the quality of seeding and the production capacity of a single machine can be improved, the seeding period can be shortened, and the production costs can be reduced.

Inventors:
LIU QIANKUN (CN)
QI FAN (CN)
WU FENGBO (CN)
YU JIANYUN (CN)
HSIEH PIN-HUI (CN)
Application Number:
PCT/CN2018/087459
Publication Date:
March 21, 2019
Filing Date:
May 18, 2018
Export Citation:
Click for automatic bibliography generation   Help
Assignee:
FUJIAN JINGAN OPTOELECTRONICS CO LTD (CN)
International Classes:
C30B15/22
Foreign References:
CN107653489A2018-02-02
CN104674345A2015-06-03
CN104109904A2014-10-22
CN105506738A2016-04-20
JPH0782087A1995-03-28
RU2248418C12005-03-20
Download PDF:
Claims:
权利要求书

一种晶体的生长方法, 在长晶炉中生长晶体, 其特征在于: 依次包括 第一生长阶段与第二生长阶段, 所述第一生长阶段采用晶结引晶工艺 , 所述第二生长阶段采用连续引晶工艺。

根据权利要求 1所述的一种晶体的生长方法, 其特征在于: 所述第一 生长阶段的晶体直径范围在 15~25mm。

根据权利要求 1所述的一种晶体的生长方法, 其特征在于: 所述第一 生长阶段至少由第一步晶结引晶和第二步晶结引晶组成。

根据权利要求 3所述的一种晶体的生长方法, 其特征在于: 所述第一 步晶结引晶的晶体直径范围为 15~20mm, 所述第二步晶结引晶的晶 体直径范围为 20~25mm。

根据权利要求 3所述的一种晶体的生长方法, 其特征在于: 所述第一 步晶结引晶的晶体放大速率为 0.3~0.5mm/min, 所述第一步晶结引晶 的晶体重量增加速度为 0.035~0.045g/min。

根据权利要求 3所述的一种晶体的生长方法, 所述第一步晶结引晶的 提拉晶体周期为 4.5~5.5min。

根据权利要求 3所述的一种晶体的生长方法, 其特征在于: 所述第二 步晶结引晶的晶体放大速率为 0.2~0.3mm/min, 所述第二步晶结引晶 的晶体重量增加速度为 0.045~0.055g/min。

根据权利要求 3所述的一种晶体的生长方法, 其特征在于: 所述第二 步晶结引晶的提拉晶体周期为 7.5~8.5min。

根据权利要求 1所述的一种晶体的生长方法, 其特征在于: 第一生长 阶段与第二生长阶段之间具有过渡阶段, 所述过渡阶段采用连续引晶 工艺, 采用放大速率为 0.15 ~0.25mm/min。

根据权利要求 9所述的一种晶体的生长方法, 其特征在于: 所述过渡 阶段加热功率需提高 150~250w。

根据权利要求 9所述的一种晶体的生长方法, 其特征在于: 所述过渡 阶段的生长温度大于第一生长阶段的生长温度。 [权利要求 12] 根据权利要求 10所述的一种晶体的生长方法, 其特征在于: 所述过渡 阶段的结束吋间为所述加热功率提高后 20~40min。

[权利要求 13] 根据权利要求 1所述的一种晶体的生长方法, 其特征在于: 所述第二 生长阶段的晶体直径范围为 25~50mm。

[权利要求 14] 根据权利要求 1所述的一种晶体的生长方法, 其特征在于: 所述第二 生长阶段的晶体放大速率为 0.081~0.085mm/min, 所述第二生长阶段 的晶体重量增加速度为 0.045~0.055g/min。

Description:
发明名称:一种晶体的生长方法

技术领域

[0001] 本发明涉及一种晶体的生长方法, 特别是包括对晶体引晶的工艺方法。

背景技术

[0002] 传统的晶结引晶工艺, 根据晶结大小以固定的吋间间隔分别进行晶结 的提拉, 提拉过程中流体扰动较为剧烈从而影响生长界 面的热量传输造成温度起伏, 而 温度起伏必然对蓝宝石结晶产生不利影响使气 泡不利于排出降低引晶质量。

[0003] 传统的连续引晶工艺, 相对于晶结引晶工艺, 引晶过程中流体扰动较小, 有助 于更好地排出气泡, 但是由于生长速率较慢, 所需吋间较传统晶结引晶工艺更 长, 不免浪费机台稼动率与人力。

技术问题

问题的解决方案

技术解决方案

[0004] 为解决以上技术问题, 一方面, 本发明提供一种晶体的生长方法, 在长晶炉中 生长晶体, 其特征在于: 依次包括第一生长阶段与第二生长阶段, 所述第一生 长阶段采用晶结引晶工艺, 所述第二生长阶段采用连续引晶工艺。

[0005] 根据本发明, 优选地, 所述第一生长阶段的晶体直径范围在 15~25mm, 既保证 了晶体生长速度, 又不会因为采用晶结引晶工艺过长导致缺陷过 多, 例如由于 晶结引晶工艺温度比较低, 导致的杂质含量增高。

[0006] 根据本发明, 优选地, 所述第一生长阶段至少由第一步晶结引晶和第 二步晶结 引晶组成。

[0007] 根据本发明, 优选地, 所述第一步晶结引晶的晶体直径范围为 15~20mm, 所述 第二步晶结引晶的晶体直径范围为 20~25mm。

[0008] 根据本发明, 优选地, 所述第一步晶结引晶的晶体放大速率为 0.3~0.5mm/min

, 所述第一步晶结引晶的晶体重量增加速度为 0.035~0.045g/min。 [0009] 根据本发明, 优选地, 所述第一步晶结引晶的提拉晶体周期为 4.5~5.5min。

