Bestimmen einer noch verbleibenden bestimmungsgemäßen Nutz barkeit eines Halbleitermoduls

Die Erfindung betrifft Verfahren zum Bestimmen einer noch verbleibenden bestimmungsgemäßen Nutzbarkeit eines mit einer Kühleinrichtung thermisch gekoppelten Halbleitermoduls. Fer ner betrifft die Erfindung ein Verfahren zum Betreiben eines an eine elektrische Maschine angeschlossenen Energiewandlers, der die elektrische Maschine mit einem Gleichspannungszwi- schenkreis elektrisch koppelt, zu welchem Zweck wenigstens ein mit einer Kühleinrichtung thermisch gekoppeltes Halb leitermodul mit wenigstens einem mit dem Halbleitermodul elektrisch gekoppelten Energiespeicher zusammenwirkt und zum elektrischen Koppeln des Gleichspannungszwischenkreises mit der elektrischen Maschine in einem vorgebbaren Schaltbetrieb betrieben wird. Weiterhin betrifft die Erfindung Steuerein heiten zum Steuern von wenigstens einem mit einer Kühlein richtung thermisch gekoppelten Halbleitermodul. Schließlich betrifft die Erfindung auch einen Energiewandler zum An schließen an eine elektrische Maschine, mit wenigstens einem Halbleitermodul, wenigstens einer mit dem wenigstens einen Halbleitermodul thermisch gekoppelten Kühleinrichtung, we nigstens einem mit dem wenigstens einen Halbleitermodul elektrisch gekoppelten Energiespeicher, Anschlusskontakten zum Anschließen der elektrischen Maschine, einem Zwischen kreisanschluss zum Anschließen des Energiewandlers an einen Gleichspannungszwischenkreis und einer mit dem wenigstens ei nen Halbleitermodul elektrisch gekoppelten Steuereinheit zum Steuern des wenigstens einen Halbleitermoduls in einem vor gebbaren Schaltbetrieb, um den Gleichspannungszwischenkreis und die elektrische Maschine elektrisch miteinander zu kop peln .

Verfahren, Steuereinheiten sowie Energiewandler der gattungs gemäßen Art sind dem Grunde nach im Stand der Technik umfäng lich bekannt, so dass es eines gesonderten druckschriftlichen Nachweises hierfür nicht bedarf. Sie beziehen sich insbeson dere auf die Nutzung von Halbleitermodulen, die im Stand der Technik vielfältig eingesetzt werden, um elektrische Energie auf unterschiedlichste Weise umzuformen. Die Umformung der elektrischen Energie wird in der Regel mittels eines Energie wandlers durchgeführt, der zum Beispiel als Wechselrichter ausgebildet sein kann.

Der Wechselrichter ist eine Form eines Energiewandlers, der einen Gleichspannungszwischenkreis mit einem Wechselspan nungsnetz energietechnisch koppelt, so dass zwischen dem Gleichspannungszwischenkreis und dem Wechselspannungsnetz elektrische Energie ausgetauscht werden kann. Zu diesem Zweck ist in der Regel vorgesehen, dass der Energiewandler wenigs tens ein Schaltelement aufweist, das mit elektrischen Ener giespeichern zusammenwirkt. Das wenigstens eine Schaltelement ist in der Regel aus einem Halbleitermodul gebildet, das ein oder mehrere Halbleiterschaltelemente umfassen kann.

Wechselspannungsseitig kann das Wechselspannungsnetz zum Bei spiel durch eine elektrische Maschine gebildet sein, insbe sondere eine mehrphasige elektrische Maschine. Durch Steuern des wenigstens einen Schaltelements mittels einer Steuerein heit im Schaltbetrieb kann die gewünschte Wandlungsfunktion des Wechselrichters beziehungsweise des Energiewandlers er reicht werden, sodass mit der elektrischen Maschine die ge wünscht Antriebsfunktion erreicht werden kann.

Zu diesem Zweck werden die Schaltelemente gewöhnlich mit ei ner vorgegebenen Taktrate betrieben, die erheblich größer als eine Frequenz von wenigstens einer Phasenwechselspannung des Wechselspannungsnetzes ist. Mittels bestimmter Steuerungsver fahren, wie Pulsweitenmodulation (PWM) oder dergleichen, kann dann die gewünschte energietechnische Kopplung hergestellt werden. Zu diesem Zweck stellt die Steuereinheit für das we nigstens eine Schaltelement beziehungsweise jedes der Schalt elemente spezifische Schaltsignale bereit, sodass das wenigs- tens eine Schaltelement beziehungsweise die Schaltelemente im Schaltbetrieb in gewünschter Weise betrieben werden können.

Es hat sich gezeigt, dass Halbleitermodule, insbesondere nach Art von Leistungsmodulen einer Alterung unterliegen, die un ter anderem von einem Temperaturhub eines Halbleiterelements abhängig sind, der beispielsweise durch wechselnde elektri sche Beanspruchung hervorgerufen werden kann. Nach einer be stimmten Anzahl von Temperaturzyklen in Bezug auf die Last wechsel, wird ein Nutzbarkeitsende für eine bestimmungsgemäße Nutzbarkeit des Halbleitermoduls erreicht, und es kann zu ei nem Ausfall des Halbleitermoduls kommen. Dies kann unter an derem durch eine Zerrüttung von verschiedenen Aufbau- und Verbindungsschichten und einer damit einhergehenden schlech teren thermischen Anbindung des Halbleiterelements an die Kühleinrichtung begründet sein. Der Ausfall eines Halbleiter moduls, insbesondere eines Energiewandlers mit wenigstens ei nem Halbleitermodul, erweist sich als störend und kann unter Umständen sogar gefährliche Zustände zur Folge haben. Es ist daher gewünscht, Informationen über eine noch verbleibende bestimmungsgemäße Nutzbarkeit des Halbleitermoduls zur Verfü gung zu haben, damit einerseits rechtzeitig vor Ausfall des Halbleitermoduls eine Wartung durchgeführt werden kann und andererseits die Wartung erst dann vorgenommen zu werden braucht, wenn das Nutzbarkeitsende absehbar ist.

Zu diesem Zweck ist es bisher üblich, eine Temperatur des Halbleiterelements über ein thermisches Modell zu ermitteln. Dabei wird von einer mittels eines Temperatursensors erfass ten Temperatur an der Kühleinrichtung ausgegangen und rechne risch unter Durchführung von Näherungen auf die tatsächliche Temperatur des Halbleiterelements geschlossen. Auf Basis der auf diese Weise errechneten Temperatur des Halbleiterelements kann ein jeweiliger Temperaturhub des Halbleiterelements ge schätzt und gezählt werden. Durch empirische Versuche mittels Lastwechseltests in Bezug auf das wenigstens eine Halbleiter modul kann eine Anzahl von Temperaturzyklen bis zum Ausfall des Halbleitermoduls ermittelt werden. Diese Lastwechselfes- tigkeit wird für einen vorgegebenen, vergleichsweise großen Temperaturhub, beispielsweise größer als 70K, ermittelt.

