この発明をより詳細に説明するため、添� ��の図面に従ってこれを説明する。なお、各� ��中、同一又は相当する部分には同一の符号� ��付しており、その重複説明は適宜に簡略化� ��いし省略する。

実施の形態1.
 図1はこの発明の実施の形態1における誘導� �熱装置の劣化診断装置の全体構成を示す図� �図2は図1に示す誘導加熱装置の劣化診断装置 の要部を示す斜視図である。
 この劣化診断装置は、圧延ラインで用いら� ��る誘導加熱装置の劣化を診断するためのも� ��である。なお、圧延ラインで用いられる誘� ��加熱装置は、例えば、図7に示すものと同様 の構成を有しており、被加熱材1(圧延材)の両 エッジ部分の温度を上昇させるエッジヒータ 2から構成される。即ち、エッジヒータ2は、� ��加熱材1を加熱するためのインダクターを備 え、このインダクターは、C形鉄心3、ラジア� ��鉄心4、加熱コイル5(上側加熱コイル5a、下� �加熱コイル5b)によってその要部が構成され� �。また、インダクターの上記各構成物は、� �加熱材1からの輻射熱、スケール、水や水蒸� ��の浸入等を抑制することを目的として、シ� ��ルドカバー6や耐熱プレート7によって保護� �れている。

 圧延ラインで用いられる誘導加熱装置は� ��上述したように、インダクターの上記各構� ��物が、シールドカバー6等によって保護され ている。このため、誘導加熱装置に劣化等が 生じていなければ、その内部は、通常、60℃� ��度に保持される。しかし、何らかの理由に� ��って、シールドカバー6や耐熱プレート7に� �傷や劣化が発生すると、C形鉄心3、ラジアル 鉄心4、加熱コイル5が、被加熱材1からの輻射 熱を直接的に受けてしまう。更には、スケー ルが付着したり、堆積したスケールが誘導加 熱によって過熱されたりすることにより、イ ンダクターの各構成物の損傷や劣化を促進さ せてしまう。

 このような誘導加熱装置の劣化を常時監� ��するため、劣化診断装置には、誘導加熱装� ��の内部に、誘導加熱装置の内部状態を直接� ��出するためのセンサーと、このセンサーの� ��出結果に基づいて誘導加熱装置の劣化状況� ��監視する監視装置とが設けられている。

 図1及び図2は、上記センサーとして、誘� �加熱装置の内部の温度を検出するために光� �ァイバー8を採用し、この光ファイバー8を誘 導加熱装置の内部に敷設した例を示したもの である。光ファイバー8は、図1及び図2に示す ように、例えば、上側加熱コイル5aの下面と� ��側加熱コイル5bの上面とに張り巡らされる� �即ち、本実施の形態では、光ファイバー8(の 一部)を、加熱コイル5のうち、被加熱材1の加 熱時に被加熱材1の方向を向く面に敷設する� �合を示している。

 光ファイバー8の出力信号、即ち、光ファ イバー8から出力される温度情報は、そのデ� �タを収集するデータ収集装置9に一旦納めら� ��る。そして、データ収集装置9に納められた 温度データは、監視装置の要部からなるパソ コン10によって加工及び編集され、必要な情� ��がモニター(監視画面)に表示される。即ち� �監視装置は、温度検出を指標として誘導加� �装置の劣化推移を監視するための機能を備� �ている。

 なお、光ファイバー8であれば高周波ノイ ズの影響を受け難いため、エッジヒータ2の� �源が高周波インバータ電源11である場合でも 、その主回路ケーブルや加熱コイル5の近傍� �敷設することができる。また、光ファイバ� �8であれば、加熱コイル5やラジアル鉄心4等� �劣化目安となる約400℃程度の測定が可能で� �り、且つ、誘導加熱装置内の極僅かな設置� �ペースに配置することもできる。即ち、光� �ァイバー8は、誘導加熱装置の内部温度を検� ��するために必要な条件を全て満足している� ��

 なお、図1及び図2では、加熱コイル5に光� ��ァイバー8を張り巡らせた場合を示している が、これは、劣化が生じやすい場所に光ファ イバー8を敷設した一例を単に示したもので� �る。即ち、誘導加熱装置内の温度監視した� �場所に光ファイバー8を張り巡らせておけば� ��任意の場所の劣化監視が可能になることは� ��うまでもない。

