Title:
保護継電装置の特性試験システム
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2019229886
Kind Code:
A1
Abstract:
保護継電装置の内部に設けられた試験波形発生回路で生成したテスト信号の健全性が確認できる保護継電装置の特性試験システムを得る。保護継電装置（１）の演算処理部（２）からの処理信号によって計測回路（６）に入力されるテスト信号を生成する試験波形発生回路（７）からのテスト信号を計測する電圧計測装置（１５）を備えている。
Inventors:
Yuki Tadara
Sasakawa Satoru
Sasakawa Satoru
Application Number:
JP2018548227A
Publication Date:
June 18, 2020
Filing Date:
May 30, 2018
Export Citation:
Assignee:
Mitsubishi Electric Corporation
International Classes:
G01R31/00; G01R31/327; G01R35/00; H02H3/05
Attorney, Agent or Firm:
Masuo Oiwa
Takenaka Ikuo
Keigo Murakami
Kenji Yoshizawa
Takenaka Ikuo
Keigo Murakami
Kenji Yoshizawa