Im bestimmungsgemäßen Betrieb des Halbleitermoduls treten in der Regel jedoch lediglich kleinere Temperaturhübe auf, bei spielsweise in einem Bereich von etwa 10K bis etwa 35K. Nur vereinzelt kommt es zu größeren Temperaturhüben.

Das vorgenannte thermische Modell für das Ermitteln der noch verbleibenden Nutzbarkeit erweist sich insofern als nachtei lig, als dass als Rechengröße eine aktuelle Verlustleistung berücksichtigt wird, welche über wenige hinterlegte Punkte rechnerisch ermittelt wird. Des Weiteren berücksichtigt die ses Modell nicht, dass sich ein thermischer Widerstand zwi schen dem Halbleiterelement und der Kühlfläche mit fort schreitender Nutzung des Halbleitermoduls verändern kann, insbesondere vergrößern kann. Diese Punkte, die Messung der Lastwechselfähigkeit bei einem Temperaturhub von größer als 70K in Verbindung mit einer Chargenstreuung der Halbleitermo- dule, die begrenzte Genauigkeit der Ermittlung der aktuellen Verluste sowie die Veränderung des thermischen Widerstands abhängig von der bestimmungsgemäßen Nutzung führen zu einer sehr ungenauen Ermittlung des Nutzbarkeitsendes beziehungs weise der noch verbleibenden Nutzbarkeit. Die Wartung wird daher in der Regel deutlich vor dem Nutzbarkeitsende durchge führt, obwohl tatsächlich noch genügend Abstand bis zum Nutz barkeitsende vorliegen kann. Dies ist aufwendig und teuer.

Ferner offenbart die EP 3 054 306 Al ein Verfahren zur Be stimmung einer Alterung von Leistungshalbleitermodulen sowie eine Vorrichtung und eine Schaltungsanordnung. Weiterhin of fenbart die JP 2011-196703 A eine Leistungszykluslebensdauer schätzung für ein Leistungshalbleitermodul. Darüber hinaus offenbart die EP 3 203 250 Al ein Verfahren und eine Vorrich tung zum Schätzen eines Beschädigungspegels oder einer Le benserwartung eines Leistungshalbleitermoduls. Schließlich offenbart die US 2009/0046406 Al eine Halbleitervorrichtung. Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, das Nutzbarkeitsen de beziehungsweise eine verbleibende bestimmungsgemäße Nutz barkeit des Halbleitermoduls genauer zu bestimmen.

Als Lösung werden mit der Erfindung Verfahren, Steuereinhei ten sowie ein Energiewandler gemäß den unabhängigen Ansprü chen vorgeschlagen.

Vorteilhafte Weiterbildungen ergeben sich anhand von Merkma len der abhängigen Ansprüche.

Bezüglich eines gattungsgemäßen Verfahrens wird gemäß einem ersten Aspekt vorgeschlagen, dass das Halbleitermodul bei ei ner vorgegebenen Kühlung durch die Kühleinrichtung mit einer vorgegebenen elektrischen Beanspruchung beaufschlagt wird, eine Temperatur des Halbleiterelements des Halbleitermoduls zumindest für die vorgegebene elektrische Beanspruchung des Halbleitermoduls erfasst wird, die erfasste Temperatur in ei nem ersten Vergleich mit einer Vergleichstemperatur vergli chen wird, wobei die Vergleichstemperatur der vorgegebenen elektrischen Beanspruchung bei der vorgegebenen Kühlung zuge ordnet ist, und Prognosedaten für die noch verbleibende be stimmungsgemäße Nutzbarkeit des Halbleitermoduls bis zu einem Nutzbarkeitsende zumindest abhängig von dem ersten Vergleich ermittelt werden.

In Bezug auf ein gattungsgemäßes Verfahren wird gemäß einem zweiten Aspekt vorgeschlagen, dass das Halbleitermodul bei einer vorgegebenen Kühlung durch die Kühleinrichtung mit ei ner vorgegebenen elektrischen Beanspruchung beaufschlagt wird, ein thermischer Widerstand zwischen einem Halblei terelement des Halbleitermoduls und der Kühleinrichtung er mittelt wird, der ermittelte thermische Widerstand in einem zweiten Vergleich mit einem thermischen Referenzwiderstand verglichen wird und Prognosedaten für die noch verbleibende bestimmungsgemäße Nutzbarkeit des Halbleitermoduls bis zu ei nem Nutzbarkeitsende zumindest abhängig von dem zweiten Ver gleich ermittelt werden. Bezüglich eines gattungsgemäßen Verfahrens zum Betreiben ei nes Energiewandlers wird insbesondere vorgeschlagen, dass ei ne noch verbleibende bestimmungsgemäße Nutzbarkeit des we nigstens einen Halbleitermoduls gemäß der Erfindung bestimmt wird .

Bezüglich einer gattungsgemäßen Steuereinheit wird gemäß dem ersten Aspekt insbesondere vorgeschlagen, dass die Steuerein heit ausgebildet ist, das Halbleitermodul bei einer vorgege benen Kühlung durch die Kühleinrichtung mit einer vorgegebe nen elektrischen Beanspruchung zu beaufschlagen, eine Tempe ratur des Halbleiterelements des Halbleitermoduls zumindest für die vorgegebene elektrische Beanspruchung des Halbleiter moduls zu erfassen, die erfasste Temperatur in einem ersten Vergleich mit einer Vergleichstemperatur zu vergleichen, wo bei die Vergleichstemperatur der vorgegebenen elektrischen Beanspruchung bei der vorgegebenen Kühlung zugeordnet ist, und Prognosedaten für die noch verbleibende bestimmungsgemäße Nutzbarkeit des Halbleitermoduls bis zu einem Nutzbarkeitsen de zumindest abhängig von dem ersten Vergleich zu ermitteln.

Bezüglich einer gattungsgemäßen Steuereinheit wird in Bezug auf den zweiten Aspekt insbesondere vorgeschlagen, dass Steu ereinheit ausgebildet ist, das Halbleitermodul bei einer vor gegebenen Kühlung durch die Kühleinrichtung mit einer vorge gebenen elektrischen Beanspruchung zu beaufschlagen, einen thermischen Widerstand zwischen einem Halbleiterelement des Halbleitermoduls und der Kühleinrichtung zu ermitteln, den ermittelten thermischen Widerstand in einem zweiten Vergleich mit einem thermischen Referenzwiderstand zu vergleichen und Prognosedaten für die noch verbleibende bestimmungsgemäße Nutzbarkeit des Halbleitermoduls bis zu einem Nutzbarkeitsen de zumindest abhängig von dem zweiten Vergleich zu ermitteln.

