Title:
カード試験システム及びカード試験装置
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2024012972
Kind Code:
A
Abstract:
【課題】デイジーチェーン接続されたスレーブカードに対する試験の効率を向上すること。【解決手段】カード試験システム１において、マスタカード１１及びスレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄの各々が接続切替器４０Ａ，４０Ｂ，４０Ｃ，４０Ｄの各々を介してデイジーチェーン接続され、カード試験装置１０は、スレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄの何れかに故障が発生したと判定したときに、故障が発生したスレーブカードである故障カードと故障カードの前段のスレーブカードとの間にある接続切替器である第一切替器の接続状態と、故障カードと故障カードの後段のスレーブカードとの間にある接続切替器である第二切替器の接続状態とを切り替えて、第一切替器と第二切替器とを故障カードを介さずに接続することにより、故障カードをデイジーチェーン接続から除外する。【選択図】図１
Inventors:
Yusuke Kishi
Tomohisa Hanate
Tomohisa Hanate
Application Number:
JP2022114846A
Publication Date:
January 31, 2024
Filing Date:
July 19, 2022
Export Citation:
Assignee:
Pfu corporation
International Classes:
H04L43/50; H04L12/28
Attorney, Agent or Firm:
Sakai International Patent Office
Previous Patent: Human sensing output device
Next Patent: Blanking aperture array system and multi-charged particle beam lithography system
Next Patent: Blanking aperture array system and multi-charged particle beam lithography system