Die Qualität von Garnen ist abgesehen von modebedingten Spezialfällen umso höher und der dafür auf dem Markt er¬ zielbare Preis umso besser, je gleichmässiger ein Garn be¬ züglich Schwankungen seines Querschnittes bzw. Durchmessers ist. Mittels bekannter eigens dafür entwickelter Bewertungs¬ verfahren mit Hilfe von Garntafeln oder elektronischer Ge¬ räte wird der subjektive Qualitätseindruck von Garnen ob¬ jektiviert und messbar gemacht. Aufgrund solcher mess¬ barer Qualitätsmerkmale werden in bekannter Art _^ Garnreini- gungsanlagen gezielt zur Qualitätsverbesserung eingesetzt.

Solche Anlagen schneiden Garnfehler, welche bestimmte Grenz¬ werte eines oder mehrerer Qualitätsmerkmale überschreiten, während eines Umspulprozesses aus dem Garn heraus und er¬ setzen damit einen Garnfehler durch einen Knoten im Garn.

In der Praxis hat es sich eingebürgert, neben den stati¬ stischen Variationen des Garnquerschnittes bzw. Durch¬ messers über die ganze Länge eines Garnes die sporadisch auftretenden deutlichen Unregelmässigkeiten gesondert zu betrachten. Man unterscheidet dabei zwischen Verdickungen von ca. einem Millimeter bis einigen Zentimetern (Nissen, Schlonzen) , längeren Dickstellen von einigen wenigen Zentimetern bis etwa 50 Zentimeter und mehr (Doppelfäden, Schleicher) und Dünnstellen von einigen Zentimetern bis mehreren Metern Länge.

Der subjektive Eindruck, den oben beschriebene sporadische Garnfehler sowohl in der Dimension Querschnitt bzw. Durch-

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messer als auch in der Dimension Länge hervorrufen, ist nun im wesentlichen derart, dass Abweichungen bezüglich Soll- ^' durch esser einerseits und bezüglich einer Länge von ca. 2 bis 5 cm anderseits um diese Bezugswerte herum in guter Näherung im logarithmischen Mass eingehen. Mit anderen Wor¬ ten, die subjektive Störempfindlichkeit eines Fehlers nimmt annähernd proportional zum Logarithmus der körperlichen Aus¬ dehnung des Fehlers in einer der beiden Dimensionen zu oder ab. In einem Bewertungssystem nach Punkten würde dies bedeu- ten, dass beispielsweise jede Verdoppelung eines Fehlermerk¬ mals in der einen oder der anderen Dimension einer Zunahme der Störempfindung um lediglich je einen Punkt entspricht. Diese Feststellung lässt sich gut anhand der in der Praxis eingeführten Fehlerquantisierungsmasstäbe beobachten. Sie ist insofern keineswegs überraschend, als dass physiologi¬ sche Wahrnehmungsempfindungen wie beispielsweise lautstärke- und Helligkeitsempfindungen ebenfalls annähernd in logarith¬ mischem Zusammenhang mit der entsprechenden physikalischen Einflussgrösse in Zusammenhang stehen.

Der annähernd logarithmische Zusammenhang zwischen subjek¬ tiver Empfindung und objektiver Erscheinungsform von spora¬ disch auftretenden Garnfehler ist bekannt. Das kcmmt u.a. in der üblichen Praxis der Bewertung und Darstellung von Garnfehlern in Fehlerklassen zum Ausdruck. Trotzdem sind gerätetechn sch auf dem Gebiet der Garnanalyse und Garn¬ reinigung bisher keine Verfahren bekannt geworden, welche

^r <f OM

den genannten logarithmischen Zusammenhang und das ver- haltensmässig seltene Auftreten von Garnfehlern gezielt zur technischen Vereinfachung oder zur Erhöhung der Lei- stungsfähigkeit solcher Geräte ausnützen. Solange schal- tungstechnisch mit Mitteln der Analogtechnik gearbeitet wird, besteht keine Ursache dazu, da die gebräuchliche Signalanalyse mit linearen Tiefpass-Filterelementen und nichtlinearen Schwellwertdiskri inatoren aufwandmässig kaum zu unterbieten sind.

Anders liegt der Fall bei digitaler Signalverarbeitung, im Zusammenhang mit der Verwendung von Mikroprozessoren, Prozessorelementen und adressierbaren Speichern. Die be¬ kannt gewordenen digitalen Verfahren zur Garnanalyse und Garnreinigung basieren jedoch auf einer Signalverarbeitung, die am ehesten als Nachbildung der Analogtechnik mit di¬ gitalen Mitteln zu umschreiben ist. Diese Verfahren führen jedoch nicht notwendigerweise zu einer sehr zweckmässigen

Lösung, da die Digitaltechnik grundsätzlich andersgearte¬ ten Möglichkeiten und Beschränkungen unterworfen ist, als <üe bis anhin übliche Analogtechnik.

