Title:
望ましくない挙動を低減するためのプロセスの影響解析
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2023520952
Kind Code:
A
Abstract:
プロセスの一組の事例において示される望ましくない挙動に対する１つまたは複数の属性値の影響を解析するためのシステムおよび方法が提供される。１つまたは複数の属性値と関連付けられ、望ましくない挙動を示す事例の観測された発生頻度が決定される。１つまたは複数の属性値に関連付けられ、望ましくない挙動を示す事例の予想発生頻度が計算される。観測された発生頻度は、望ましくない挙動に対する１つまたは複数の属性値の影響を判定するために、予想発生頻度と比較される。望ましくない挙動に対する１つまたは複数の属性値の影響を定量化する影響メトリックが計算される。
Inventors:
Bahoff, Celine
Stephens, Roland Johanas
Sbias-Bertrand, Paula
Stephens, Roland Johanas
Sbias-Bertrand, Paula
Application Number:
JP2021569985A
Publication Date:
May 23, 2023
Filing Date:
September 18, 2020
Export Citation:
Assignee:
UiPath,Inc.
International Classes:
G06F11/34; G06F11/07
Attorney, Agent or Firm:
Tomokazu Adachi
Takeyoshi Fukuda
Takeyoshi Fukuda
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