Chip

Diese Patentanmeldung beansprucht die Priorität der deutschen Anmeldung DE 10 2019 105 031.6, deren Offenbarungsgehalt hiermit durch Rückbezug aufgenommen wird.

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Ersatz von Chips, die ebenso als elektronische Bauele- mente bezeichnet werden können. Beispiele für Chips können Chips von Licht emittierende Dioden (LED) sein. Chips kön nen in ein elektronisches Bauteil gesetzt werden. Derar tige Bauteile können ein LED-Package, ein LED-Package mit mehreren LEDs oder ein Display oder eine Anzeige mit LEDs sein.

Fehlerhafte lichtemittierende Dioden sind unerwünscht. Hat ein Bauteil eine große Anzahl von Chips, steigt die Wahr scheinlichkeit, dass ein defekter Chip in das Bauteil ein- gebaut wird.

Herkömmlicher Weise werden beispielsweise Packages mit mindestens einer LED getestet. Wenn diese fehlerhaft ist, wird sie verworfen. Der defekte Chip wird entfernt und durch einen funktionierenden Chip ersetzt. Ein Reparatur- Chip wird zusätzlich zum defekten Chip in das Bauteil ge setzt. Der defekte Chip muss aber deaktiviert werden. Her kömmlicher Weise wird eine elektronische Schaltung verwen det, die von außerhalb des Bauteils vorgibt, dass der de- fekte Chip nicht mehr bestromt werden soll. Eine weitere Deaktivierung erfolgt beispielsweise mittels einem Durch trennen der Stromdurchführung zum defekten Chip mittels eines Leiterbahnen durchtrennenden Lasers. Es besteht dennoch weiterhin Bedarf bei elektronischen Bauteilen, die Chips oder elektronische Bauelemente auf weisen, auf eine verbesserte Weise fehlerhafte Chips oder elektronische Bauelemente zu ersetzen und diese leistungs los zu schalten.

Diesem Bedarf wird durch eine Vorrichtung gemäß dem Haupt anspruch und ein Verfahren gemäß dem Nebenanspruch Rech nung getragen.

Gemäß einem ersten Aspekt wird eine Vorrichtung zum Ersatz von mindestens einem Chip oder elektronischen Bauelement eines elektronischen Bauteils, beispielsweise eines LED- Packages oder einer LED- Anzeige, vorgeschlagen, aufwei send

- mindestens zwei elektrische Standardkontakte, an die ein mindestens zwei elektrische Kontakte aufweisender Chip elektrisch anschließbar ist;

- einen elektronischen Schalter, der den ersten elektrischen Standardkontakt mit einer Leistungsver sorgungsquelle elektrisch verbindet;

- mindestens drei elektrische Reparaturkontakte, an die ein zum Chip baugleicher Reparaturchip elektrisch an schließbar ist, wobei der erste elektrische Repara turkontakt elektrisch an die Leistungsversorgungs quelle, der zweite elektrische Reparaturkontakt elektrisch an den elektronischen Schalter und der dritte elektrische Reparaturkontakt elektrisch an den zweiten elektrischen Standardkontakt angeschlossen ist .

Gemäß einem zweiten Aspekt wird ein Verfahren zum Ersatz von mindestens einem Chip oder elektronischen Bauelement eines elektronischen Bauteils, beispielsweise eines LED- Packages oder einer LED- Anzeige, mittels einer erfin dungsgemäßen Vorrichtung, mit folgenden Schritten vorge schlagen

- elektrisches Anschließen eines mindestens zwei elektri sche Kontakte aufweisenden Chips an mindestens zwei elektrischen Standardkontakten; - Überprüfen der Qualität des Chips und Identifizieren des Chips als einen defekten Chip;

- elektrisches Anschließen eines zum Chip baugleichen Re paraturchips an mindestens drei elektrischen Reparaturkon takten, wobei der Reparaturchip mittels des ersten und des dritten Reparaturkontaktes leistungsversorgt wird und den ersten und den zweiten Reparaturkontakt elektrisch mitei nander verbindet, so dass ein elektronischer Schalter den defekten Chip von einer Leistungsversorgungsquelle trennt.

Die Funktionalität eines defekten Chips kann durch einen Reparaturchip ersetzt werden. Der Reparaturchip kann in ein Bauteil, das beispielsweise eine Anzeige sein kann, gesetzt werden. Dabei wird der Reparaturchip auf zwei Kon takte gesetzt, die zuerst nicht elektrisch verbunden sind. Durch den Reparaturchip werden diese Kontakte miteinander elektrisch verbunden. Dadurch kann nun ein Strom zwischen den Kontakten fließen. Mittels dieses Stromflusses kann beispielsweise mithilfe einer elektrischen Schaltung der Stromfluss zum defekten Chip unterbrochen werden.

Reparaturkontakte sind insbesondere Kontakte, an die ein elektrischer Reparaturchip angeschlossen werden kann.

Eine Leistungsversorgungsquelle kann eine elektrische Stromquelle und/oder eine elektrische Spannungsquelle sein .

