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Title:
SIMULATION SYSTEM, SIMULATION PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM WHERE THE PROGRAM IS RECORDED
Document Type and Number:
WIPO Patent Application WO/2008/081544
Kind Code:
A1
Abstract:
Electromagnetic field analysis of electromagnetic field analysis regions defined by dividing a region to be analyzed is performed by parallel processing by using processors each having a function as electromagnetic field analysis means. Circuit analysis of a circuit portion included in the region to be analyzed is performed by a processor having a function as circuit analyzing means. Further, provided is a processor having a function as aggregating means for receiving/delivering data between a processor which performs electromagnetic field analysis and the processor which performs circuit analysis. The processor aggregates data necessary for circuit analysis from the processors which perform electromagnetic field analysis and sends the aggregated data to the processor which performs circuit analysis. The processor having the function as the aggregating means aggregates data necessary for electromagnetic field analysis from the processor which performs circuit analysis and sends the aggregated data to the processors which perform electromagnetic field analysis

Inventors:
TAKEUCHI ATSUSHI (JP)
Application Number:
PCT/JP2006/326251
Publication Date:
July 10, 2008
Filing Date:
December 28, 2006
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Assignee:
FUJITSU LTD (JP)
TAKEUCHI ATSUSHI (JP)
International Classes:
G06F17/50; G06F19/00
Foreign References:
JPH11153634A1999-06-08
JP2003223426A2003-08-08
JP2006133994A2006-05-25
JP2004054642A2004-02-19
JPH07141312A1995-06-02
JPH11153634A1999-06-08
JP2004054642A2004-02-19
Other References:
PONGPAIBOOL P. ET AL.: "An Alternating Implicit Block Overlapped FDTD(AIBO-FDTD) Method and Its Estimation with Parallel Computation", ELECTRICAL PERFORMANCE OF ELECTRONIC PACKAGING, IEEE, October 2001 (2001-10-01), pages 185 - 188, XP003024476
WATANABE T. ET AL.: "Parallel-Distributed FDTD-Based Full-Wave Simulator for Large-Scale Printed Wiring Boards", ELECTRICAL PERFORMANCE OF ELECTRONIC PACKAGING, IEEE, 2002, pages 287 - 290, XP010616680
See also references of EP 2116944A4
Attorney, Agent or Firm:
SAKAI, Akinori (20F Kasumigaseki Building,2-5, Kasumigaseki 3-chom, Chiyoda-ku Tokyo 20, JP)
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Claims:
 解析対象領域を複数の電磁界解析領域に分割し、相互にデータの受け渡しが可能な複数の処理手段を連携させながら、前記電磁界解析領域に対する電磁界解析と、前記解析対象領域に含まれる回路部に対する回路解析を行うシミュレーションシステムであって、
 前記電磁界解析を行う複数の電磁界解析手段と、
 前記回路解析を行う1以上の回路解析手段と、
 前記回路解析手段での回路解析に必要なデータを前記電磁界解析手段から集約して前記回路解析手段へ渡す集約手段と、
 を備えることを特徴とするシミュレーションシステム。
 解析対象領域を複数の電磁界解析領域に分割するとともに、前記解析対象領域に含まれる回路部を、回路を記述するネットリストの情報に基づいて複数の回路ブロックに分割し、相互にデータの受け渡しが可能な複数の処理手段を連携させながら、前記電磁界解析領域に対する電磁界解析と、前記回路ブロックに対する回路解析を行うシミュレーションシステムであって、
 前記電磁界解析を行う複数の電磁界解析手段と、
 前記回路解析を行う複数の回路解析手段と、
 前記回路解析手段での回路解析に必要なデータを前記電磁界解析手段から集約し、それぞれの前記回路解析手段での回路解析に必要なデータを、対応する前記回路解析手段に渡す集約手段と、
