Diese Patentanmeldung beansprucht die Priorität der deut ^¬ schen Patentanmeldung DE 10 2013 219 087.5, deren Offenbarungsgehalt hiermit durch Bezugnahme aufgenommen wird.

Optoelektronische Bauteile umfassen in der Regel mehrere lichtemittierende Dioden, die in einem Gehäuse angeordnet sind. Bei einem Einbau des optoelektronischen Bauteils in ein optisches System, zum Beispiel einem Nebelscheinwerfer oder einem Abblendlicht, ist es wichtig, dass die lichtemittieren ^¬ den Dioden in einer exakt bekannten Sollposition innerhalb des Gehäuses angeordnet sind. Eine Abweichung von dieser Sollposition kann im eingebauten Zustand in der Regel dazu führen, dass optische Eigenschaften des optischen Systems vermindert sind. So kann beispielsweise aufgrund der Abwei ^¬ chung ein vom optischen System geforderter Strahlengang nicht mehr eingehalten werden.

Ein solches optisches System ist in der Regel Ausschuss oder muss aufwändig nachjustiert werden.

Es ist daher wünschenswert, bereits vor Einbau eines opto ^¬ elektronischen Bauteils in ein optisches System eine mögliche Abweichung zu erkennen und diese Information für weitere Pro- zessschritte zur Verfügung zu stellen.

Die der Erfindung zugrunde liegende Aufgabe kann daher darin gesehen werden, ein Verfahren zum Bearbeiten eines optoelekt- ronischen Bauteils bereitzustellen, das die bekannten Nachteile überwindet und das es ermöglicht, bereits vor einem Einbau des optoelektronischen Bauteils in ein optisches Sys ^¬ tem eine mögliche Abweichung einer Ist-Lage einer Lichtquelle des optoelektronischen Bauteils von einer Soll-Lage adäquat zu berücksichtigen, sodass aufwändige Nachjustierungsschritte vermieden werden können.

Die der Erfindung zugrunde liegende Aufgabe kann ferner darin gesehen werden, eine entsprechende Vorrichtung zum Bearbeiten eines optoelektronischen Bauteils bereitzustellen.

Die der Erfindung zugrunde liegende Aufgabe kann ferner darin gesehen werden, ein entsprechendes optoelektronisches Bauteil anzugeben.

Die der Erfindung zugrunde liegende Aufgabe kann auch darin gesehen werden, ein entsprechendes Verfahren zum Bestücken eines Trägers mit dem optoelektronischen Bauteil bereitzu- stellen.

Des Weiteren kann die der Erfindung zugrunde liegende Aufgabe darin gesehen werden, eine entsprechende Vorrichtung zum Bestücken eines Trägers mit dem optoelektronischen Bauteil an- zugeben.

Die der Erfindung zugrunde liegende Aufgabe kann darüber hinaus auch darin gesehen werden, ein entsprechendes Computerprogramm anzugeben.

Diese Aufgaben werden mittels des jeweiligen Gegenstands der unabhängigen Ansprüche gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen sind Gegenstand von jeweils abhängigen Unteransprüchen. Gemäß einem Aspekt wird ein Verfahren zum Bearbeiten eines optoelektronischen Bauteils bereitgestellt, das eine Licht ^¬ quelle, die zumindest eine von einer oder mehreren lichtemit ^¬ tierenden Dioden gebildete Leuchtfläche aufweist, und eine die Lichtquelle aufnehmende Aufnahmeeinrichtung umfasst, um ^¬ fassend die folgenden Schritte:

- Bestimmen einer Abweichung einer Ist-Lage der Lichtquelle an der Aufnahmeeinrichtung von einer Soll-Lage der Lichtquelle an der Aufnahmeeinrichtung,

- Bilden zumindest einer Markierung an der Aufnahmeeinrichtung, die die Abweichung anzeigt.

Gemäß einem Aspekt wird eine Vorrichtung zum Bearbeiten eines optoelektronischen Bauteils bereitgestellt, das eine Licht ^¬ quelle, die zumindest eine von einer oder mehreren lichtemit ^¬ tierenden Dioden gebildete Leuchtfläche aufweist, und eine die Lichtquelle aufnehmende Aufnahmeeinrichtung umfasst, um ^¬ fassend :

- eine Abweichungsbestimmungseinrichtung zum Bestimmen einer Abweichung einer Ist-Lage der Lichtquelle an der Aufnahmeeinrichtung von einer Soll-Lage der Lichtquelle an der Aufnahmeeinrichtung,

- eine Markierungseinrichtung zum Bilden einer Markierung an der Aufnahmeeinrichtung, und

- eine Steuerung zum Steuern der Markierungseinrichtung in Abhängigkeit der bestimmten Abweichung, um zumindest eine Markierung an der Aufnahmeeinrichtung zu bilden, die die Abweichung anzeigt.

Gemäß einem Aspekt wird ein optoelektronisches Bauteil be ^¬ reitgestellt, umfassend:

- eine Lichtquelle,

- die zumindest eine von einer oder mehreren lichtemit ^¬ tierenden Dioden gebildete Leuchtfläche aufweist, und

- eine die Lichtquelle aufnehmende Aufnahmeeinrichtung, wobei - die Aufnahmeeinrichtung eine Markierung zum Anzeigen einer Abweichung einer Ist-Lage der Lichtquelle an der Aufnahmeeinrichtung von einer Soll-Lage der Lichtquelle an der Aufnahmeeinrichtung aufweist.

Gemäß einem Aspekt wird ein Verfahren zum Bestücken eines Trägers mit dem erfindungsgemäßen optoelektronischen Bauteil bereitgestellt, umfassend die folgenden Schritte:

- Bereitstellen eines Trägers mit einer ersten Aufnah- meposition zur Aufnahme des optoelektronischen Bauteils,

- Erfassen der Markierung, um die Abweichung zu bestimmen, und

- Anordnen des Bauteils auf dem Träger in einer zweiten Aufnahmeposition, die abhängig von der bestimmten Abweichung relativ zu der ersten Aufnahmeposition gewählt wird.

Gemäß einem Aspekt wird eine Vorrichtung zum Bestücken eines Trägers mit dem erfindungsgemäßen optoelektronischen Bauteil bereitgestellt, umfassend:

- eine Bereitstellungseinrichtung zum Bereitstellen eines Trägers mit einer ersten Aufnahmeposition zur Aufnahme des optoelektronischen Bauteils,

- eine Erfassungseinrichtung zum Erfassen der Markierung, um die Abweichung zu bestimmen,

- eine Anordnungseinrichtung zum Anordnen des Bauteils auf dem Träger und

- eine Steuerung zum Steuern der Anordnungseinrichtung, wobei die Steuerung ausgebildet ist, die Anordnungs ^¬ einrichtung in Abhängigkeit der bestimmten Abweichung derart zu steuern, dass die Anordnungseinrichtung das optoelektronische Bauteil in einer zweiten Aufnahme- Position anordnet, die abhängig von der bestimmten Abweichung relativ zu der ersten Aufnahmeposition gewählt wird. Nach noch einem Aspekt wird ein Computerprogramm mit Programmcode zur Durchführung des Verfahrens zum Bearbeiten eines optoelektronischen Bauteils und/oder zum Bestücken eines Trägers mit einem optoelektronischen Bauteil bereitgestellt, wenn das Computerprogramm in einem Computer, vorzugsweise in einer Steuerung, ausgeführt wird.