Der Gegenstand des nachstehnd beschriebenen Verfahrens be¬ steht darin, dass der an sich bekannte annähernd logarithmi¬ sche Zusammenhang zwischen subjektiver Fehlerempfindung und der entsprechenden Erscheinungs orm solcher Garnfehler als sporadisch auftretende längliche Dick- bzw. Dünnstellen gezielt zur Erhöhung des Nutzeffektes bzw. Ver-

minderung von Aufwand und Kosten von elektronischen Ge¬ räten zur Messung und Bewertung sowie zur Ausreinigung von Garnfehlern, welche bestimmte Grenzwerte in einer oder mehreren Dimensionen überschreiten, benützt wird. Obwohl auch für Geräte anwendbar, welche mit Mitteln und Methoden der Analgotechnik arbeiten, ist das ^• erfindungs- gemässe Verfahren vor allem für Geräte der Digitaltechnik von Vorteil, gleichgültig ob es sich dabei um festverdrah¬ tete oder programmierte Logik, um mittels übergeordneter Steuerung auf mehrere gleichartige oder verschiedenartige Funktionen im Sinne der allgemein gebräuchlichen Computer¬ technik in Intervallen umgeschaltete Abläufe oder aber um eine an einem Ort zentralisierte oder über ein.mittels Netzwerk verbundene dezentralisierte sehaltungstechnische Verwirklichung des erfindungsgemässen Verfahrens handelt.

Die vorliegende Erfindung trägt diesen Ueberlegungen Rech¬ nung und betrifft ein Verfahren zur elektronischen Reini¬ gung von Garnen und zur Bewertung von Garnfehlern mit Mitteln der Digitaltechnik unter Verwendung von Sensoren, welche dem Garnquerschnitt bzw. dem Durchmesser der Game proportionale Signale abgeben, unter Beschränkung der dazu notwendigen Mitteln zur Signalanalyse auf einen durch die subjektive Wahrnehmung von Garrfehlem bedingten mini¬ malen technischen Aufwand gemäss den in den Ansprüchen offenbarten Verfahrensschritten.

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_ O

Beim erfindungsgemässen Verfahren ist einerseits zu unter¬ scheiden zwischen der gezielten Ausnutzung des vorstehend dargelegten Logarithmus-Effektes in der Dimension "Quer¬ schnitt" und anderseits zwischen der gezielten Ausnutzung (in der Dimension "Länge") der Tatsache, dass Garnfehler verhältnis assig selten auftreten und dann vorwiegend als in die Länge gezogene Dick- und Dürnstellen, und dass sie in dieser Dimension bezüglich Störempfindlichkeit ebenfalls dem dargelegten Logarithmus-Effekt unterworfen sind.

Am Messwandler, der beispielsweise als Messkondensator mit HF-Oszillator und Demodulationsschaltung ausgebildet sein kann, entsteht bekanntlich eine Gleichspannung bezüglich eines Nüllpegels, die im wesentlichen proportional ist zum Querschnitt des sich im Messkondensator befindenden Garns und einer materialabhängigen multiplikativen Kon¬ stanten.

Bei bekannten Vorrichtungen zur Garnreinigung und Klas¬ sierung ergibt sich ohne Berücksichtigung von Querschnitt¬ abweichungen, jedoch unter Berücksichtigung der durch die Materialkennziffer dargestellten dielektrischen Eigen¬ schaften des Garnmaterial, allein für den Bereich der bei einem üblichen Messkopf vorgesehenen Nennquerschnit"fe eine Dynamik von kleinstem zu grösstem Signal von etwa 1 : 100. Für die messtechnisch zu erfassenden Garr.abweichungen be- züglich Nennquerschnitt beträgt die Dynamik zwischen klein-

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stem Signal bei einer Dünnstelle (etwa 25^ vom Nennquer¬ schnitt) und grösstem Signal bei einer Dickstelle (etwa l'OOO^ vom Nennquerschnitt) zusätzlich etwa 1 : 40. Ins¬ gesamt ergibt sich somit eine maximale Signaldynamik von 1:4'000.

Wird beispielsweise auch noch eine Auflösungsgenauigkeit von 10% für das kleinste Signal verlangt, so ergibt sich zusammen mit der vorstehend genannten Signaldynamik ein Signalvolumen von 1:40'000.

Will man dieses Signalvolumen linear quantisieren und ganzzahlig binär darstellen, benötigt man eine Wortlänge von mindestens 16 bit. Am unteren Ende des ausnutzbaren Signalbereichs ergibt sich damit in einer quantisierten 16 bit Darstellung eine relative Auflösung von etwas besser als 0.1, am oberen Ende dagegen eine solche von ca.

1 / 40*000 oder 2.5 ^" 10 . Der Unterschied zwischen unten und oben beträgt im vorliegenden Zahlenbeispiel 1:4'000, er entspricht im allgemeinen Fall unabhängig von der maxi¬ malen Auflösung am unteren Ende immer etwa dem Umfang der Signaldynamik.

In der digitalen Signalverarbeitungstechnik werden in der Praxis zu diskreten Zeitpunkten abgetastete Signalwerte mittels algebraischer Algorithmen arithmetisch manipuliert. Zur praktischen Anwendung kommen Computer, MicroComputer, Prozessoren, Microprozessoren oder Elemente davon. Die f OMPI

einzelnen Signalwerte und davon abgeleitete Grossen werden wortweise verarbeitet.

Der Aufwand und damit die Kosten einer digitalen Signal¬ verarbeitung hängen nun wesentlich von der für die Dar- Stellung der Signale benötigten Wortlänge ab. Ein Verfahren zur digitalen Signalverarbeitung, welches mit einer Signal¬ codierung auskommt, die kürzere Wortlänge bei etwa gleich¬ bleibender Anzahl Operationsschritte mit einer gegebenen Maschine benötigt, erbringt somit einen wirtschaftlichen (kostenmässigen) Vorteil gegenüber einem Verfahren, das eine Darstellung der selben Signale mittels einer grösseren Wortlänge benötigt.