Im Vergleich zu einer komplizierten herkömmlichen elektri schen Schaltung, die gegebenenfalls durch einen externen Anschluss zwischen dem defekten Chip und dem Reparaturchip umschaltet, ist die erfindungsgemäß vorgeschlagene Vor richtung beziehungsweise das entsprechende Verfahren ein facher und kostengünstiger auszuführen. Entsprechend ist eine erfindungsgemäße Vorrichtung einfacher und kosten günstiger herzustellen. Der elektronische Schalter kann an einem flächigen Träger oder Substrat ausgebildet sein, der zudem, insbesondere in einer gemeinsamen Ebene, die elektrischen Reparaturkontakte, insbesondere den ersten und den zweiten elektrischen Reparaturkontakt, sowie die elektrischen Standardkontakte, insbesondere den ersten elektrischen Standardkontakt, trägt. Der erste elektrische Standardkontakt ist mit einer Leistungsversorgungsquelle elektrisch verbunden, wobei der zweite elektrische Stan dardkontakt geerdet oder mit einem Gegenpol, Minus- oder Pluspol, zu der Leistungsversorgungsquelle elektrisch ver- bunden ist. Eine erfindungsgemäße Vorrichtung kann bei spielsweise als integrierte Schaltung auf einem flächigen Substrat oder Träger ausgebildet sein.

Ein Reparaturchip kann baugleich zum Chip sein. Entspre- chend gleicht der Reparaturchip in räumlicher Erstreckung dem Chip. Der Reparaturchip gleicht dem Chip in der Funk tion. Der Reparaturchip weist zum Chip in Position und Größe gleiche elektrische Kontakte auf. Chip und Repara turchip weisen ein elektrisch leitfähiges Material auf, das beim elektrischen Kontaktieren zudem zwei nicht mit einander elektrisch verbundene elektrische Kontakte elektrisch miteinander verbinden kann.

Weitere vorteilhafte Beispiele werden in Verbindung mit den Unteransprüchen vorgeschlagen.

Gemäß einer weiteren Ausgestaltung kann der elektronische Schalter ein Transistor, insbesondere ein Feldeffekttran sistor sein, an dessen Basis beziehungsweise Gate der zweite elektrische Reparaturkontakt elektrisch angeschlos sen ist. Transistoren sind einfach in die Vorrichtung zu integrieren und einfach zu verwenden.

Gemäß einer weiteren Ausgestaltung kann der erste elekt- rische Kontakt des elektrisch angeschlossenen Reparatur chips den ersten elektrischen Reparaturkontakt elektrisch mit dem zweiten elektrischen Reparaturkontakt verbinden. Mittels dieser elektrischen Verbindung kann ein defekter Chip von einer Strom- und/oder Spannungsquelle weggeschal tet oder elektrisch getrennt werden.

Gemäß eines anderen Aspektes kann der zweite elektrische Kontakt des elektrisch angeschlossenen Reparaturchips mit dem dritten elektrischen Reparaturkontakt elektrisch ver bunden sein. Zusammen mit dem ersten elektrischen Repara turkontakt kann auf diese Weise der Reparaturchip leis tungsversorgt, insbesondere mit einer elektrischen Span- nungs- und/oder Stromquelle elektrisch verbunden werden.

Gemäß einer weiteren Ausgestaltung können der zweite elektrische Standardkontakt und der dritte elektrische Re paraturkontakt elektrisch an Masse gelegt sein.

Gemäß einer weiteren Ausgestaltung kann der erste elekt rische Kontakt des Reparaturchips ein eine Fläche ausbil dendes elektrisch leitendes Material mit einer ersten Di cke aufweisen.

Gemäß einer weiteren Ausgestaltung können die elektrischen Standardkontakte und die elektrischen Reparaturkontakte jeweils ein eine, insbesondere gleiche, Fläche ausbilden des elektrisch leitendes Material mit einer zweiten Dicke aufweisen .

Gemäß einer weiteren Ausgestaltung kann die erste Dicke gleich der zweiten Dicke sein.

Gemäß einer weiteren Ausgestaltung können die Flächen des ersten und des zweiten elektrischen Standardkontakts je weils rechteckig, quadratisch oder kreisförmig ausgebildet sein .

Gemäß einer weiteren Ausgestaltung können die Flächen des ersten und des zweiten elektrischen Reparaturkontaktes in einer Ebene liegen und zusammen als Gesamtfläche recht eckig, quadratisch oder kreisförmig ausgebildet sein. Gemäß einer weiteren Ausgestaltung können den Flächen des ersten und des zweiten elektrischen Reparaturkontaktes in einer Ebene mindestens eine weitere Kontaktfläche hinzu gefügt sein, wobei die Gesamtfläche rechteckig, quadra tisch oder kreisförmig ausgebildet sein kann.

Gemäß einer weiteren Ausgestaltung kann die Fläche des ersten elektrischen Standardkontakts in mindestens zwei in einer Ebene liegende voneinander getrennte Flächen aufge teilt sein.

Gemäß einer weiteren Ausgestaltung können die Flächen des ersten Standardkontakts zusammen ein Rechteck, ein Quadrat oder einen Kreis ausbilden.

Gemäß einer weiteren Ausgestaltung können die Flächen des ersten Standardkontakts den Flächen des ersten und des zweiten elektrischen Reparaturkontaktes gleichen.

Gemäß einer weiteren Ausgestaltung können der erste und der zweite elektrische Reparaturkontakt in einer Ebene mit dem ersten elektrischen Standardkontakt liegen, und der dritte elektrische Reparaturkontakt kann in einer Ebene mit dem zweiten elektrischen Standardkontakt liegen.

Gemäß einer weiteren Ausgestaltung können der erste, der zweite und der dritte elektrische Reparaturkontakt in ei ner Ebene liegen, und der zweite elektrische Kontakt des elektrisch angeschlossenen Reparaturchips ein eine Fläche ausbildendes elektrisch leitendes Material mit einer drit ten Dicke aufweisen.