Merkmale im Zusammenhang mit einer Vorrichtung gelten analog für ein Verfahren und umgekehrt. Die Erfindung umfasst also insbesondere den Gedanken, zu ^¬ nächst festzustellen, inwieweit die Ist-Lage der Lichtquelle von der Soll-Lage abweicht. Diese Information wird dann an der Aufnahmeeinrichtung mittels der Markierung angebracht, sodass zu einem späteren Zeitpunkt diese Information jeder- zeit ausgelesen werden kann. Somit ist also in vorteilhafter Weise bereits vor einem Einbau des optoelektronischen Bauteils in ein beliebiges optisches System bekannt, ob und wenn ja, wie weit, es eine Abweichung zwischen der Ist- und der Soll-Lage der Lichtquelle an der Aufnahmeeinrichtung gibt. Entsprechend können dann adäquate Schritte durchgeführt wer ^¬ den, die eine mögliche Abweichung berücksichtigen und kompensieren. Es entfällt somit in vorteilhafter Weise eine aufwändige Nachjustierung eines in einem optischen System eingebauten optoelektronischen Bauteils. Selbst optoelektronische Bauteile, die eine erhebliche Abweichung aufweisen, können weiter verwendet werden und bilden somit keinen Ausschuss.

So wird also insbesondere bei der Anordnung des Bauteils auf dem Träger berücksichtigt, dass eine Abweichung vorhanden ist. Dies insbesondere dadurch, dass das Bauteil nicht in der ursprünglich vorgesehenen ersten Aufnahmeposition angeordnet wird, sondern in einer zweiten Aufnahmeposition . Diese zweite Aufnahmeposition für das optoelektronische Bauteil berück ^¬ sichtigt diese Abweichung, insofern die zweite Aufnahmeposi ^¬ tion relativ zu der ersten Aufnahmeposition in Abhängigkeit von der bestimmten Abweichung gewählt wird.

Das heißt also insbesondere, dass eine Position der Markie ^¬ rung von der Erfassungseinrichtung gelesen wird, wobei ein Absetzen des optoelektronischen Bauteils auf dem Träger ent- sprechend korrigiert wird.

Wenn also beispielsweise die Lichtquelle einem bestimmten Ab ^¬ stand links von der eigentlichen Soll-Lage angeordnet ist, so wird die zweite Aufnahmeposition so gewählt, dass diese die- sen Abstand rechts von der ersten Aufnahmeposition aufweisend gebildet ist. Dadurch ist also eine einfache und effiziente Kompensation einer möglichen Abweichung ermöglicht.

Nach einer Ausführungsform kann vorgesehen sein, dass der Träger als ein elektronischer Schaltungsträger gebildet ist.

In einer Ausführungsform kann vorgesehen sein, dass mehrere Leuchtflächen vorgesehen sind. Die Leuchtflächen können beispielsweise gleich oder insbesondere unterschiedlich gebildet sein.

In einer anderen Ausführungsform kann vorgesehen sein, dass mehrere lichtemittierende Dioden zur Bildung einer Leuchtflä ^¬ che vorgesehen sind. Die Dioden können beispielsweise gleich oder vorzugsweise unterschiedlich gebildet sein.

Nach einer Ausführungsform kann vorgesehen sein, dass ein optisches Zentrum der Leuchtfläche bestimmt wird und die Mar ^¬ kierung die Abweichung der Ist-Lage des optischen Zentrums zu der Soll-Lage des optischen Zentrums anzeigt.

Das heißt also insbesondere, dass eine Lage des optischen Zentrums oder der zu leuchtenden Fläche bestimmt wird. Dies insbesondere mittels eines Messgeräts. Beispielsweise kann ein solches Messgerät eine Kamera, insbesondere eine Leucht ^¬ dichtekamera, umfassen. Das optische Zentrum kann auch als ein optischer Schwerpunkt in Analogie zu einem geometrischen Schwerpunkt bezeichnet werden. Das heißt also insbesondere, dass das optische Zentrum eine Zusammenfassung des Lichtflus ^¬ ses in einem Punkt ist. In der Optik wird der Begriff „optisches Zentrum" für das Zentrum der Linse verwendet. Bei einer Leuchtfläche wird dieser Begriff verwendet, um den Mittel- punkt oder Schwerpunkt zu benennen. Beispielsweise entspricht das optische Zentrum der Position oder dem Ort der Leuchtfläche, der die höchste Leuchtdichte oder Intensität aufweist. Insbesondere kann das optische Zentrum mit dem geometrischen Zentrum, also dem Schwerpunkt, übereinstimmen. Das geometri- sehe Zentrum ist in der Regel der Mittelpunkt der leuchtenden Fläche .

Dadurch, dass das optische Zentrum dafür verwendet wird, um eine Abweichung zu bestimmen, ist in vorteilhafter Weise eine besonders einfache Bestimmung der Abweichung ermöglicht. Dies deshalb, da ein solches optisches Zentrum mittels optischer Bilderkennungsverfahren besonders einfach bestimmt werden kann . Gemäß einer weiteren Ausführungsform kann vorgesehen sein, dass ein Referenzkoordinatensystem an der Aufnahmeeinrichtung bestimmt wird und die Markierung die Abweichung der Ist-Lage zu der Soll-Lage bezogen auf das Referenzkoordinatensystem anzeigt. Die Verwendung eines Referenzkoordinatensystems, welches sich an der Aufnahmeeinrichtung befindet, ermöglicht jederzeit eine Aussage darüber, wo sich die Lichtquelle rela ^¬ tiv zu der Soll-Lage befindet, ohne dass hierfür zusätzliche Justierungsmittel verwendet werden müssen. Dies wäre zum Bei ^¬ spiel nicht möglich, wenn als Referenzkoordinatensystem ein Koordinatensystem gewählt würde, welches sich außerhalb, also extern, von dem optoelektronischen Bauteil befindet. Nach noch einer Ausführungsform kann vorgesehen sein, dass zumindest ein physisches Merkmal der Aufnahmeeinrichtung als ein Referenzmerkmal erfasst wird, das zum Bestimmen des Refe ^¬ renzkoordinatensystems verwendet wird.