 を備えることを特徴とするシミュレーションシステム。
 前記集約手段は、前記電磁界解析手段での電磁界解析に必要なデータを前記回路解析手段から受け取り、それぞれの前記電磁界解析手段での電磁界解析に必要なデータを、対応する前記電磁界解析手段に渡すことを特徴とする請求項1または2に記載のシミュレーションシステム。
 前記電磁界解析手段、前記回路解析手段および前記集約手段は、ネットワークを介して接続された複数の処理装置に分散して設けられることを特徴とする請求項3に記載のシミュレーションシステム。
 前記集約手段は、前記電磁界解析手段と同じ処理装置に設けられることを特徴とする請求項4に記載のシミュレーションシステム。
 前記集約手段は、前記回路解析手段と同じ処理装置に設けられることを特徴とする請求項4に記載のシミュレーションシステム。
 前記集約手段を介して前記電磁界解析手段と前記回路解析手段の間で受け渡されるデータが、FDTD法と回路解析との融合に用いられる等価回路の容量のデータと、電流のデータと、電圧のデータであり、
 前記電磁界解析手段は、電圧のデータを電界のデータに変換するとともに、磁界のデータを電流のデータに変換することを特徴とする請求項1または2に記載のシミュレーションシステム。
 前記集約手段を介して前記電磁界解析手段と前記回路解析手段の間で受け渡されるデータが、FDTD法と回路解析との融合に用いられる等価回路の容量のデータと、回路が存在するFDTD法のセルの電界のデータと、該セルの周りの磁界のデータであり、
 前記回路解析手段は、電圧のデータを電界のデータに変換するとともに、磁界のデータを電流のデータに変換することを特徴とする請求項1または2に記載のシミュレーションシステム。
 前記集約手段と前記電磁界解析手段の間で受け渡されるデータが、FDTD法と回路解析との融合に用いられる等価回路の容量のデータと、回路が存在するFDTD法のセルの電界のデータと、該セルの周りの磁界のデータであり、
 前記集約手段と前記回路解析手段の間で受け渡されるデータが、FDTD法と回路解析との融合に用いられる等価回路の容量のデータと、電流のデータと、電圧のデータであり、
 前記集約手段は、電圧のデータを電界のデータに変換するとともに、磁界のデータを電流のデータに変換することを特徴とする請求項1または2に記載のシミュレーションシステム。
 解析対象領域を複数の電磁界解析領域に分割し、相互にデータの受け渡しが可能な複数の処理手段を連携させながら、前記電磁界解析領域に対する電磁界解析と、前記解析対象領域に含まれる回路部に対する回路解析を行うためのシミュレーションプログラムであって、
 前記電磁界解析を行う複数の電磁界解析手段、前記回路解析を行う1以上の回路解析手段、前記回路解析手段での回路解析に必要なデータを前記電磁界解析手段から集約して前記回路解析手段へ渡す集約手段、として複数の処理装置を機能させることを特徴とするシミュレーションプログラム。
 解析対象領域を複数の電磁界解析領域に分割するとともに、前記解析対象領域に含まれる回路部を、回路を記述するネットリストの情報に基づいて複数の回路ブロックに分割し、相互にデータの受け渡しが可能な複数の処理手段を連携させながら、前記電磁界解析領域に対する電磁界解析と、前記回路ブロックに対する回路解析を行うためのシミュレーションプログラムであって、
 前記電磁界解析を行う複数の電磁界解析手段、前記回路解析を行う複数の回路解析手段、前記回路解析手段での回路解析に必要なデータを前記電磁界解析手段から集約し、それぞれの前記回路解析手段での回路解析に必要なデータを、対応する前記回路解析手段に渡す集約手段、として複数の処理装置を機能させることを特徴とするシミュレーションプログラム。
 前記集約手段は、前記電磁界解析手段での電磁界解析に必要なデータを前記回路解析手段から受け取り、それぞれの前記電磁界解析手段での電磁界解析に必要なデータを、対応する前記電磁界解析手段に渡すことを特徴とする請求項10または11に記載のシミュレーションプログラム。
 解析対象領域を複数の電磁界解析領域に分割し、相互にデータの受け渡しが可能な複数の処理手段を連携させながら、前記電磁界解析領域に対する電磁界解析と、前記解析対象領域に含まれる回路部に対する回路解析を行う際に実行されるシミュレーションプログラムであって、
 前記電磁界解析を行う複数の電磁界解析手段から、前記回路解析を行う1以上の回路解析手段での回路解析に必要なデータを受け取る工程と、
 前記電磁界解析手段から受け取ったデータを前記回路解析手段へ送る工程と、
 前記回路解析手段から、前記電磁界解析手段での電磁界解析に必要なデータを受け取る工程と、
 前記回路解析手段から受け取ったデータを前記電磁界解析手段へ送る工程と、
 を実行する集約手段として処理装置を機能させることを特徴とするシミュレーションプログラム。
 解析対象領域を複数の電磁界解析領域に分割し、相互にデータの受け渡しが可能な複数の処理手段を連携させながら、前記電磁界解析領域に対する電磁界解析と、前記解析対象領域に含まれる回路部に対する回路解析を行う際に実行されるシミュレーションプログラムを記録したコンピュータに読み取り可能な記録媒体であって、
 前記電磁界解析を行う複数の電磁界解析手段から、前記回路解析を行う1以上の回路解析手段での回路解析に必要なデータを受け取る工程と、
 前記電磁界解析手段から受け取ったデータを前記回路解析手段へ送る工程と、
 前記回路解析手段から、前記電磁界解析手段での電磁界解析に必要なデータを受け取る工程と、
 前記回路解析手段から受け取ったデータを前記電磁界解析手段へ送る工程と、
 を実行する集約手段として処理装置を機能させるシミュレーションプログラムを記録したコンピュータに読み取り可能な記録媒体。
Description:
シミュレーションシステム、シ ュレーションプログラムおよび該プログラ を記録した記録媒体

 本発明は、FDTD法による電磁界解析とSPICE どによる回路解析を融合したシミュレーシ ンを行うシミュレーションシステム、シミ レーションプログラムおよび該プログラム 記録したコンピュータ読み取り可能な記録 体に関するものである。特に、PCクラスタ グリッドコンピューティング環境などのよ に複数のコンピュータを使用したり、コン ュータ内の複数のCPUを使用して、上述した ミュレーションを並列処理で行うシミュレ ションシステム、シミュレーションプログ ムおよび該プログラムを記録したコンピュ タ読み取り可能な記録媒体に関する。

 電磁界の過渡的な挙動をコンピュータを った数値シミュレーションによって解析す 方法の1つに、FDTD(Finite Difference Time Domain 有限差分時間領域)法がある。また、SPICE(Simu lation Program with Integrated Circuit Emphasis)など 回路解析プログラムをコンピュータで実行 ることにより、回路の過渡的な挙動を数値 ミュレーションによって解析する方法があ 。

