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Title:
複数の試験測定装置を同期させるシステム及び方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2022519763
Kind Code:
A
Abstract:
システムは、出力ポートと入力ポートを夫々有する複数のオシロスコープと、複数のオシロスコープ中の最初のオシロスコープの出力ポートを複数のオシロスコープ中の第2オシロスコープの入力ポートに接続するケーブルとを具え、最初のオシロスコープは、マスター・ラン・クロックを生成するプロッセシング要素を有し、第2オシロスコープは、スレーブ・ラン・クロックをマスター・ラン・クロックにロックする位相ロック・ループを含むプロッセシング要素を有し、複数のオシロスコープのいずれかのプロッセシング要素は、複数のラン・クロックの中のいずれかを操作して、複数のオシロスコープ中の別のオシロスコープにトリガ情報を渡すためのコードを実行する。マスター・オシロスコープと少なくとも1つのスレーブ・オシロスコープを含む少なくとも2つのオシロスコープを同期させる方法は、少なくとも2つのオシロスコープの出力ポート及び入力ポート並びに少なくとも1つのケーブルを使用して少なくとも2つのオシロスコープを相互に接続する処理と、マスター・オシロスコープからのマスター・ラン・クロックを少なくとも1つのスレーブ・オシロスコープに送信する処理と、少なくとも1つのスレーブ・オシロスコープのラン・クロックをマスター・ラン・クロックに同期する処理と、少なくとも2つのオシロスコープ中の最初のオシロスコープにおいてトリガ・イベントを認識する処理と、最初のオシロスコープのラン・クロックを変更してトリガのしるしをエンコードする処理と、少なくとも2つのオシロスコープの中の第2オシロスコープにおいて変更されたラン・クロックを受け、トリガのしるしによって第2オシロスコープにトリガ・イベントを認識させる処理とを具える。

Inventors:
Daniel Gee Knyrim
Burton Thi Hickman
Joshua Jay O'Brien
Application Number:
JP2021547223A
Publication Date:
March 24, 2022
Filing Date:
February 12, 2020
Export Citation:
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Assignee:
TEKTRONIX,INC.
International Classes:
G01R13/20; H04L7/033
Attorney, Agent or Firm:
Hiroshi Arafune
Yoshio Arafune
Yamaguchi International Patent Office