Die bekannten Verfahren der Garnanalyse und Garnreinigung mittels digital arbeitender Geräte erfassen Garnque schnitt oder Garndurchmesser mittels Messwandler mit analogem Sig- nalausgäng. Allenfalls nach Signalvorverarbeitung des ana¬ logen Signals mittels der Analgotechnik Elemente (z.B. Tief¬ passfilter, Nullpunktkompensationsschaltungen u.a.) wird das Messignal einer A/D-Wandlung unterworfen und anschliessend mit den vorstehend genannten Mitteln der Digitaltechnik weiterverarbeitet.

Das erfindungsgemässe.Verfahren unterscheidet sich nun von dieser herkömmlichen Technik dadurch, dass vor oder aber in einem der ersten Schritte der digitalen Signalverar- beitung eine Umwandlung der Signaldarstellung vom

linearen zum logarithmischen oder einem diesem ange¬ näherten oder ähnlichen Masstab vorgenommen wird. Dadurch lassen sich Multiplikationen beziehungsweise Divisionen von Signalwerten mit Konstanten und ^' Para- metern auf einfache, ebenfalls viel kostengünstiger durch.zuführende Additionen beziehungsweise Sub¬ traktionen zurückführen. Eine direkte Folge der logarith¬ mischen Darstellung äussert sich darin, dass. die durch die Quantisierung bedingte Auflösungsgrenze von - ^' 1/2 bit auf der Ebene des logarithmierten Signals einer konstanten rela tiven Auflösung bezogen auf den jeweiligen Garnquerschnitt (Durchmesser) entspricht. Mit anderen Worten hat ein (un¬ vermeidlicher) Rundungsfehler im Rahmen der digitalen Signalverarbeitung die gleiche Wirkung übertragen auf die subjektive Empfindung, gleichfültig, ob die dünnste zu¬ lässige Dünnstelle oder die dickste zulässige Dickstelle elektronisch analysiert wird. Man hat es also mit einem angepassten System zu tun in dem Sinn, dass die technisch bedingte Au lösungsgrenze immer proportional zum jeweiligen subjektiven Qualitätsemp inden ist. Dies im Gegensatz zu einer Signalauswertung nach herkömmlicher Technik, wo die Signalauflösung auf die Genauigkeitsforderung beim dünn¬ sten Querschnitt abgestimmt werden muss mit dem Resultat,

OMPI

dass bei den dicksten Querschnitten mit viel zu hoher Auf¬ lösung, also zu genau und zu aufwendig analysiert wird.

Im Zahlenbeispiel von Seite 6 wurde ein Verhältnis von 1:40 im Querschnitt von kleinsten Signal (bei einer Dünn- stelle) zum grösstem Signal (bei einer Dickstelle) ange¬ nommen, bezogen auf ein Garn konstanten Nenndurchmessers. Bei einer relativen Auflösung von 0.1 uss somit die Um¬ wandlung vom linearen in den logarithmischen Masstab in konstanten 10?fa-Schritten vorgenommen werden. Die Anzahl n der benötigten Schritte berechnet sich nach der Formel

log 40 „ ⁿ = ΪSi Tl = ³⁹

Will man ferner unter Berücksichtigung des eingangs benützten Zahlenbeispiels für den üblicherweise bei Mess¬ köpfen vorgesehenen Bereich der Nennquerschnitte des Garnes und der zu erwartenden Variationen dessen dielektrischen Eigenschaften den ganzen Dynamikbereich von 1:4*000 in unterteilen, berechnet sich die Anzahl der benötigten Schritte zu

n log 4'C00 log 1.1 ^ ^' 87

Für die digitale Darstellung als ganzzahliges Binärwort ist im ersten Fall eine Wortlänge von mindestens 6 bit, im letzteren Fall von mindestens 7 bit er orderlich. Damit

f OMPI

reduziert sich in diesem Beispiel die minimal benötigte Wortlänge um mehr als einen Faktor 2 gegenüber dem vor¬ stehend abgeleiteten Wert von 16 bit gegenüber einem Signal verarbeitungsverfahren nach herkömmlicher, bekannter Tech- nik.

Wenn man gemäss dem Vorstehenden davon ausgeht, dass ein digitales Gerät zur elektronischen Klassierung und Reini¬ gung von Garnen aus einem analogen oder digitalen Mess¬ wandler, einer analogen oder digitalen Vorverarbeitungs- stufe und einer digitalen Hauptverarbeitungsstufe oder, abstrakt ausgedrückt, aus entsprechenden Prozessen besteht, so lässt sich verfahrensmässig die Umwandlung vom linearen in den logarithmischen Masstab grundsätzlich zwischen oder innerhalb einer dieser Prozesse, jedoch vor dem Haupt- Signalverarbeitungsprozess an technisch geeigneter Stelle durchführen.

Die Tatsache, dass Garnfehler verhältnismässig selten auf¬ treten und sich in Form länglicher Dick- und Dünnstellen äussern, lässt den Schluss zu, dass immer dann, wenn im Sinne der Fehlerempfindungen fehlerfreies Garn durch den Messfühler gespult wird, der Informationsfluss praktisch gleich Null ist und dann, wenn ein Fehler auftritt, an¬ steigt, aber auch das nur in sehr begrenztem Mass. Der In- formationsfluss ist weiterhin durch die Erscheinungs orm der Garnfehler als im wesentlichen längliche Dick- und Dünnstellen in dem Sinn begrenzt, dass Fehler zwar ver-

hältnismässig schnell (beim Abspulen durch den Messfühler) in Erscheinung treten können, dann aber ein verhältnis- mässig langes Beharrungsvermögen aufweisen können, bis sie ebenfalls wieder verhältnis ässig schnell verschwinden. Der Informationsfluss ist weiterhin dadurch begrenzt, dass die Länge von Garnfehlern, wie eingangs dargelegt, subjektiv nur etwa im Logarithmus ihrer körperlichen Ausdehnung em¬ pfunden wird. Je länger also die Längsausdehnung von Garn¬ fehlern seit derem jeweiligem Beginn durch den Signalverar- beitungsprozess schon beachtet worden ist, desto gröber darf die Analyse durch eben diesen Prozess in Längsrichtung durchgeführt werden, ohne dass sich am subjektiv massgeblichen Resultat deswegen ein übermässiger Fehler bemerkbar machen würde.