Bezüglich eines gattungsgemäßen Energiewandlers wird insbe sondere vorgeschlagen, dass die Steuereinheit gemäß der Er findung ausgebildet ist. Die Erfindung basiert auf dem Gedanken, dass durch eine nahe zu unmittelbare beziehungsweise direkte Erfassung der Tempe ratur des Halbleiterelements gemäß dem ersten Aspekt bezie hungsweise Ermitteln des thermischen Widerstands gemäß dem zweiten Aspekt die Prognosedaten erheblich genauer als bisher ermittelt werden können. Dabei können spezifische Eigenschaf ten des Halbleitermoduls beziehungsweise von dessen Halblei terelement herangezogen werden, um die tatsächliche Tempera tur des Halbleiterelements zu erfassen. So kann beispielswei se bei einem IGBT die Temperaturerfassung dadurch erreicht werden, indem die Threshold-Spannung des IGBT mittels eines Spannungssensors erfasst wird. Die Threshold-Spannung ist üb licherweise abhängig von der Temperatur des Halbleiterele ments beziehungsweise des Halbleiterchips des IGBT. Darüber hinaus kann natürlich auch vorgesehen sein, dass das Halblei terelement einen zum Beispiel integrierten PN-Übergang um fasst, der als Temperatursensor dienen kann. In diesem Zusam menhang wird unter anderem verwiesen auf die Veröffentlichung „Application issues of an online temperature estimation me- thod in a high-power 4.5kV IGBT module based on the gate- emitter threshold voltage" von Höher, M. et al . , European Conference on Power Electronics and Applications, EPE 2016, ECCE Europe, Karlsruhe, Deutschland, September 2016.

Die Erfindung nutzt ferner die Erkenntnis, dass, insbesondere in Bezug auf den ersten Aspekt bei einer vorgegebenen elek trischen Beanspruchung und einer vorgegebenen Kühlung durch die Kühleinrichtung ein Anstieg der erfassten Temperatur be ziehungsweise eines erfassten Temperaturhubes ein Maß für die Alterung und damit für die noch verbleibende bestimmungsgemä ße Nutzbarkeit des Halbleitermoduls sein kann. Aus dieser Er kenntnis heraus kann ferner empirisch die Vergleichstempera- tur ermittelt werden, die für die Durchführung des ersten Vergleichs herangezogen wird. Dies kann zum Beispiel durch Laborversuche, insbesondere unter Nutzung statistischer Me thoden und/oder dergleichen erfolgen. Abhängig von dem Ver gleich können dann die Prognosedaten für die noch verbleiben de bestimmungsgemäße Nutzbarkeit des Halbleitermoduls bis zum Nutzbarkeitsende ermittelt werden. Die Prognosedaten können hierzu zum Beispiel abhängig von einer Differenz zwischen der erfassten Temperatur und der Vergleichstemperatur ermittelt werden. Gemäß dem ersten Aspekt wird also für die Ermittlung der Prognosedaten die erfasste Temperatur herangezogen.

Für den zweiten Aspekt wird die Erkenntnis genutzt, dass der thermische Widerstand zwischen dem Halbleiterelement und der Kühleinrichtung herangezogen werden kann, um die Prognoseda ten zu ermitteln. Dabei wird die Erkenntnis genutzt, dass der thermische Widerstand ebenfalls von einer Alterung des Halb leitermoduls abhängig sein kann, weil der thermische Wider stand sich mit zunehmender Alterung des Halbleitermoduls er höhen kann. Dies kann dazu genutzt werden, im Rahmen eines zweiten Vergleichs die Prognosedaten zu ermitteln. Zu diesem Zweck wird ein thermischer Referenzwiderstand ermittelt, der für den zweiten Vergleich zur Verfügung gestellt wird. Der thermische Referenzwiderstand kann ebenfalls durch Laborver suche, insbesondere unter Nutzung von statistischen Methoden und/oder dergleichen ermittelt werden. Damit ist es also mög lich, wenn der thermische Widerstand zwischen dem Halblei terelement und der Kühleinrichtung ermittelt worden ist, durch den zweiten Vergleich ebenfalls Prognosedaten zu ermit teln .

Dem Grunde nach können die beiden Aspekte natürlich auch kom biniert miteinander angewendet werden, um die Genauigkeit zu erhöhen oder um spezifische Anwendungen der Halbleitermodule besser berücksichtigen zu können.

Ein Halbleitermodul im Sinne dieser Offenbarung ist insbeson dere auf eine mechanische Bauform des Halbleiterschaltele ments gerichtet, bei der ein Halbleiterelement, welches bei spielsweise durch einen Halbleiterchip oder dergleichen ge bildet sein kann, mit einer Kühlfläche thermisch gekoppelt ist, die ihrerseits mit einer Kühleinrichtung gekoppelt wer den kann, um während des bestimmungsgemäßen Betriebs des Schaltelements entstehende Wärme abführen zu können. Zu die- sem Zweck ist das Halbleiterelement in der Regel mittels me chanischer Verbindungsverfahren und/oder mechanischer Verbin dungsmittel mit der Kühlfläche fest verbunden, sodass ein möglichst günstiger thermischer Übergangswiderstand erreicht werden kann. Das Halbleitermodul kann somit wenigstens ein Halbleiterelement aufweisen. Je nach Bedarf kann das Halb leitermodul jedoch auch weitere Halbleiterelemente aufweisen, die dann entweder separate Kühlflächen aufweisen können oder zumindest teilweise gemeinsam mit einer einzigen Kühlfläche verbunden sein können. Häufig umfasst das Halbleitermodul ein Gehäuse, welches die Kühlfläche bereitstellt . Zugleich kann mit dem Gehäuse eine beispielsweise hermetische Abdichtung gegenüber einer äußeren Atmosphäre erreicht werden, so dass das Halbleiterelement beziehungsweise die Halbleiterelemente vor äußeren mechanischen und atmosphärischen Einwirkungen ge schützt werden kann.

Der Energiewandler kann wenigstens ein einziges Halbleitermo dul als Schaltelement umfassen. Je nach Bedarf können jedoch auch mehrere Halbleitermodule vorgesehen sein, um gewünschte Energiewandlungsfunktionalitäten realisieren zu können. Um die Energiewandler realisieren zu können, umfasst der Ener giewandler in der Regel auch einen elektrischen Energiespei cher oder ist zumindest mit einem solchen elektrisch gekop pelt, beispielsweise einen oder mehrere Kondensatoren, eine oder mehrere elektrische Spulen und/oder dergleichen. Natür lich können auch Kombinationsschaltungen hiervon vorgesehen sein. Die Energiewandlungsfunktion des Energiewandlers wird mittels der Halbleitermodule in Zusammenwirkung mit dem we nigstens einen Energiespeicher realisiert.

