Title:
X線検査装置
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2017159855
Kind Code:
A1
Abstract:
本発明の課題は、物品全体における異物の位置を特定し易い画像を生成するＸ線検査装置を提供することにある。Ｘ線検査装置（１０）では、異物位置特定用画像（Ｐ３）によって、検査員は商品（Ｇ）における異物の位置を容易に特定することができるので、従来のような「物品の全体形状の画像と当該異物のみの画像とを交互に見比べながら当該物品全体における当該異物の位置を特定する」必要がなくなり、作業性が向上する。
Inventors:
Ryuji Stockmoto
Masao Tsuno
Masao Tsuno
Application Number:
JP2018506042A
Publication Date:
January 24, 2019
Filing Date:
March 17, 2017
Export Citation:
Assignee:
ISHIDA CO.,LTD.
International Classes:
G01N23/04; G01N23/18
Attorney, Agent or Firm:
Shinki Global IP Patent Corporation