Ein Signalverarbeitungsverfahren, das ständig auf rasches reagieren eingestellt ist, wie es beim Erscheinen eines Fehlers sein uss, ist im stationären oder quasistationären Fall, ^' wo entweder keine als Garnfehler wahrnehmbare Ab¬ weichung auftritt oder solche Abweichungen eine Zeitlang ohne wesentliche Aenderung des Zustandes andauern, vom Signalverarbeitungsbedürfnis her unterbeansprucht.

In der Analogtechnik besteht sehr wenig Spielraum in der Anpassung eines Signalverarbeitungsverfahren an eine zeit¬ lich schwankende Beanspruchung durch den Verlauf eines durch das Ergebnis der Verarbeitung gerechtfertigten Ver-

OMPI .- WIPO .

arbeitungsbedürfnisses. Auf der Grundlage der Analogtechnik arbeitende Signalverarbeitungsverfahren für-Garnanalyse und Garnreinigung sind denn auch durchwegs so ausgelegt, dass an sich selten auftretende Ereignisse auch mit grosser Häufigkeit oder aber immer auftreten könnten.

Die Digitaltechnik bietet nun mittels (billiger) adressier¬ barer Datenspeicher und Methoden der Computertechnik die Möglichkeit, Signalverarbeitungsverfahren für schwankende Beanspruchung derart zu konzipieren, dass die gerätetech- nische Auslegung eines ein solches Verfahren durchführenden Prozessors für eine Leistungsfähigkeit dimensioniert werden kann, die kleiner ist, als was für die dauernde Bean-_ spruchung durch praktisch nur kurzzeitig auftretende Spitzenbelastungen notwendig wäre. Da im vorliegenden Fall der elektronischen Garnreinigung und Garnfehlerklassierung der zeitliche Bedarf an Spitzenbelastung bezogen auf die gesamthaft zur Verfügung stehende Zeit klein ist, lassen sich aufgrund dieser Tatsache Prozessoren zur Signalver¬ arbeitung derart bauen, dass sich gegenüber herkömmlicher Technik beträchtliche Vorteile in bezug auf das Verhältnis Leistung zu Kosten ergeben.

Da sich die Zeit selbst weder komprimieren noch expandieren lässt, wird gemäss der vorliegenden Erfindung zum Lastaus¬ gleich bei schwankender Beanspruchung zum Mittel der Pufferung von Daten in Warteschlangen gegriffen.

OM

Anschaulich an einem einfachen abgeleiteten Beispiel aus der Technik bekannter Vorrichtungen zur elektronischen . Reinigung von Garnen und zur Klassierung von Garnfehlern dargestellt, wird dabei mittels eines ersten Prozesses ein Datenreservoir (Pufferspeicher) laufend mit vom Messwand¬ ler anfallenden Signaldaten gespeist, während ein ^' zweiter Prozess das Datenreservoir (Pufferspeicher) laufend durch •Abarbeitung wieder entleert. Der erste Prozess erfüllt bei einer Echtzeit-Messwertver-. arbeitung die Funktion der Datenerfassung an den Messstellen und einer allenfalls notwendigen Signalaufbereitung (z.B. Synchronisation mit einem nicht mit konstanter Geschwin¬ digkeit ablaufenden Prozess, Nullpunkt- und Driftkorrektur, Linearisierung der Messfühlercharakteristik, A/D-Wandlung, Signalkompression beispielsweise gemäss dem vorstehend ge¬ nannten Verfahren der Umwandlung der Signaldarstellung vom linearen zum logarithmischen Masstab, etc.) und speichert schliesslich die aufbereiteten Messdaten geordnet im Daten¬ reservoir (Pufferspeicher) .

Der zweite Prozess entnimmt aus dem vorstehend genannten

Datenreservoir (Pufferspeicher) die vorverarbeiteten Mess¬ daten und unterwirft diese der Signalanalyse. Falls es sich, wie hier angenommen, um die Analyse selten auftreten¬ der Fehler geht, wird die Signalanalyse in den häufigsten Fällen zu einem negativen Befund kommen. Dies ist jeweils mit wenigen Operationsschritten festzustellen, der Analyse-

-ξFREAlT OMPI WIPO .

prozess läuft also schnell ab. In selteneren Fällen wird die Fehleranalyse jedoch auf einen positiven Befund stossen, welcher genauer zu analysieren ist. Gegebenenfalls sind auf grund einer solcher detaillierten Analyse weitere Prozesse auszulösen. Dazu werden im allgemeinen mehrere Operations¬ schritte benötigt, der Analyseprozess läuft infolge dessen zeitweise langsamer ab.