Gemäß einer weiteren Ausgestaltung kann die Fläche des dritten elektrischen Reparaturkontakts in zwei in einer Ebene liegende voneinander getrennte Flächen aufgeteilt sein .

Gemäß einer weiteren Ausgestaltung kann/können die Flä che (n) des dritten elektrischen Reparaturkontakts recht eckig, quadratisch oder kreisförmig sein.

Gemäß einer weiteren Ausgestaltung können der erste und der zweite elektrische Reparaturkontakt in der Ebene, ins besondere X-Y-Ebene, mit einem ersten Abstand neben dem ersten elektrischen Standardkontakt liegen und der erste und der zweite elektrische Reparaturkontakt zusammen mit dem ersten elektrischen Standardkontakt ein Modul bilden, wobei eine Vielzahl von Modulen mit einem zweiten Abstand nebeneinander entlang einer X-Achse und mit einem dritten Abstand nebeneinander entlang einer Y-Achse angeordnet sein können.

Gemäß einer weiteren Ausgestaltung kann der mindestens zwei elektrische Kontakte aufweisende Chip an die mindes tens zwei elektrischen Standardkontakte elektrisch ange schlossen sein.

Gemäß einer weiteren Ausgestaltung kann eine Vielzahl von, insbesondere 100 bis 10000000, Chips, gleichzeitig elektrisch angeschlossen, überprüft und gegebenenfalls von einem Reparaturchip ersetzt werden.

Gemäß einer weiteren Ausgestaltung kann das Überprüfen der Qualität eines Chips mittels elektrischen Betriebs, opti scher Kontrolle oder Heranziehen von Daten aus vorangegan genen Prozessschritte ausgeführt werden.

Die Erfindung wird anhand von Beispielen in Verbindung mit den Figuren näher beschrieben. Es zeigen:

Figur 1 ein erstes Ausführungsbeispiel erfindungsgemäßer Re paraturkontakte sowie deren Verwendung; Figur 2 ein Beispiel einer erfindungsgemäßen Vorrichtung mit einem Chip und ohne Reparaturchip; Figur 3 zeigt ein zweites Beispiel einer erfindungsgemäßen

Vorrichtung, und zwar mit einem defekten Chip und einem Reparaturchip;

Figur 4 ein weiteres Beispiel einer erfindungsgemäßen Vor richtung, und zwar ein Feld oder Array von Chips zusammen mit Reparaturkontakten auf einem Träger;

Figur 5 zeigt ein weiteres Beispiel einer erfindungsgemäßen

Vorrichtung als Array aus elektrischen Kontakten auf einem Träger;

Figur 6 zeigt ein weiteres Beispiel einer erfindungsgemäßen

Vorrichtung als Array von elektrischen Kontakten auf einem Träger;

Figuren 7A-G zeigen Beispiele erfindungsgemäßer erster und zweiter Reparaturkontakte im Vergleich zu einem ers ten Standardkontakt; Figur 8 ein weiteres Beispiel einer erfindungsgemäßen Vor richtung;

Figur 9A ein weiteres Ausführungsbeispiel von Reparaturkon takten;

Figur 9B ein weiteres Ausführungsbeispiel von Reparaturkon takten;

Figur 9C ein weiteres Beispiel von erfindungsgemäßen Repara turkontakten; Figur 10 ein Ausführungsbeispiel eines erfindungsgemäßen Ver fahrens .

Figur 1 zeigt ein Beispiel von erfindungsgemäßen Reparaturkon takten. Auf der linken Seite von Figur 1 sind ein erster Repa raturkontakt 15 und ein zweiter Reparaturkontakt 17 im Quer schnitt dargestellt. Auf der rechten Seite der Figur 1 ist die Wirkungsweise des ersten Reparaturkontaktes 15, des zweiten Re paraturkontakts 17 zusammen mit der Fläche des ersten elektri schen Kontaktes 3 eines Reparaturchips 1' dargestellt.

Der Reparaturchip 1' wird auf zwei Kontakte gesetzt, wobei diese mittels eines ersten Reparaturkontaktes 15 und eines zweiten Reparaturkontaktes 17 bereitgestellt werden. Ein Chip 1 bezie hungsweise ein Reparaturchip 1 'weist ein elektrisch leitendes Material auf, das die beiden Reparaturkontakte 15 und 17 elektrisch miteinander verbindet. Das elektrisch leitende Ma terial ist hier als elektrischer Kontakt 3 eines Chips 1 und insbesondere eines Reparaturchips 1' geschaffen.

Der Reparaturchip 1 ' verbindet zum einen elektrisch die beiden Reparaturkontakte 15 und 17 und weist noch einen weiteren zu sätzlichen elektrischen Kontakt 5 auf. Zwischen diesem weiteren elektrischen Kontakt 5 und den durch mittels den Reparatur chip 1' elektrisch verbundenen Reparaturkontakten 15 und 17 kann eine Spannung U angelegt werden, die einen Stromfluss durch den Reparaturchip 1' ermöglicht, sodass dieser betrieben werden kann .

Der große Pfeil in Figur 1 auf der rechten Seite veranschau licht, dass der Reparaturchip 1' auf die beiden Reparaturkon takte 15 und 17 aufgebracht wird. Das leitende Material des ersten elektrischen Kontakts 3 eines Chips 1 beziehungsweise des Reparaturchips 1', das die beiden Reparaturkontakte 15 und 17 elektrisch miteinander verbindet, kann Metall, transparen tes, elektrisch leitfähiges Oxid (TCO) und/oder einen Halblei ter aufweisen, der mit einem Dotiertyp dotiert ist.

