図1は、本実施形態に係る試験装置10の構� ��を被試験デバイス100とともに示す。図2は、 本実施形態に係る振幅位相変調信号の一例を 示す。

 試験装置10は、伝送データに応じて複数� �ベル及び複数位相から選択されたレベルお� �び変化点の位相を有する振幅位相変調信号� �出力信号として出力する被試験デバイス100� �試験する。被試験デバイス100は、一例とし� �、所定周期に同期したパルス信号であって� �パルスレベルおよびパルスエッジの位相が� �送データに応じて変化する振幅位相変調信� �を出力してよい。すなわち、被試験デバイ� �100は、一例として、各周期において、パル� �レベルを、予め定められた複数のレベルの� �ち伝送データに応じて選択されたレベルと� �た振幅位相変調信号を出力してよい。さら� �、被試験デバイス100は、一例として、各周� �において、パルス前縁の変化点(リーディン� ��エッジ)およびパルス後縁の変化点(トレー� �ィングエッジ)のうちの少なくとも一方の変� ��点の位相を、当該周期中における予め定め� ��れた複数の位相のうち伝送データに応じて� ��択された位相とした振幅位相変調信号を出� ��してよい。

 被試験デバイス100は、一例として、各周期� ��おいて、パルスのレベルとしてn ₁ 個(n ₁ は2以上の整数)のレベル(V ₁ 、V ₂ 、V ₃ 、…、V _n1 )を取り得ることができる振幅位相変調信号� �出力してよい。また、被試験デバイス100は� �一例として、各周期において、パルスのリ� �ディングエッジの位相として、n ₂ 個(n ₂ は2以上の整数)の位相(F _L1 、F _L2 、F _L3 、…、F _Ln2 )を取り得ることができる振幅位相変調信号� �出力してよい。また、被試験デバイス100は� �一例として、各周期において、パルスのト� �ーディングエッジの位相として、n ₃ 個(n ₃ は2以上の整数)の位相(F _T1 、F _T2 、F _T3 、…、F _Tn3 )を取り得ることができる振幅位相変調信号� �出力してよい。

 以上のような振幅位相変調信号によれば、� ��定周期毎に多値のデータを伝送することが� ��きる。例えば、n ₁ 個のレベル、n ₂ 個のリーディングエッジの位相、n ₃ 個のトレーディングエッジの位相を取り得る 振幅位相変調信号によれば、1周期中に(n ₁ ×n ₂ ×n ₃ )値のデータを伝送することができる。

 試験装置10は、パターン発生部14と、試験 信号出力部16と、復調部18と、判定部20とを備 える。パターン発生部14は、被試験デバイス1 00に対して出力する試験信号のパターンを指� ��する試験パターンを発生する。さらに、パ� ��ーン発生部14は、試験信号に応じて被試験� �バイス100から出力されるべき出力信号(振幅� ��相変調信号)の期待値を発生する。すなわち 、パターン発生部14は、試験信号に応じて被� ��験デバイス100から出力されるべき出力信号� ��レベルの期待値である期待レベルおよび出� ��信号の変化点の位相の期待値である期待位� ��を発生する。パターン発生部14は、一例と� �て、所定周期毎に発生されるパルスの、期� �レベル、リーディングエッジの期待位相お� �びトレーディングエッジの期待位相を発生� �てよい。

 試験信号出力部16は、試験パターンおよ� �基準信号に応じて試験信号を生成し、生成� �た試験信号を被試験デバイス100に出力する� �復調部18は、試験信号に応じて被試験デバイ ス100から出力された出力信号を入力し、入力 した出力信号のレベルおよび変化点の位相を 検出する。判定部20は、復調部18により検出� �れたレベルおよび変化点の位相が、期待レ� �ルおよび期待位相と一致しているか否かを� �定する。そして、判定部20は、判定結果を出 力する。

 図3は、本実施形態に係る復調部18の構成� ��示す。復調部18は、クロック再生部22と、振 幅位相検出部24と、位相差補正部26とを有す� �。

 クロック再生部22は、被試験デバイス100� �ら出力された出力信号(振幅位相変調信号)を 入力し、入力した出力信号に同期したクロッ ク信号を再生する。クロック再生部22は、発� ��部30と、位相差検出部32と、フィルタ部34と� ��マスク部36とを含む。