Mittels der vorstehend dargestellten Pufferuήg lässt sich nun ein verbesserter Lastausgleich dadurch erreichen, dass der Prozessor, auf dem der genannte zweite Prozess abläuft, so dimensioniert wird, dass er im Mittel über eine gewisse Zeitspanne mit genügender Sicherheit in der Lage ist, das im Datenreservoir (Pufferspeicher) gelieferte Messdaten¬ material abzuarbeiten. In den selteneren Fällen, wo Fehler zu analysieren sind, wird im Datenreservoir (Pufferspeicher) ein grösserer Rückstau (Warteschlange) auftreten, der während der restlichen Zeit wieder abgebaut wird.

Der statistische Ausgleich bei derartigen Fehleranalyse¬ prozessen lässt sich verbessern, indem mit dem genannten zweiten Prozess mehrere Messstellen zyklisch hintereinander analysiert werden, da in der Praxis statistische Unabhängig¬ keit bezüglich der auftretenden Fehler zwischen den Mess¬ stellen untereinander angenommen werden kann. Oder umge¬ kehrt ist es möglich, aufgrund des erfindungsgemässen Ver- fahrens mittels eines Prozessors gegebener Leistungsfähig-

keit die anfallenden Daten einer grösseren Anzahl Mess¬ stellen zu verarbeiten.

Auch wenn in den vorstehenden Ausführungen der Einfachheit halber nur von zwei durch ein dazwischen angeordnetes Datenreservoir (Pufferspeicher) entkoppelten Prozessoren die Rede war, wird es der Fachmann in ^' gewissen Fällen vor¬ teilhaft finden - ohne vom erfindungsgemässen Verfahren abzuweichen - den ersten und/oder den zweiten der vor¬ stehend genannten Prozesse seinerseits wieder ^" durch zwei oder mehrere von einander mittels Datenreservoir (Puffer¬ speicher) entkoppelte Teilprozesse zu implementieren.

Anhand der Beschreibung und der Figuren wird das er- findungsgemässe Verfahren näher erläutert. Dabei zeigt Fig. 1 ein Diagramm eines Garnabschnittes mit Toleranz- grenzen in der Querdimension des Garnes, Fig. 2 ein Dia¬ gramm eines Garnabschnittes mit Bewertungszonen ebenfalls in der Querdimension des Garnes, Fig. 3 ein Diagramm eines Garnabschnittes mit Bewertungszonen in der Querdimension und Längsdimension des Garnes, Fig. 4 das Prinzip der Prozessverarbeitung und Datenspeicherung für die Auswer¬ tung, Fig. 5 eine Ausgestaltung . eines Uebertragungs- kanals.

Fig. 1 zeigt die an sich bekannte Darstellung des Quer¬ schnittes eines Garnes als eine um einen Mittelwert 10

OMPI _ WIPO rΛ

variierende Signalkurve 11, wie sie beispielsweise von einem Registriergerät aufgezeichnet wird, an dessen Ein- ^• gang das von einem den Querschnitt des Garnes abtastenden Messgerät gelieferte elektrische Signal liegt. Weiter zeigt Fig. 1 je eine obere Toleranzgrenze 12 und eine untere

Toleranzgrenze 13, deren üeberschreiten durch die Signal¬ kurve 11 ausgewertet werden soll. Sobald die Signalkurve 11 diese Toleranzgrenzen überschritten hat (Punkt A bzw. B) , gelangt es in eines der Gebiete 15, 16_.

Die Aussage, dass die Signalkurve 11 vorgegebene Toleranz¬ grenzen überschreitet, ist für die Belange der Digital¬ technik dahin zu interpretieren, dass die Amplitude der Signalkurve 11 mittels einer vorgegebenen Taktfrequenz ab¬ getastet wird und dabei jeder Amplitudenwert mit dem die Toleranzgrenze darstellenden Wert verglichen wird.

Gemäss der in Fig. 2 dargestellten weiteren Ausbildung des erfindungsgemässen Verfahrens werden nun die ausserhalb der Toleranzgrenzen 12, 13 liegenden Gebiete 15, 16 durch weitere Toleranzgrenzen 17, 19, bzw. 18, 20 in Querzonen 21, 22, 23, 24, 25, 26 eingeteilt. Jede dieser Querzonen bildet nun ein Kriterium dafür, dass durch das Eintreten in die nächste Querzone bzw. das Verlassen der vorher¬ gehenden Querzone durch die Signalkurve 11 eine bestimmte Auswirkung der betreffenden relativen Abweichung erwartet wird.

- " — ^"

Gemäss der in Fig. 3 dargestellten weiteren Ausbildung des erfindungsgemässen Verfahrens wird nun auch die Längs¬ dimension des Garnes in Längszonen 27, 28 und 29 eingeteilt. Die Längszone 27 ist beispielsweise dadurch definiert, dass sie jeweils dann beginnt, wenn die Signalkurve ^• 11 die obere Toleranzgrenze 12 oder die untere Toleranzgrenze 13 nach einer fehlerfreien Garnstrecke erstmals wieder über¬ schritten hat (Punkte A, B) . Das Signal wird in dieser Längszone 27 mittels des vorstehend genannten zweiten Pro- zesses auf vorerst kurze Fehler analysiert, indem beispiels¬ weise bei jedem Abtasttakt die Amplitude der Signalkurve 11 auf Ueber— oder Unterschreiten einer der Toleranzgrenzen 12, 17, 19 bzw. 13, 18, 20 analysiert wird. Bleibt der Wert des Signals 11 während mehr als einer bestimmten Anzahl Ab- tasttakte i mer ausserhalb entweder der Toleranzgrenze 12 oder der Toleranzgrenze 13, so handelt es sich nicht mehr um einen Fehler kurzer, sondern um einen Fehler mittlerer Längsausdehnung. Die -Grenze zwischen Längszone 27 und 28 kann als Grenze zwischen Garnfehlern kurzer und mittlerer Längsausdehnung aufgefasst werden. Sobald sich nun die Signalkurve innerhalb der längszone 28 und gleichzeitig immer noch ausserhalb entweder der oberen Toleranzgrenze 12 oder der unteren Toleranzgrenze 13 befindet, kann er¬ findungsgemäss ein gröberes Analysekriterium zur Anwendung kommen, indem beispielsweise nur jeweils jeder zweite oder dritte Abtastwert oder ein Mittelwert von diesen auf Ueberschreiten einer der Toleranzgrenzen 12, 17, 19 bzw.