 さらに、電磁界解析と回路解析を融合し 数値シミュレーション方法(以下、融合シミ ュレーション法とする)が提案されている。 合シミュレーション方法は、回路素子の特 とその周囲の電磁界現象を統一的に解析で るので、回路中を伝搬する高周波信号の解 に非常に有用である。

 本出願人は、先に、融合シミュレーショ 法を実行するシミュレーション装置に関す 提案をしている(例えば、特許文献1参照。) この提案では、FDTD法のセルに回路の外部端 子を割り当てたセル(以下、回路セルとする) 電界および磁界を、それぞれ、回路端子に 続された等価回路の電圧および電流に対応 せることによって、電磁界解析と回路解析 連携が図られている。この提案によれば、 ない計算量で安定した解を得ることができ という効果が得られる。

 しかし、単一のCPU(演算処理装置)を有す 1台のコンピュータを用いて従来の融合シミ レーション法を行う場合には、解析領域が ードディスクやメモリの容量などの計算資 によって制約されてしまう。また、計算時 もCPUやメモリの動作速度によりほぼ決まっ しまう。

 従って、より大きな領域の解析を高速で うには、複数のCPUによる並列処理が望まし 。そこで、従来の融合シミュレーション法 解析精度を低下させることなく、1台のコン ピュータでは解析困難であるような大きな領 域の解析を2台以上の複数のコンピュータを いた並列処理によって効率よく、短時間で うシステムが提案されている(例えば、特許 献2参照。)。

 以下、コンピュータとCPUを総称して処理 置と呼ぶ。また、以下の説明において、混 を避けるため、名称が同じでも物理的に異 る構成については、その名称の後に単一ま は連続したアルファベット(AやAaなど)を付 して、区別する。

 図11は、従来の並列処理による融合シミ レーション法において分割された解析領域 構成を示す図である。図11に示す例では、プ リント基板1は、分割境界2により、電磁界解 領域H3と電磁界解析領域J4に分割されている 。そして、回路部F5および回路部G6は、それ れ、電磁界解析領域H3および電磁界解析領域 J4の閉じられた空間内に配置されている。回 部F5および回路部G6は、LSI等の回路素子で構 成されている。

 図12は、従来の並列処理による融合シミ レーション法を行うシミュレーションシス ムの構成を示す図である。図11に示す解析領 域の構成に対して、図12に示すように、処理 置A11、処理装置B12、処理装置D13および処理 置E14は、それぞれ、電磁界解析領域H3に対 る電磁界解析、電磁界解析領域J4に対する電 磁界解析、回路部F5に対する回路解析、およ 回路部G6に対する回路解析を担当する。

 処理装置A11と処理装置B12の間では、磁界 ータ(H)と電界データ(E)の受け渡しが行われ 。処理装置A11と処理装置D13の間、および処 装置B12と処理装置E14の間では、それぞれ、 量データ(C)と電流データ(I)と電圧データ(V) 受け渡しが行われる。一方、処理装置D13と 理装置E14の間では、データの受け渡しが発 しない。これは、図11に示すように、回路 F5および回路部G6が、それぞれ、電磁界解析 域H3および電磁界解析領域J4の閉じられた空 間内に配置されているからである。

 図13は、電流源法を用いた回路部の等価 路の構成を示す図である。図13に示すように 、等価回路21は、回路モデル部22の両極の間 接続された電流源23と、この電流源23と並列 接続されたコンデンサ24により表される。 理装置D13の回路解析部Da15および処理装置E14 回路解析部Ea16は、この等価回路21に基づい 、例えば、SPICEによる回路解析を行い、回 モデル部22の両極に印加される電圧Vを求め 。

特開平11-153634号公報

特開2004-54642号公報

 しかしながら、上述した従来の並列処理 よる融合シミュレーション法において、空 分割によって、回路部が複数の電磁界解析 域に跨がってしまうと、回路部の、一方の 磁界解析領域に含まれる部分の回路解析を う際に、他方の電磁界解析領域に含まれる 分の電流と電圧のデータが不足する。その め、回路解析を行うことができなくなって まう。

 これを回避するには、図11に示すように 閉じられた電磁界解析領域内に回路部が配 されるように、プリント基板を分割する必 がある。しかし、実際のプリント基板には 多くの回路部品が複雑に入り組んで配置さ るため、プリント基板をそのように分割す ことは極めて困難である。つまり、近時の うに、多数のLSIがプリント基板に搭載され いると、シミュレーションを行うことがで ないという問題点がある。

 本発明は、上記に鑑みてなされたもので って、FDTD法の空間分割により回路部が複数 の電磁界解析領域に跨がる場合に、並列処理 による融合シミュレーション法を効率よく行 うことができるシミュレーションシステム、 シミュレーションプログラムおよび該プログ ラムを記録した記録媒体を提供することを目 的とする。

 上述した課題を解決し、目的を達成する めに、本発明は、以下の特徴を有する。す わち、解析対象領域を複数の電磁界解析領 に分割し、電磁界解析手段としての機能を する複数の処理装置を用いた並列処理によ て、それら複数の電磁界解析領域に対する 磁界解析を行う。また、回路解析手段とし の機能を有する処理装置によって、前記解 対象領域に含まれる回路部に対する回路解 を行う。