Dass ein bereits vorhandenes physisches Merkmal der Aufnahme ^¬ einrichtung als Referenzmerkmal zum Bestimmen des Referenzko ^¬ ordinatensystems verwendet wird, bewirkt in vorteilhafter Weise, dass auf zusätzliche Mittel zum Bestimmen des Refe- renzkoordinatensystems verzichtet werden kann, die sonst noch zusätzlich an der Aufnahmeeinrichtung angebracht werden müss- ten. Die Idee ist also, dass physisch prägnante Merkmale der Aufnahmeeinrichtung zumindest Teile des Referenzkoordinatensystems bilden. Insbesondere kann ein solches Referenzkoordi- natensystem an dem physischen Merkmal ausgerichtet werden.

Beispielsweise kann eine Achse des Referenzkoordinatensystems an dem physischen Merkmal ausgerichtet werden.

Gemäß einer weiteren Ausführungsform können mehrere physische Merkmale der Aufnahmeeinrichtung als Referenzmerkmale erfasst werden, die zum Bestimmen des Referenzkoordinatensystems ver ^¬ wendet werden. Die entsprechenden Ausführungen im Zusammenhang mit einem physischen Merkmal gelten analog auch für mehrere physische Merkmale und umgekehrt. Die mehreren physi- sehen Merkmale können insbesondere gleich oder beispielsweise unterschiedlich gebildet sein.

Ausführungen im Zusammenhang mit dem Ausrichten einer Koordinatenachse gelten analog für ein Ausrichten von mehreren Ko- ordinatenachsen des Referenzkoordinatensystems und umgekehrt.

Nach einer anderen Ausführungsform kann vorgesehen sein, dass die Aufnahmeeinrichtung als physisches Merkmal ein Gehäuse aufweist, in welchem die Lichtquelle angeordnet ist, wobei zum Bestimmen einer Koordinatenachse des Referenzkoordinatensystems eine Gehäusekante detektiert wird, sodass die Koordi ^¬ natenachse zumindest teilweise entlang der Gehäusekante ver ^¬ läuft . Das heißt also insbesondere, dass eine Gehäusekante als eine Koordinatenachse verwendet wird oder dass zumindest eine Ko ^¬ ordinatenachse des Referenzkoordinatensystems an dieser Ge- häusekante ausgerichtet wird. Insbesondere können mehrere Ge ^¬ häusekanten verwendet werden, um an diesen Koordinatenachsen auszurichten oder das Koordinatensystem so auszurichten, dass dessen Koordinatenachsen zumindest teilweise entlang der Gehäusekanten verlaufen. Die Verwendung von Gehäusekanten ist im Zusammenhang mit einem Kamerasystem eine besonders zuverlässige Möglichkeit, prägnante physische Merkmale zu detek- tieren. Dies deshalb, da Gehäusekanten in der Regel in Kamerabildern einen besonders guten Kontrast aufweisen. Dies ermöglicht es, dass Bilderkennungsverfahren diese Gehäusekanten in den Kamerabildern besonders zuverlässig detektieren können .

Nach einer weiteren Ausführungsform kann vorgesehen sein, dass das physische Merkmal zumindest ein Merkmal ausgewählt aus der folgenden Gruppe von physischen Merkmalen ist: Innenkante eines Gehäuses, Außenkante eines Gehäuses, Niederhal ^¬ teraussparung, Gehäuseaussparung und Aussparung in der Aufnahmeeinrichtung . Ein Niederhalter hält insbesondere einen Träger, insbesondere einen Metallträger, auf die Lichtquelle angeordnet ist, bei ^¬ spielsweise aufgeklebt und/oder aufgelötet, in einer korrek ^¬ ten oder richtigen oder gewünschten Position nieder. Dies insbesondere während eines Abspritzvorgangs bei einem Spritz- gussverfahren, um ein Gehäuse der Aufnahmeeinrichtung zu bilden oder zu formen. Hierfür wird insbesondere der Träger, insbesondere der Metallträger, mit der Lichtquelle in eine Hochdruckspritzform eingelegt und beispielsweise mit Kunst ^¬ stoff umspritzt, um das Gehäuse zu formen. Damit beim Ab- spritzvorgang der Träger nicht verbogen wird, wird in vorbestimmten Abständen durch Niederhalter in der korrekten Position niedergehalten. An den Stellen, an denen der Niederhalter den Träger niederhält, ist kein Kunststoff im Gehäuse, so dass sich an diesen Stellen eine Aussparung bildet. Diese Stellen können somit insbesondere als eine Niederhalteraus ^¬ sparung bezeichnet werden. Die Idee dahinter ist insbesondere, dass ein Element des Bau ^¬ teils, das in einem Kamerabild einen guten Kontrast aufweist und daher mittels Bilderkennungsverfahren gut in einem solchen Kamerabild erkannt oder detektiert werden kann, zur Be ^¬ stimmung, Ausrichtung oder Definition des Referenzkoordina- tensystems respektive seiner Achsen verwendet wird.

Gemäß einer weiteren Ausführungsform kann vorgesehen sein, dass die Aufnahmeeinrichtung als physisches Merkmal eine Aus ^¬ sparung aufweist, wobei zum Bestimmen einer Koordinatenachse des Referenzkoordinatensystems ein Rand der Aussparung detek ^¬ tiert wird, sodass die Koordinatenachse zumindest teilweise entlang des Rands verläuft. Die Koordinatenachse kann bei ^¬ spielsweise nach einer anderen Ausführungsform als Tangente in einem Punkt oder in einem Ort des Rands gebildet sein.

Eine solche Aussparung kann beispielsweise eine Niederhalter ^¬ aussparung sein. Beispielsweise kann vorgesehen sein, dass die Koordinatenachse als Tangente an einem Punkt des Rands der Aussparung verläuft.

Die Verwendung einer Aussparung zum Bestimmen einer Koordinatenachse des Referenzkoordinatensystems ermöglicht eine ein ^¬ fache und effiziente und zuverlässige Bestimmung des Refe ^¬ renzkoordinatensystems. Dies deshalb, da solche Aussparungen besonders einfach zu detektieren sind. Dies insbesondere mit ^¬ tels einer Kamera und eines entsprechenden Bilderkennungsverfahrens .

Nach einer Ausführungsform kann vorgesehen sein, dass die Aussparung ein Loch aufweist, wobei die Koordinatenachse zu ^¬ mindest teilweise entlang eines Randes oder einer Kontur des Lochs verläuft. Beispielsweise kann die Koordinatenachse als eine Tangente in einem Ort des Rands des Lochs gebildet sein. Nach einer anderen Ausführungsform kann vorgesehen sein, dass die Aufnahmeeinrichtung ein Gehäuse aufweist, in welchem die Lichtquelle angeordnet ist, wobei die Markierung auf einer von der Lichtquelle abgewandten Gehäuseaußenseite aufgebracht wird .

