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Title:
物体を光学式に検査するための検査装置及び物体検査システム
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2020517965
Kind Code:
A
Abstract:
製造プロセスの物体及びワークピースの品質は、表面及び/又は形状に基づいて評価されることが多い。ハウジング(3)と、メインカメラ(2)と、評価ユニット(10)と、を備えた、物体(7)を光学式に、特に偏向計測式に検査するための検査装置(1)が提案され、ハウジング(3)は、開口部(4)を備えた中空体であり、物体(7)は、検査のために開口部(4)に位置決め可能であり、メインカメラ(2)は、撮影方向及び撮影面を有し、メインカメラ(2)は、ハウジング(3)の開口部(4)への撮影方向を備えるように配置され、検査装置(1)は、複数の光源(6)を含み、光源(6)は、開口部(4)の周囲に配置され、光源(6)は、撮影面を可変に照明するように構成され、メインカメラ(2)は、撮影面に位置する物体(7)に関して、複数の物体画像を撮影するように構成され、評価ユニット(10)は、物体画像に基づいて、物体(7)の幾何学形態を特定するように構成される。

Inventors:
Alexander Tove
Martin bearer
Application Number:
JP2019558573A
Publication Date:
June 18, 2020
Filing Date:
February 23, 2018
Export Citation:
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Assignee:
ROBERT BOSCH GMBH
International Classes:
G01N21/84
Domestic Patent References:
JP2010060312A2010-03-18
JP2015508499A2015-03-19
JP2013185994A2013-09-19
JPH06300702A1994-10-28
Foreign References:
US20020179679A12002-12-05
US20040150822A12004-08-05
KR101376274B12014-03-26
Attorney, Agent or Firm:
Einzel Felix-Reinhard
Morita Taku
Junichi Maekawa
Hiroyasu Ninomiya
Ueshima