Title:
アナログデジタル変換器および半導体集積回路装置
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2010095232
Kind Code:
A1
Abstract:
従来のタイムインターリーブ型アナログデジタル変換器のデジタルキャリブレーション手法では、次世代アプリケーションの高速サンプルレートに対応し、かつ、高い分解能を実現する高精度なキャリブレーションを行うことができない。これを解決するため、キャリブレーション対象となるタイムインターリーブ型アナログデジタル変換器と共通の入力に、参照用アナログデジタル変換ユニットを並列に接続し、参照用アナログデジタル変換ユニットが出力する低速、高分解能のアナログデジタル変換結果を利用して、タイムインターリーブ型アナログデジタル変換器を構成する各単位アナログデジタル変換ユニットの出力を、デジタル領域でキャリブレーションする。また、上記の参照用アナログデジタル変換ユニットの動作クロック周波数をfCLK/N（ただし、fCLKは、タイムインターリーブ型アナログデジタル変換器全体としてのサンプルレート。また、Ｎは、単位アナログデジタル変換ユニットの並列数Ｍと互いに素であること。）とする。この構成によれば、全ての単位アナログデジタル変換ユニットのサンプリングを、参照用アナログデジタル変換ユニットのサンプリングと順次同期させることができ、かつ、参照用アナログデジタル変換器の動作クロック周波数を、タイムインターリーブ型アナログデジタル変換器全体としてのサンプルレートよりＮ倍低速にできる。
Inventors:
Shun Oshima
Daizo Yamawaki
Tomomi Takahashi
Daizo Yamawaki
Tomomi Takahashi
Application Number:
JP2011500395A
Publication Date:
August 16, 2012
Filing Date:
February 19, 2009
Export Citation:
Assignee:
株式会社日立製作所
International Classes:
H03M1/10
Attorney, Agent or Firm:
Yamato Tsutsui
Previous Patent: アルミニウム腐食抑制性を有する酸性酸化剤含有組成物およびその用途
Next Patent: COVER STRUCTURE OF DOOR OPENING/CLOSING DEVICE
Next Patent: COVER STRUCTURE OF DOOR OPENING/CLOSING DEVICE