Dadurch kann in vorteilhafter Weise bewirkt werden, dass die Markierung nicht mehr sichtbar ist, wenn das optoelektroni- sehe Bauteil in einem optischen System eingebaut ist. Ande ^¬ renfalls könnte ein optisches Erscheinungsbild beeinträchtigt werden .

Nach einer anderen Ausführungsform kann vorgesehen sein, dass die Markierung auf einer in Strahlrichtung gebildete Gehäuseoberseite aufgebracht wird. Dies kann in vorteilhafter Weise bewirken, dass auch nach einem Einbau des optoelektronischen Bauteils in ein optisches System die Information hinsichtlich der Abweichung vorliegt und somit ausgelesen werden kann.

Eine eventuelle Beeinträchtigung eines optischen Erschei ^¬ nungsbildes kann hier in der Regel in Kauf genommen werden.

Gemäß einer anderen Ausführungsform kann vorgesehen sein, dass die Markierung an der Aufnahmeeinrichtung eingekerbt und/oder eingebohrt und/oder eingeprägt und/oder eingelasert wird .

Das heißt also insbesondere, dass die Markierungseinrichtung einen Bohrer, ein Mittel zum Aufbringen oder Einbringen einer Kerbung und/oder ein Prägemittel, beispielsweise einen Stempel, zum Aufbringen oder Anbringen einer Prägung aufweisen kann. Insbesondere kann die Markierungseinrichtung einen Laser umfassen. Insofern kann beispielsweise vorgesehen sein, dass die Markierung an der Aufnahmeeinrichtung eingelasert oder mittels des Lasers angeordnet oder angebracht wird. Bei ^¬ spielsweise kann die Markierung ein Loch sein, das beispiels ^¬ weise gebohrt und/oder gelasert wird. In einer anderen Ausführungsform kann vorgesehen sein, dass die Markierung als ein Barcode gebildet wird. Der Barcode kann beispielsweise als ein zweidimensionaler

(2D) -Barcode gebildet sein. Insbesondere kann der Barcode als ein QR-Barcode gebildet sein.

Da sich ein Barcode in der Regel einfach und zuverlässig aus- lesen lässt, ist dadurch ein effektives Mittel zum Anzeigen der Abweichung bereitgestellt. Dies auch insbesondere dann, wenn der Barcode teilweise beschädigt ist. Somit ist ein ent ^¬ sprechendes Verfahren zum Bestücken besonders zuverlässig und robust gegenüber Beschädigungen der Markierung. Das heißt al- so insbesondere, dass selbst bei einer beschädigten Markie ^¬ rung die zweite Aufnahmeposition korrekt bestimmt oder ge ^¬ wählt werden kann.

Nach einer Ausführungsform kann vorgesehen sein, dass die Markierung ein geometrisches Zeichen ist. Zum Beispiel kann ein Rechteck, eine Raute, ein Kreis, ein Ring oder ein Quadrat als geometrisches Zeichen gewählt werden.

Nach einer Ausführungsform kann vorgesehen sein, dass die Markierung eine Folge von Buchstaben und/oder Zahlen ist. Eine solche Folge von Buchstaben und/oder Zahlen kann in vorteilhafter Weise als Codierung dahingehend verwendet werden, wo sich genau die Lichtquelle bezogen auf die Soll-Lage be ^¬ findet .

Nach einer Ausführungsform können mehrere Markierungen vorgesehen sein. Diese können insbesondere gleich oder beispiels ^¬ weise unterschiedlich gebildet sein. In einer anderen Ausführungsform kann vorgesehen sein, dass vor dem Bestimmen der Abweichung die Ist-Lage mittels einer Ist-Markierung an der Aufnahmeeinrichtung gekennzeichnet wird . Das heißt also insbesondere, dass ein optoelektronisches Bau ^¬ teil als solches bereitgestellt wird oder offenbart ist, das eine Ist-Markierung aufweist, die die Ist-Lage der Lichtquel- le anzeigt.

Es wird also eine Ist-Markierung an der Aufnahmeeinrichtung vorgesehen, die die Ist-Lage der Lichtquelle anzeigt. Die Ist-Lage kann beispielsweise der Ist-Lage des optischen Zent- rums entsprechen.

Durch das Vorsehen einer solchen Ist-Markierung ist es in vorteilhafter Weise besonders einfach, die Abweichung zu bestimmen .

Nach einer anderen Ausführungsform kann vorgesehen sein, dass die Ist-Markierung als eine Leuchtmarkierung gebildet wird, die ausgebildet ist, bei Anregung mittels elektromagnetischer Strahlung mit einer ersten Wellenlänge elektromagnetische Strahlung zu emittieren, wobei die erste Wellenlänge ver ^¬ schieden von einer zweiten Wellenlänge einer elektromagnetischen Strahlung ist, die in einem Betrieb mittels der licht ^¬ emittierenden Diode emittiert werden kann. Das heißt also insbesondere, dass die Lichtquelle elektromag ^¬ netische Strahlung emittiert umfassend eine Wellenlänge, die verschieden von einer Wellenlänge einer elektromagnetischen Strahlung ist, die mittels der angeregten Leuchtmarkierung emittiert wird. Dadurch kann also in vorteilhafter Weise die Lichtquelle des optoelektronischen Bauteils die Leuchtmarkie ^¬ rung nicht mehr zum Emittieren elektromagnetischer Strahlung anregen. Das heißt also insbesondere, dass in einem Betrieb des optoelektronischen Bauteils die Leuchtmarkierung nicht oder nur schlecht sichtbar ist, da diese keine elektromagne- tische Strahlung mehr emittiert.

Beispielsweise kann die Leuchtmarkierung ein phosphoreszie ^¬ rendes Material umfassen. Das phosphoreszierende Material kann beispielsweise allgemein als Phosphor bezeichnet werden. Die Leuchtmarkierung kann beispielsweise eine geometrische Form aufweisen analog zu den oben genannten geometrischen Zeichen. Beispielsweise kann die Leuchtmarkierung eine Folge von Buchstaben und/oder Zahlen aufweisen.

So kann beispielsweise eine blaue (460 nm bis 480 nm) LED ein Konvertermittel, insbesondere ein Phosphor, zum Beispiel ein gelbes (565 nm bis 575 nm) Phosphor, insbesondere ein Phos- phorplättchen, aufweisen, um weißes Licht zu erzeugen. Auf das Konvertermittel, zum Beispiel das gelbe Phosphorplättchen wird zur Kennzeichnung des optischen Zentrums eine Leuchtmarkierung mittels einer bestimmten Menge Phosphor, zum Beispiel ein Tropfen, angeordnet oder platziert oder gebildet, der sich nur durch zum Beispiels grünes (520 nm bis 565 nm )

Licht oder UV-Licht (100 nm bis 380 nm) zum Leuchten anregen lässt. Wenn die blaue LED im Betrieb leuchtet, so regt ihre emittierte Strahlung nicht die Leuchtmarkierung umfassend den grünen oder UV-Phosphor an.

