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Title:
デュアルエネルギー微分位相コントラスト撮像
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2017530827
Kind Code:
A
Abstract:
干渉計ＩＦを有する、格子組み込み式干渉計Ｘ線撮像装置。干渉計は、少なくとも１つの格子Ｇ１を含む。格子Ｇ１は、Ｘ線撮像装置の光軸に対して傾けることができる。これにより、Ｘ線撮像装置の設計エネルギーを変更することが可能になる。

Inventors:
Mertens Gerhard
Van staender loud
Application Number:
JP2017520446A
Publication Date:
October 19, 2017
Filing Date:
August 26, 2016
Export Citation:
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Assignee:
KONINKLIJKE PHILIPS N.V.
International Classes:
A61B6/00
Domestic Patent References:
JP2011227041A2011-11-10
JP2013063099A2013-04-11
JP2014178130A2014-09-25
JP2014521437A2014-08-28
Foreign References:
WO2015044001A12015-04-02
WO2015064723A12015-05-07
Attorney, Agent or Firm:
Patent Services Corporation m&s Partners



 
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