質量分析のための方法

Japanese Patent JP2022546689

A

一連のバッチサンプルの各サンプルが、液体サンプル送達デバイスの中に導入される前に、イオン源デバイスが、液体サンプル送達デバイスから水性移動相溶液を受容し、その化合物をイオン化し、イオンビームを生成する。タンデム質量分析計が、既知の水性移動相溶液化合物に対応する２つまたはそれを上回る前駆イオンの強度を測定するために、イオンビームに対して中性損失または前駆イオン走査を実施する。２つまたはそれを上回る異なる前駆イオン毎の強度測定値が、これらの測定値がオリフィス汚染を示す閾値時間を決定するために、以前に記憶された強度と比較される。閾値時間が、次いで、既知の着目化合物のｍ／ｚ値および２つまたはそれを上回る異なる前駆イオンのそれぞれのｍ／ｚ値および閾値時間に基づいて、バッチサンプルの既知の着目化合物に関して予測される。

JP3908654	SURFACE MINUTE REGION MASS SPECTROSCOPE
JP6120212	A sample analysis device, a sample analyzing method, and a sample analysis program
WO/2011/102117	QUADRUPOLAR MASS SPECTROMETER

Le Blank, Eve

JP2022512786A

November 07, 2022

August 22, 2020

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DH Technologies Development Private Limited

G01N27/62; G01N30/72; H01J49/00; H01J49/04

Shusaku Yamamoto
Morishita Natsuki

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