Ein Phosphor im Sinne der vorliegenden Erfindung ist insbesondere eine Mischung umfassend verschiedene Stoffe, die durch Licht zum Leuchten angeregt werden können. Durch das direkte Kennzeichnen der Ist-Lage, insbesondere der Ist-Lage des optischen Zentrums, kann eine Erkennung durch optische Messeinrichtungen, zum Beispiel eine Kamera, insbe ^¬ sondere eine Videokamera, die Abweichung bestimmt werden. Eindeutige geometrische Kanten an der Aufnahmeeinrichtung braucht es nicht. Das heißt also insbesondere, dass die Ist- Markierung mittels einer Kamera oder eines Kamerasystems er ^¬ kannt werden kann. Dies insbesondere bei einem Überprüfen ei ^¬ ner Ansaugposition des optoelektronischen Bauteils im Rahmen des Anordnens des Bauteils auf einem Träger.

Die oben beschriebenen Eigenschaften, Merkmale und Vorteile dieser Erfindung sowie die Art und Weise, wie diese erreicht werden, werden klarer und deutlicher verständlich im Zusam- menhang mit der folgenden Beschreibung der Ausführungsbeispiele, die im Zusammenhang mit den Zeichnungen näher erläutert werden, wobei

Figuren 1 bis 10 jeweils ein optoelektronisches Bauteil,

Figur 11 ein Ablaufdiagramm eines Verfahrens zum

Bearbeiten eines optoelektronischen Bauteils,

Figur 12 ein Blockdiagramm einer Vorrichtung zum

Bearbeiten eines optoelektronischen Bauteils,

Figur 13 ein Ablaufdiagramm eines Verfahrens zum

Bestücken eines Trägers mit einem opto ^¬ elektronischen Bauteil und

Figur 14 ein Blockdiagramm einer Vorrichtung zum

Bestücken eines Trägers zeigen .

Im Folgenden können für gleiche Merkmale gleiche Bezugszei ^¬ chen verwendet werden. Darüber hinaus kann vorgesehen sein, dass nicht sämtliche Bezugszeichen für sämtliche Elemente in sämtlichen Zeichnungen der Übersicht halber enthalten sind.

Figur 1 zeigt ein optoelektronisches Bauteil 101.

Das optoelektronische Bauteil 101 umfasst eine Lichtquelle 103. Die Lichtquelle 103 weist eine Leuchtfläche 105 auf. Diese Leuchtfläche 105 ist mittels einer lichtemittierenden Diode gebildet. Diese lichtemittierende Diode ist der Über ^¬ sicht halber nicht gezeigt.

In einer nicht gezeigten Ausführungsform kann vorgesehen sein, dass mehrere Leuchtflächen vorgesehen sind. In einer weiteren nicht gezeigten Ausführungsform kann vorgesehen sein, dass mehrere lichtemittierende Dioden zur Bildung einer Leuchtfläche vorgesehen sind. Ferner umfasst das optoelektronische Bauteil 101 eine Aufnah ^¬ meeinrichtung 107, die die Lichtquelle 103 aufnimmt. Die Auf ^¬ nahmeeinrichtung 107 weist ein Gehäuse 109 auf, in welchem die Lichtquelle 103 angeordnet ist. Das Gehäuse 109 weist von oben in einer Draufsicht gesehen einen transparenten Bereich 111 auf, sodass Licht, welches mittels der Lichtquelle 103 emittiert wird, durch das Gehäuse 109 nach außen strahlen kann. Der transparente Bereich 111 kann beispielsweise mit ^¬ tels Glas oder eines anderen transparenten Materials gebildet sein. Der transparente Bereich 111 kann beispielsweise durch eine reflektierende Vergussmasse gebildet sein, die in vor ^¬ teilhafter Weise eine Lichtabstrahlung erhöhen kann. Insbesondere kann der transparente Bereich 111 durch einen Klar- verguss gebildet sein. Der transparente Bereich 111 kann all ^¬ gemein insbesondere aus einem reflektierenden oder optisch klaren Material gebildet sein.

Der transparente Bereich 111 kann als separates Element nach Fertigstellung des Gehäuses 109 an diesem angeordnet werden. Da aber letztlich der transparente Bereich 111 nach Fertig- Stellung des optoelektronischen Bauteils 101 mit dem Gehäuse 109 eine Einheit bildet, kann der transparente Bereich 111 als zugehörig zum Gehäuse 109 definiert werden.

Mit dem Bezugszeichen 113 ist eine Soll-Lage der Lichtquelle 103 gekennzeichnet. Mit dem Bezugszeichen 115 ist eine Ist- Lage der Lichtquelle 103 gekennzeichnet.

Ein optisches Zentrum der Soll-Lage 113 ist mit dem Bezugs ^¬ zeichen 117 gekennzeichnet. Sich kreuzende Linien, deren Schnittpunkt das optische Zentrum 117 der Soll-Lage 113 ist, sind mit dem Bezugszeichen 119 gekennzeichnet. Ein optisches Zentrum der Ist-Lage 115 ist mit dem Bezugszei ^¬ chen 121 gekennzeichnet. Sich kreuzende Linien, deren

Schnittpunkt das optische Zentrum 121 der Ist-Lage 115 ist, sind mit dem Bezugszeichen 123 gekennzeichnet.

Um eine Abweichung der Ist-Lage 115 von der Soll-Lage 113 zu definieren oder anzuzeigen, ist ein Referenzkoordinatensystem 125 gebildet. Das Referenzkoordinatensystem 125 weist eine Abszisse 127 o- der x-Achse auf. Das Referenzkoordinatensystem 125 weist ferner eine Ordinate 129 oder y-Achse auf.

Eine Abweichung der Ist-Lage 115 relativ zu der Soll-Lage 113 in x-Richtung ist mit dem Bezugszeichen 131 gekennzeichnet. Eine entsprechende Abweichung in y-Richtung ist mit dem Be ^¬ zugszeichen 133 gekennzeichnet.

Hierbei verlaufen die beiden Achsen 127 und 129 des Referenz- koordinatensystems 125 entlang von Innenkanten 135, 137 des Gehäuses 109. Im gezeigten Ausführungsbeispiel der Figur 1 verlaufen die Innenkanten 135, 137 entlang eines Randes des transparenten Bereichs 111. So können beispielsweise die Ach ^¬ sen 127, 129 des Referenzkoordinatensystems 125 an Kanten ei- ner Glasabdeckung des transparenten Bereichs 111 verlaufen.