 発振部30は、与えられた制御信号に応じ� �周波数のクロック信号を出力する。位相差� �出部32は、出力信号とクロック信号との位相 差を検出する。

 フィルタ部34は、位相差に応じた制御信� �を発振部30に与える。フィルタ部34は、一例� ��して、位相差検出部32により検出された位� �差をローパスフィルタリングする。そして� �フィルタ部34は、位相差をローパスフィルタ リングした結果得られる信号を制御信号とし て発振部30に与える。

 マスク部36は、位相差補正部26により出力 される補正信号に応じて、位相差検出部32か� ��フィルタ部34に与えられる位相差をマスク� �る。より具体的には、マスク部36は、補正信 号によりマスクが指定されていることを条件 として位相差検出部32により検出された位相� ��をフィルタ部34に供給し、補正信号により� �スクが指定されていることを条件として位� �差検出部32により検出された位相差をフィル タ部34に供給しない。マスク部36は、マスク� �において、一例として、0を位相差としてフ� ��ルタ部34に供給してもよいし、マスクをす� �直前において位相差検出部32により検出され た位相差をフィルタ部34に供給してもよい。

 以上のような構成のクロック再生部22に� �れば、発振部30が、フィルタ部34から出力さ� ��る制御信号のレベルに応じてクロック信号� ��周波数を変化させる。そして、クロック再� ��部22は、定常状態において、制御信号のレ� �ルが0となるような周波数のクロック信号を� ��力する。この結果、クロック再生部22によ� �ば、出力信号との位相差の時間平均が0とな� ��ような、すなわち、出力信号に位相同期し� ��クロック信号を出力することができる。

 振幅位相検出部24は、クロック再生部22に より再生されたクロック信号を基準として、 出力信号のレベルおよび変化点の位相を検出 する。振幅位相検出部24は、一例として、ク� ��ック信号により指定される周期毎に、出力� ��号が取り得る複数レベルの中から当該出力� ��号のレベルを検出してよい。さらに、振幅� ��相検出部24は、一例として、出力信号のリ� �ディングエッジが取り得る複数位相の中か� �当該リーディングエッジの位相を検出し、� �力信号のトレーディングエッジが取り得る� �数位相の中から当該トレーディングエッジ� �位相を検出してよい。

 位相差補正部26は、振幅位相検出部24によ り検出された変化点の位相に応じて、位相差 検出部32からフィルタ部34に与えられる位相� �を補正する。本実施形態においては、位相� �補正部26は、位相差検出部32からフィルタ部3 4に与える位相差をマスクするか否かを指定� �る補正信号をマスク部36に出力することによ り、位相差検出部32からフィルタ部34に与え� �れる位相差を補正する。

 位相差補正部26は、一例として、振幅位� �検出部24により検出された変化点の位相が、 出力信号が取り得る複数位相のうち少なくと も1つの予め定められた位相であることを条� �として、位相差検出部32により検出された位 相差をフィルタ部34に与えてよい。すなわち� ��位相差補正部26は、一例として、振幅位相� �出部24により検出された変化点の位相が、複 数位相のうち少なくとも1つの予め定められ� �位相でないことを条件として、位相差検出� �32からフィルタ部34に与える位相差をマスク� ��てよい。

 これにより、位相差補正部26によれば、� �め定められた変化点の位相のみに同期した� �ロック信号を発振部30から出力させることが できる。従って、クロック再生部22によれば� ��伝送データに応じた位相変動による誤差を� ��去し、振幅位相変調信号である出力信号に� ��確に同期したクロック信号を出力すること� ��できる。

 更に、位相差補正部26は、一例として、� �幅位相検出部24により検出されたレベルおよ び変化点の位相が、出力信号が取り得る複数 レベルおよび複数位相のうち少なくとも1つ� �予め定められたレベルおよび位相であるこ� �を条件として、位相差検出部32により検出さ れた位相差をフィルタ部34に与えてもよい。� ��なわち、位相差補正部26は、一例として、� �幅位相検出部24により検出されたレベルおよ び変化点の位相が、複数レベルおよび複数位 相のうち少なくとも1つの予め定められたレ� �ルおよび位相でないことを条件として、位� �差検出部32からフィルタ部34に与える位相差� ��マスクしてよい。

 振幅位相変調信号は、立ち上がり(又は立 ち下がり)波形の鈍りにより、同一位相であ� �ても、レベルが低い場合よりもレベルが高� �場合の方が実際に検出される変化点の位相� �遅れる。従って、このような位相差補正部26 によれば、予め定められたレベルおよび変化 点の位相のみに同期したクロック信号を発振 部30から出力させることにより、伝送データ� ��応じた位相変動による誤差を更に除去する� ��とができる。

