Title:
調査候補範囲の検出方法、地層深度推定方法、及び地層推定支援システム
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2024030008
Kind Code:
A
Abstract:
【課題】地盤深度の推定精度を向上するために好適な追加調査の候補範囲を、合理的に検出することである。【解決手段】地盤調査を追加実施して地層深度を推定するための調査候補範囲の検出方法であって、取得済みの地盤情報に基づいて、異なる地層推定手法により対象領域における地層の深度分布を複数取得する工程と、複数の前記深度分布に基づいて評価指標を算定し、該評価指標の平面分布を取得する工程と、該評価指標の平面分布とあらかじめ設定した評価閾値とを比較して、該評価閾値を上回る評価指標の平面分布を取得し、該評価閾値を上回る評価指標の平面分布に基づいて、追加調査の候補範囲を検出する工程と、を備え、前記評価指標は、前記深度分布の不確かさを定量的に評価する指標である。【選択図】図６
Inventors:
Roshi Kojima
Yoshinori Hagiwara
Yoshinori Hagiwara
Application Number:
JP2022132528A
Publication Date:
March 07, 2024
Filing Date:
August 23, 2022
Export Citation:
Assignee:
Obayashi Corporation
International Classes:
E02D1/02; G01V1/28
Attorney, Agent or Firm:
Patent Attorney Corporation Isshiki International Patent Office
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