Title:
測位のための選択的シンボル測定
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2023541578
Kind Code:
A
Abstract:
ユーザ機器においてワイヤレスOFDM PRSを測定する方法は、OFDM PRSのシンボルグループのシンボルサブセットを選択するステップであって、OFDM PRSは、シンボルグループを含むシンボルのスロットを含み、シンボルグループは、シンボルのうちの第1のシンボル量の連続するものからなり、シンボルグループは、周波数ドメイン中で完全に交互配置され、シンボルサブセットは、シンボルグループのシンボルのうちの第2のシンボル量のシンボルからなり、第2のシンボル量は、第1のシンボル量よりも小さく、シンボルサブセットは、周波数ドメイン中で完全には交互配置されない、ステップと、シンボルグループのシンボルをすべては測定せずに、シンボルサブセットを測定するステップとを含む。
Inventors:
Alexandros Manoracos
Mukesh Kumar
Srinivas Jeramari
Mukesh Kumar
Srinivas Jeramari
Application Number:
JP2023515347A
Publication Date:
October 03, 2023
Filing Date:
September 08, 2021
Export Citation:
Assignee:
Qualcomm, Inc.
International Classes:
H04W72/0453; H04W24/08; H04W64/00; H04W72/0446
Attorney, Agent or Firm:
Yasuhiko Murayama
Shinpei Kuroda
Shinpei Kuroda