Title:
TANDEM QUAD POLE TYPE MASS SPECTROSCOPE
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2015156397
Kind Code:
A
Abstract:
【課題】プリカーサイオンスキャン測定等において検出されるイオンの質量精度がMRM測定等に比べて劣る問題を解決し、高精度のマススペクトルの作成を可能とする。【解決手段】制御部５０の処理条件パラメータ記憶部５１には測定モードとCIDガス圧との対応関係を示すテーブル５１ｂが格納されており、測定時に分析者が入力部５２から実行したい測定モードを指定すると、制御部５０はテーブル５１ｂから対応するガス圧を求め、CIDガス供給部３５を制御する。例えばプリカーサイオンスキャン測定モード等のQ1走査モードに対応するCIDガス圧P4はMRM測定モードに対応するCIDガス圧P5,P6よりも低くなっている。のため、コリジョンセル３１内でのCID効率は下がるものの、コリジョンセル３１内でイオンの速度低下は小さくて済み、プロダクトイオンが検出器３４に到達する時間遅れが抑えられる。その結果、m/zずれの小さなマススペクトルを作成することができる。【選択図】図７
Inventors:
UEDA MANABU
Application Number:
JP2015101072A
Publication Date:
August 27, 2015
Filing Date:
May 18, 2015
Export Citation:
Assignee:
SHIMADZU CORP
International Classes:
H01J49/42; G01N30/72
Domestic Patent References:
| JP2009266445A | 2009-11-12 |
Foreign References:
| WO2011104611A1 | 2011-09-01 | |||
| WO2011104611A1 | 2011-09-01 |
Attorney, Agent or Firm:
Kyoto International Patent Office