Title:
クラスタリングシステムおよび欠陥種類判定装置
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2008004559
Kind Code:
A1
Abstract:
従来例に比して高速かつ高精度に分類対象データを分類することができるクラスタリングシステムを提供する。本発明のクラスタリングシステムは、学習データの母集団により形成されたクラスタ各々へ、入力データを、該入力データが有する特徴量により分類するクラスタリングシステムにおいて、クラスタ各々に対応して、分類に用いる特徴量の組合せである特徴量セットが記憶されている特徴量セット記憶部と、入力データから予め設定されている特徴量を抽出する特徴量抽出部と、各クラスタに対応した特徴量セット毎に、該特徴量セットに含まれる特徴量に基づいて、各クラスタの母集団の中心と前記入力データとの距離を、各々セット距離として計算して出力する距離計算部と、各セット距離を小さい順に配列する順位抽出部とを備える。
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Inventors:
Makoto Yuzawa
Akio Suguro
Koji Onishi
Akio Suguro
Koji Onishi
Application Number:
JP2008523694A
Publication Date:
December 03, 2009
Filing Date:
July 03, 2007
Export Citation:
Assignee:
Asahi Glass Co., Ltd.
International Classes:
G06N3/00; G06N5/04; G06N20/00
Attorney, Agent or Firm:
Sumio Tanai
Masatake Shiga
Suzuki Mitsuyoshi
Noriko Yanai
Masatake Shiga
Suzuki Mitsuyoshi
Noriko Yanai