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Title:
A photodetection device and a photon detection system
Document Type and Number:
Japanese Patent JP6044862
Kind Code:
B1
Abstract:
【課題】被写体を透過、反射する光のコヒーレンス度合いを測定できる光検出装置を提供する。【解決手段】主面に沿って配置された第１の検出器および第２の検出器を含む光検出器１０と、前記光検出器１０上に配置され、第１の低屈折率層１２ｃ、前記第１の低屈折率層１２ｃ上に配置され、第１のグレーティングを含む第１の高屈折率層１２ｂ、および前記第１の高屈折率層上に配置された第２の低屈折率層１２ａを含み、前記第１の高屈折率層は前記第１の低屈折率層および前記第２の低屈折率層より屈折率が高い、光結合層１２と、前記光結合層上に配置され、少なくとも１つの透光領域９ａ、および前記少なくとも１つの透光領域に隣接する少なくとも１つの遮光領域９Ａを含み、前記少なくとも１つの透光領域は前記少なくとも１つの第１の検出器に対向しており、前記少なくとも１つの遮光領域は前記少なくとも１つの第２の検出器に対向している遮光膜９とを備える。【選択図】図２Ａ

Inventors:
Aoji Nishiwaki
Application Number:
JP2016111935A
Publication Date:
December 14, 2016
Filing Date:
June 03, 2016
Export Citation:
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Assignee:
Panasonic IP Management Co., Ltd.
International Classes:
G01J9/00; G01N21/17
Domestic Patent References:
JP2014138142A2014-07-28
JPH07141688A1995-06-02
JP2009264888A2009-11-12
Foreign References:
WO2014199572A12014-12-18
WO2007108212A12007-09-27
US5881188A1999-03-09
Attorney, Agent or Firm:
Seiji Okuda
Osamu Kita
Michi Kajitani
Akiko Miyake
Hidetaka Okabe
Tohru Kawakita
Yu Tanaka
Murase Nariyasu



 
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