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Patent Searching and Data


Title:
学習装置、学習方法、及びそのプログラム
Document Type and Number:
Japanese Patent JP6536978
Kind Code:
B1
Abstract:
【課題】処理対象物に対しての加工・組立等の処理において、制御対象に与える指令値を生成するための補正量を学習する技術を提供する。【解決手段】補正量に基づいて目標値を補正した指令値を出力するコントローラと、コントローラから出力される指令値が入力され当該指令値の応答として制御量が出力される制御対象とを備える制御系において、コントローラに対して所定の補正量を出力するように学習された学習済みモデルを含む調整器に対して、学習済みモデルを提供する学習装置であって、制御量の品質を評価する評価部と生成した補正量候補と処理対象物の特定のパラメータとを教師データとして学習を行い、学習済みモデルを生成する学習部と、生成された補正量に基づいて目標値を補正した指令値を制御対象に与えたときの制御量に基づいて評価された品質が予め定められた許容範囲内であるときに、前記学習済みモデルを前記調整器に提供する設定部と、を備える。【選択図】図2

Inventors:
Takashi Fujii
Yuki Ueyama
Yasuaki Abe
Nobuyuki Sakatani
Kazuhiko Imatake
Application Number:
JP2018047865A
Publication Date:
July 03, 2019
Filing Date:
March 15, 2018
Export Citation:
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Assignee:
OMRON Corporation
International Classes:
G05B13/02; G06N20/00
Domestic Patent References:
JP6314106A
JP6324710A
JP3164804A
JP2012181668A
JP2009128972A
JP2005211928A
JP2008102720A
JP2000330610A
JP7105159A
JP2015018388A
JP2018036773A
JP2017068658A
Foreign References:
WO2017094424A1
Attorney, Agent or Firm:
Yoshiyuki Inaba
Toshifumi Onuki
Akihiko Eguchi
Kazuhiko Naito
Kentaro Ito