 さらに、電磁界解析を行う処理装置と回 解析を行う処理装置との間のデータの受け しを行う集約手段としての機能を有する処 装置を設け、この処理装置に、電磁界解析 行う複数の処理装置から、回路解析に必要 データを集約し、集約したデータを、回路 析を行う処理装置へ渡す。また、集約手段 しての機能を有する処理装置に、回路解析 行う処理装置から、電磁界解析に必要なデ タを集約し、集約したデータを、電磁界解 を行う処理装置へ渡す。

 この発明によれば、電磁界解析手段によ 得られたデータは、集約手段を経由して回 解析手段に渡される。また、回路解析手段 より得られたデータは、集約手段を経由し 電磁界解析手段に渡される。従って、空間 割によって回路部が複数の電磁界解析領域 跨がっても、回路解析手段は、回路部を分 しないで、回路解析を行うことができる。

 本発明にかかるシミュレーションシステ 、シミュレーションプログラムおよび該プ グラムを記録した記録媒体は、FDTD法の空間 分割により回路部が複数の電磁界解析領域に 跨がる場合でも、並列処理による融合シミュ レーション法を効率よく行うことができると いう効果を奏する。

図1は、この発明の実施の形態1におけ 解析領域の構成を示す図である。 図2は、この発明の実施の形態1にかか シミュレーションシステムの構成を示す図 ある。 図3は、この発明の実施の形態1にかか シミュレーションシステムの回路セル情報 ーブルの構成を示す図である。 図4は、各処理装置のハードウェア構成 を示す図である。 図5は、この発明の実施の形態1にかか シミュレーションシステムの電磁界解析を 当する処理装置の動作を説明する図である 図6は、この発明の実施の形態1にかか シミュレーションシステムのデータ集約を 当する処理装置の動作を説明する図である 図7は、この発明の実施の形態1にかか シミュレーションシステムの回路解析を担 する処理装置の動作を説明する図である。 図8は、この発明の実施の形態2におけ 解析領域の構成を示す図である。 図9は、この発明の実施の形態2にかか シミュレーションシステムの構成を示す図 ある。 図10は、この発明の実施の形態2にかか るシミュレーションシステムの回路セル情報 テーブルの構成を示す図である。 図11は、従来の解析領域の構成を示す である。 図12は、従来のシミュレーションシス ムの構成を示す図である。 図13は、電流源法を用いた回路部の等 回路の構成を示す図である。

符号の説明

 31 プリント基板
 33,34 電磁界解析領域
 35 回路部
 36,37 回路ブロック
 41,42,43,44,71 処理装置
 45,47 電磁界解析部
 55,72 回路解析部
 52 回路セルデータの集約部

 以下に、本発明にかかるシミュレーショ システム、シミュレーションプログラムお び該プログラムを記録した記録媒体の実施 を図面に基づいて詳細に説明する。なお、 の実施例によりこの発明が限定されるもの はない。

実施の形態1
(シミュレーションシステムの構成)
 図1は、実施の形態1の融合シミュレーショ 法において分割された解析領域の構成を示 図である。図1に示すように、実施の形態1で は、プリント基板31は、分割境界32により、 磁界解析領域H33と電磁界解析領域J34に分割 れている。回路部35は、電磁界解析領域H33と 電磁界解析領域J34に跨がって配置されている 。

 プリント基板31は、解析対象領域である 電磁界解析領域H33および電磁界解析領域J34 、FDTD法などによる電磁界解析対象領域であ 。回路部35は、SPICEなどによる回路解析対象 領域である。回路部35は、LSI等の回路素子で 成されている。

 図2は、この発明の実施の形態1にかかる ミュレーションシステムの構成を示す図で る。図1に示す解析領域の構成に対して、図2 に示すように、処理装置A41、処理装置B42、処 理装置C43および処理装置D44は、それぞれ、電 磁界解析領域H33に対する電磁界解析、電磁界 解析領域J34に対する電磁界解析、回路セルの データの集約、および回路部35に対する回路 析を担当する。

 処理装置A41、処理装置B42および処理装置C 43は、ネットワークを介して相互にデータ通 が可能な状態に接続されている。また、処 装置D44は、処理装置C43に、ネットワークを して相互にデータ通信が可能な状態に接続 れている。

 処理装置A41は、電磁界解析部Aa45および電 圧値・電流値交換部Ab46を備えている。処理 置B42は、電磁界解析部Ba47および電圧値・電 値交換部Bb48を備えている。電磁界解析部Aa4 5および電磁界解析部Ba47は、それぞれ、電磁 解析領域Hの構造データ49および電磁界解析 域Jの構造データ50に基づいて、回路セル51 辺における電界Eと、その周囲の磁界Hとの過 渡的な変化を計算する。

 電圧値・電流値交換部Ab46および電圧値・ 電流値交換部Bb48は、それぞれ、回路セルの りの磁界(H)を電流(I)に変換し、その電流値 処理装置C43へ渡す。また、電圧値・電流値 換部Ab46および電圧値・電流値交換部Bb48は、 それぞれ、処理装置C43から渡される電圧(V)を 電界(E)に変換して回路セルに設定する。