Solche Kanten weisen einen ausreichend hohen Kontrast in ei ^¬ nem Kamera- oder Videobild auf, sodass mittels geeigneter Bilderkennungsverfahren diese Kanten detektiert werden kön- nen. Somit ist es einfach und zuverlässig möglich, mittels einer Kamera, insbesondere einer Videokamera, Achsen für ein Referenzkoordinatensystem festzulegen.

Die Abweichung der Ist-Lage 115 zu der Soll-Lage 113 wird mittels einer Markierung 139 angezeigt, die an dem Gehäuse 109 angebracht ist. Hierbei wird die Markierung 139 bezogen auf ihren Mittelpunkt versetzt zu dem Ursprung des Referenz ^¬ koordinatensystems 125, also dem Schnittpunkt der x-Achse 127 und der y-Achse 129, versetzt angeordnet entsprechend der Ab ^¬ weichung 131 in x-Richtung und der Abweichung 133 in y- Richtung. Somit kann klar und unmittelbar erkannt werden, dass das optische Zentrum 121 der Ist-Lage 115 sich relativ zu dem optischen Zentrum 117 der Soll-Lage 113 rechts unterhalb befindet.

Figur 2 zeigt ein weiteres optoelektronisches Bauteil 101. Im in Figur 2 gezeigten Ausführungsbeispiel werden zur Definition der beiden Achsen 127, 129 des Referenzkoordinatensys ^¬ tems 125 Außenkanten 201, 203 des Gehäuses 109 verwendet. Im in Figur 2 gezeigten Ausführungsbeispiel weist das Gehäuse 109 eine Rechteckform auf. Somit können die Achsen 127, 129 des Referenzkoordinatensystems 125 entlang zweier senkrecht zueinander stehenden Kanten des Rechtecks des Gehäuses 109 verlaufen .

Der Ursprung des Referenzkoordinatensystems 125 liegt im in Figur 2 gezeigten Ausführungsbeispiel in einer Ecke des

Rechtecks des Gehäuses 109. Die Markierung 139 ist entspre ^¬ chend versetzt zu diesem Ursprung angeordnet.

Es sei an dieser Stelle angemerkt, dass beliebige Definitio- nen oder Regeln dahingehend aufgestellt werden können, wie konkret im Einzelnen die Position der Markierung 139 relativ zu dem Referenzkoordinatensystem 125 die entsprechende Abweichung der Ist-Lage 115 von der Soll-Lage 113 anzeigt. So kann beispielsweise ein Versatz der Markierung 139 oder ein Ab- stand zu der x-Achse 127 von 3 mm anzeigen, dass die Abwei ^¬ chung 131 in x-Richtung ein Faktor 2 größer oder kleiner sein kann. Hier sind also beliebige Transformationsregeln festlegbar, um aus der Position der Markierung 139 relativ zu dem Referenzkoordinatensystem 125 auf die Abweichung zu schlie- ßen.

Figur 3 zeigt ein weiteres optoelektronisches Bauteil 101. Das optoelektronische Bauteil 101 gemäß Figur 3 weist zwei Leuchtflächen 105 auf, die jeweils von ihrer Soll-Lage 113 abweichen . In dem Gehäuse 109 des optoelektronischen Bauteils 101 gemäß Figur 3 sind zwei Aussparungen 301 und 303 gebildet. Diese weisen jeweils einen Rand 305 auf. Die beiden Achsen 127, 129 des Referenzkoordinatensystems 125 werden so gewählt, dass diese zumindest teilweise entlang des Randes 305 verlaufen.

Die Markierung 139 des optoelektronischen Bauteils 101 gemäß Figur 3 ist als eine Zahlenfolge gebildet, die einen Offset des optischen Zentrums 121 der Ist-Lage 115 zu dem optischen Zentrum 117 der Soll-Lage 117 bezogen auf das Referenzkoordi- natensystem 125 angibt. Diese Zahlenfolge kann ein beliebig definierter Code sein, der den entsprechenden Offset codiert.

In dem in Figur 3 gezeigten Ausführungsbeispiel ist die Mar ^¬ kierung 139 an einer Gehäuseoberseite angebracht.

Im Gegensatz dazu ist in dem optoelektronischen Bauteil 101 gemäß Figur 4 die Markierung 139 auf einer der Lichtquelle 103 abgewandten Gehäuseunterseite angeordnet. Die Gehäuseun ^¬ terseite kann als eine Gehäuserückseite bezeichnet werden.

Die linke Ansicht gemäß Figur 4 zeigt die Gehäuserückseite, also das optoelektronische Bauteil 101 von unten. Die rechte Ansicht zeigt das optoelektronische Bauteil 101 in einer Draufsicht von oben.

Als ein weiterer Unterschied zu dem Ausführungsbeispiel gemäß Figur 3 sind in dem optoelektronischen Bauteil 101 gemäß Figur 4 Löcher 401, 403 in den Aussparungen 301, 303 vorgesehen. Der Mittelpunkt dieser Löcher 401, 403 kann als Ursprung für das Referenzkoordinatensystem 125 verwendet werden. Hierbei ist konkret in Figur 4 der Ursprung in das rechte Loch 403 gelegt worden. Die x-Achse 127 verläuft parallel zur Au ^¬ ßenkante 201 und verläuft insofern auch durch den Mittelpunkt des linken Lochs 401. Die y-Achse 129 ist dann senkrecht zu der x-Achse 127 vorgesehen und verläuft insofern parallel zu der Außenkante 203. Figur 5 zeigt ein weiteres optoelektronisches Bauteil 101.

Das optoelektronische Bauteil 101 gemäß Figur 5 ist im We ^¬ sentlichen analog zu dem optoelektronischen Bauteil 101 gemäß Figur 3 aufgebaut. Als ein Unterschied verlaufen die Achsen 127, 129 des Referenzkoordinatensystems 125 des optoelektro ^¬ nischen Bauteils 101 gemäß Figur 5 entlang von Innenkanten 135, 137 des Gehäuses 109. Die Markierung 139 ist als Zahlen ^¬ folge gebildet analog zu Figur 3. Figur 6 zeigt ein anderes optoelektronisches Bauteil 101.

Hierbei werden markante Kanten 601, 603 des Bauteils 101 ver ^¬ wendet, um den Verlauf der beiden Achsen 127, 129 des Refe ^¬ renzkoordinatensystems 125 festzulegen. Solche Kanten 601, 603 können insbesondere entlang einer Innenkontur des Bauteils 101 gebildet sein. Eine Innenkontur bezeichnet insbe ^¬ sondere eine Kontur von beliebigen sichtbaren Bauelementen des Bauteils 101. Figur 7 zeigt ein weiteres optoelektronisches Bauteil 101.

