Title:
Reflection-spectrum measuring instrument
Document Type and Number:
Japanese Patent JP3211863
Kind Code:
U
Abstract:
【課題】小型軽量で、単純な構造であるために安価である反射スペクトル測定器を提供する。【解決手段】測定対象物２００の反射スペクトルを測定するための反射スペクトル測定器１００であって、測定対象物２００に対して光を照射する光源１と、測定対象物２００の反射光の波長ごとの光強度に関する情報を検出する分光センサ２と、光源１と分光センサ２を内蔵すると共に、光源１の光照射部１１および分光センサ本体の受光面２１が内面３２に配置された凹部３１を有する筐体３と、を具備する。【選択図】図１
Inventors:
Kitahara Yoshiyuki
Nobuyoshi Awaya
Satoru Tanaka
Nobuyoshi Awaya
Satoru Tanaka
Application Number:
JP2017002156U
Publication Date:
August 10, 2017
Filing Date:
May 15, 2017
Export Citation:
Assignee:
scivax corporation
International Classes:
G01J3/51
Attorney, Agent or Firm:
Okuda Ritsuji