Title:
蛍光Ｘ線分析用試料保持具
Document Type and Number:
Japanese Patent JP3203166
Kind Code:
U
Abstract:
【課題】測定の障害となる不純線を発生させず、高精度分析ができ、かつ、試料室からスムーズに搬出できる蛍光Ｘ線分析用試料保持具を提供する。【解決手段】本考案の蛍光Ｘ線分析用試料保持具１は、筒状の外側側壁部１０ａ、および、薄膜状試料Ｓを支持する輪状の支持部１０ｂを有して、薄膜状試料Ｓを内部に収容する保持部材１０と、筒状の内側側壁部２０ａ、および、薄膜状試料Ｓの周縁部に上方から当接する輪状の当接部２０ｂを有し、保持部材１０の内部に収容される入れ子に形成されて、当接部２０ｂが当接する薄膜状試料の周縁部を上方から押さえる押さえ部材と、を備え、内側側壁部２０ａの上端２０ｃが平板状部材３０に当接した場合に、平板状部材３０、押さえ部材２０および当接部２０ｂが当接する薄膜状試料Ｓで囲まれる内部空間とその外側の外部空間とを連通させる逃がし流路２０ｄを、内側側壁部２０ａが有する。【選択図】図１
Inventors:
Takahashi
Minoru Inoue
Minoru Inoue
Application Number:
JP2015006269U
Publication Date:
March 17, 2016
Filing Date:
December 11, 2015
Export Citation:
Assignee:
Rigaku Corporation
International Classes:
G01N23/22; G01N23/223
Attorney, Agent or Firm:
Shuji Sugimoto
Masashi Noda
Kenro Tsutsumi
Masashi Noda
Kenro Tsutsumi