Hier wird die Markierung 139 um genau den gleichen Versatz oder genau die gleiche Abweichung relativ zu der x-Achse 127 in y-Richtung versetzt, die auch der Abweichung 133 in y- Richtung entspricht. Dieser Versatz ist mit dem Bezugszeichen 701 gekennzeichnet. Im gezeigten Ausführungsbeispiel gemäß Figur 7 verlaufen die Linien 119 und 121 in y-Richtung übereinander, da es hier keinen Versatz oder Abweichung in x- Richtung gibt.

Figur 8 zeigt ein weiteres optoelektronisches Bauteil 101 in einer Teilansicht. Das heißt also insbesondere, dass das optoelektronische Bauteil 101 nicht in seiner Gesamtheit ge ^¬ zeigt ist.

Die Markierung 139 ist mittels eines Quadrats 801 gebildet. Der Mittelpunkt des Quadrats 801 ist mit dem Bezugszeichen 803 gekennzeichnet.

Die Linie mit dem Bezugszeichen 805a entspricht dem Lot bei Ausrichtung des Quadrats 801 parallel zu den Außenkanten 201, 203.

Die Linie mit dem Bezugszeichen 805b entspricht einem Lot bei Rotation des Quadrats 801 um den Mittelpunkt 803 um einen vorgegebenen Winkel 807.

Somit kann auf einfache Art und Weise mittels der Markierung 139 angezeigt werden, ob und wie weit die Lichtquelle in der Ist-Lage 115 relativ zu der Lichtquelle 103 der Soll-Lage 113 verdreht ist.

Figur 9 zeigt ein weiteres optoelektronisches Bauteil 101.

Das optoelektronische Bauteil 101 weist eine Ist-Markierung 901 auf, die die Ist-Lage 115 der Lichtquelle 103 oder des optischen Zentrums 121 anzeigt oder markiert. Das heißt also insbesondere, dass das optische Zentrum 121 der Ist-Lage 115 vor dem Bestimmen der Abweichung mittels der Ist-Markierung 901 an der Aufnahmeeinrichtung 107, beispielsweise an dem Gehäuse 109, gekennzeichnet wird. Die Soll-Lage ist der Über- sieht halber nicht gezeigt.

Die Ist-Markierung 901 ist als eine Leuchtmarkierung 903 gebildet. Die Leuchtmarkierung 903 ist ausgebildet, bei Anre ^¬ gung mittels elektromagnetischer Strahlung mit einer ersten Wellenlänge elektromagnetische Strahlung zu emittieren. Hier ^¬ bei ist die erste Wellenlänge verschieden von einer zweiten Wellenlänge einer elektromagnetischen Strahlung, die in einem Betrieb mittels der lichtemittierenden Diode oder der licht- emittierenden Dioden emittiert werden kann. Die Leuchtmarkierung 903 ist als Ring gebildet, weist also eine Ringform auf. Der Mittelpunkt des Rings ist der Schnittpunkt der sich kreu ^¬ zenden Linien 123, der das optische Zentrum 121 der Ist-Lage 115 ist. Somit zeigt der Mittelpunkt des Rings das optische Zentrum 121 der Ist-Lage 115 an.

Somit wird also in vorteilhafter Weise im Betrieb des opto ^¬ elektronischen Bauteils 101 die Leuchtmarkierung 903 nicht zum Leuchten angeregt. Zum Bestimmen der Abweichung wird die Leuchtmarkierung 903 mit elektromagnetischer Strahlung mit einer ersten Wellenlänge bestrahlt oder beaufschlagt. Inso ^¬ fern wird dann die Leuchtmarkierung 903 elektromagnetische Strahlung emittieren. Somit kann also die Leuchtmarkierung 903 einfach und zuverlässig mittels einer Kamera, insbesonde ^¬ re einer Videokamera, erfasst oder detektiert werden. Darüber ist also eine Bestimmung des optischen Zentrums 121 der Ist- Lage 115 in vorteilhafter Weise ermöglicht. Basierend darauf kann dann die Abweichung bestimmt werden. Basierend darauf kann dann eine Markierung an einer Gehäuserückseite ange ^¬ bracht werden, die die Abweichung anzeigt.

Es kann insbesondere in einer Ausführungsform vorgesehen sein, dass das optoelektronische Bauteil 101 auf einem Trä- ger, zum Beispiel auf einer Leiterplatte, gelötet wird oder ist. Es kann in dieser Ausführungsform mit dem Träger beispielsweise vorgesehen sein, dass der Träger, beispielsweise die Leiterplatte, bezogen auf die Ist-Markierung 901, insbe ^¬ sondere auf die Leuchtmarkierung 903, an eine Sollposition angeordnet, insbesondere aufgeklebt, wird, also beispielswei ^¬ se wenn der Träger mit dem optoelektronischen Bauteil 101 in ein optisches System eingebracht oder angeordnet wird.

Die Leuchtmarkierung 903 ist im Ausführungsbeispiel gemäß Fi- gur 9 als ein Ring gebildet. In nicht gezeigten Ausführungs ^¬ beispielen kann die Leuchtmarkierung als ein Kreis, ein

Kreuz, ein Quadrat, ein Rechteck oder jede beliebige andere Geometrie gebildet sein. Die Leuchtmarkierung 903 weist ins ^¬ besondere ein phosphoreszierendes Material auf.

Figur 10 zeigt ein weiteres optoelektronisches Bauteil 101.

Die linke Zeichnung zeigt eine Rückansicht und die rechte Zeichnung zeigt eine Vorder- oder Draufsicht. Die Leuchtmarkierung 903 ist im Ausführungsbeispiel gemäß Figur 10 auf der Rückseite des Gehäuses 109 angeordnet.

Figur 11 zeigt ein Ablaufdiagramm eines Verfahrens zum Bearbeiten eines optoelektronischen Bauteils.

Das Bauteil weist eine Lichtquelle auf, die zumindest eine von einer oder mehreren lichtemittierenden Dioden gebildete Leuchtfläche umfasst, wobei das Bauteil eine die Lichtquelle aufnehmende Aufnahmeeinrichtung aufweist.

Gemäß einem Schritt 1101 wird eine Abweichung einer Ist-Lage der Lichtquelle in der Aufnahmeeinrichtung von einer Soll- Lage der Lichtquelle in der Aufnahmeeinrichtung bestimmt. Ge ^¬ mäß einem Schritt 1103 wird zumindest eine Markierung an der Aufnahmeeinrichtung gebildet, die die Abweichung anzeigt. Figur 12 zeigt eine Vorrichtung 1201 zum Bearbeiten eines optoelektronischen Bauteils.

Das optoelektronische Bauteil umfasst eine Lichtquelle, die zumindest eine von einer oder mehreren lichtemittierenden Di- oden gebildete Leuchtfläche aufweist, wobei das Bauteil eine die Lichtquelle aufnehmende Aufnahmeeinrichtung umfasst.

