Title:
元素濃度を測定するためのハンドヘルドアナライザ及び方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2019514010
Kind Code:
A
Abstract:
元素濃度測定の開示される方法及びハンドヘルドアナライザは、レーザーにより発生したパルスによって発生した高温で高度にイオン化されたプラズマのスペクトル分析に基づく。高いパルスエネルギー及び短いパルス持続期間に起因して、中性原子線に加えて高強度の一価及び多価イオン線が励起される。開示されるアナライザのパルスレーザー源は、１００と１０００μＪとの間のパルスエネルギー、０．０１から１．５ｎｓまでのパルス持続期間、０．１から５０ｋＨｚのパルス繰り返し率で１．５〜１．６信号波長での信号光の一連のパルスを出力するように構成され、且つ１から６０μｍに変わるサンプルの表面上のビームスポットを有する。上述のパラメータは、０．０１％までの検出限界によって二価イオン線ＣＩＩＩを採用することによって炭素鋼における炭素濃度、及び０．０１％未満の検出限界によって炭素鋼に一般的に存在する他の元素を測定可能にする高温、高度にイオン化されたプラズマ（プラズマ）を誘起するのに十分な少なくとも２０ＧＷ／ｃｍ２レーザー出力密度を提供する。
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Inventors:
Valentin Gapontsev
Ivan Kratiev
Roman Biryukoff
Ekaterina Fedina
Sergey Pashko
Oleg Melovatsky
Andrei Reznikov
Nadezda Kovicenko
Dmitri Ourianov
Ivan Kratiev
Roman Biryukoff
Ekaterina Fedina
Sergey Pashko
Oleg Melovatsky
Andrei Reznikov
Nadezda Kovicenko
Dmitri Ourianov
Application Number:
JP2018554458A
Publication Date:
May 30, 2019
Filing Date:
April 11, 2017
Export Citation:
Assignee:
IPZ Photonics Corporation
Laser-Export Company Limited
Laser-Export Company Limited
International Classes:
G01N21/71; G02F1/39; H01S3/00; H01S3/108; H01S3/113; H05H1/24
Domestic Patent References:
| JP2000121558A | 2000-04-28 | |||
| JP2015506106A | 2015-02-26 |
Foreign References:
| US20150103334A1 | 2015-04-16 | |||
| US20080151241A1 | 2008-06-26 | |||
| US20140204377A1 | 2014-07-24 |
Attorney, Agent or Firm:
Yasuhiko Murayama
Shinya Mitsuhiro
Tatsuhiko Abe
Shinya Mitsuhiro
Tatsuhiko Abe