Title:
マルチコンポーネント３Ｄモデルについての誤差メトリックを推定するための方法および装置
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2015517154
Kind Code:
A
Abstract:
２つの３Ｄマルチコンポーネントモデル間の誤差メトリックを計算するために、第１の３Ｄモデルの３Ｄコンポーネントのファセットが一様にサンプリングされる。第１の３Ｄモデル中の各サンプリング点と、第２の３Ｄモデルの表面との間で、点−面間誤差が計算される。次いで、点−面間誤差を処理して、第１と第２の３Ｄモデル間の誤差メトリックが生成される。算出を加速させるために、第２の３Ｄモデルをセルに区分化することができ、第１の３Ｄモデル中の特定のサンプリング点に最も近いセルのみを使用して、点−面間誤差が計算される。３Ｄモデル中の個々の３Ｄコンポーネントについての誤差メトリックを算出するとき、同じ一様サンプリングおよびセル区分化が利用される。したがって、３Ｄモデル全体の誤差は、ほぼ、個々のコンポーネントについて算出された誤差の重み付き平均である。
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Inventors:
Luo Tao
Gian Wenfei
Kaikan Inn
Gian Wenfei
Kaikan Inn
Application Number:
JP2015506077A
Publication Date:
June 18, 2015
Filing Date:
December 29, 2012
Export Citation:
Assignee:
Thomson Licensing
International Classes:
G06T17/30; G06F17/50
Domestic Patent References:
| JP2005242651A | 2005-09-08 | |||
| JPH09270025A | 1997-10-14 |
Foreign References:
| WO2012000132A1 | 2012-01-05 | |||
| US20120029882A1 | 2012-02-02 | |||
| US20030046617A1 | 2003-03-06 | |||
| WO2012040883A1 | 2012-04-05 | |||
| CN101877147A | 2010-11-03 |
Attorney, Agent or Firm:
Patent Business Corporation Tani/Abe Patent Office