迅速な試料処理及び分析のための装置及び方法

Title:

迅速な試料処理及び分析のための装置及び方法

Document Type and Number:

Japanese Patent JP2020521960

Kind Code:

A

Abstract:

本明細書に提供するのは、試料の迅速な処理及び分析のための装置及び方法である。具体的には、あるアッセイで、少量の試料（例えば、核酸試料）を、装置内で異なる温度帯に曝露し（例えば、接触させ）、該試料を処理（例えば、増幅）し、及び／または分析（例えば、定量）する。

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Inventors:

McFort, Surrey Maureen
Kelso, David M.
Reed, jennifer lynn
Westburg, Tom

Application Number:

JP2019564950A

Publication Date:

July 27, 2020

Filing Date:

May 24, 2018

Export Citation:

Assignee:

NORTHWESTERN UNIVERSITY

International Classes:

G01N35/00; C12M1/00; C12M1/34; C12Q1/686

Domestic Patent References:

JP2014515271A	2014-06-30
JP2004535200A	2004-11-25

Foreign References:

US20100210006A1	2010-08-19
US20110244522A1	2011-10-06

Attorney, Agent or Firm:

Harakenzo world patent & trademark

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