Title:
暗視デバイスのための性能パラメータの使用法及び温度補償
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2022514279
Kind Code:
A
Abstract:
暗視デバイスの性能を制御する方法は、電源によって、イメージ増倍管のマイクロチャネルプレートに、マイクロチャネルプレートのゲインを制御する制御電圧を供給するステップと、暗視デバイスの作動環境の温度の変化に起因する制御電圧の変化に基づいて、制御電圧に適用するための補償量を決定するステップと、補償量にしたがって制御電圧を調整して、補償制御電圧を取得する、ステップと、前記電源によって、前記光増倍管の前記マイクロチャネルプレートに前記補償制御電圧を供給するステップと、を含む。方法は、さらに、暗視デバイスが所定時間使用されたかどうか決定するステップを含み、その所定時間の後にのみ、補償制御電圧を供給する、ように構成されている方法である。
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Inventors:
Miharuski, Mark
Castleberry, Lansam Hull
Barboni, John A.
Smith, Arin W.
Shabo, Raymon Rio
Castleberry, Lansam Hull
Barboni, John A.
Smith, Arin W.
Shabo, Raymon Rio
Application Number:
JP2021534758A
Publication Date:
February 10, 2022
Filing Date:
December 17, 2019
Export Citation:
Assignee:
Elbit Systems of America, Elcy
International Classes:
H04N5/235; H01J31/50; H01J43/24; H04N5/228; H04N5/30
Attorney, Agent or Firm:
Tadashige Ito
Tadahiko Ito
Osamu Miyazaki
Tadahiko Ito
Osamu Miyazaki
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