Das wenigstens eine Halbleitermodul, welches wenigstens ein Schaltelement des Energiewandlers bildet, weist zur Realisie rung der gewünschten Schaltfunktion jeweils wenigstens einen Steueranschluss auf, an dem es mit dem von der Steuereinheit bereitgestellten Schaltsignal beaufschlagbar ist, sodass die gewünschte Schaltfunktion des Halbleitermoduls realisiert werden kann. Das Schaltsignal kann ein binäres Schaltsignal sein, welches wenigstens zwei Zustandswerte einnehmen kann, um die gewünschten Schaltfunktionen des Halbleitermoduls be reitstellen zu können. Beispielsweise kann das Schaltsignal durch eine Impulsfolge gebildet sein, mittels der der Steuer anschluss beaufschlagt wird. Dies ist vor allem bei Halb leitermodulen zweckmäßig, die Thyristoren und GTO umfassen. Darüber hinaus kann bei Transistoren vorgesehen sein, dass das Schaltsignal ein Rechtecksignal ist, wobei ein jeweiliger Schaltzustand des Schaltelements beziehungsweise des Halb leitermoduls einem der Potentiale des Rechtecksignals zuge ordnet werden kann. Ein solches Signal ist beispielsweise für Transistoren, insbesondere für bipolare Transistoren, Feldef fekttransistoren oder dergleichen zweckmäßig.

Das Schaltelement im Sinne dieser Offenbarung, welches in der Regel als Halbleiterschaltelement ausgebildet ist, ist dabei vorzugsweise ein steuerbares elektronisches Schaltelement, beispielsweise ein steuerbarer elektronischer Halbleiter schalter wie zum Beispiel ein Transistor, der in einem

Schaltbetrieb betrieben wird, ein Thyristor, Kombinations schaltungen hiervon, vorzugsweise mit parallelgeschalteten Inversdioden, ein Gate-Turn-Off-Thyristor (GTO) , ein Insula- ted-Gate-Bipolar-Transistor (IGBT), Kombinationen hiervon o- der dergleichen. Dem Grunde nach kann das Schaltelement je doch auch durch einen Feldeffekttransistor, insbesondere ei nen Metal-Oxide-Semiconductor-Field-Effect-Transistor

(MOSFET) gebildet sein.

Zum Zwecke des Energiewandeins wird das wenigstens eine Halb leitermodul in der Regel in einem Schaltbetrieb betrieben. In Bezug auf einen Halbleiterschalter unter Nutzung eines Tran sistors bedeutet der Schaltbetrieb, dass in einem eingeschal teten Schaltzustand zwischen den eine Schaltstrecke bildenden Anschlüssen des Transistors ein sehr kleiner elektrischer Wi derstand bereitgestellt wird, so dass ein hoher Stromfluss bei kleiner Restspannung möglich ist. In einem ausgeschalte ten Schaltzustand ist hingegen die Schaltstrecke des Transis tors hochohmig, das heißt, sie stellt einen hohen elektri- sehen Widerstand bereit, so dass auch bei hoher, an der

Schaltstrecke anliegender elektrischer Spannung im Wesentli chen kein oder nur ein sehr geringer, insbesondere vernach lässigbarer Stromfluss vorliegt. Hiervon unterscheidet sich ein Linearbetrieb bei Transistoren, der aber bei Energiewand lern der gattungsgemäßen Art in der Regel nicht zum Einsatz kommt .

Die Steuereinheit stellt die Funktionalität zum Erzeugen der Schaltsignale bereit. Auch weitere Funktionen, insbesondere in Bezug auf den Energiewandler können durch die Steuerein heit realisiert sein, beispielsweise Überwachungsfunktionen, Sicherheitsfunktionen und/oder dergleichen. Zu diesem Zweck kann die Steuereinheit eine Hardwareschaltung und/oder eine programmgesteuerte Rechnereinheit oder dergleichen umfassen. Natürlich kann die Steuereinheit als eine separate Baugruppe ausgebildet sein. Die Steuereinheit kann jedoch auch zumin dest teilweise von einer übergeordneten Steuerung des Ener giewandlers oder der Antriebseinrichtung, die den Energie wandler umfasst, umfasst sein.

Die elektrische Maschine kann eine Gleichspannungsmaschine oder auch eine Wechselspannungsmaschine sein. Als Wechsel spannungsmaschine kann die elektrische Maschine eine ein- oder auch eine mehrphasige Wechselspannungsmaschine sein. Die elektrische Maschine kann zum Beispiel eine Synchronmaschine, eine Asynchronmaschine oder dergleichen sein. Ist die elekt rische Maschine eine Synchronmaschine, kann sie zum Beispiel als permanenterregte Synchronmaschine ausgebildet sein. Sie kann jedoch auch als fremderregte Synchronmaschine oder der gleichen ausgebildet sein. Natürlich kommen auch Kombinatio nen hiervon in Betracht, um beispielsweise bestimmte An triebsfunktionen realisieren zu können, die eine Beeinflus sung des magnetischen Flusses wünschen lassen.

Die Taktrate entspricht im Wesentlichen einer Frequenz, mit der die Schaltsignale für das wenigstens eine Halbleitermodul durch die Steuereinheit bereitgestellt werden. Dabei kann vorgesehen sein, dass ein Impuls für das Steuern eines ein zelnen Schaltelements synchronisiert mit der Taktrate einen EinschaltZeitraum und einen AusschaltZeitraum für das Schalt element bereitstellt .

Das wenigstens eine Halbleitermodul ist in der Regel als Leistungshalbleitermodul, gelegentlich auch Leistungsmodul genannt, ausgebildet, weshalb eine Kühlung durch die Kühlein richtung im bestimmungsgemäßen Betrieb gewünscht ist. Je nach elektrischer Beanspruchung des Halbleitermoduls im bestim mungsgemäßen Betrieb wird Wärme im Halbleitermodul erzeugt, die mittels der Kühleinrichtung abgeführt wird, um eine ther mische Überbeanspruchung des Halbleitermoduls zu vermeiden. Die Wärme entsteht beim Halbleitermodul im bestimmungsgemäßen Betrieb unter anderem dadurch, dass ein elektrischer Strom geführt wird und somit Durchlassverluste entstehen. Darüber hinaus entsteht die Wärme unter anderem auch dadurch, dass während des Wechselns zwischen einem eingeschalteten Schalt zustand und einen ausgeschalteten Schaltzustand Schaltverlus te entstehen.

Die Prognosedaten können dazu genutzt werden, eine entspre chende Angabe zum Informieren eines Nutzers bereitzustellen. Durch die Angabe kann der Nutzer darüber informiert werden, welche voraussichtliche Nutzungsdauer beziehungsweise noch verbleibende bestimmungsgemäße Nutzbarkeit für das Halb leitermodul noch zur Verfügung steht. Darüber hinaus kann die Angabe dazu dienen, eine Wartung zu planen, sodass das Halb leitermodul möglichst umfänglich bis zum Nutzbarkeitsende ge nutzt werden kann und rechtzeitig vor einem Ausfall des Halb leitermoduls eine entsprechende Wartung durchgeführt werden kann. Dadurch können Kosten für die Wartung und den Betrieb des Halbleitermoduls sowie auch von Einrichtungen, die das Halbleitermodul nutzen, wie beispielsweise der Energiewandler oder dergleichen, reduziert werden.