OMPI IPO

13, 18, 20 untersucht wird, womit einem Garnfehler mitt¬ lerer Längsausdehnung entsprechenden reduzierteren Signal¬ verarbeitungsbedürfnis im Sinne einer Aufwandminderung ent¬ sprochen ist. Sinngemäss entspricht Längszone 29 beispiels- weise Garnfehlern grosser Längsausdehnung mit entsprechend nochmals gegenüber Längszone 28 reduziertem Signalverar¬ beitungsbedürfnis. Hier kann nun erfindungsgemäss ein nochmals gröberes Analysekriterium zur Ausdehnung kommen, indem beispielsweise nur jeweils jeder vierte, fünfte oder noch höhere Abtastwert oder ein Mittelwert von diesen auf Ueberschreiten einer der Toleranzgrenzen 12, 17, 19 bzw. 13, 18, 20 untersucht wird, womit einem für Garnfehler grösserer Längsausdehnung nochmals reduzierteren Signal¬ verarbeitungsbedürfnis im Sinne einer Aufwandminderung er- neut entsprochen ist.

Anhand von Fig. 4 wird eine mögliche Anwendung des er¬ findungsgemässen Verfahrens, am Prinzipschema einer Vor¬ richtung zur elektronischen Reinigung von Garnen und Klassierung von Garnfehlern dargestellt.

Die in Fig. 4 dargestellte Vorrichtung besteht aus n

Kanälen Kl 110, K2 210, Kn 910, von denen jeder einer n Spulstellen umfassenden Sektion einer Spulmaschine zuge¬ ordnet ist. Jeder dieser Kanäle wird an seinem Hauptein- gang HEI 102, HE2 202, HEn 902, von einem Messkopf MKl 101, MK2 201, MKn 901, mit einem Garnmessfühler gespeist, wel¬ cher eine Spannung UG1, UG2, UGn abgibt, deren Wert jeder-

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zeit ein Mass für den Querschnitt (oder Durchmesser) des laufend abgetasteten Garnes ist. Jeder dieser Kanäle be¬ sitzt ferner einen ^' Haup ausgang HAI 104, HA2 204, HAn 904, an welchem ein Signal erscheint, das zur Steuerung einer Garntrennvorrichtung nach bekannter Technik verwendet wer¬ den kann. Jeder Kanal besitzt ferner Nebeneingänge NEl 105, NE2 205, NEn 905 (für externe Schnittbefehle, Lauf/Stop ^• Signal usw.) sowie eine Anzahl Nebenausgänge NA1 106, ^' NA2 206, NA2 906 für statistische Daten über die Produktion der entsprechenden Spulstelle (GarnschnittStatistiken, Garnfeh¬ lerstatistiken, Stillstandszeiten der Spulstelle usw.) oder davon abgeleitete Steuerungs- oder Warnfunktionen. Alle Ka¬ näle haben ferner Zugriff zu einem zentralen Speicherbereich ZSPB 90, wo die diversen zur Signalanalyse bzw. Auslösung von Steuerungs- und Warnfunktionen notwendigen Parameter PARI 91, PAR2 92, PARn 99 gespeichert sind (Toleranzgrenzen für Quer- und Längsdi ension, Fehlerbewertungskriterien, Steuer- und Warhkriterien, ev. Logarithmustabelle, Garnnummer, Mate¬ rialkennziffer usw.).

I*ι Fig. 5 ist ein solcher Kanal einzeln dargestellt. Der k-te Messkopf MKk 301 ist mit einem ersten Prozess PROClk 311 verbunden, dieser wiederum mit einem ersten Speicherbe¬ reich SPBlk 312, dieser wiederum mit einem zweiten Prozess PR0C2k 313, dieser wieder mit einem zweiten Speicherbereich SPB2k 314, dieser wieder mit einem dritten Prozess PR0C3k

315, dieser wieder mit einem dritten Speicherbereich SPB3k

316, dieser schliesslich mit einem vierten

OMPI WIPO

Prozess PR0C4k 317. An diesen vierten Prozess PR0C4k 317 sind die Nehenausgänge NAk 306 angeschlossen. Ferner be¬ steht eine direkte Verbindung vom zweiten Prozess PR0C2k 313 zum Schnittauslöseprozess PR0C5k 318. Der Aus- ^• ang des Schnittauslöseprozesses PR0C5k 318 ist der Haupt¬ ausgang HAk 304, also das Schnittauslösesignal. Die Neben¬ eingänge NEk 305 führen sowohl zum Schnittauslöseprozess PR0C5k 318 als auch zum vierten Prozess PR0C4k 317- Ferner haben alle Prozesse Zugriff zum zentralen Speicherbereich ZSPB 90. Die Nebeneingänge NEk 305 führen parallel zum

Schnittauslöseprozess PR0C5k 318 und zum vierten Prozess PR0C4k 317, die Nebenausgänge NAk 306 entspringen dem vier¬ ten Prozess PR0C4k 317-

Die Funktion der in Fig. 4 dargestellten Vorrichtung sei im folgenden am k-ten Kanal (Fig. 5) näher erläutert.

