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Patent Searching and Data


Title:
光学装置、および光学装置を用いて物体の寸法を測定する方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2007032136
Kind Code:
A1
Abstract:
高所作業車や梯子を用いることなく、遠くにある物体、例えばコンクリートのクラックの寸法を測定できる装置と方法を提供する。そのため、光学装置(例えば、測量装置10)は、投影板(46)を有する望遠鏡(16)を備えている。投影板(46)は、上記投影板(46)に投影された物体(C)の像(C’)の大きさ(W)と対比するための参照スケール(52)が複数設けてある。この参照スケール(52)で計測される物体像の大きさと、光学装置の測距部(20)で計測された距離(基準点P0から物体までの距離)を用いて、物体の大きさが測定できる。

Inventors:
Kazuhide Nakaba
Application Number:
JP2007503140A
Publication Date:
March 19, 2009
Filing Date:
June 26, 2006
Export Citation:
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Assignee:
Kansai Construction Survey Co., Ltd.
Kazuhide Nakaba
International Classes:
G01B11/02
Attorney, Agent or Firm:
Takuji Yamada
Mitsuo Tanaka