Die Prognosedaten sind vorzugsweise durch zum Beispiel ein elektrisches Signal gebildet. Die Prognosedaten können bei- spielsweise digitale Daten umfassen. Dem Grunde nach können sie jedoch auch analoge Daten umfassen. Die Prognosedaten können durch eine Auswerteeinheit der Steuereinheit ermittelt beziehungsweise bestimmt werden. Zu diesem Zweck kann die Auswerteeinheit zum Beispiel eine elektronische Schaltung, eine programmgesteuerte Recheneinrichtung, Kombinationen hiervon oder dergleichen umfassen. Die Auswerteeinheit kann als separate Baugruppe der Steuereinheit ausgebildet sein.

Sie kann dem Grunde nach aber auch von einer übergeordneten Steuereinheit umfasst sein, die beispielsweise die Einrich tung, die das Halbleitermodul umfasst, steuert.

Um die Prognosedaten zu ermitteln, wird das Vergleichsergeb nis zumindest des ersten Vergleichs und/oder des zweiten Ver gleichs für die Steuereinheit, und hier insbesondere für die Auswerteeinheit, zur Verfügung gestellt. Zu diesem Zweck kann ein Vergleichssignal bei der Durchführung eines jeweiligen der Vergleiche durch die Auswerteeinheit ausgewertet werden, um die Prognosedaten zu ermitteln. Das Ermitteln der Progno sedaten kann ergänzend unter Nutzung von statistischen Metho den erfolgen. Zu diesem Zweck können Mittelwerte, Varianzen und/oder dergleichen ermittelt werden. Hierzu können ferner weitere Referenzdaten genutzt werden, die zum Beispiel in ei ner Speichereinheit der Steuereinheit, insbesondere der Aus werteeinheit gespeichert sein können. Darüber hinaus können diese Referenzdaten natürlich auch zumindest teilweise von einer externen Speichereinrichtung über eine Kommunikations verbindung zwischen dieser Speichereinrichtung und der Steu ereinheit beziehungsweise der Auswerteeinheit bereitgestellt sein. Hierdurch besteht die Möglichkeit, die Referenzdaten zentral bereitzustellen, so dass sie auf einfache Weise ge wartet beziehungsweise aktualisiert werden können. Darüber hinaus können die Referenzdaten dann auch für eine Mehrzahl von unterschiedlichen Steuereinheiten beziehungsweise Auswer teeinheiten bereitgestellt werden. Die Referenzdaten können zum Beispiel unter Nutzung von einem oder mehreren Referenz halbleitermodulen ermittelt sein. Diese können zum Beispiel im Rahmen von Laboruntersuchungen ermittelt werden. Natürlich können die unterschiedlichen Möglichkeiten zum Ermitteln der Prognosedaten auch miteinander kombiniert vorgesehen sein.

Die zu den Prognosedaten entsprechende Angabe kann zum Bei spiel ein elektrisches, optisches, hydraulisches, pneumati sches oder auch haptisches Signal sein. Die Angabe kann auch eine Kombination von einem oder mehreren der vorgenannten Signale sein. Die Angabe kann aus den Prognosedaten ermittelt werden, indem die Prognosedaten einer Verarbeitungseinheit, beispielsweise einem Meldegerät oder dergleichen, zugeführt werden, welches dann abhängig hiervon die entsprechende Anga be derart ermittelt, dass abhängig von der entsprechenden An gabe eine für einen Nutzer wahrnehmbare Anzeige der zugeord neten Information bereitgestellt werden kann. Insbesondere kann die entsprechende Angabe eine prognostizierte Anzahl von Temperaturwechseln des Halbleiterelements und/oder einen prognostizierten Zeitraum für die noch verbleibende bestim mungsgemäße Nutzbarkeit bereitgestellt werden. Beispielsweise kann der thermische Referenzwiderstand zum Beginn einer be stimmungsgemäßen Nutzbarkeit des Halbleitermoduls ermittelt werden. Erreicht der ermittelte thermische Widerstand einen Wert, der den thermischen Referenzwiderstand um beispielswei se etwa 20% überschreitet, kann ein unmittelbar bevorstehen des Nutzbarkeitsende die Folge sein. Entsprechend werden die Prognosedaten ermittelt.

Die Verarbeitungseinheit beziehungsweise das Meldegerät kann von der Steuereinheit umfasst sein. Es kann jedoch auch als separate Verarbeitungseinheit beziehungsweise als separates Meldegerät ausgebildet sein, welches mit der Steuereinheit in Kommunikationsverbindung steht. Natürlich können auch Kombi nationen hiervon vorgesehen sein. Die Verarbeitungseinheit beziehungsweise das Meldegerät verarbeiten die Prognosedaten derart, dass die gewünschte entsprechende Angabe beziehungs weise Darstellung der Information erreicht werden kann. Dies kann vom Meldegerät abhängig sein, und zwar insbesondere da von, welches Medium das Meldegerät für die Darstellung der Information nutzt. So kann das Meldegerät zum Beispiel für eine optische, akustische und/oder haptische Ausgabe der In formation ausgebildet sein, wobei die Prognosedaten in geeig neter Weise verarbeitet werden, damit die gewünschte Ausgabe der Information erreicht werden kann. Dabei kann vorgesehen sein, dass die Art der Ausgabe der Information durch den Nut zer eingestellt werden kann, beispielsweise wenn das Meldege rät unterschiedliche Ausgabemöglichkeiten zur Verfügung stellt. Zu diesem Zweck können entsprechende Eingabemittel vorgesehen sein, die es erlauben, eine entsprechende Einstel lung durch den Nutzer vornehmen zu können.

Die Steuereinheit kann als separate Baugruppe ausgebildet sein, die ein eigenes Gehäuse umfassen kann. Vorzugsweise ist die Steuereinheit jedoch Bestandteil einer übergeordneten Steuerung einer Einrichtung, die das Halbleitermodul nutzt, beispielsweise des Energiewandlers oder dergleichen.