 図4は、本実施形態の第1変形例に係る復� �部18の構成を示す。本変形例に係る復調部18� ��、図3に示した復調部18と略同一の構成およ� ��機能を取るので、図3中に示した部材と構成 および機能を採る部材については同一の符号 を付け、以下相違点を除き説明を省略する。

 クロック再生部22は、マスク部36に代えて 、タイミング信号出力部40と、選択部42とを� �む。タイミング信号出力部40は、出力信号が 取り得る複数の変化点の位相のそれぞれに対 応する複数のタイミング信号をクロック信号 に基づき生成する。すなわち、タイミング信 号出力部40は、クロック信号と出力信号とが� ��期した定常状態において、出力信号が取り� ��る複数の位相のそれぞれと同期する複数の� ��イミング信号を、クロック信号に基づき生� ��する。

 タイミング信号出力部40は、一例として� �直列に接続され、クロック信号を順次に遅� �する複数の遅延素子を含んでよい。そして� �タイミング信号出力部40は、各遅延素子から 出力された信号をタイミング信号として出力 する。これにより、タイミング信号出力部40� ��、出力信号が取り得る複数の位相に対応す� ��複数のタイミング信号を出力することがで� ��る。また、発振部30がリングバッファを含� �場合、タイミング信号出力部40は、発振部30� ��含まれるリングバッファを構成する各バッ� ��ァから出力される信号を、タイミング信号� ��して出力してもよい。

 選択部42は、位相差補正部26により出力さ れる選択信号に応じて、タイミング信号出力 部40から出力される複数のタイミング信号の� ��ちいずれか1つのタイミング信号を選択して 、位相差検出部32に供給する。位相差検出部3 2は、選択部42により選択されたタイミング信 号と出力信号との位相差を検出する。

 位相差補正部26は、複数のタイミング信� �のうち振幅位相検出部24により検出された変 化点の位相に対応したタイミング信号を選択 する。本変形例においては、位相差補正部26� ��、タイミング信号出力部40から出力された� �数のタイミング信号のうちいずれのタイミ� �グ信号を位相差検出部32に供給するかを指定 する選択信号を選択部42に供給することによ� ��、タイミング信号を選択する。

 これにより、クロック再生部22によれば� �出力信号の変化点の位相と同期すべきタイ� �ング信号と、当該出力信号との位相差を検� �するので、伝送データに応じた位相変動に� �る誤差が除去された位相差を検出すること� �できる。従って、クロック再生部22によれば 、伝送データに応じた位相変動による誤差を 除去し、振幅位相変調信号である出力信号に 正確に同期したクロック信号を出力すること ができる。

 なお、本変形例において、位相差検出部3 2は、例えば振幅位相検出部24による処理の遅 延量分だけ入力した出力信号を遅延して、出 力信号と選択されたタイミング信号との位相 差を検出してよい。これにより、位相差検出 部32によれば、入力された出力信号のシンボ� ��と、位相差補正部26により選択されたタイ� �ング信号の選択源とされた出力信号のシン� �ルとを一致させて、位相差を検出すること� �できる。

 また、クロック再生部22は、一例として� �選択部42およびタイミング信号出力部40に代� ��て、可変遅延素子を含んでもよい。この場� ��において、位相差補正部26は、振幅位相検� �部24により検出された変化点の位相に応じて 可変遅延回路の遅延量を制御することにより 、出力信号が取り得る複数の位相のそれぞれ と同期する複数のタイミング信号を出力する 。

 図5は、本実施形態に係る振幅位相検出部 24が出力信号のレベルおよび変化点(リーディ ングエッジ)の位相を検出する場合における� �任意の1つ受信点に対応する比較レベルおよ� ��比較タイミングの一例を示す。出力信号の� ��ベルおよびリーディングエッジの位相にデ� ��タが変調されている場合、振幅位相検出部2 4は、一例として、当該出力信号が取り得る� �数のレベルおよび変化点(リーディングエッ� ��)の複数の位相を組み合わせたそれぞれの受 信点に対応して、図5に示す第1~第3比較レベ� �が予め設定されている。そして、振幅位相� �出部24は、出力信号のリーディングエッジの 位相にデータが変調されている場合、各周期 において、複数の受信点のそれぞれに対して 、対応する受信点の理想位相より前において 対応する受信点の理想レベルより小さい第1� �較レベルと出力信号とを比較し、対応する� �信点の理想位相より後において対応する受� �点の理想レベルより大きい第2比較レベルお� ��び理想レベルより小さい第3比較レベルと出 力信号とを比較する。

