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Title:
DEVICE FOR TESTING THE ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY OF SYSTEMS HAVING LARGE DIMENSIONS
Document Type and Number:
WIPO Patent Application WO/1999/042849
Kind Code:
A1
Abstract:
According to the law on electromagnetic compatibility of 1 January 1995 all electrical apparatus must have a certain resistance to interference by electromagnetic fields. Especially in the case of systems having large dimensions, such as trains, it is at present not possible to carry out such a test economically using conventional methods. The invention relates to a test device which makes such testing possible and beneficial. According to the invention, a test device consists of a novel arrangement of an impulse-generating wave guide (IEW) which consists of parallel, electrically conductive individual rods which are connected by a head electrode and, via a rail-like spark gap which is in a straight line with an impulse-conducting waveguide (IFW) which is identical in structure but longer, is closed at right angles with a terminating resistor. A return line is connected to said terminating resistor. Several of these IEW, IFW, return lines and terminating resistors arranged as described above can be connected in parallel in a modular manner via a shared release mechanism and therefore create a testing space suitable for a large system.

Inventors:
WILBERT JAN (DE)
SCHWARZ HARALD (DE)
Application Number:
PCT/DE1999/000369
Publication Date:
August 26, 1999
Filing Date:
February 17, 1999
Export Citation:
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Assignee:
WILBERT JAN (DE)
SCHWARZ HARALD (DE)
International Classes:
G01R31/00; (IPC1-7): G01R31/00
Foreign References:
EP0454128A21991-10-30
Other References:
PEIER D ET AL: "KOMPAKTE TEM-ZELLE FUR EMV-TESTS UNTER HOHEN FELDSTARKEN", ELEKTROTECHNISCHE ZEITSCHRIFT - ETZ, vol. 110, no. 3, 1 February 1989 (1989-02-01), pages 102 - 104, XP000039770
SCHUETTE A: "NANOSEKUNDEN-IMPULSE FUER DIE EMV-PRUEFTECHNIK", ELEKTROTECHNISCHE ZEITSCHRIFT - ETZ, vol. 114, no. 4, 1 February 1993 (1993-02-01), pages 270 - 272, 274 - 27, XP000350028
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Claims:
Patentansprüche
1. Vorrichtung zur elektromagnetischen Verträglichkeits (EMV)Störfestigkeitsprüfung, insbesondere von vergleichsweise räumlich großen Systemen, wie Eisenbahnwagen und/oder Züge, mit impulserzeugenden Wellenleitern (IEW), die parallel zueinander angeordnete, über eine Kopfelektrode (5) zusammengeschaltete elektrisch leitende Einzelstäbe (2) aufweist, die über eine schienenförmige Funkenstrecke (4) in gerader Linie mit impulsfortleitenden Wellenleitern (IFW) verbindbar sind, die ihrerseits zur Bildung eines Prüfraums für das zu prüfende System vorzugsweise rechtwinklig anschließend, mit einem Abschlußwiderstand (6) verbunden sind, der wiederum vorzugsweise rechtwinklig anschließend, mit einem oder mehreren Rückenleitern zusammengeschaltet ist, wobei der Betrag des Abschlußwiderstandes (6) mit höchstens wenigen Ohm Differenz dem der impulserzeugenden Wellenleiter (IEW) entspricht. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Abschlußwiderstand (6) flächig ausgebildet ist oder aus mehreren Einzelwiderständen besteht. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß mehrere der Vorrichtungen als Module zur Verlängerung des Prüfraumes zusammengeschaltet sind. Vorrichtung nach Ansprüchen 13, dadurch gekennzeichnet, daß die schienenförmige Funkenstrecke (4) in einem mit Druck beaufschlagbaren Rohr vorgesehen ist. Vorrichtung nach Ansprüchen 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfung der Systeme im Bereich von Nanosekunden bis Sekunden repetierend durchführbar ist. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die impulserzeugenden Wellenleiter (IEW) parallel zu den Rückenleitern mit im wesentlichen gleichem Wellenwiderstand wie der IFW angeordnet sind.
Description:
EMV-Prüfeinrichtung für große räumlich ausgedehnte Systeme Es ist insbesondere im militärischen Bereich bekannt, daß EMV-Störfestigkeitsprüfungen basierend auf einer pulsförmigen kurzen Anregung vorgenommen werden. Bei diesen Prüfungen kommen jedoch weitaus stärkere inhomogenere Felder zur Anwendung. Durch die übliche Gestaltung der Wellenleiter von der Quelle bis zur Senke des Impulses, kann kein für zivile Anforderungen optimales Prüffeld erzeugt werden. Knicke im Wellenleiter, Geometrieänderungen des Wellenleiters von der Quelle bis zur Senke bzgl. seines Rückleiters, eine schlechte Anpassung zwischen den Prüflingsabmessungen bzw.