Um die Prognosedaten zu ermitteln, wird das Halbleitermodul bei einer vorgegebenen Kühlung durch die Kühleinrichtung mit der vorgegebenen elektrischen Beanspruchung beaufschlagt. Durch die vorgegebene elektrische Beanspruchung kann ein ent sprechender vorgegebener Betriebszustand erreicht werden, so- dass eine entsprechende Verlustleistung des Halbleitermoduls ermittelt werden kann. Der Verlustleistung kann eine Wärme leistung zugeordnet werden, die entsprechend durch die Küh leinrichtung abzuführen ist, um den bestimmungsgemäßen Be trieb des Halbleitermoduls zu gewährleisten. Zu diesem Zweck kann vorgesehen sein, dass die vorgegebene elektrische Bean spruchung vorgegebene Schaltmuster mit einer vorgegebenen Spannungs- und/oder Strombeanspruchung umfasst. Dadurch kön nen definierte Rahmenbedingungen zum Erfassen der Temperatur beziehungsweise des thermischen Widerstands erreicht werden, um den jeweiligen entsprechenden Vergleich bestimmungsgemäß durchführen zu können.

Die bestimmungsgemäße Nutzbarkeit umfasst insbesondere die bestimmungsgemäße Nutzung des Halbleitermoduls zur Durchfüh rung der elektrischen Steuerungsfunktion, beispielsweise als Schaltelement im Energiewandler, als Schaltelement in einer Energieverteilung und/oder dergleichen. Dabei bezieht sich die bestimmungsgemäße Nutzbarkeit darauf, dass das Halb leitermodul während des bestimmungsgemäßen Betriebs der Ein richtung, welches das Halbleitermodul umfasst, in einem be stimmungsgemäßen Betriebsbereich (englisch: safe operating area; SOA) betrieben wird. Bei dieser Angabe handelt es sich in der Regel um eine Herstellerangabe. Entsprechend ist das Nutzbarkeitsende für die bestimmungsgemäße Nutzbarkeit des Halbleitermoduls vorzugsweise dadurch gekennzeichnet, dass unter den Betriebsbedingungen gemäß SOA die gewünschte bezie hungsweise erforderliche Funktion des Halbleitermoduls nicht mehr zuverlässig bereitgestellt werden kann, beispielsweise weil das Halbleitermodul aufgrund eines Ausfalls des Halblei terelements nicht mehr einsatzbereit ist oder dergleichen.

Vorzugsweise wird vorgeschlagen, dass die elektrische Bean spruchung des Halbleitermoduls und die Kühlung während des bestimmungsgemäßen Betriebs erfasst werden und der Vergleich durchgeführt wird, sobald die vorgegebene elektrische Bean spruchung bei der vorgegebenen Kühlung ermittelt wird.

Dadurch ist es möglich, die Prognosedaten auch während des bestimmungsgemäßen Betriebs des Halbleitermoduls zu ermit teln. Dabei basiert diese Weiterbildung auf dem Gedanken, dass die vorgegebene Beanspruchung und die vorgegebene Küh lung im bestimmungsgemäßen Betrieb zu bestimmten Zeitpunkten, die auch vorgegeben sein können, wiederholt auftreten können. Dadurch braucht zum Ermitteln der Prognosedaten für diesen Fall kein separates Testsignal für die bestimmungsgemäße Be anspruchung und die bestimmungsgemäße Kühlung vorgesehen zu werden. Ferner kann bei dieser Weiterbildung der bestimmungs gemäße Betrieb insgesamt ungestört weitergeführt werden.

Gemäß einer Weiterbildung wird vorgeschlagen, dass die Küh lung durch die Kühleinrichtung und die elektrische Beanspru chung außerhalb des bestimmungsgemäßen Betriebs vorgegeben wird. Hierdurch kann erreicht werden, dass die Prognosedaten zu einem vorgebbaren Zeitpunkt ermittelt werden können. Dies kann zum Beispiel vor einer Durchführung eines bestimmungsge mäßen Betriebs erfolgen oder auch bei einer Betriebsunterbre chung beziehungsweise einer Betriebspause. Diese Ausgestal tung eignet sich insbesondere dann, wenn während des bestim mungsgemäßen Betriebs des Halbleitermoduls die vorgegebene elektrische Beanspruchung und/oder die vorgegebene elektri sche Kühlung nicht oder nur sehr selten erreicht werden.

Es wird weiterhin vorgeschlagen, dass die bezüglich der vor gegebenen Beanspruchung bei der vorgegebenen Kühlung erfasste Temperatur und/oder der ermittelte thermische Widerstand ge speichert wird. Dadurch ist es möglich, die Alterung des Halbleitermoduls zu dokumentieren und zugleich die Vergleich stemperatur beziehungsweise den thermischen Referenzwider stand durch ergänzendes Auswerten genauer zu ermitteln, so dass insgesamt das Ermitteln der Prognosedaten weiter verbes sert werden kann. Darüber hinaus besteht hierdurch die Mög lichkeit, zum Beispiel in die Kühleinrichtung einzugreifen und eine Kühlungsfunktion zu verstärken, so dass aufgrund von Alterungseffekten eine erhöhte Temperatur des Halbleiterele ments reduziert werden kann. Dadurch kann die bestimmungsge mäße Nutzung des Halbleitermoduls insgesamt vergrößert wer den. Vorzugsweise sind in diesem Fall die Vergleichstempera- tur und/oder der thermische Referenzwiderstand entsprechend anzupassen .

Vorzugsweise werden die Prognosedaten ermittelt, bevor ein Nutzbarkeitsende für eine bestimmungsgemäße Nutzbarkeit des Halbleitermoduls erreicht ist. Dadurch kann durch die Progno sedaten eine prognostizierte noch verfügbare Nutzbarkeit des Halbleitermoduls mittels einer entsprechenden Angabe ange zeigt werden. Der Nutzer kann somit, vorzugsweise kontinuier lich, über die noch verbleibende bestimmungsgemäße Nutzbar keit informiert sein, so dass gegebenenfalls spezifische Ein- satzszenarien, die eine zuverlässige Funktion des Halbleiter moduls erfordern, entsprechend geplant werden können. Die Prognosedaten werden also nicht nur zum Nutzbarkeitsende er mittelt . Weiterhin wird vorgeschlagen, dass bei einer Differenz zwi schen der erfassten Temperatur und der Vergleichstemperatur und/oder einer Differenz zwischen dem ermittelten thermischen Widerstand und dem thermischen Referenzwiderstand, die größer als ein vorgegebener Referenzwert ist, das Nutzbarkeitsende angezeigt wird. Dadurch kann erreicht werden, dass ein mög licherweise gefährlicher Ausfall des Halbleitermoduls vorher durch eine Wartung behoben werden kann. Beispielsweise kann zu diesem Zweck das Halbleitermodul getauscht werden. Beson ders bei sicherheitsrelevanten Nutzungen des Halbleitermoduls kann dies von Vorteil sein. Der Referenzwert kann beispiels weise durch Laborversuche oder dergleichen empirisch ermit telt worden sein. Darüber hinaus kann der Referenzwert auch unter Berücksichtigung statistischer Auswertemethoden ermit telt worden sein.