Die Vorrichtung 1201 weist eine Abweichungsbestimmungsein- richtung zum Bestimmen einer Abweichung einer Ist-Lage der Lichtquelle an der Aufnahmeeinrichtung von einer Soll-Lage der Lichtquelle an der Aufnahmeeinrichtung auf. Darüber hinaus umfasst die Vorrichtung 1201 eine Markierungseinrichtung 1205 zum Bilden einer Markierung einer Aufnahmeeinrichtung . Des Weiteren umfasst die Vorrichtung 1201 eine Steuerung 1207 zum Steuern der Markierungseinrichtung in Abhängigkeit der bestimmten Abweichung, um zumindest eine Markierung an der Aufnahmeeinrichtung zu bilden, die die Abweichung anzeigt.

Die Markierungseinrichtung kann beispielsweise einen Laser und/oder einen Bohrer und/oder einen Stempel umfassen. Mittels der vorgenannten Elemente kann dann entsprechend die Markierung an der Aufnahmeeinrichtung angebracht oder einge- bracht werden.

Figur 13 zeigt ein Ablaufdiagramm eines Verfahrens zum Bestü ^¬ cken eines Trägers, insbesondere eines elektronischen Schal ^¬ tungsträgers, mit einem erfindungsgemäßen Bauteil.

Gemäß einem Schritt 1301 wird ein Träger bereitgestellt. Der Träger weist eine erste Aufnahmeposition zur Aufnahme des optoelektronischen Bauteils auf. Das heißt also beispielswei ^¬ se, dass der Träger Markierungen aufweist, die diese erste Aufnahmeposition anzeigen.

Gemäß einem Schritt 1303 wird die Markierung des optoelektro ^¬ nischen Bauteils erfasst, um die Abweichung zu bestimmen. Gemäß einem Schritt 1305 wird eine zweite Aufnahmeposition auf dem Träger bestimmt, die abhängig von der bestimmten Abweichung relativ zu der ersten Aufnahmeposition gewählt wird.

Es folgt in einem Schritt 1307 ein Anordnen des Bauteils auf dem Träger in der zweiten Aufnahmeposition .

Figur 14 zeigt eine Vorrichtung 1401 zum Bestücken eines Trägers, insbesondere eines elektronischen Schaltungsträgers, mit einem erfindungsgemäßen optoelektronischen Bauteil.

Die Vorrichtung 1401 umfasst eine Bereitstellungseinrichtung 1403 zum Bereitstellen eines Trägers mit einer ersten Aufnahmeposition zur Aufnahme des optoelektronischen Bauteils. Die Vorrichtung 1401 umfasst ferner eine Erfassungseinrichtung 1405 zum Erfassen der Markierung, um die Abweichung zu bestimmen .

Des Weiteren umfasst die Vorrichtung 1401 eine Anordnungseinrichtung 1407 zum Anordnen des Bauteils auf dem Träger.

Ferner ist eine Steuerung 1409 zum Steuern der Anordnungsein- richtung 1407 vorgesehen, wobei die Steuerung 1409 ausgebildet ist, die Anordnungseinrichtung 1407 derart zu steuern, dass die Anordnungseinrichtung 1407 das optoelektronische Bauteil in einer zweiten Aufnahmeposition anordnet, die abhängig von der bestimmten Abweichung relativ zu der ersten Aufnahmeposition gewählt wird.

In einer nicht gezeigten Ausführungsform kann vorgesehen sein, dass das Anordnen ein Aufsetzen des Bauteils auf dem Träger umfasst, wobei beispielsweise während eines Lötens des aufgesetzten Bauteils dieses in der aufgesetzten Position o- der Lage gehalten oder fixiert wird, beispielsweise mittels Kleben .

Zusammenfassend umfasst die Erfindung insbesondere den Gedan- ken, eine Abweichung einer Ist-Lage eines optischen Zentrums einer leuchtenden Fläche eines optoelektronischen Bauteils zu einer Soll-Lage zu bestimmen und diese Abweichung als Markie ^¬ rung auf einer Gehäuseaußenseite, beispielsweise einer Gehäu ^¬ seober- und/oder Gehäuseunterseite und/oder einer seitlichen Gehäuseseite, aufzubringen.

Obwohl die Erfindung im Detail durch das bevorzugte Ausführungsbeispiel näher illustriert und beschrieben wurde, so ist die Erfindung nicht durch die offenbarten Beispiele einge- schränkt und andere Variationen können vom Fachmann hieraus abgeleitet werden, ohne den Schutzumfang der Erfindung zu verlassen . Bezugszeichenliste

101 optoelektronisches Bauteil

103 Lichtquelle

105 Leuchtfläche

107 Aufnahmeeinrichtung

109 Gehäuse

111 transparenter Bereich

113 Soll-Lage

115 Ist-Lage

117 optische Zentrum der Soll-Lage

119 sich kreuzende Linien, deren Schnittpunkt das opti ^¬ sche Zentrum der Soll-Lage ist

121 optische Zentrum der Ist-Lage

123 sich kreuzende Linien, deren Schnittpunkt das opti ^¬ sche Zentrum der Ist-Lage ist

125 Referenzkoordinatensystem

127 Abszisse oder x-Achse des Referenzkoordinatensys ^¬ tems

129 Ordinate oder y-Achse des Referenzkoordinatensystem

131 Abweichung in x-Richtung

133 Abweichung in y-Richtung

135, 137 Innenkanten

139 Markierung

201, 203 Außenkanten

301, 303 Aussparungen

305 Rand der Aussparungen

401, 403 Löcher in den Aussparungen

601, 603 Kanten

701 Abweichung der Markierung relativ zur x-Achse

801 Quadrat

803 Mittelpunkt des Quadrats

805a Lot bei Ausrichtung des Quadrats parallel zu den

Außenkanten 201, 203

805b Lot

807 Winkel

901 Ist-Markierung

903 Leuchtmarkierung 1101 Bestimmen einer Abweichung

1103 Bilden zumindest einer Markierung

1201 Vorrichtung zum Bearbeiten eines optoelektronischen

Bauteils

1203 Abweichungsbestimmungseinrichtung

1205 Markierungseinrichtung

1207 Steuerung der Vorrichtung 1201

1301 Bereitstellen eines Trägers

1303 Erfassen der Markierung

1305 Wählen einer zweiten Aufnahmeposition

1307 Anordnen des Bauteils auf dem Träger in der zweiten

Aufnahmeposition

1401 Vorrichtung zum Bestücken eines Trägers

1403 Bereitstellungseinrichtung

1405 Erfassungseinrichtung

1407 Anordnungseinrichtung

1409 Steuerung der Vorrichtung 1401