Prüflingsform und dem Prüfraum, die Anordnung des Ladeteils im Prüfraum und den dadurch entstehenden Prüfraumverlust, im Winkel zum Wellenleiter angeordneten schienenförmigen und anderen Funkenstrecken zwischen Impulsquelle und felderzeugendem Wellenleiter die sich in der Geometrie vom Wellenleiter stark unterscheiden, führen zu Reflexionen die, die Ausbreitung des Pulses negativ beeinflussen und so zu einer Verschlechterung des erzeugten elektromagnetischen Feldes im Prüfraum führen. Des weiteren führen zu lange Wellenleiter, wie in vielen Anlagen üblich, zu einer Verschleifung des Pulses bzw. Abstrahlung der Energie und schränken damit sein Frequenzspektrum ein. Bei sinusförmig gespeisten Wellenleitern oder Streifenleitern treten dimensionierungsbedingt Frequenzbereichsbeschränkungen auf.

Auch mit anderen ähnlichen Prüfmethoden, wie die Benutzung von Antennen mit einer bestimmten Richtcharakteristik in einer entsprechend dimensionierten Absorberkammer, wie sie in der KFZ-Technik üblich sind, ist keine, für größere Systeme ökonomisch zu vertretende Prüfung gegen elektromagnetisch gestrahlte Felder möglich. Insbesondere existiert zur Zeit kein spezieller Störfestigkeitstest für einen gesamten Zug.

Auch gehören Burst-Generatoren, welche Nanosekundenimpulse (5/SOns) in schneller Aufeinanderfolge und über steuerbare Funkenstrecken mit unterschiedlichen Amplituden erzeugen zum Stand der Technik (DE 43 40 514 C2). Diese können jedoch konstruktionsbedingt keine im oben genannten Patentanspruch beschriebene Prüfeinrichtung für große Systeme ersetzen, sondern dienen eher dem leitungsgeführten Komponententest.

Die mit der Erfindung erzielten Vorteile bestehen insbesondere aus der enormen Zeitersparnis in der Prüfzeit, der erzielten Feldqualität und der durch den modularen Aufbau erreichten Anwendbarkeit für beliebig lange Prüflinge bei gleichzeitiger minimaler Länge eines einzelnen pulsführenden Wellenleiters. Zur Prüfung eines gesamten Zuges im Fernfeld, ohne ein Bewegen der Strahlungsquelle, unter Beibehaltung der Feldhomogenität kann mit einer Wellenleiterbreite die sich nur wenig von der Zugbreite unterscheidet, durchgeführt werden.

Der im Patentanspruch angegebenen Erfindung liegt das Problem zugrunde, überhaupt für ein großes Gesamtsystem, ein nach anerkannten Regeln der zivilen EMV- Störfestigkeitsprüftechnik [ENV 50140] homogenes Prüffeld zu schaffen.

Dieses Problem wird durch die im Patentanspruch aufgeführten Merkmale, mehrere dieser IEW, IFW, Rückleiter und Abschlußwiderstände in der beschriebenen Anordnung zusammengestellten Einheiten, über eine gemeinsamen Auslösemechanismus parallel modular zusammenzuschalten und damit einen für ein großes System anwendbaren Prüfraum zu bilden gelöst.