Gemäß einer Weiterbildung wird vorgeschlagen, dass abhängig von der Differenz zwischen der erfassten Temperatur und der Vergleichstemperatur und/oder der Differenz zwischen dem er mittelten thermischen Widerstand und dem thermischen Refe renzwiderstand ein Beanspruchungssignal zum Einstellen einer maximalen Beanspruchung des Halbleitermoduls ausgegeben wird. Hierdurch kann zum Beispiel ein Beanspruchungs-Derating durch die Steuereinheit realisiert werden, wodurch die Nutzbarkeit der Einrichtung, die das Halbleitermodul umfasst, vergrößert werden kann. Das Nutzbarkeitsende kann somit hinausgeschoben werden. Darüber hinaus kann auch erreicht werden, dass ein Notbetrieb aufrechterhalten werden kann, bis eine Wartung durchgeführt werden kann, um zum Beispiel das Halbleitermodul zu tauschen. Insgesamt kann die Zuverlässigkeit hierdurch verbessert werden.

Dient als Halbleitermodul in einem Energiewandler dazu, eine elektrische Maschine mit einem Gleichspannungszwischenkreis elektrisch zu koppeln, kann ergänzend vorgesehen sein, dass die elektrische Maschine gemäß einer Vektorsteuerung gesteu ert und als vorgebbare elektrische Beanspruchung ein aus schließlich feldbildender Strom bezüglich der elektrischen Maschine eingestellt wird. Hierdurch kann erreicht werden, dass in kurzer Zeit eine hohe thermische Beanspruchung des Halbleiterelements erreicht werden kann. Zum Ermitteln der Prognosedaten kann dann die erfasste Temperatur und/oder der ermittelte thermische Widerstand genutzt werden, so wie zuvor bereits erläutert. Die Prognosedaten können also in diesem Fall bei einer bestehenden Einrichtung beziehungsweise Anwen dung ermittelt werden, ohne dass diesbezüglich zusätzliche Eingriffe erforderlich wären. Besonders vorteilhaft erweist es sich, dass durch den feldbildenden Strom die elektrische Maschine kein Drehmoment zu erzeugen braucht, so dass keine unerwünschten Wirkungen durch die elektrische Maschine die Folge sind.

Vorzugsweise wird der feldbildende Strom außerhalb eines be stimmungsgemäßen Betriebs der elektrischen Maschine einge stellt. Dadurch ist es möglich, die Bedingungen, die vorgege bene elektrische Beanspruchung und die vorgegebene Kühlung nahezu frei einzustellen, weil ein Betrieb der elektrischen Maschine nicht berücksichtigt zu werden braucht. Die Nutzung des erfindungsgemäßen Verfahrens kann dadurch verbessert wer den .

Weitere Merkmale, Vorteile und Wirkungen ergeben sich aus dem folgenden Ausführungsbeispiel anhand der Figuren. In den Fi guren bezeichnen gleiche Bezugszeichen gleiche Merkmale und Funktionen. Es zeigen:

FIG 1 eine schematische Schaltbilddarstellung einer An triebseinrichtung mit einer an einem Wechselrichter angeschlossenen Asynchronmaschine,

FIG 2 eine schematische Schnittdarstellung eines an einem

Kühlkörper angeordneten IGBT-Moduls in einer sche matischen Schnittansicht, und

FIG 3 eine schematische Diagrammdarstellung für eine vor gegebene elektrische Beanspruchung des IGBT-Moduls gemäß FIG 2 sowie von entsprechenden Temperaturen, und FIG 4 ein schematisches Flussdiagramm für eine erfin dungsgemäße Verfahrensführung.

FIG 1 zeigt in einer schematischen Schaltbilddarstellung eine Antriebseinrichtung 10 mit einem Wechselrichter 14 als Ener giewandler, der drei Anschlusskontakte 46 zum Anschließen ei ner dreiphasigen Asynchronmaschine 12 umfasst. Die Asynchron maschine 12 umfasst die Phasen U, V, W. Der Wechselrichter 14 umfasst ferner Anschlusskontakte 48, über die er an einen Gleichspannungszwischenkreis 16 angeschlossen ist, der einen Zwischenkreiskondensator 18 aufweist. Die Anschlusskontakte 48 bilden einen Zwischenkreisanschluss.

Der Wechselrichter 14 weist IGBT-Module 24 als Halbleitermo- dule beziehungsweise Schaltelemente auf, die in bekannter Weise in paarweisen Reihenschaltungen geschaltet sind, deren Mittelanschlüsse 50 an die entsprechenden Anschlusskontakte 46 angeschlossen sind.

Der Wechselrichter 14 umfasst ferner eine Steuereinheit 22, die Schaltsignale für die IGBT-Module 24 bereitstellt, damit diese in einem Schaltbetrieb betrieben werde. Dadurch kann die Asynchronmaschine 12 mit dem Gleichspannungszwischenkreis 16 in vorgebbarer Weise gekoppelt werden.

An die Steuereinheit 22 ist ferner eine Anzeigeeinheit 30 an geschlossen, über die Betriebsparameter und aktuelle Be triebsdaten der Antriebseinrichtung 10, insbesondere des Wechselrichters 14 angezeigt werden können.

FIG 2 zeigt einen schematischen mechanischen Aufbau eines der IGBT-Module 24, wie es beim Wechselrichter 14 gemäß FIG 1 eingesetzt ist. Die Darstellung der FIG 2 ist eine Schnitt darstellung. Zu erkennen ist, dass das IGBT-Modul 24 ein Ge häuse 52 aufweist, welches eine Montageplatte 26 umfasst. Die Montageplatte 26 ist vorliegend an eine Verbindungsfläche 54 eines Kühlkörpers 20 angeschlossen, der eine Kühleinrichtung bereitstellt . Durch den Kühlkörper 20 wird eine vorgegebene Kühlung erreicht.

Um eine möglichst gute Wärmeabfuhr bezüglich des IGBT-Moduls 24 zu erreichen, sind die Montageplatte 26 und die Verbin dungsfläche 54 angepasst zueinander ausgebildet. Dadurch kann ein besonders günstiger beziehungsweise kleiner thermischer Übergangswiderstand erreicht werden. Die Montageplatte 26 stellt somit eine Kühlfläche bereit.

Gehäuseinnenseitig ist auf der Montageplatte 26 oberhalb ei nes nicht weiter dargestellten Schichtaufbaus ein Halblei terelement 28 befestigt. Der Schichtaufbau dient der thermi schen und mechanischen Verbindung des Halbleiterelements 28 mit der Montageplatte 26.

Das Halbleiterelement 28 stellt den eigentlichen IGBT bereit. Bezüglich des Halbleiterelements 28 und der Montageplatte 26 ist ein vorgegebener thermischer Übergangswiderstand bereit gestellt.