 ここで、振幅位相検出部24は、対応する� �信点の理想位相より前において第1比較レベ� ��と出力信号とを比較するので、出力信号が� ��応する受信点の理想位相より前において対� ��する受信点の理想レベルより小さいことを� ��出することができる。さらに、振幅位相検� ��部24は、対応する受信点の理想位相より後� �おいて第3比較レベルと出力信号とを比較す� ��ので、出力信号が対応する受信点の理想位� ��より後において対応する受信点の理想レベ� ��以上であることを検出することができる。� ��って、振幅位相検出部24は、出力信号のリ� �ディングエッジが取り得る全ての受信点の� �れぞれについて、出力信号の位相と、第1比� ��レベルの比較タイミング以後且つ第3比較レ ベルの比較タイミング以前の位相である理想 位相とが、略一致しているか否かを検出する ことができる。

 また、振幅位相検出部24は、対応する受� �点の理想位相より後において第2比較レベル� ��出力信号とを比較するとともに、対応する� ��信点の理想位相より後において第3比較レベ ルと出力信号とを比較する。従って、振幅位 相検出部24は、出力信号が取り得る全ての受� ��点のそれぞれについて、出力信号のレベル� ��、第2比較レベル以下且つ第3比較レベル以� �のレベルである理想レベルとが、略一致し� �いるか否かを検出することができる。

 そして、振幅位相検出部24は、出力信号� �取り得る全ての受信点のそれぞれについて� �複数の比較結果に基づき、出力信号のレベ� �およびリーディングエッジの位相を検出す� �ことができる。すなわち、振幅位相検出部24 は、複数の受信点のうちから、理想位相より 前において第1比較レベル以下であり、理想� �相より後において第2比較レベル以下且つ第3 比較レベル以上である1つの受信点を検出す� �。そして、振幅位相検出部24は、検出した1� �の受信点の理想レベルおよび理想位相を、� �該出力信号のレベルおよび変化点の位相と� �て出力する。

 なお、第1比較レベルおよび第3比較レベ� �は、対応する受信点の理想レベルより小さ� �、且つ、出力信号が取り得る複数のレベル� �うちの対応する受信点の理想レベルより1つ� ��のレベルより、大きいことが好ましい。ま� ��、第1比較レベルの比較タイミングは、リー ディングエッジの対応する受信点の理想位相 より前、且つ、リーディングエッジが取り得 る複数の位相のうちの対応する受信点の理想 位相の直前の位相より、後であることが好ま しい。振幅位相検出部24は、一例として、対� ��する受信点の理想位相より後において、第1 比較レベルと略同一である第3比較レベルと� �出力信号とを比較してよい。これにより、� �幅位相検出部24は、比較回路を共通化するこ とができる。

 また、第2比較レベルは、対応する受信点 の理想レベルより大きく、且つ、出力信号が 取り得る複数のレベルのうちの対応する受信 点の理想レベルより1つ上のレベルより、小� �いことが好ましい。また、第2比較レベルお� ��び第3比較レベルの比較タイミングは、リー ディングエッジの対応する受信点の理想位相 より後、且つ、リーディングエッジが取り得 る複数の位相のうちの対応する受信点の理想 位相の直後の位相より、前であることが好ま しい。振幅位相検出部24は、一例として、対� ��する受信点の理想位相より後の略同一タイ� ��ングにおいて、第2比較レベルおよび第3比� �レベルと出力信号とを比較してよい。これ� �より、振幅位相検出部24は、比較タイミング 回路を共通化することができる。

 なお、本実施形態において、第1レベルが 第2レベル以上(またはより大きい)と表した場 合、基準レベル(例えばグランド)と第1レベル との差の絶対値が、基準レベルと第2レベル� �の差の絶対値以上(またはより大きい)である ことを意味する。従って、出力信号が比較レ ベル以上であると表した場合、基準レベルと 出力信号との差の絶対値が、基準レベルと比 較レベルとの差の絶対値以上であることを意 味する。同様に、第1レベルが第2レベル以下( またはより小さい)と表した場合、基準レベ� �と第1レベルとの差の絶対値が、基準レベル� ��第2レベルとの差の絶対値以下(またはより� �さい)であることを意味する。

