Title:
トポロジカル量子コンピュータのためのヘテロ接合の事前スクリーニングおよびチューニング
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2023515637
Kind Code:
A
Abstract:
トポロジカル量子コンピュータのキュービット・レジスタにおいて使用するための半導体‐超伝導体ヘテロ接合を評価する方法が：前記半導体‐超伝導体ヘテロ接合の無線周波数（RF）接合アドミタンスを測定してマッピング・データを得る段階と；前記マッピング・データの解析によって、前記半導体‐超伝導体ヘテロ接合の破られていないトポロジカル位相と整合するパラメータ空間の一つまたは複数の領域を見出す段階と；前記パラメータ空間の前記一つまたは複数の領域のそれぞれにおいて前記半導体‐超伝導体ヘテロ接合の非局所コンダクタンスを含むサブRFコンダクタンスを測定して洗練データを得る段階と；前記洗練データの解析によって、前記パラメータ空間の前記一つまたは複数の領域のうちの少なくとも1つについて、前記パラメータ空間における前記破られていないトポロジカル位相の境界および前記半導体‐超伝導体ヘテロ接合のトポロジカル・ギャップを見出す段階とを含む。
Inventors:
Picrin, Dormitory
Thomas, Mason Elle
Nayak, Chetan Vasudeo
Lutchin, Roman Mikolajovic
Winkler, Georg Wolfgang
heat, sebastian
De Lange, Jesbertas
Van Heck, Bernard
Martinez, Esteban Adrian
Casparis, Lucas
Karzig, Torsten
Thomas, Mason Elle
Nayak, Chetan Vasudeo
Lutchin, Roman Mikolajovic
Winkler, Georg Wolfgang
heat, sebastian
De Lange, Jesbertas
Van Heck, Bernard
Martinez, Esteban Adrian
Casparis, Lucas
Karzig, Torsten
Application Number:
JP2022552304A
Publication Date:
April 13, 2023
Filing Date:
January 20, 2021
Export Citation:
Assignee:
Microsoft Technology Licensing, LLC
International Classes:
G06N10/20
Attorney, Agent or Firm:
Tadashige Ito
Tadahiko Ito
Osamu Miyazaki
Tadahiko Ito
Osamu Miyazaki