 また、図3は監視画面の一例を示す図、図4� �監視画面の他の例を示す図である。図3及び� ��4とも、パソコン10のモニターに表示する画� ��例を表している。
 図3に示す画面例は、パソコン10のモニター� ��、上側加熱コイル5aの下面と下側加熱コイ� �5bの上面とをそれぞれ4分割に表示し、各分� �された部位の温度を数値によって表示する� �合を示している。なお、モニターに表示さ� �る温度(数値)は、光ファイバー8の出力信号� �基づいて得られた値である。即ち、光ファ� �バー8は、上記分割された部位の温度をそれ� ��れ検出することができるように、上側加熱� ��イル5aの下面と下側加熱コイル5bの上面とに 張り巡らされている。このように、それぞれ の部位についての温度監視を行うことにより 、加熱コイル5の状態監視が可能となる。

 また、図4に示す画面例は、光ファイバー8� �出力信号から得られた加熱コイル5の温度情� ��を、その温度推移が目視確認できるように� ��モニターに表示したものである。即ち、加� ��コイル5の温度情報は、時間軸に対してプロ ットされている。また、この画面例では、高 周波インバータ電源11の運転信号12と、サー� �スタット13及び流量計14(図1において共に図� �せず)からの警報信号15とが同じ時間軸を用� �て表示され、監視項目として取り込まれて� �る。なお、上記運転信号12は、エッジヒータ 2の運転状態を確認する情報として取り入れ� �れたものである。
 このような画面構成を採用することにより� ��エッジヒータ2の運転/停止状態における加� �コイル5の温度状態の監視が可能となる。ま� ��、上記画面構成であれば、エッジヒータ2の 状態監視を、サーモスタット13や流量計14に� �る装置異常の検出と関連付けて行うことが� �能になる。

 この発明の実施の形態1によれば、誘導加 熱装置の劣化推移を的確に把握することによ って、効率的な保守点検を可能にし、且つ、 誘導加熱装置の故障による突発的な設備停止 を防止することができるようになる。

 即ち、上記構成を有する劣化診断装置で� ��れば、加熱コイル5といったインダクターの 構成物に対する直接的なセンシングが可能と なり、誘導加熱装置の老朽化や劣化を精度良 く検出することができるようになる。また、 誘導加熱装置の劣化状況を的確に検出するこ とができるため、保守や点検が必要なポイン トを正確に把握することができる。即ち、圧 延ラインの停止日前に、監視データに基づく 保守計画を立案でき、保守点検の大幅な効率 化を図ることが可能となる。なお、誘導加熱 装置の劣化推移を把握することが可能になる ため、誘導加熱装置の故障による突発的な設 備停止も確実に防止できるようになる。

実施の形態2.
 図5はこの発明の実施の形態2における誘導� �熱装置の劣化診断装置の全体構成を示す図� �図6は監視画面の一例を示す図である。図5及 び図6に示す劣化診断装置では、センサーに� �って温度が検出される温度被検出体(例えば� ��加熱コイル5)の画像データと、センサーに� �って検出された上記温度被検出体の温度の� �値データとを、時刻同期させて表示してい� �。

 即ち、本実施の形態における劣化診断装� ��では、温度被検出体である加熱コイル5の画 像データを取得するために、図1に示す構成� �加え、熱画像カメラ16がエッジヒータ2に設� �されている。なお、この熱画像カメラ16は、 上記機能を備えるため、その焦点が、光ファ イバー8の敷設部分に合うように設定されて� �る。そして、熱画像カメラ16の出力情報(例� �ば、下側加熱コイル5b上面の熱画像データ)� �、温度推移を示す数値データとともに、パ� �コン10のモニターに表示される。なお、図6� �示す画面例では、加熱コイル5の温度情報と� ��に、運転信号12及び警報信号15を同じ時間軸 を用いて表示し、監視項目として取り込んだ 場合を示している。

 この発明の実施の形態2によれば、光ファ イバー8を敷設したことによる温度監視ポイ� �トを、熱画像データも用いて監視すること� �可能となる。このように、ビジュアル的な� �態監視を可能にすることにより、例えば、� �常操業時のどのような運転状態で誘導加熱� �置の劣化が進展していくのか、といった様� �な設備状態の変化を把握することが可能に� �る。