 処理装置C43は、回路セルデータの集約部5 2を備えている。回路セルデータの集約部52は 、処理装置A41および処理装置B42から等価回路 の容量(C)と等価回路の電流(I)を受け取るとと もに、処理装置D44から等価回路の電圧(V)を受 け取り、それらを集約した回路セル情報テー ブル53を作成する。

 そして、回路セルデータの集約部52は、 路セルの配置・接続情報データ54に基づいて 、回路セル情報テーブル53から、回路解析に 要なデータを選択して処理装置D44へ渡す。 た、回路セルデータの集約部52は、回路セ の配置・接続情報データ54に基づいて、回路 セル情報テーブル53から、電磁界解析部Aa45に よる電磁界解析に必要なデータを選択して処 理装置A41に渡し、電磁界解析部Ba47による電 界解析に必要なデータを選択して処理装置B4 2に渡す。

 処理装置D44は、回路解析部55を備えてい 。回路解析部55は、回路部のネットリスト56 基づいて、ネットリストの回路方程式を解 。FDTD法の電磁界の計算方法、等価回路の電 流の計算方法、等価回路の電圧から回路セル の電界を計算する方法などについては、前記 特許文献1および特許文献2に詳述されている で、ここでは説明を省略する。

 図3は、この発明の実施の形態1にかかる ミュレーションシステムの回路セル情報テ ブルの構成を示す図である。図3に示すよう 、回路セル情報テーブル53では、空間内配 情報フィールド61、容量値フィールド62、電 値フィールド63、電流値フィールド64および ネットリスト接続情報フィールド65によりレ ードが構成されている。

 空間内配置情報フィールド61には、回路 ルの空間内における座標の情報が格納され 。容量値フィールド62および電流値フィール ド64には、それぞれ、処理装置A41または処理 置B42から渡される等価回路の容量値と等価 路の電流値が格納される。電圧値フィール 63には、処理装置D44から渡される等価回路 電圧値が格納される。ネットリスト接続情 フィールド65には、等価回路が接続している ネットリストの情報が格納される。

 回路セルデータの集約部52は、回路セル 報テーブル53の各レコードの空間内配置情報 フィールド61を参照する。回路セルデータの 約部52は、空間内配置情報フィールド61に電 磁界解析領域H33内の座標が格納されているレ コードについては、その電圧値フィールド63 格納値を処理装置A41に渡す。一方、空間内 置情報フィールド61に格納されている座標 電磁界解析領域J34内の座標であれば、回路 ルデータの集約部52は、そのレコードの電圧 値フィールド63の格納値を処理装置B42に渡す

 また、回路セルデータの集約部52は、ネ トリスト接続情報フィールド65に格納されて いる接続先ネットリストの情報に基づいて、 そのネットリストの解析を担当している処理 装置D44に、そのレコードの容量値フィールド 62および電流値フィールド64のそれぞれの格 値を渡す。ここでは、回路セル情報テーブ 53のすべてのレコードについて、容量値フィ ールド62の格納値と電流値フィールド64の格 値を渡す先は、処理装置D44である。

 図4は、各処理装置のハードウェア構成を 示す図である。図4に示すように、処理装置A4 1、処理装置B42、処理装置C43および処理装置D4 4の各処理装置は、CPU101、ROM102、RAM103、HDD(ハ ドディスクドライブ)104、HD(ハードディスク )105、FDD(フレキシブルディスクドライブ)106、 着脱可能な記録媒体の一例としてのFD(フレキ シブルディスク)107、ディスプレイ108、I/F(イ ターフェース)109、キーボード110、マウス111 、スキャナ112、およびプリンタ113を備えてい る。また、各構成部は、バス100によってそれ ぞれ接続されている。

 ここで、CPU101は、処理装置の全体の制御 司る。ROM102は、ブートプログラムなどのプ グラムを記憶している。RAM103は、CPU101のワ クエリアとして使用される。HDD104は、CPU101 制御に従ってHD105に対するデータのリード/ イトを制御する。HD105は、HDD104の制御で書 込まれたデータを記憶する。

 FDD106は、CPU101の制御に従ってFD107に対す データのリード/ライトを制御する。FD107は FDD106の制御で書き込まれたデータを記憶し り、FD107に記憶されたデータを処理装置に読 み取らせたりする。

 また、着脱可能な記録媒体として、FD107 ほか、CD-ROM(CD-R、CD-RW)、MO、DVD(Digital Versatile  Disk)、メモリーカードなどであってもよい ディスプレイ108は、カーソル、アイコンあ いはツールボックスをはじめ、文書、画像 機能情報などのデータを表示する。このデ スプレイ108は、例えば、CRT、TFT液晶ディス レイ、プラズマディスプレイなどを採用す ことができる。

 I/F109は、通信回線を通じてインターネッ などのネットワーク114に接続され、このネ トワーク114を介して他の装置に接続される そして、I/F109は、ネットワーク114と内部の ンターフェースを司り、外部装置からのデ タの入出力を制御する。I/F109には、例えば デムやLANアダプタなどを採用することがで る。

 キーボード110は、文字、数字、各種指示 どの入力のためのキーを備え、データの入 を行う。また、タッチパネル式の入力パッ やテンキーなどであってもよい。マウス111 、カーソルの移動や範囲選択、あるいはウ ンドウの移動やサイズの変更などを行う。 インティングデバイスとして同様に機能を えるものであれば、トラックボールやジョ スティックなどであってもよい。

