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Title:
加工物表面のＯＣＴ走査領域を表示するための、及び／又は表面特徴を測定するための方法並びに関連するＯＣＴシステム
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2022537294
Kind Code:
A
Abstract:
加工物表面のＯＣＴ走査領域を表示するための、及び／又は表面特徴を測定するための方法並びに関連するＯＣＴシステムを提供する。加工物表面（２）を光学的に走査することにより、加工物表面（２）の高さプロファイル（２８）を記録するための、光コヒーレンス断層撮影機（５）を含むＯＣＴシステム（１）は、加工物表面（２）の画像（２３）を記録するためのカメラ（４）と、加工物表面（２）の記録された画像（２３）及び記録された高さプロファイル（２８）を一緒に、とりわけ重ね合わされた方式で表示するためのディスプレイ（２４）とを含む。

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Inventors:
Clemens Schmidt
Martin Stambke
Application Number:
JP2021574872A
Publication Date:
August 25, 2022
Filing Date:
August 05, 2019
Export Citation:
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Assignee:
TRUMPF Laser GmbH
International Classes:
G01B9/02091; G01B11/24
Domestic Patent References:
JP2017143201A2017-08-17
Foreign References:
US20150043003A12015-02-12
Attorney, Agent or Firm:
Einzel Felix-Reinhard
Taku Morita
Junichi Maekawa
Hideo Nagashima
Ueshima class



 
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