Figur 2 zeigt ein Beispiel einer erfindungsgemäßen Vorrichtung mit einem Chip 1 und ohne Reparaturchip 1 ' . Figur 2 zeigt einen Chip 1, der in eine Vorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung eingebaut worden ist. Der Chip 1 kann Bestandteil eines elekt ronischen Bauteils, insbesondere eines LED-Packages oder einer Licht emittierenden Dioden (LED) -Anzeige sein. Die Vorrichtung weist hier zwei einander gegenüberliegende elektrische Stan dardkontakte 7 und 9 auf, an die ein zwei elektrische Kontakte 3 und 5 aufweisender Chip 1 elektrisch angeschlossen ist. Die Vorrichtung weist einen elektronischen Schalter 11 auf, der den ersten elektrischen Standardkontakt 7 mit einer Leistungsver sorgungsquelle 13 elektrisch verbindet. Das heißt, der elekt ronische Schalter 11 ist in einem Grundzustand elektrisch ge schlossen und verbindet somit elektrisch die Leistungsversor gungsquelle 13 mit dem ersten Standardkontakt 7, sodass zudem der erste elektrische Kontakt 3 des Chips 1 ebenso leistungs versorgt ist. Beispielsweise können der erste elektrische Stan dardkontakt 7 und der erste elektrische Kontakt 3 des Chips 1 mit einem Anschluss oder Pluspol der Leistungsversorgungsein richtung elektrisch verbunden sein. Der zweite elektrische Kon takt 5 des Chips 1 kann mittels des zweiten elektrischen Stan dardkontaktes 9 elektrisch an Masse oder an einen Minuspol der elektrischen Leistungsversorgungsquelle 13 angeschlossen sein. Ebenso kann der erste Standardkontakt 7 an einen Minuspol an geschlossen sein, der zweite Standardkontakt 9 entsprechend an einen Pluspol.

Figur 2 zeigt eine erfindungsgemäße Vorrichtung in einem Grund zustand, bei dem der Chip 1 funktioniert und damit intakt ist. Entsprechend wird kein Reparaturchip 1" benötigt. Der erste und der zweite Reparaturkontakt 15 und 17 sind elektrisch nicht miteinander verbunden. Entsprechend ist der elektronische Schalter 11 elektrisch geschlossen. Chip 1 wird mittels der Leistungsversorgungsquelle 13 derart elektrisch versorgt, dass durch den Chip 1 ein elektrischer Strom fließen kann. Figur 2 kann aber zudem einen Zustand darstellen, in dem der Chip 1 defekt ist. Ein Strom kann weiterhin durch einen defekten Chip 1 ' ' fließen. Der defekte Chip 1"' kann dann beispielsweise eine Leuchtdiode LED sein, die zu dunkel ist.

Figur 3 zeigt ein weiteres Beispiel einer erfindungsgemäßen Vorrichtung. Figur 3 zeigt die Figur 2, allerdings mit dem Un terschied, dass der ursprüngliche intakte Chip 1 als ein defek ter Chip 1"' identifiziert worden ist, und ein Reparaturchip 1 ' elektrisch an die Vorrichtung angeschlossen worden ist. Auf der rechten Seite der Figur 3 ist der Reparaturchip 1' dargestellt. Dieser ist mit einem ersten Reparaturkontakt 15 und einem zwei ten Reparaturkontakt 17 elektrisch verbunden und an diese elektrisch angeschlossen, wobei ein erster elektrischer Kon takt 3 des Reparaturchips 1' den ersten Reparaturkontakt 15 mit dem zweiten Reparaturkontakt 17 elektrisch verbindet. Zudem weist die Vorrichtung einen dritten Reparaturkontakt 19 auf, mit dem der zweite elektrische Kontakt 5 des Reparaturchips 1 ' elektrisch verbunden und an diesen elektrisch kontaktiert ist. Der dritte Reparaturkontakt 19 kann mit einem Minuspol einer Leistungsversorgungsquelle 13 elektrisch verbunden oder elektrisch an Masse gelegt sein. Eine Leistungsversorgungs quelle 13 kann eine elektrische Stromquelle und/oder Spannungs quelle sein.

