Title:
基礎構造物の変位を測定するセンサーシステム及び方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2023510917
Kind Code:
A
Abstract:
階間ドリフト測定システム及び当該階間ドリフト測定システムの使用方法は、第１方向において少なくとも第１幅を有するビームを放出するように構成されるレーザービーム源と、前記第１方向において互いに離間する複数のダイオードを含むセンサーシステムを備える。前記複数のダイオードは、第１ダイオードと、前記第１方向において前記第１ダイオードの中心線と前記複数のダイオードのうちの隣接ダイオードの中心線との間で測定される前記第１方向におけるダイオード離間幅を有する。前記第１方向における前記ビーム幅は前記ダイオード離間幅の少なくとも２倍である。【選択図】図１１
Inventors:
David B. McAllen
Patrick Laplace
Floriana Petrone
Patrick Laplace
Floriana Petrone
Application Number:
JP2022543494A
Publication Date:
March 15, 2023
Filing Date:
January 14, 2021
Export Citation:
Assignee:
The Regents of the University of California
NEVADA RESEARCH & INNOVATION CORPORATION
NEVADA RESEARCH & INNOVATION CORPORATION
International Classes:
G01B11/00; G01H1/00; G01V1/00
Attorney, Agent or Firm:
Kenji Sugimura
Mitsutsugu Sugimura
Naoki Matsumura
Mitsutsugu Sugimura
Naoki Matsumura