 図6は、本実施形態に係る振幅位相検出部 24が出力信号のレベルおよび変化点(トレーデ ィングエッジ)の位相を検出する場合におけ� �、任意の1つ受信点に対応する比較レベルお� ��び比較タイミングの一例を示す。出力信号� ��レベルおよびトレーディングエッジの位相� ��データが変調されている場合、振幅位相検� ��部24は、当該出力信号が取り得る複数のレ� �ル(理想レベル)および変化点(トレーディン� �エッジ)の複数の位相(理想位相)を組み合わ� �たそれぞれの受信点に対応して、第4~第6比� �レベルが予め設定されている。そして、振� �位相検出部24は、出力信号のトレーディング エッジの位相にデータが変調されている場合 、各周期において、複数の受信点のそれぞれ に対して、理想位相より後において理想レベ ルより小さい第4比較レベルと出力信号とを� �較し、理想位相より前において理想レベル� �り大きい第5比較レベルおよび理想レベルよ� ��小さい第6比較レベルと出力信号とを比較す る。

 ここで、振幅位相検出部24は、対応する� �信点の理想位相より後において第4比較レベ� ��と出力信号とを比較するので、出力信号が� ��応する受信点の理想位相より後において対� ��する受信点の理想レベルより小さいことを� ��出することができる。さらに、振幅位相検� ��部24は、対応する受信点の理想位相より前� �おいて第6比較レベルと出力信号とを比較す� ��ので、出力信号が対応する受信点の理想位� ��より前において対応する受信点の理想レベ� ��以上であることを検出することができる。� ��って、振幅位相検出部24は、出力信号のト� �ーディングエッジが取り得る全ての受信点� �それぞれについて、出力信号の位相と、第6� ��較レベルの比較タイミング以前且つ第4比較 レベルの比較タイミング以後の位相である理 想位相とが、略一致しているか否かを検出す ることができる。

 また、振幅位相検出部24は、対応する受� �点の理想位相より前において第5比較レベル� ��出力信号とを比較するとともに、対応する� ��信点の理想位相より前において第6比較レベ ルと出力信号とを比較する。従って、振幅位 相検出部24は、出力信号が取り得る全ての受� ��点のそれぞれについて、出力信号のレベル� ��、第5比較レベル以下且つ第6比較レベル以� �のレベルである理想レベルとが、略一致し� �いるか否かを検出することができる。

 そして、振幅位相検出部24は、出力信号� �取り得る全ての受信点のそれぞれについて� �複数の比較結果に基づき、出力信号のレベ� �およびトレーディングエッジの位相を検出� �ることができる。すなわち、振幅位相検出� �24は、複数の受信点のうちから、理想位相よ り後において第4比較レベル以下であり、対� �する受信点の理想位相より前において第5比� ��レベル以下且つ第6比較レベル以上である1� �の受信点を検出する。そして、振幅位相検� �部24は、検出した1つの受信点の理想レベル� �よび理想位相を、当該出力信号のレベルお� �び変化点の位相として出力する。

 なお、第4比較レベルおよび第6比較レベ� �は、対応する受信点の理想レベルより小さ� �、且つ、出力信号が取り得る複数のレベル� �うちの対応する受信点の理想レベルより1つ� ��のレベルより、大きいことが好ましい。ま� ��、第4比較レベルの比較タイミングは、トレ ーディングエッジの対応する受信点の理想位 相より後、且つ、トレーディングエッジが取 り得る複数の位相のうちの対応する受信点の 理想位相の直後の位相より、前であることが 好ましい。振幅位相検出部24は、一例として� ��対応する受信点の理想位相より前において� ��第4比較レベルと略同一である第6比較レベ� �と、出力信号とを比較してよい。これによ� �、振幅位相検出部24は、比較回路を共通化す ることができる。

 また、第5比較レベルは、対応する受信点 の理想レベルより大きく、且つ、出力信号が 取り得る複数のレベルのうちの対応する受信 点の理想レベルより1つ上のレベルより、小� �いことが好ましい。また、第5比較レベルお� ��び第6比較レベルの比較タイミングは、トレ ーディングエッジの対応する受信点の理想位 相より前、且つ、トレーディングエッジが取 り得る複数の位相のうちの対応する受信点の 理想位相の直前の位相より、後であることが 好ましい。振幅位相検出部24は、一例として� ��対応する受信点の理想位相より前の略同一� ��イミングにおいて、第5比較レベルおよび第 6比較レベルと出力信号とを比較してよい。� �れにより、振幅位相検出部24は、比較タイミ ング回路を共通化することができる。

