Title:
コンデンサの検査方法及びそれに用いる検査装置
Document Type and Number:
Japanese Patent JP7147093
Kind Code:
B1
Abstract:
【課題】製造ライン上のコンデンサを、簡便な装置を用いて定格（電圧、電流）内で非破壊検査し、欠陥を高速に高信頼度で検出することが可能なコンデンサの検査方法及びこれに用いる検査装置を提供すること。【解決手段】検査対象のコンデンサに対して定格電圧以下の直流バイアス電圧を印加する直流バイアス電圧印加工程と、コンデンサに対して第１電気信号を入力した後、第１電気信号とは波形が異なる第２電気信号に切り替えをおこない、コンデンサから過渡振動を含む振動を発生させ、発生させた過渡振動を含む振動に起因する振動反応電圧と、直流バイアス電圧とを含む反応電圧を出力する振動反応電圧発生工程と、反応電圧の振動反応電圧から過渡応答波形を測定する過渡応答波形測定工程とを有することを特徴とする。【選択図】図１２
Inventors:
Reijiro Matsuo
Application Number:
JP2022084743A
Publication Date:
October 04, 2022
Filing Date:
May 24, 2022
Export Citation:
Assignee:
YURI Holdings Co., Ltd.
International Classes:
G01R31/00; H01G13/00
Domestic Patent References:
| JP2021148759A | 2021-09-27 | |||
| JP2017040629A | 2017-02-23 | |||
| JP2009302276A | 2009-12-24 | |||
| JP2003043098A | 2003-02-13 | |||
| JPH11219871A | 1999-08-10 | |||
| JPH10293107A | 1998-11-04 | |||
| JP2000150329A | 2000-05-30 | |||
| JP2009295606A | 2009-12-17 | |||
| JPH09152455A | 1997-06-10 | |||
| JPH09330855A | 1997-12-22 |
Attorney, Agent or Firm:
Yuki Ono