Der Messkopf MKk 301 gibt eine zeitlich variable Gleich¬ spannung UGk ab, welche proportional zum jeweiligen Quer¬ schnitt (Durchmessers) des durch den Messkopf MKk 301 laufenden Garnes ist. Im ersten Prozess PROClk 311 wird diese Gleichspannung zeitdiskret abgetastet und in 16 bit Worte digitalisiert. Ferner wird im ersten Prozess PROClk 311 mittels einer im zentralen Speicherbereich ZSPB 90 abgespeicherten Logarithmentabelle (table-look-up Methode) das digitalisierte Garnsignal vom linearen Mass- stab in den logarithmischen Masstab umgewandelt und gleich-

- - -^

zeitig die Wortlänge von 16 bit auf 8 bit reduziert. Eine alternative Lösung bestünde darin, dass die Umwandlung vom linearen zum logarithmischen Masstab gleichzeitig mit der Analog-Digitalu waήdlung stattfindet, z.B. ^' unter sinngemäs- ser Anwendung von in der Telefonjefcechnik (Pulscodemodulation) bekannt gewordenen sog. CODEC Schaltung und unter Verwen¬ dung von speziell für diesen Zweck erhältlichen integrier¬ ten Schaltelemente. Ferner wird im ersten Prozess PROClk 311 die Zeitabhängigkeit des digitalisierten Garnsignals eliminiert, indem die Taktfrequenz der Analog/Digitalumwand¬ lung proportional zur Geschwindigkeit des sich durch den Messkopf bewegenden Garnes gemacht wird. Dies geschieht gem. Fig. 5 unter Verwendung des im zentralen Speicherbereich ZSPB 90 abgespeicherten Sollwertes der für die betreffende Spulstelle verwendeten Spulgeschwindigkeit oder alternativ in bekannter Weise durch eine (in Fig. 5 nicht gezeigle) direk¬ te Synchronisation z.B. mit der Drehgeschwindigkeit der auf der Spulstelle angeordneten Nutentrommel. Ferner wird im er¬ sten Prozess PROClk 311 eine Normalisierung des Garnsignals auf konstanten Nennquerschnitt (Durchmesser) und konstante (dielektrische) Garneigenschaften vorgenommen. Die entspre¬ chenden Werte (Garnnummer, Materialziffer) werden dem zen¬ tralen Speicherbereich ZSPB 0 entnommen. Da sich diese Wer¬ te ultiplikativ auf ^" das dem Garnquerschnitt (Durchmesser) proportionale Signal auswirken, läuft ihre Be-

OMPI #. IPO

rücksichtigung im Garnsignal, welches im logarithmischen Mass dargestellt ist, auf einfache Addition bzw. Sub¬ traktion heraus, was zusätzlich zur reduzierten Wort-, länge eine beträchtliche Vereinfachung durch die erfin— dungsgemässe Darstellung des Garnsignals im logarithmischen Masstab bedeutet. Nach all diesen Umwandlungen wird vom ersten Prozess PROClk 311 eine Folge von normierten Werten in den ersten Speicherbereich SPBlk 312 abgelegt, wobei von jedem Wert zum nächsten sich das abgetastete Garn un- abhängig von der Spulgeschwindigkeit um eine konstante

Weglänge weiter bewegt hat. Die im ersten Speicherbereich SPBlk 312 abgelegten Werte sind also auf einen Querschnitt (Durchmesser) "eins" normiert und nunmehr ausschliesslich vom relativen Durchmesser des Garnes und von der gespulten Weglänge abhängig. _.

Die Speicherbereiche SPBlk 312, SPB2k 314, SPB3k 316 sind gemäss Fig. 5 alles hardwaremässig implementierte sog. FIFO Speicher (first-in, first-out) . Andere, Software¬ orientierte Speichermethoden sind im Rahmen des erfindungs- gemässen Verfahrens ebenfalls denkbar, wobei die Speicher¬ platzverwaltung durch einen in Fig. 4 und Fig. 5 nicht ge¬ zeichneten Speicherpiatzverwaltungsprozess vorzunehmen wäre.

In einem zweiten Prozess PR0C2k 313 werden aus dem ersten Speicherbereich SPBlk 312 laufend V/erte entnommen und einem Signalanalyseprozess unterzogen.

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Dieser Signalanalyseprozess besteht erfindungsgemäss darin, dass jeder einzelne der normierten Querschnittswerte darauf¬ hin untersucht wird, ob er eine der Fehlertoleranzgrenzen, welche im zentralen Speicherbereich ZSPB 0 abgespeichert sind, über - oder unterschritten hat, oder ob er in dersel¬ ben Toleranzzone wie sein Vorgänger liegt. Im häufigsten Fall wird die relative Garnabweichung innerhalb der unter¬ sten Fehlertoleranzgrenze liegen, so dass keine weitere Untersuchung dieses Wertes mehr nötig ist. Nur wenn eine der genannten Toleranzgrenzen über- bzw. unterschritten wird, ist eine eingehendere Analyse gerechtfertigt. Je nach¬ dem, wie lange das Signal schon in einer Fehlerzone beharrt und in welcher Fehlerzone sich der Signalwert gerade befin¬ det, kann ein potentiell zu reinigender Garnfehler vorliegen. Ist das der Fall, benachrichtigt der zweite Prozess PR0C2k 313 den Schnittauslöseprozess PR0C5k 318. Dieser untersucht dann unabhängig vom zweiten Prozess PR0C2k 313, ob aufgrund der an den Nebeneingängen NEk 305 liegenden Signale ein Garn¬ schnitt gerechtfertigt ist oder nicht. Zutreffenden Falles wird vom Schnittauslöseprozess PR0C5k 318 an den Hauptaus¬ gang HAk 304 ein Schneidebefehl abgegeben.