Zu erkennen ist ferner, dass das Halbleiterelement 28 gegen überliegend zur Montageplatte 26 Kontaktflächen 32 aufweist, die mittels eines bekannten Bondings mit entsprechenden nicht dargestellten Anschlusskontakten des IGBT-Moduls 24 verbunden sind. Auf diese Weise kann eine mechanische Verbindung und ein entsprechender elektrischer Anschluss erreicht werden.

Um nun noch eine verbleibende bestimmungsgemäße Nutzbarkeit des IGBT-Moduls 24 ermitteln zu können, werden sowohl die Kühlung durch den Kühlkörper 20 als auch die elektrische Be anspruchung der IGBT-Module 24 überwacht. Wird eine vorgege bene elektrische Beanspruchung gemäß dem Graphen 34 (FIG 3) ermittelt, werden zugleich die entsprechenden Temperaturen der Halbleiterelemente 28 der Halbleitermodule 24 gemäß Gra phen 36 (FIG 3) erfasst. Zuvor wurde bereits eine Vergleichs temperatur gemäß dem Graphen 40 für die vorgegebene elektri sche Beanspruchung gemäß dem Graphen 34 ermittelt. In einem Vergleich, der durch die Steuereinheit 22 durchge führt wird, wird die erfasste Temperatur gemäß dem Graphen 36 mit der Vergleichstemperatur gemäß dem Graphen 40 verglichen. Abhängig von dem Vergleich werden dann Prognosedaten (FIG 4) ermittelt, die von der Anzeigeeinheit 30 verarbeitet werden, sodass die Anzeigeeinheit 30 die noch verbleibende Nutzbar keit als noch verbleibenden Nutzungszeitraum angibt.

Im vorliegenden Fall für die IGBT-Module 24 wird die Tempera tur durch Messen der Threshold-Spannung der IGBT-Module 24 ermittelt. Bekanntermaßen ist diese Spannung von der Tempera tur der jeweiligen Halbleiterchips abhängig, sodass aus der ermittelten Werten dieser Spannung die tatsächlichen Tempera turen der Halbleiterelemente 28 ermittelt werden können. Im vorliegenden Fall sind die Prognosedaten 44 (FIG 4) somit ab hängig von einer Differenz zwischen der erfassten Temperatur gemäß dem Graphen 36 und der Vergleichstemperatur gemäß dem Graphen 40. Die Vergleichstemperatur kann unter Nutzung von Modellen, statistischen Auswertungsmethoden und Laborversu chen ermittelt werden.

Aus FIG 3 ist ferner ersichtlich, wie sich die erfasste Tem peratur verhält, wenn die Kühlung durch die Kühleinrichtung, hier den Kühlkörper 20, gestört ist, weil beispielsweise ein Luftfilter zugesetzt ist oder dergleichen. Dies ist anhand des Graphen 38 dargestellt. Zu erkennen ist, dass in diesem Fall eine Anstiegsgeschwindigkeit kleiner ist als mit dem Graphen 36 dargestellt. Dadurch ist die Steuereinheit 22 in der Lage zu erkennen, ob eine Kühlung durch den Kühlkörper 20 noch ausreicht oder sogar gestört ist. Dies kann die Steuer einheit 22 somit von den der Alterung zuordbaren Prognoseda ten 44 unterscheiden.

FIG. 3 zeigt eine schematische Diagrammdarstellung, bei der die Abszisse der Zeit in Sekunden zugeordnet ist. Eine linke Ordinate ist der Temperatur in Grad Celsius und eine rechte Ordinate ist der Leistung in Watt zugeordnet. Ein Graph 34 stellt die vorgegebene elektrische Beanspruchung eines jewei- ligen der IGBT-Module 24 dar. Zu erkennen ist, dass die vor gegebene elektrische Beanspruchung vorliegend zwei Rechteck impulse umfasst, wobei der zeitlich erste Rechteckimpuls ein vergleichsweise zeitlich kurz andauernder Rechteckimpuls mit einer Leistung von etwa 300 Watt ist. Daran schließt sich nach einer kurzen Leistungspause ein zweiter Rechteckimpuls an, der sich über einen Zeitraum von etwa 160 s erstreckt und eine Leistung von etwa 500 W bereitstellt . Diese vorgegebene elektrische Beanspruchung führt zu einer Temperatur des Halb leiterelements 28 des IGBT-Moduls 24 gemäß dem Graphen 36.

Die entsprechende Vergleichstemperatur für eine derartige Be anspruchung für ein IGBT-Modul 24, welches neuwertig ist, ergibt sich anhand des Graphen 40. Zu erkennen ist, dass mit zunehmender Alterung der Abstand zwischen den Graphen 36 und 40 größer wird. Wird ein vorgegebener maximaler Abstand zwi schen den Graphen 36 und 40 erreicht beziehungsweise über schritten, wird dies als Nutzbarkeitsende ermittelt. Aus der Differenz beziehungsweise dem Abstand zwischen den Graphen 36 und 40 kann somit auf die noch verbleibende bestimmungsgemäße Nutzbarkeit geschlossen werden beziehungsweise prognostiziert werden. Zu diesem Zweck umfasst die Steuereinheit 22 eine nicht weiter dargestellte Auswerteeinheit, die unter Nutzung statistischer Methoden die noch verbleibende bestimmungsgemä ße Nutzbarkeit ermittelt und eine entsprechende Angabe als Signal für die Anzeigeeinheit 30 bereitstellt . Diese wertet das bereitgestellte Signal aus und stellt eine entsprechende Ausgabe einer Information für einen Nutzer bereits.

FIG 4 zeigt ein schematisches Flussdiagramm für die erfin dungsgemäße Verfahrensführung. Das Verfahren beginnt im

Schritt 56. Es wird eine vorgegebene elektrische Beanspru chung im entsprechenden Schritt 34 erfasst. Im Schritt 36 wird dann die zeitgleich die Temperatur der IGBT-Module 24 erfasst. Sodann wird die erfasste Temperatur in einem Ver gleichsschritt 42 mit der Vergleichstemperatur 40 verglichen. Im folgenden Schritt 44 werden dann abhängig von dem Ver- gleich die Prognosedaten ermittelt. Das Verfahren endet im Schritt 58.

Mit der Erfindung kann ein Anlagenbetreiber der Antriebsein- richtung 10 dahingehend zuverlässiger gewarnt werden, als dass demnächst ein Ausfall eines Leistungshalbleiters, hier eines der IGBT-Module 24, bevorstehen kann. Somit kann eine entsprechende Wartung rechtzeitig geplant werden, sodass grö ßere Schäden und längere Ausfallzeiten des Wechselrichters 14 vermieden werden können. Dadurch, dass der Ausfall eines der IGBT-Module 24 rechtzeitig erkannt werden kann, können größe re weitere Schäden der Antriebseinrichtung 10, insbesondere am Wechselrichter 14 weitgehend vermieden werden. Das vorliegende Ausführungsbeispiel dient ausschließlich der Erläuterung der Erfindung und soll diese nicht beschränken.