 スキャナ112は、画像を光学的に読み取り 処理装置内に画像データを取り込む。なお スキャナ112は、OCR機能を持たせてもよい。 た、プリンタ113は、画像データや文書デー を印刷する。プリンタ113には、例えば、レ ザプリンタやインクジェットプリンタを採 することができる。

 前記電磁界解析部Aa45、電圧値・電流値交 換部Ab46、電磁界解析部Ba47、電圧値・電流値 換部Bb48、回路セルデータの集約部52および 路解析部55は、具体的には、例えば、図4に すROM102、RAM103、HD105などの記録媒体に記録 れたプログラムを、CPU101が実行することに って、またはI/F109によって、その機能を実 する。また、前記回路セル情報テーブル53は 、図4に示すRAM103やHD105などの記録媒体に作成 される。

(シミュレーションシステムの動作)
 図5は、この発明の実施の形態1にかかるシ ュレーションシステムの電磁界解析を担当 る処理装置の動作を説明する図である。図5 示すように、処理装置A41および処理装置B42 電磁界解析処理が開始されると、まず、処 装置A41は、電磁界解析領域Hの構造データ49 読み込む。同様に、処理装置B42は、電磁界 析領域Jの構造データ50を読み込む(ステップ S1)。

 次いで、処理装置A41は、電磁界解析領域H 33に含まれる回路セル51の等価回路の容量を 算し、その値(等価回路容量)を処理装置C43の 回路セルデータの集約部52へ送信する。また 同様に、処理装置B42は、電磁界解析領域J34 含まれる回路セル51の等価回路の容量を計 し、その値(等価回路容量)を回路セルデータ の集約部52へ送信する(ステップS2)。そして、 処理装置A41および処理装置B42は、電磁界を初 期化する(ステップS3)。

 次いで、電磁界解析部Aa45および電磁界解 析部Ba47は、磁界を計算し(ステップS4)、境界 の磁界を交換する(ステップS5)。ここまでで 、全空間内の磁界配置が確定する。従って、 電圧値・電流値交換部Ab46は、電磁界解析領 H33に含まれる回路セル51の周りの磁界を回路 セルの等価電流に変換する。同様に、電圧値 ・電流値交換部Bb48は、電磁界解析領域J34に まれる回路セル51の周りの磁界を回路セルの 等価電流に変換する(ステップS6)。

 次いで、処理装置A41および処理装置B42は 電圧値・電流値交換部Ab46および電圧値・電 流値交換部Bb48により得た等価電流の値を処 装置C43の回路セルデータの集約部52へ送信す る(ステップS7)。そして、電磁界解析部Aa45お び電磁界解析部Ba47は、電界を計算して解析 する(ステップS8)。

 電界の解析が終了すると、処理装置A41お び処理装置B42は、回路セルデータの集約部5 2に対して回路セルの電圧値を要求する。処 装置A41および処理装置B42は、電圧値の要求 対する応答として、回路セルデータの集約 52から対応する電圧値を受信する(ステップS9 )。そして、電圧値・電流値交換部Ab46および 圧値・電流値交換部Bb48は、それぞれが受信 した電圧値を回路セルの電界に変換し、それ を回路セルに設定する(ステップS10)。

 電磁界解析部Aa45および電磁界解析部Ba47 、それぞれが担当する電磁界解析領域内の べての回路セルの電界を設定した後、境界 の電界を交換する(ステップS11)。ここまでで 、ある時刻における全空間内の電界が確定す る。次いで、処理装置A41および処理装置B42は 、電磁界解析の終了時刻であるか否かを判定 する(ステップS12)。

 その結果、終了時刻であれば(ステップS12 :Yes)、処理装置A41および処理装置B42は、図5に 示す一連の電磁界解析処理を終了する。一方 、終了時刻でなければ(ステップS12:No)、時刻 進め(ステップS13)、終了時刻に到達するま 、ステップS4以降の処理を繰り返す。

 図6は、この発明の実施の形態1にかかる ミュレーションシステムのデータ集約を担 する処理装置の動作を説明する図である。 6に示すように、処理装置C43のデータ集約処 が開始されると、まず、処理装置C43は、回 セルの配置・接続情報データ54を読み込み 回路セル情報として、回路セルの空間内の 置データと回路ネット内の接続情報を取得 る(ステップS21)。

 そして、回路セルデータの集約部52は、 め用意された回路セル情報テーブル53の各フ ィールドに回路セルの空間内の配置データお よび回路ネット内の接続情報を格納し、回路 セル情報テーブル53を作成する(ステップS22) その後、回路セルデータの集約部52は、前記 ステップS2において処理装置A41および処理装 B42から送信された等価回路の容量値を受信 、回路セル情報テーブル53にその容量値を 納する(ステップS23)。

 次いで、回路セルデータの集約部52は、 価回路の容量値を処理装置D44の回路解析部55 へ送信する(ステップS24)。その後、回路セル ータの集約部52は、前記ステップS7において 処理装置A41の電圧値・電流値交換部Ab46およ 処理装置B42の電圧値・電流値交換部Bb48から 信された等価電流の値を受信し、回路セル 報テーブル53にその電流値を格納する(ステ プS25)。