Figur 3 zeigt, wie der Reparaturchip 1' auf den ersten Repara turkontakt 15 und auf den zweiten Reparaturkontakt 17 aufgesetzt worden ist. Figur 3 zeigt, wie ein zum Chip 1 baugleicher Re paraturchip 1' an mindestens drei elektrischen Reparaturkontak ten 15, 17 und 19 elektrisch angeschlossen werden kann. Der erste elektrische Reparaturkontakt 15 ist elektrisch an eine Leistungsversorgungsquelle 13 angeschlossen, der zweite elekt rische Reparaturkontakt 17 ist elektrisch an den elektronischen Schalter 11 und der dritte elektrische Reparaturkontakt 19 ist elektrisch an den zweiten elektrischen Standardkontakt 9 ange schlossen, wobei der zweite elektrische Standardkontakt 9 zu sammen mit dem dritten elektrischen Reparaturkontakt 19 an eine Minusquelle einer Leistungsversorgungsquelle 13 angeschlossen sein kann. Alternativ können der zweite elektrische Standard kontakt 9 und der dritte elektrische Reparaturkontakt 19 elektrisch an Masse gelegt sein. Figur 3 zeigt wie der Repara turchip 1' mittels des ersten Reparaturkontaktes 15 an die Leis tungsversorgungsquelle 13 derart angeschlossen ist, dass durch den ersten elektrischen Kontakt 3 und den zweiten elektrischen Kontakt 5 des Reparaturchips 1' über den dritten elektrischen Reparaturkontakt 19 ein elektrischer Strom durch den Reparatur kontakt 1' fließen kann. Auf diese Weise ist der defekte Chip 1 ' ' funktionell ersetzt worden. Der Reparaturchip 1' ersetzt somit die Funktion des defekten Chips 1"'. Dadurch, dass der erste elektrische Kontakt 3 den ersten Reparaturkontakt 15 elektrisch mit dem zweiten Reparaturkontakt 17 elektrisch ver bindet, wird der elektronische Schalter 11 elektrisch derart geöffnet, sodass kein Strom mehr durch den defekten Chip 1 ' ' fließen kann beziehungsweise dass keine elektrische Leistung dem defekten Chip 1"' mehr zugeführt wird. Beispielsweise kann als elektronischer Schalter 11 ein Transistor oder ein Feldef fekttransistor verwendet werden. Der zweite elektrische Repa raturkontakt 17 ist dann entweder mit der Basis des Transistors oder mit dem Gate des Feldeffekttransistors elektrisch verbun den .

Figur 4 zeigt ein weiteres Beispiel einer erfindungsgemäßen Vorrichtung, und zwar ein Feld oder Array von Chips 1 zusammen mit elektrischen Reparaturkontakten 15 und 17 auf einem gemein samen Träger T. Die Chips 1 sind gemäß diesem Beispiel regel mäßig, und zwar hier in Form eines Gitters, angeordnet. Mittels eines derartigen Feldes von hier beispielsweise Leuchtdioden (LED) -Chips 1 kann so ein Display beziehungsweise eine Anzeige realisiert werden. Es können innerhalb eines Bauteils mehrere Arten von Chips 1 jeweils zu einem Gitter angeordnet sein. Chips 1 können hier beispielsweise rote, grüne und blaue LEDs sein. Zusätzlich zu den Positionen, an denen sich gemäß Figur 4 Chips 1 befinden, sind elektrische Reparaturkontakte 15 und 17 bereitgestellt, auf denen ein jeweiliger Reparaturchip 1' ge setzt werden kann. Figur 4 zeigt, dass der erste und der zweite elektrische Reparaturkontakt 15 und 17 in einer X-Y-Ebene mit einem ersten Abstand d neben einem jeweiligen Chip 1 entlang einer X-Achse angeordnet sein können. Ein Chip 1 bildet zusammen mit dem ersten und dem zweiten Reparaturkontakt 15 und 17 ein Modul aus. Eine Vielzahl von derartigen Modulen ist mit einem zweiten Abstand p nebeneinander entlang einer X-Achse und mit einem dritten Abstand q nebeneinander entlang einer Y-Achse angeordnet. Figur 4 zeigt wie in einem derartigen Feld bezie hungsweise in einem derartigen Array ein quadratischer Chip 1 'einen defekten Chip 1'' ersetzt. Die regelmäßig angeordneten Chips 1 haben einen mittleren Abstand p zueinander. Der mittlere Abstand zwischen den Chips 1 und den ersten und zweiten elektri schen Reparaturkontakten 15 und 17 beziehungsweise den Repara turchips 1' ist d. Beispielsweise ist d < 0,5 · p, insbesondere d < 0, 1 · p.

Figur 5 zeigt ein weiteres Beispiel einer erfindungsgemäßen Vorrichtung als Array aus elektrischen Kontakten auf einem ge meinsamen Träger T. Die jeweiligen elektronischen Schalter 11 sind nicht dargestellt können aber an dem Träger T beispiels weise als integrierte Schaltung ausgebildet sein. In einer X- Y-Ebene sind erste elektrische Standardkontakte 7 und erste und zweite elektrische Reparaturkontakte 15 und 17 zu einem Gitter oder Feld oder Array angeordnet. Diese sind erforderlich, um eine Anordnung gemäß Figur 4 zu erzeugen. Hier sind der erste und der zweite elektrische Reparaturkontakt 15 und 17 in der X- Y-Ebene mit einem ersten Abstand d neben einem jeweiligen ersten elektrischen Standardkontakt 7 angeordnet, wobei ebenso hier der erste und der zweite elektrische Reparaturkontakt 15 und 17 zusammen mit einem nebengeordneten ersten elektrischen Stan dardkontakt 7 ein Modul ausbilden, wobei eine Vielzahl von der artigen Modulen mit einem zweiten Abstand p nebeneinander ent lang einer X-Achse und mit einem dritten Abstand q nebeneinander entlang einer Y-Achse angeordnet sind. Gemäß Figur 5 sind an stelle von Chips 1 jeweilige erste elektrische Standardkontakte 7 dargestellt, die an einen gemeinsamen Träger T integriert sind .