[0010] 根据本发明, 优选地, 所述第二步晶结引晶的晶体放大速率为 0.2~0.3mm/min

, 所述第二步晶结引晶的晶体重量增加速度为 0.045~0.055g/min。

[0011] 根据本发明, 优选地, 所述第二步晶结引晶的提拉晶体周期为 7.5~8.5min。

[0012] 根据本发明, 优选地, 第一生长阶段与第二生长阶段之间具有过渡阶 段, 过渡 阶段采用连续引晶工艺, 采用放大速率为 0.15 ~0.25mm/min, 结晶温度更高, 晶 结放大速率更小, 更能充分地排除杂质。

[0013] 根据本发明, 优选地 , 所述过渡阶段加热功率需提高 150~250w, 才能实现放 大速率降低。

[0014] 根据本发明, 优选地 , 所述过渡阶段的结束吋间为所述加热功率提高 后 20~40 min。

[0015] 根据本发明, 优选地 , 所述第二生长阶段的晶体直径范围为 25~50mm。

[0016] 根据本发明, 优选地 , 所述第二生长阶段的晶体放大速率为 0.081~0.085mm/mi n, 所述第二生长阶段的晶体重量增加速度为 0.045~0.055g/min, 因为经过渡阶段 后, 晶体缺陷降低; 此吋, 晶体生长驱动力 (即过冷度) , 主要源于晶体本身 散热, 为保证自动生长程序运行后保持稳定结晶, 防止出现晶体不结晶甚至晶 体回融现象, 需增大晶结散热面积, 使晶结散热量保持稳定, 通过设定放大速 率参数来达到目的。

发明的有益效果

有益效果

[0017] 本发明的有益效果是, 解决了背景技术中的问题, 借用本发明的复合引晶显著 缩短引晶吋间和提高引晶质量。 本发明的其他有益效果将在实施例中进一步描 述。

对附图的简要说明

附图说明

[0018] 附图用来提供对本发明的进一步理解, 并且构成说明书的一部分, 与本发明的 实施例一起用于解释本发明, 并不构成对本发明的限制。 此外, 附图数据是描 述概要, 不是按比例绘制。 [0019] 图 1复合引晶方式示意图

[0020] 图 2复合引晶步骤图

[0021] 图 3复合引晶工艺表 (表中数值为实施例优选参数) 。

本发明的实施方式

[0022] 下面结合示意图对本发明的进行详细的描述, 借此对本发明如何应用技术手段 来解决技术问题, 并达成技术效果的实现过程能充分理解并据以 实施。

实施例

[0023] 参看图 1, 本发明提供了一种晶体的生长方法, 在长晶炉中生长晶体, 对原有 的引晶工艺进行改良和整合, 将原来固有的单一引晶方式 (晶结引晶或连续引晶) 整合到同一个新型的引晶工艺上, 具体来说, 参看图 2, 依次包括第一生长阶段 与第二生长阶段, 第一生长阶段采用晶结引晶工艺, 第二生长阶段采用连续引 晶工艺。

[0024] 参看图 3中的图表, 第一生长阶段的晶体直径范围在 15~25mm, 第一生长阶段 至少由第一步晶结引晶和第二步晶结引晶组成 , 第一步晶结引晶的晶体直径范 围为 15~20mm, 第一步晶结引晶的晶体放大速率为 0.3~0.5mm/min, 优选为 0.4m m/min, 第一步晶结引晶的晶体重量增加速度为 0.035~0.045g/min, 优选为 0.04g/ min, 第一步晶结引晶的提拉晶体周期为 4.5~5.5min。 第二步晶结引晶的晶体直 径范围为 20~25mm, 第二步晶结引晶的晶体放大速率为 0.2~0.3mm/min, 优选为 0.25mm/min, 第二步晶结引晶的晶体重量增加速度为 0.045~0.055g/min, 优选为 0.05g/min, 所述第二步晶结引晶的提拉晶体周期为 7.5~8.5min, 两者晶体放大速 率接近, 第二步晶结引晶略小于第一步晶结引晶, 即第二步晶结引晶温度较高 , 进一步消除晶体缺陷, 又不至于影响放大效率。

[0025] 第一生长阶段与第二生长阶段之间具有过渡阶 段, 过渡阶段采用连续引晶工艺 , 过渡阶段加热功率需提高 150~250w, 才能实现放大速率降低, 采用放大速率 为 0.15 ~0.25mm/min, 优选为 0.02mm/min, 结晶温度更高, 晶结放大速率更小, 更能充分地排除杂质。 过渡阶段在加热功率提高后的 20~40min结束, 进入第二 生长阶段。 [0026] 第二生长阶段的晶体直径范围为 25~50mm, 第二生长阶段的晶体放大速率为 0. 081~0.085mm/min, 优选为 0.083mm/min, 所述第二生长阶段的晶体重量增加速 度为 0.045~0.055g/min, 优选为 0.05g/min, 因为经过渡阶段后, 晶体缺陷降低; 此吋, 晶体生长驱动力 (即过冷度) , 主要源于晶体本身散热, 为保证自动生 长程序运行后保持稳定结晶, 防止出现晶体不结晶甚至晶体回融现象, 需增大 晶结散热面积, 使晶结散热量保持稳定, 通过设定放大速率参数来达到目的。

[0027] 尽管已经描述本发明的示例性实施例, 但是理解的是, 本发明不应限于这些示 例性实施例而是本领域的技术人员能够在如下 文的权利要求所要求的本发明的 精神和范围内进行各种变化和修改。