 図7は、振幅位相変調信号が取り得るレベ ルおよび変化点の位相の組み合わせのそれぞ れに対応する、比較レベルおよび比較タイミ ングの一例を示す。振幅位相検出部24は、一� ��として、変化点の位相が同一であってレベ� ��が異なる複数の受信点に対応する複数の第1 比較レベル(または第4比較レベル)の比較タイ ミングが、略同一の位相に設定されていてよ い。振幅位相検出部24は、一例として、変化� ��の位相が同一であってレベルが異なる複数� ��受信点に対応する複数の第2比較レベル(ま� �は第5比較レベル)の比較タイミングが、略同 一の位相に設定されていてよい。振幅位相検 出部24は、一例として、変化点の位相が同一� ��あってレベルが異なる複数の受信点に対応� ��る複数の第3比較レベル(または第6比較レベ� ��)の比較タイミングが、略同一の位相に設定 されていてよい。

 また、振幅位相検出部24は、一例として� �レベルが同一であって位相が異なる複数の� �信点に対応する複数の第1比較レベル(または 第4比較レベル)が、略同一のレベルに設定さ� ��ていてよい。振幅位相検出部24は、一例と� �て、レベルが同一であって位相が異なる複� �の受信点に対応する複数の第2比較レベル(ま たは第5比較レベル)が、略同一のレベルに設� ��されていてよい。振幅位相検出部24は、一� �として、レベルが同一であって位相が異な� �複数の受信点に対応する複数の第3比較レベ� ��(または第6比較レベル)が、略同一のレベル� ��設定されていてよい。このような振幅位相� ��出部24によれば、レベルの比較回路および� �較タイミングの制御回路を共通化すること� �できる。

 振幅位相検出部24は、一例として、変化� �の位相が同一であって上下に隣接する2つの� ��信点のうち、上側のレベルに対応する受信� ��の第2比較レベル(または第5比較レベル)と、 下側のレベルに対応する受信点の第3比較レ� �ル(または第6比較レベル)とが、略同一のレ� �ルに設定されていてよい。また、振幅位相� �出部24は、一例として、レベルが同一であっ て前後に隣接する位相の2つの受信点のうち� �前側の位相に対応する受信点の第3比較レベ� ��(または第4比較レベル)の比較タイミングと� ��後側の位相に対応する受信点の第1比較レベ ル(第6比較レベル)の比較タイミングとが、略 同一の位相に設定されていてよい。これによ り、振幅位相検出部24によれば、更に回路を� ��通化することができる。

 図8は、本実施形態に係る振幅位相検出部 24の構成の一例を示す。図8に示す振幅位相検 出部24は、図7に示すように第1および第2比較� ��ベルおよび比較タイミングが設定された場� ��の構成の一例を示す。

 振幅位相検出部24は、レベル比較部52と、 タイミング発生部54と、複数の取込回路56-1~56 -mと、比較検出部58とを含む。レベル比較部52 は、出力信号が取り得る複数のレベルのそれ ぞれにおける対応するレベルより小さい第1� �較レベルおよび対応するレベルより大きい� �2比較レベルのそれぞれと、試験信号に応じ� ��被試験デバイス100から出力された出力信号� ��を比較する。そして、レベル比較部52は、� �力信号が取り得る複数のレベルのそれぞれ� �対応する第1比較レベルおよび第2比較レベル のそれぞれと、出力信号との複数のレベル比 較結果を出力する。

 レベル比較部52は、一例として、出力信� �が取り得る複数のレベルのそれぞれにおけ� �第1比較レベルおよび第2比較レベルのそれぞ れに対応して設けられた複数のコンパレータ 62-1~62-mを含んでよい(mは、2以上の整数。)。� �数のコンパレータ62-1~62-mは、それぞれが対� �する第1比較レベルまたは第2比較レベルと出 力信号とを比較する。

 タイミング発生部54は、出力信号が取り� �る複数の位相のそれぞれにおける対応する� �相より前の第1比較タイミングおよび対応す� ��位相より後の第2比較タイミングを指定する 複数のタイミング信号を発生する。タイミン グ発生部54は、一例として、クロック信号を� ��次に遅延する複数の遅延素子64-1~遅延素子64 -mを含んでよい。