Figur 6 zeigt ein weiteres Beispiel einer erfindungsgemäßen Vorrichtung als Array von elektrischen Kontakten auf einem ge meinsamen Träger T. Im Unterschied zu Figur 5 sind hier erste elektrische Standardkontakte 7 verwendet, deren Ausgestaltung der Ausgestaltung des ersten und des zweiten elektrischen Re paraturkontaktes 15 und 17 entsprechen. Entsprechend sind der artige Module entlang einer X-Achse in einem durchschnittlichen Abstand p und entlang einer Y-Achse mit einem mittleren Abstand q zueinander angeordnet. Auf diese Weise entsteht ein entspre chendes Gitter oder Feld oder ein Array vergleichbar mit der Figur 5 oder der Figur 4. Figur 6 zeigt das ein jeweiliger ers ter elektrischer Standardkontakt 7 jeweils aus beispielsweise zwei Kontakten erzeugt sein kann. Insbesondere können derartige Standardkontakte 7a und 7b zu den beiden Reparaturkontakten 15 und 17 gleich geformt und ausgebildet sein. Dies vereinfacht eine Herstellung eines derartigen Gitters sowie eine Platzie rung eines jeweiligen Chips 1 und l'auf den entsprechenden elektrischen Kontakten.

Figuren 7A bis 7D und 7F und 7G zeigen Beispiele von ersten und zweiten elektrischen Reparaturkontakten 15 und 17 im Vergleich zu einem ersten elektrischen Standardkontakt 7 in Fig. 7E. Die Figuren 7A, 7B, 7C und 7D zeigen Beispiele für zwei Reparatur kontakte 15 und 17, auf denen ein Reparaturchip 1' platziert werden kann. Figur 7A zeigt zwei flächengleiche, in einer X-Y- Ebene entlang einer Y-Achse sich räumlich erstreckende erste und zweite elektrische Reparaturkontakte 15 und 17. Figur 7B zeigt eine sich ebenso in Y-Richtung erstreckende rechteckige Form eines ersten elektrischen Reparaturkontaktes 15, neben dem eine weitere sich ebenso in Y-Richtung erstreckende rechteckige Ausgestaltung eines zweiten elektrischen Reparaturkontaktes 17 angeordnet ist. Der erste elektrische Reparaturkontakt 15 ist durch einen länglichen Unterbrechungsstreifen von dem zweiten elektrischen Reparaturkontakt 17 beabstandet. Die Flächen des ersten und des zweiten elektrischen Reparaturkontaktes 15 und 17 ergeben zusammen mit dem Unterbrechungsstreifen ein Quadrat. Figur 7C zeigt eine quadratische Ausgestaltung des ersten elektrischen Reparaturkontaktes 15. Dieser erste elektrische Reparaturkontakt 15 ist an zwei Seitenlinien mittels zwei ent sprechenden Unterbrechungsstreifen von dem zweiten elektrischen Reparaturkontakt 17 beabstandet, wobei die Flächen des ersten elektrischen Reparaturkontaktes 15 und des zweiten elektrischen Reparaturkontaktes 17 zusammen mit den Unterbrechungsstreifen ebenso ein Quadrat ausbilden. Figur 7D zeigt ein Beispiel, bei dem sich ein erster elektrischer Reparaturkontakt 15 innerhalb eines zweiten elektrischen Reparaturkontaktes 17 angeordnet sein kann. Gemäß diesem Beispiel ist der erste elektrische Re paraturkontakt 15 als ein Kreis ausgebildet, um den herum mit einem Abstandsbereich, der ringförmig ist, der zweite elektri sche Reparaturkontakt 17 in Ausgestaltung eines Ringes angeord net ist.

Figur 7E zeigt ein Beispiel einer quadratischen Erstreckung des elektrischen Standardkontakts 7. Dabei weist der erste elekt rische Standardkontakt 7 eine Fläche Al auf. Im Gegensatz dazu ist in Figur 7F eine Anordnung aus erstem elektrischen Repara turkontakt 15 und zweitem elektrischen Reparaturkontakt 17 dar gestellt. Dabei weisen diese rechteckigen Ausgestaltungen ent sprechend Figur 7A eine Länge Y auf. Beide Rechtecke des ersten und des zweiten elektrischen Reparaturkontakts 15 und 17 bilden eine Gesamtfläche A2 aus. Figuren 7E und 7F zeigen zudem ein Beispiel einer Beabstandung zwischen Standardkontakt 7 und Re paraturkontakt 15 und 17. Ein Abstand ist hier als d angegeben. Figur 7E zeigt ein Beispiel für einen elektrischen Standardkon takt 7 oder 9 mit einer Gesamtfläche Al. Figur 7F zeigt ein Beispiel für zwei benachbarte Reparaturkontakte 15 und 17. Letz tere bestehen aus zwei Kontaktflächen und umfassen eine Gesamt fläche A2. Der Standardkontakt weist eine umschließende Fläche von Al auf. Beispielsweise ist der Betrag von |A1 - A2 | < 0,5 (Al + A2 ) /2. Insbesondere kann |A1 - A2 | < 0,1 (Al + A2)/2 sein. Das heißt, dass sich hier die umschließenden Flächen der beiden Kontakttypen um höchstens 50 % beziehungsweise höchstens 10 % unterscheiden .