 その後、回路セルデータの集約部52は、 理装置D44の回路解析部55から電流値の要求を 受け取ると、回路セル情報テーブル53を参照 、対応する電流値を回路解析部55へ送信す (ステップS26)。その後、回路セルデータの集 約部52は、回路解析部55から等価回路の電圧 を受信し、回路セル情報テーブル53にその電 圧値を格納する(ステップS27)。

 そして、回路セルデータの集約部52は、 理装置A41および処理装置B42から電圧値の要 を受け取ると、回路セル情報テーブル53を参 照し、対応する電圧値を処理装置A41の電圧値 ・電流値交換部Ab46または処理装置B42の電圧 ・電流値交換部Bb48へ送信する(ステップS28) 送信された電圧値は、前記ステップS9におい て、処理装置A41または処理装置B42により受信 される。

 次いで、データ集約処理の終了か否か、 なわち処理装置A41および処理装置B42での電 界解析と、処理装置D44での回路解析が終了 たか否かを判定する(ステップS29)。その結 、終了であれば(ステップS29:Yes)、処理装置C4 3は、図6に示す一連のデータ集約処理を終了 る。一方、終了でなければ(ステップS29:No) 終了となるまで、ステップS25以降の処理を り返す。

 図7は、この発明の実施の形態1にかかる ミュレーションシステムの回路解析を担当 る処理装置の動作を説明する図である。図7 示すように、処理装置D44の回路解析処理が 始されると、まず、処理装置D44は、回路部 ネットリスト56を読み込む(ステップS31)。そ して、回路解析部55は、前記ステップS24にお て回路セルデータの集約部52から送信され 等価回路の容量値を受信し(ステップS32)、回 路の初期状態を計算する(ステップS33)。

 次いで、回路解析部55は、回路セルデー の集約部52に対して回路セルの等価電流の値 を要求する。回路解析部55は、その電流値の 求に対する応答として、前記ステップS26に いて回路セルデータの集約部52から送信さ た電流値を受信する(ステップS34)。そして、 回路解析部55は、ネットリストに記述されて るすべての回路セルの等価回路の電流値を 信した後に、ネットリストの回路方程式を く(ステップS35)。

 それによって、回路セルの等価回路の電 が確定する。従って、処理装置D44は、回路 ルデータの集約部52へその電圧値を送信す (ステップS36)。送信された電圧値は、前記ス テップS27において、処理装置C43により受信さ れる。

 次いで、処理装置D44は、回路解析の終了 刻であるか否かを判定する(ステップS37)。 の結果、終了時刻であれば(ステップS37:Yes) 処理装置D44は、図7に示す一連の回路解析処 を終了する。一方、終了時刻でなければ(ス テップS37:No)、時刻を進め(ステップS38)、終了 時刻に到達するまで、ステップS34以降の処理 を繰り返す。

 実施の形態1によれば、電磁界解析部Aa45 よび電磁界解析部Ba47のそれぞれで得られた ータが回路セルデータの集約部52に集約さ 、それらのデータが回路セルデータの集約 52から回路解析部55に渡される。従って、空 分割によって回路部35が電磁界解析領域H33 電磁界解析領域J34に跨がり、回路部35の回路 端子が、分割された空間領域に分散配置され る回路セルに割り当てられている場合でも、 回路解析部55は、回路部35を分割しないで、 路解析を行うことができる。

 また、実施の形態1によれば、並列処理に よる融合シミュレーション法を効率よく行う ことができる。例えば、図1に示す解析領域 構成に対して、回路部35が分割境界32により 割されないように、回路部35を含む広い領 (例えば、3.5cm×3.5cm×2mm程度)を1つの領域とす る。この領域に対して1台の処理装置を用い 、FDTD法により高精度に10nsの時間までの解析 を行うと、4GBのメモリが必要であり、計算が 終了するまで42日の時間がかかると試算され 。それに対して、実施の形態1のように、例 えば、その試算で用いた領域を64個に分割し 64台の処理装置を用いて並列に処理する場 には、処理装置1台あたりに必要なメモリは6 4MBで済み、18時間で計算が終了すると試算さ る。

実施の形態2
(シミュレーションシステムの構成)
 図8は、実施の形態2の融合シミュレーショ 法において分割された解析領域の構成を示 図である。図8に示すように、実施の形態2で は、回路部35が回路ブロックK36と回路ブロッ L37の2つに分割されている。回路解析対象領 域である回路ブロックK36と回路ブロックL37の 分け方は、電磁界解析対象領域である電磁界 解析領域H33と電磁界解析領域J34の分け方に依 存しない。

 図9は、この発明の実施の形態2にかかる ミュレーションシステムの構成を示す図で る。図8に示す解析領域の構成に対して、図9 に示すように、処理装置D44および処理装置E71 は、それぞれ、回路ブロックK36に対する回路 解析および回路ブロックL37に対する回路解析 を担当する。処理装置D44および処理装置E71は 、ネットワークを介して相互に、また、処理 装置C43に、データ通信が可能な状態に接続さ れている。

 処理装置C43は、処理装置D44および処理装 E71から等価回路の電圧(V)を受け取り、それ を集約した回路セル情報テーブル53を作成 る。回路セルデータの集約部52は、回路セル の配置・接続情報データ54に基づいて、回路 ル情報テーブル53から、処理装置D44での回 解析に必要なデータを選択して処理装置D44 渡し、処理装置E71での回路解析に必要なデ タを選択して処理装置E71へ渡す。