Für die Zwecke der Garnfehlerklassierung (geschnittene und nicht geschnittene Garnfehler) muss das Garr.signal nach feineren Kriterien analysiert werden als dies für die Garn- fehlerreinigung notwendig ist. Es genügt jedoch, wie vor¬ stehend erwähnt wurde, wenn festgestellt wird, wenn (be-

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OMPI > WIPO .

zogen auf die seit dem jeweilig erstmaligen Auftreten des betreffenden Fehlers) die Garnabweichung in eine neue Toleranzzone eingetreten ist oder eine solche verlassen hat. Dieses Eintreten/Austreten in eine neue Toleranz- zone wird ebenfalls vom zweiten Prozess PR0C2k 313 über¬ wacht. Jedesmal, wenn ein solches verhältnismässig sel- tenes Ereignis eingetreten ist, wird dies unter Angabe, was geschehen ist und bei welcher Garnlänge dies einge¬ treten ist, im zweiten Speicherbereich SPB2k 314 in ge- eignet codierter Form protokolliert. Der zweite Speicher¬ bereich SPB2k 314 wird also laufend mit einem oder mehreren Datenworten gespeist, welche solche Zustandsänderungen so¬ wie der. Ort auf dem gespulten Garn, wo sie aufgetreten sind, enthalten. ^'

In einem dritten Prozess PR0C3k 315 wird aus diesen Wer¬ ten in bekannter Art eine Garn ehlerklassierung beispiels¬ weise nach einem Tabellenschema vorgenommen (Uster Classimat Prinzip) . Die für diese Klassierung notwendigen Parameter werden, sofern sie nicht schon im zweiten Prozess PR0C2k 313 verwendet wurden, aus dem zentralen Speicherbereich

ZSPB 90 entnommen. Die fertig klassierten Garnfehler wer¬ den vom Prozess PR0C3k 315 unter Angabe des Ortes, wo sie auf dem Garn aufgetreten sind, in geeigneter Form codiert in einen dritten Speicherbereich SPB3k 316 abgespeichert.

In einem vierten Prozess PR0C4k 317 werden nun diese im dritten Speicherbereich SPB3k 316 abgelegten klassierten O

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Garnfehler zusammen mit den via Nebeneingänge NEk 305 ein¬ gegebenen Zustandsangaben über das Verhalten der Spulstelle und des Reinigers in bekannter Art und Weise zu Meldungen zusa mengefasst. und weiter verarbeitet.

Zusammenfassend kann festgestellt werden, dass in einer Vorrichtung gemäss Fig. 4 und Fig. 5 für jeden Kanal fünf asynchron und durch als Puffer wirkende Speicherbereiche von einander entkoppelte Prozesse ablaufen, die sich da¬ durch auszeichnen, dass sie durch einen durch die subjek- tive Wahrnehmung bedingten minimalen technischen Aufwand realisiert werden können.

Aufgrund des erfindungsgemässen Verfahrens wird der Fach¬ mann in der Praxis gewisse Prozesse, je nach Anwendungen und ^' Verhältnissen, auf einem oder mehreren gemeinsamen Prozessoren ablaufen lassen. Unter Annahme einer aus n

Kanälen gemäss Fig. 4 und 5 gebauten Vorrichtung wird es in gewissen Fällen vorteilhaft sein, beispielsweise die gleichartigen Prozesse PROCll, PROClk bis PROCln auf einem speziell dafür vorgesehenen Prozessor, sowie die ebenfalls gleichartigen Prozesse PR0C21, PR0C2k bis PR0C2n auf einem weiteren speziell dafür vorgesehenen dedizierten Prozessor und die restlichen gleichartigen Prozesse PR0C31, PR0C3k ..., PR0C3n sowie PR0C41, PR0V4k ..., PR0C4n, sowie PR0C51, PR0C5k ..., PR0C5n auf einem jeweils weiteren gemeinsamen dedizierten Prozessor zu implementieren.

Für die ersten zwei Gruppen könnte es vorteilhaft sein,

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spezielle Prozessoren mit Komponenten der sog. Bit-Slice- Technik zu bauen und für die Prozesse der letzteren Gruppe einen universellen Mikroprozessor oder Mikrocomputer an¬ zuwenden.

Ohne vom erfindungsgemässen Verfahren abzuweichen, kann es jedoch auch vorteilhaft erscheinen, sämtliche Prozesse wenigstens eines Kanals auf einem gemeinsamen Prozessor zu implementieren oder gewisse Teile in herkömmlicher digi- taler Bauweise auszuführen. Es ist für ^" den Fachmann eben- falls selbstverständlich, dass sich die als hardware- mässige FIFO Pufferspeicher darstellbaren diversen Spei¬ cherbereiche auch auf einem oder mehreren adressierbaren Speicher unterbringen lassen, wobei - wie schon vorstehend angedeutet - ein spezieller (gemeinsamer) in Fig. 4 und Fig. 5 nicht gezeigter Prozess zur Speicherplatzverwal¬ tung vorzusehen ist.

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