Figur 7G zeigt, dass mehr als zwei Kontakte in der Ebene des ersten elektrischen Reparaturkontaktes 15 und des zweiten elektrischen Reparaturkontaktes 17 ausgebildet sein können. Fi gur 7G zeigt zusätzlich zu dem ersten elektrischen Reparatur kontakt 15 und dem zweiten elektrischen Reparaturkontakt 17 einen weiteren elektrischen Reparaturkontakt 21. Das heißt, ein Reparaturchip 1' kann auf eine Vielzahl, hier größer zwei, von elektrischen Reparaturkontakten gesetzt werden, deren Flächen oder Kontaktflächen alle in einer Ebene liegen können. Auf diese Weise können weitere elektrische Kontakte hergestellt werden und auf diese Weise können beispielsweise weitere elektronische Schalter betätigt werden. Ein Reparaturchip 1' kann also eine Vielzahl von elektrischen Kontakten beziehungsweise entspre chende elektrische Kontaktflächen und damit Kontakte elektrisch miteinander verbinden. Auf diese Weise kann eine beliebige An zahl von elektrischen Kontakten hergestellt werden, die unter schiedlich verwendet werden können. Grundsätzlich können wei tere elektronische Schalter geöffnet oder geschlossen werden. In Figur 7G sind elektrische Reparaturkontakte 15 und 17 sich in Y-Richtung erstreckende Rechtecke und in Y-Richtung oberhalb zu diesen ist ein weiterer elektrischer Reparaturkontakt 21 angeordnet. Letzterer bildet ein sich in X-Richtung erstrecken des Rechteck aus. Alle Rechteckecken können abgerundet ausge bildet sein. Figur 8 zeigt ein weiteres Beispiel einer erfindungsgemäßen Vorrichtung, und zwar mit einem Beispiel eines weiteren Repa raturchips 1'. Gemäß der Figur 8 liegen der erste, der zweite und der dritte elektrische Reparaturkontakt 15, 17 und 19 in einer Ebene an einem gemeinsamen Träger T an. Der zweite elekt rische Kontakt 5 des elektrisch angeschlossenen Reparaturchips 1 ' weist ein eine Fläche ausbildendes elektrisch leitendes Ma terial mit einer dritten Dicke D3 auf. Die dritte Dicke D3 des zweiten elektrischen Kontaktes 5 ist derart bereitgestellt, dass der Reparaturchip 1' mit dem dritten elektrischen Reparaturkon takt 19 elektrisch verbunden werden kann. Auf diese Weise kann eine Spannung an dem dritten elektrischen Reparaturkontakt 19 und dem ersten oder zweiten elektrischen Reparaturkontakt an- liegen, sodass zudem ein elektrischer Strom den dritten elektri schen Reparaturkontakt 19 über den ersten und den zweiten elektrischen Kontakt 3 und 5 und über den ersten und/oder zwei ten elektrischen Reparaturkontakt 15 und/oder 17 fließen kann. In Figur 8 ist dieser Stromfluss I als gekrümmter Pfeil darge stellt. Figur 8 zeigt, dass der Reparaturchip 1' auf weitere Kontakte gesetzt werden kann, die sich ebenso auf der gleichen Seite des Chips 1' wie der erste Reparaturkontakt 15 und der zweite Reparaturkontakt 17 befinden können. Durch diese weite ren elektrischen Reparaturkontakte kann ein Stromfluss I durch den Reparaturchip 1 ' zu den ersten und zweiten Reparaturkontak ten 15 und 17 erfolgen, um den Reparaturchip 1' zu betreiben.

Figur 3 zeigt im Unterschied zu Figur 8, dass der erste und der zweite elektrische Reparaturkontakt 15 und 17 in einer Ebene, insbesondere eines gemeinsamen Trägers T, mit dem ersten elektrischen Standardkontakt 7 liegen, wobei der dritte elekt rische Reparaturkontakt 19 ebenso in einer Ebene, insbesondere eines zweiten gemeinsamen Trägers, mit dem zweiten elektrischen Standardkontakt 9 liegt. Figuren 9A bis 9C zeigen Beispiele für Geometrien von ersten, zweiten und dritten Reparaturkontakten. Diese können beispiels weise bei einer Vorrichtung gemäß Fig . 8 angewendet werden.

Figur 9A zeigt ein erstes Beispiel von Flächen von Reparatur kontakten. Der erste elektrische Reparaturkontakt 15 weist eine gleiche Rechteckfläche wie der zweite elektrische Reparaturkon takt 17 auf. Beide Rechteckflächen erstrecken sich entlang einer Y-Richtung. Entsprechend Figur 8 ist in X-Richtung rechts da neben ein dritter elektrischer Reparaturkontakt ausgebildet, der die Form eines Quadrates aufweist. In den Rechtecken und Quadraten können die Ecken gerundet ausgeführt sein. Die Sei tenlänge des Quadrates entspricht der Längserstreckung der Rechtecke in Y-Richtung. Die Abstände benachbarter Kontakte in X-Richtung sind gleich.

Figur 9B zeigt eine Ausgestaltung der Flächen des ersten, zwei ten und dritten elektrischen Reparaturkontaktes 15, 17 und 19. Dabei ist die Fläche des ersten elektrischen Reparaturkontaktes 15 quadratisch, die Fläche des zweiten elektrischen Reparatur kontaktes 17 ist rechteckig und in Y-Richtung sich länglich oberhalb des Quadrates erstreckend. Zu diesen beiden Flächen ist in X-Richtung rechts daneben der dritte elektrische Repa raturkontakt 19 als in Y-Richtung sich erstreckendes Rechteck angeordnet, dessen Länge der Gesamtlänge von ersten elektrischen Reparaturkontakt 15 und zweiten elektrischen Reparaturkon takt 17 einschließlich eines dazwischenliegenden Abstandsberei ches gleicht. Der erste und der zweite elektrische Reparatur kontakt 15 und 17 sind gleich breit und zur Breite des dritten elektrischen Reparaturkontakts 19 unterschiedlich breit.