 処理装置D44は、回路解析部Da55を備えてい る。回路解析部Da55は、回路ブロックKのネッ リストM73に基づいて、ネットリストの回路 程式を解く。処理装置E71は、回路解析部Ea72 を備えている。回路解析部Ea72は、回路ブロ クLのネットリストN74に基づいて、ネットリ トの回路方程式を解く。また、回路解析部D a55と回路解析部Ea72は、回路ブロックK36と回 ブロックL37の接続部分のデータ交換を行う

 図10は、この発明の実施の形態2にかかる ミュレーションシステムの回路セル情報テ ブルの構成を示す図である。図10に示すよ に、実施の形態2では、回路セル情報テーブ 53のネットリスト接続情報フィールド65に、 等価回路が接続しているネットリストを判別 する情報(ネットリストM、ネットリストN)が 納される。

 このネットリストの判別情報があること よって、回路ブロックK36内の回路セルにつ ては、回路セルデータの集約部52を介して 回路ブロックKのネットリストを実行してい 回路解析部Da55と電磁界解析部Aa45との間で ータを交換することができる。回路ブロッ L37内の回路セルについても同様である。

 処理装置E71のハードウェア構成は、図4に 示す通りである。その他の構成は、実施の形 態1と同じである。実施の形態1と同様の構成 ついては、説明が重複するので、省略する また、処理装置E71の動作は、図7に示す処理 装置D44の回路解析処理と同じである。ただし 、図7のステップS35において、回路解析部Da55 回路解析部Ea72は、それぞれがネットリスト の回路方程式を解く際に、回路ブロックK36と 回路ブロックL37の接続部分のデータを交換す る。

 実施の形態2によれば、電磁界解析部Aa45 よび電磁界解析部Ba47のそれぞれで得られた ータが回路セルデータの集約部52に集約さ 、回路セルデータの集約部52から回路解析部 Da55および回路解析部Ea72に、それぞれの解析 での回路解析に必要なデータが渡される。 って、FDTD法での空間分割とは関係なく、回 路部35を回路ブロックK36と回路ブロックL37に 割することができるので、信号線の少ない 路ブロック間を選んで分割することができ 。

 例えば、回路ブロックK36と回路ブロックL 37の間のデータ通信が必要な信号線の数を数 本程度に抑えることができるので、回路解 部Da55と回路解析部Ea72の間の通信時間は、 時間で済み、ボトルネックにはならない。 れに対して、図8に示す解析領域の構成に対 て、回路ブロックK36と回路ブロックL37を無 して、電磁界解析領域H33と電磁界解析領域J 34を分ける分割境界32で5mm×5mm程度の回路部35 分割すると、相互のデータ通信に必要な信 線の数が5万本程度になると推測される。

 この場合、回路解析部Da55および回路解析 部Ea72が、例えばダイアコプティクス法とし 知られる分割回路解析手法により回路方程 を解く過程において、回路解析部Da55と回路 析部Ea72の間で、最低でも5万個のデータを 1回のイタレーションあたり、2回やり取りす る必要がある。収束するまでに1時刻あたり3 のイタレーションが行われると仮定すると 1時刻あたり30万個のデータを通信する必要 ある。

 データ1個あたり8バイトとすると、1時刻 データ通信量は240万バイト(1920万ビット)と る。通信速度が平均して10Mbps程度であると 定すると、1時刻あたりのデータ通信に約1.8 秒を要すことになる。FDTD法では50fs程度の時 間隔で解析が行われる。従って、10nsの時間 まで解析すると、回路解析部Da55と回路解析 Ea72の間の通信時間だけで100時間かかること なり、これが大きなボトルネックとなるた 、実用的でない。

 以上において本発明は、上述した実施の 態1および2に限らず、種々変更可能である 例えば、電圧値・電流値交換部Ab46および電 値・電流値交換部Bb48を、データ集約を担当 する処理装置に設けてもよいし、回路解析を 担当する処理装置に設けてもよい。また、デ ータ集約を担当する処理装置をなくし、それ と同等の機能を、電磁界解析を担当する処理 装置に設けてもよいし、回路解析を担当する 処理装置に設けてもよい。

 さらに、回路部35のネットリストが互い 接続関係のない独立した複数のネットリス からなる場合には、データ集約を担当する 理装置として、それぞれのネットリストで 述される回路に対応する複数の処理装置を け、接続関係のない独立したネットリスト とにデータを集約するようにしてもよい。 た、データ集約を担当する処理装置は、回 セルの空間内の配置情報とネットリスト内 接続情報を読み込む処理を行う代わりに、 磁界解析を担当する処理装置や回路解析を 当する処理装置との通信により、これらの 報を取得するようにしてもよい。

 また、処理装置A41、処理装置B42、処理装 C43、処理装置D44および処理装置E71は、図4に 示すようなコンピュータではなく、それらの うちの2つ以上が、単一の筐体内に複数のCPU 内蔵されたコンピュータの、その内蔵され CPUであってもよい。さらに、電磁界解析を 当する処理装置の数や回路解析を担当する 理装置の数は、上述した例に限らない。