 複数の遅延素子64-1~遅延素子64-mは、直列� ��接続され、予め設定された遅延量によりク� ��ック信号を順次に遅延する。そして、複数� ��遅延素子64-1~遅延素子64-mは、出力信号が取� ��得る複数の位相のそれぞれにおける第1比較 タイミングおよび第2比較タイミングを指定� �る複数のタイミング信号を出力する。

 複数の取込回路56-1~56-mは、出力信号が取� ��得る複数の位相のそれぞれにおける対応す� ��位相より前の第1比較タイミングおよび対応 する位相より後の第2比較タイミングのそれ� �れにおいて、レベル比較部52により比較され た複数のレベル比較結果を取り込む。複数の 取込回路56-1~56-mは、複数のコンパレータ62-1~6 2-mと一対一に対応して設けられる。複数の取 込回路56-1~56-mは、それぞれが対応するコンパ レータ62-1~62-mによるレベル比較結果を取り込 む複数のラッチ66-1~66-mを含む。

 各取込回路56に含まれる複数のラッチ66-1~ 66-mのそれぞれは、対応するタイミング信号� �より指定されたタイミングにおいて、対応� �るコンパレータ62によるレベル比較結果を取 り込む。そして、各取込回路56は、ラッチ66-1 ~66-mのそれぞれにより取り込んだレベル比較� ��果を、比較検出部58に出力する。

 比較検出部58は、第1比較タイミングにお� ��て出力信号が第1比較レベル以下となり、第 2比較タイミングにおいて出力信号が第2比較� ��ベル以下且つ第1比較レベル以上となるレベ ルおよび変化点の位相を、複数の取込回路56- 1~56-mにより取り込まれた複数のレベル比較結 果に基づき検出する。すなわち、比較検出部 58は、入力された出力信号が有するレベル、� ��よび、入力された出力信号の変化点が有す� ��位相を検出する。以上のような構成の振幅� ��相検出部24によれば、入力された出力信号� �有するレベルおよびリーディングエッジの� �相を検出することができる。

 以上に代えて、レベル比較部52は、出力� �号が取り得る複数のレベルのそれぞれにお� �る対応するレベルより小さい第4比較レベル� ��よび対応するレベルより大きい第5比較レベ ルのそれぞれと、出力信号とを比較した複数 のレベル比較結果を出力してよい。この場合 において、レベル比較部52は、一例として、� ��力信号が取り得る複数のレベルのそれぞれ� ��おける第4比較レベルおよび第5比較レベル� �それぞれに対応して設けられた複数のコン� �レータ62-1~62-mを含んでよい。複数のコンパ� �ータ62-1~62-mは、それぞれが対応する第4比較� ��ベルまたは第5比較レベルと出力信号とを比 較する。

 また、この場合において、タイミング発� ��部54は、出力信号が取り得る複数の位相の� �れぞれにおける対応する位相より前の第4比� ��タイミングおよび対応する位相より後の第5 比較タイミングを指定する複数のタイミング 信号を発生する。そして、複数の取込回路56- 1~56-mは、出力信号が取り得る複数の位相のそ れぞれにおける対応する位相より前の第4比� �タイミングおよび対応する位相より後の第5� ��較タイミングのそれぞれにおいて、レベル� ��較部52により比較された複数のレベル比較� �果を取り込む。

 さらに、この場合において、比較検出部5 8は、第4比較タイミングにおいて出力信号が� ��4比較レベル以下となり、第5比較タイミン� �において出力信号が第5比較レベル以下且つ� ��4比較レベル以上となるレベルおよび変化点 の位相を、複数の取込回路56-1~56-mにより取り 込まれた複数のレベル比較結果に基づき検出 する。以上のような構成の振幅位相検出部24� ��よれば、入力された出力信号が有するレベ� ��およびトレーディングエッジの位相を検出� ��ることができる。

 図9は、本実施形態の第2変形例に係る試� �装置10の構成を示す。本変形例に係る復調部 18は、図1に示した試験装置10と略同一の構成� ��よび機能を取るので、図1~図9において説明� ��た部材と構成および機能を採る部材につい� ��は同一の符号を付け、以下相違点を除き説� ��を省略する。

 本変形例に係る試験装置10は、タイミン� �発生器70を更に備える。タイミング発生器70� ��、復調部18のクロック再生部22により再生さ れたクロック信号を入力する。そして、タイ ミング発生器70は、クロック信号に基づき、� ��験サイクルに応じた周期の基準信号を発生� ��る。