Figur 9C zeigt ein weiteres Beispiel von erfindungsgemäßen elektrischen Reparaturkontakten. Die elektrischen Reparaturkon takte sind gleichflächig. Dabei ist ein dritter elektrischer Reparaturkontakt 19 in zwei Reparaturkontaktflächen 19a und 19b aufgeteilt, wobei diese Flächen Rechtecke ausbilden, die sich entlang deren Länge in einer X-Richtung erstrecken und in einer Y-Richtung nebeneinander angeordnet sind. Symmetrisch zu einer Achse in einer Y-Richtung dazu sind der erste elektrische Re paraturkontakt 15 und der zweite elektrische Reparaturkontakt 17 ausgebildet und positioniert. Alle vier Reparaturkontakte weisen eine gleiche Fläche auf. Die beiden elektrischen Repa raturkontakte 19a und 19b können entsprechend den ersten elektrischen Reparaturkontakt 15 und zweiten elektrischen Re paraturkontakt 17 mittels eines auf alle elektrische Reparatur kontakte aufgesetzten Reparaturchips 1' elektrisch miteinander derart verbunden werden, dass zudem noch ein weiterer elektro nischer Schalter geschaltet wird. Je nach Aufgabenstellung kön nen elektrische Standardkontakte und/oder elektrische Repara turkontakte flächig aufgeteilt sein, je nachdem, welche Schalt aufgaben gelöst werden sollen.

Figur 10 zeigt ein Ausführungsbeispiel eines erfindungsgemäßen Verfahrens. Das Verfahren betrifft den Ersatz von mindestens einem Chip oder elektronischem Bauelement eines elektronischen Bauteils, das beispielsweise eine LED-Package oder eine LED- Anzeige sein kann, unter Verwendung von erfindungsgemäßen Vor richtungen. Mit einem ersten Schritt S1 kann ein elektrisches Anschließen eines mindestens zwei elektrische Kontakte aufwei senden Chips an mindestens einen elektrischen Standardkontakt ausgeführt werden. Wird ein Chip an einen ersten Kontakt ange schlossen, kann der Chip bereits als defekt erkannt werden. Hierfür muss der Chip nicht unbedingt elektrisch betrieben wer den, das heißt, an zwei Kontakten angeschlossen sein. Diese Information kann ebenso aus anderen Messungen oder Vormessungen stammen. Dann wird ein Reparaturchip angeschlossen. Erst danach könnte der zweite Kontakt des defekten Chips gebildet werden, beispielsweise zusammen mit dem dritten Kontakt des Reparatur chips. Mit einem zweiten Schritt S2 kann ein Überprüfen der Qualität des Chips oder der Chips und ein Identifizieren von Chips als defekte Chips ausgeführt werden. Mittels eines dritten Schrittes S3 kann ein elektrisches Anschließen eines zum Chip baugleichen Reparaturchips an mindestens drei elektrischen Re paraturkontakten ausgeführt werden, wobei der Reparaturchip mittels des ersten und des dritten Reparaturkontakts leistungs versorgt wird und den ersten und den zweiten Reparaturkontakt elektrisch miteinander verbindet, sodass ein elektronischer Schalter den defekten Chip von einer Leistungsversorgungs quelle trennt. Auf diese Weise würde ein defekter Chip ersetzt und leistungslos geschaltet.

Das Verfahren kann für eine Vielzahl von Chips ausgeführt wer den. Nach einem Bereitstellen eines Trägers oder Substrats mit den entsprechenden Standardkontakten und Reparaturkontakten können Chips auf die elektrischen Standardkontakte aufgesetzt und elektrisch verbunden und angeschlossen werden. Ein Überprü fen der Qualität der Chips kann beispielsweise durch elektri schen Betrieb, optische Kontrolle oder Heranziehen von Daten aus vorangegangenen Prozessschritten ausgeführt werden. Bei entsprechender Identifizierung von defekten Chips können ent sprechend weitere Chips auf die Reparaturkontakte aufgebracht und elektrisch angeschlossen werden.

Die erfindungsgemäße Vorrichtung und das erfindungsgemäße Ver fahren können beispielsweise für einen einzelnen Chip ausgeführt werden. Grundsätzlich kann eine beliebige Mehrzahl von Chips auf bereitgestellten Standardkontakte gesetzt und angeschlossen werden. Beispielsweise können gleichzeitig 100 Chips oder bis 1000000 Chips elektrisch angeschlossen werden. Die Anordnungen gemäß Figur 4, Figur 5 und Figur 6 zeigen wie eine Vielzahl von Chips gleichzeitig auf Standardkontakte eines gemeinsamen Trä gers T elektrisch angeschlossen werden können. Entsprechend sind Standardkontakte 7, 7a und 7b zusammen mit Reparaturkontakten 15 und 17 ausgebildet. Bezugszeichenliste

I Chip

1 ^' Reparaturchip

1 ^{' '} defekter Chip

3 erster elektrischer Kontakt

5 zweiter elektrische Kontakt

7 erster Standardkontakt

9 zweiter Standardkontakt

II elektronischer Schalter

13 elektrische Leistungsversorgungsquelle 15 erster elektrischer Reparaturkontakt 17 zweiter elektrischer Reparaturkontakt

19 dritter elektrischer Reparaturkontakt

21 weiterer elektrischer Reparaturkontakt D Dicke

T Träger

p, d, q Abstände

A Flächen