Die mit der Erfindung erzielten Vorteile bestehen insbesondere darin, daß statt der zu falschen Ergebnissen führenden scheibenweisen EMV-Störfestigkeitsprüfung eines großen Systems, wie zivil bisher angewendet, eine komplette Illumination des Prüflings auf einmal in Nanosekunden oder wenigen Sekunden bei repetierenden Betrieb zu ermöglichen. Durch Beibehaltung des Wellenwiderstandes wird ein Prüffeld mit außerordentlicher Qualität erzeugt.

Der große Prüfraum ergibt sich durch Parallelschaltung des in Bild 1 gezeigten Moduls mit baugleichen weiteren Modulen. Eine Änderung der Feldpolarisation kann durch Drehen der Anordnung um die Prüflingslängsachse erreicht werden.

Impulserzeugung Der IEW ist zunächst ungeladen. Über eine getriggerte Zündfunkenstrecke wird der IEW oder alle parallel geschalteten IEW gleichzeitig durch eine Hochspannungsquelle auf eine Spannung Uo (bevorzugt Gleichspannung) aufgeladen. Die Zündfunkenstrecke verlischt aufgrund der sich ergebenden Potentialgleichheit und des daraus resultierenden Rückganges der Stromstärke. Der Impuls wird selbständig nach ca. 100 ms durch Schließen der Rail-Gap mittels vieler kleiner Entladungskanäle, welche den IEW mit dem IFW als Last verbinden, ausgelöst. Mit Hilfe der schienenförmigen Funkenstrecke entsteht eine gleichmäßige Beaufschlagung des IFW mit dem Puls. Die max. Breite der schienenförmigen Funkenstrecke und damit auch der Breite eines Moduls ergibt sich aus fertigungstechnischen Möglichkeiten.

Bei der sonst üblichen Erregung eines Wellenleiters an einem Punkt führt dies durch die unterschiedliche Leiterlänge zu einer zeitlichen Verzögerung des Stromes auf den einzelnen Wellenleitern. Diese zeitliche Verschiebung der Welle auf den unterschiedlichen Stäben führt, wie die Induktivität der Funkenstrecke, und die Änderung des Wellenwiderstandes zu einer Verschleppung der Flanken des Rechteckimpulses und damit zu einem Verlust an Breitbandigkeit des erzeugten Frequenzspektrums.

Im Falle der schienenförmigen Funkenstrecke wird die Last an die Impedanz des Ladeteils angepaßt. Dadurch beträgt der Anfangswert der Spannung genau Uo/2. Durch den Spannungssprung von Uo auf Uo/2 wird eine Wanderwelle erzeugt, welche in Richtung IEW- <BR> <BR> <BR> <BR> Anfang läuft. Nach der Laufzeit X des eingesetzten Wellenleiters erreicht die Wanderwelle den IEW-Anfang, wird an der hochohmigen Funkenstrecke fast vollständig reflektiert (ru= 1) <BR> <BR> <BR> <BR> und läßt eine resultierende Spannung Null entstehen. Nach der doppelten Laufzeit 2 X erreicht die Welle wieder das IEW-Ende. Dieses ist bei gezündeter Funkenstrecke reflexionsfrei (Tu = 0) abgeschlossen. Es entsteht auf dem IFW ein Spannungsimpuls. Dieser springt zum Schaltzeitpunkt von Null auf Uo/2 und nach 2 T wieder auf Null.

Feldqualität Der gesamte Prüfraum erfüllt in Anlehnung die Forderung der ENV 50 140 und eignet sich bzgl. der Feldhomogenität zur Storfestigkeitsprufung Ein über die Anforderungen der ENV 50140 hinausgehender Vergleich zwischen den drei Ebenen im Prüfraum zeigt die in Bild 5 dargestellte Variation zwischen dem Punkt 14 als Bezugspunkt und jeweils allen anderen Meßpunkten (6 von 12 möglichen Punkten überschreiten das 6-dB-Kriterium).