 さらに、本変形例において、復調部18の� �幅位相検出部24は、クロック再生部22により� ��生されたクロック信号に代えて、タイミン� ��発生器70により出力された基準信号を入力� �る。これにより、復調部18の振幅位相検出部 24によれば、試験サイクルに応じて定められ� ��基準位相に基づき、振幅位相変調信号の位� ��およびレベルを検出することができる。

 また、本変形例において、パターン発生� ��14は、試験信号に応じて被試験デバイス100� �ら出力されるべき出力信号(振幅位相変調信� ��)のレベルの期待値である期待レベルおよび 前記出力信号の変化点の位相の期待値である 期待位相を発生し、振幅位相検出部24に供給� ��る。振幅位相検出部24は、期待位相より前� �おいて期待レベルより小さい第1比較レベル� ��出力信号とを比較し、期待位相より後にお� ��て期待レベルより大きい第2比較レベルおよ び期待レベルより小さい第3比較レベルと出� �信号とを比較する。

 そして、位相差補正部26は、振幅位相検� �部24による比較結果に基づき、クロック再生 部22内の位相差検出部32からフィルタ部34に与 えられる位相差を補正する。より具体的には 、位相差補正部26は、出力信号が、期待位相� ��り前において第1比較レベル以下であり、期 待位相より後において第2比較レベル以下且� �第3比較レベル以上であることを条件として� ��位相差検出部32により検出された位相差を� �ィルタ部34に与える。すなわち、位相差補正 部26は、出力信号が期待レベルおよび期待位� ��に一致したことを条件として、位相差検出� ��32により検出された位相差をフィルタ部34に 与え、一致しないことを条件として、位相差 検出部32からフィルタ部34に与えられる位相� �をマスクする。以上のような試験装置10によ れば、期待位相に同期した出力信号に基づき クロックを再生するので、出力信号に正確に 同期したクロック信号を出力することができ る。

 また、試験装置10は、試験対象となる被� �験回路と共に同一の電子デバイスに設けら� �た試験回路であってもよい。当該試験回路� �、電子デバイスのBIST回路等として実現され� ��被試験回路を試験することにより電子デバ� ��スの診断等を行う。これにより、当該試験� ��路は、被試験回路となる回路が、電子デバ� ��スが本来目的とする通常動作を行うことが� ��きるかどうかをチェックすることができる� ��

 また、試験装置10は、試験対象となる被� �験回路と同一のボード又は同一の装置内に� �けられた試験回路であってもよい。このよ� �な試験回路も、上述したように被試験回路� �本来目的とする通常動作を行うことができ� �かどうかをチェックすることができる。

 図10は、本実施形態に係る復調装置200の� �成を示す。本実施形態に係る復調装置200に� �いて、図3および図4に示した部材と略同一の 構成および機能を採る部材については、同一 の符号を付け、相違点を除き説明を省略する 。

 復調装置200は、振幅位相変調信号を復調� ��る装置であって、例えば、電子デバイス、� ��ジュール、電子デバイス内の回路等である� ��また、復調装置200は、一例として、半導体� ��バイスに実装されてよい。

 復調装置200は、クロック再生部22と、振� �位相検出部24と、位相差補正部26と、データ� ��力部210とを備える。クロック再生部22は、� �3および図4に示したクロック再生部22と略同� ��の構成および機能を有する。振幅位相検出� ��24および位相差補正部26は、図3および図4に� ��した振幅位相検出部24および位相差補正部26 と略同一の構成および機能を有する。

 データ出力部210は、振幅位相検出部24に� �り検出されたレベルおよび変化点の位相に� �じたデータを出力する。すなわち、データ� �力部210は、振幅位相変調信号から復調され� �伝送データを出力する。以上のような構成� �復調装置200によれば、入力された振幅位相� �調信号が有するレベルおよび位相を検出し� �検出したレベルおよび位相に応じたデータ� �伝送データとして出力することができる。

 以上、本発明の一つの側面を実施の形態� ��用いて説明したが、本発明の技術的範囲は� ��記実施の形態に記載の範囲には限定されな� ��。上記実施の形態に、多様な変更又は改良� ��加えることができる。その様な変更又は改� ��を加えた形態も本発明の技術的範囲に含ま� ��得ることが、請求の範囲の記載から明らか� ��ある。