技术领域

本发明涉及通信技术领域， 尤其涉及一种介质谐振器、介质滤波器及通信 设备。 背景技术

由于无线电通信技术的发展，低成本、 高性能的无线通信收发系统需要高 性能的滤波器。 介质滤波器由于其体积小、 损耗小、 选择性高而逐渐广泛应用 到各类通信系统中，而所述介质滤波器选择信 号的能力主要是通带损耗和阻带 衰减， 通带损耗越小， 那么信号损失越小，越容易通过； 同样， 阻带衰减越大， 信号选择性越好，越容易通过。所述介质滤波 器包括具有谐振腔的介质谐振器、 盖板及螺釘。 为了提高介质滤波器对信号的选择性， 常在介质滤波器中设计多 个谐振腔并进行一定方式的级联， 形成具有通带选择特性的滤波器，谐振腔数 量越多， 阻带衰减越大， 对信号的选择能力越强。 现有的介质滤波器常通过打 磨介质以及反复镀银的方法来调节介质滤波器 的谐振腔频率，但这样打磨后反 复电镀致使调试不便。 发明内容

本发明提供一种介质谐振器和介质滤波器， 以方便进行调试。

第一方面，提供了一种介质滤波器， 其包括由介质构成的介质本体和覆盖 所述介质本体的导电层， 所述介质本体包括第一盲孔， 所述第一盲孔从所述第 一表面向所述介质本体内部延伸， 所述第一盲孔的内壁为介质， 所述第一盲孔 用于改变所述介质谐振器的谐振频率。

其中， 所述第一盲孔用于改变所述介质谐振器的谐振 频率包括： 所述第一 盲孔用于通过所述第一盲孔的截面面积和深度 中的至少一项的改变来改变所 述介质谐振器的谐振频率。

其中， 所述第一盲孔用于改变所述介质谐振器的谐振 频率包括： 所述第一 盲孔用于通过插入所述第一盲孔的第一调试组 件的插入长度的改变来改变所 述介质谐振器的谐振频率。

其中，所述介质谐振器还包括所述第一调试组 件和用于固定所述第一调试 组件的第一盖板。

其中， 所述第一盖板的下表面为金属材料。

其中， 所述盖板设有第一孔， 所述第一孔与所述第一盲孔连通， 所述调试 组件通过所述第一孔与所述第一盲孔配合，用 于调试所述介质谐振器的谐振频 其中， 所述第一调试组件包括螺釘和螺母， 所述螺母用于将所述螺釘固定 于所述第一盖板。

其中， 所述第一调试组件包括螺釘， 所述第一孔为螺纹孔， 所述螺釘通过 所述螺纹孔固定于所述第一盖板。

第二方面， 提供一种介质滤波器， 包括至少一个上的介质谐振器。

其中， 所述介质滤波器包括至少两个所述介质谐振器 ， 所述至少两个所述 介质谐振器的第一盖板连为一体。

第三方面，提供一种介质滤波器， 其包括由介质构成的介质本体和覆盖于 介质本体上的导电层， 所述介质本体包括至少两个介质谐振腔， 所述介质滤波 器还包括耦合结构， 所述耦合结构用于连接每两个相邻的所述介质 谐振腔， 所 述介质本体还包括至少一个第二盲孔，所述第 二盲孔用于调试所述耦合结构的 耦合带宽， 所述第二盲孔从所述导电层向所述介质本体内 部延伸， 所述第二盲 孔的内壁为介质， 所述第二盲孔的设置位置与所述耦合结构相对 应。

其中， 所述第二盲孔用于调试所述耦合结构的耦合带 宽包括： 所述第二盲 孔用于通过第二盲孔的截面面积和深度中的至 少一个的改变来改变所述耦合 结构的耦合带宽。

其中， 所述第二盲孔用于调试所述耦合结构的耦合带 宽包括： 所述第二盲 孔用于通过插入第二盲孔的第二调试组件的插 入长度的改变来改变所述耦合 结构的耦合带宽。

其中，所述介质滤波器还包括所述第二调试组 件和用于固定所述第二调试 组件的第二盖板。

其中， 所述盖板还设有多个第二孔， 所述第二孔和所述第二盲孔连通， 所 述第二调试组件通过所述第二孔与所述第二盲 孔配合，用于调试所述介质滤波 器的耦合带宽。

其中， 所述介质滤波器包括至少两个所述第二调试组 件和第二盖板， 所述 至少两个第二盖板连为一体。

第四方面， 提供一种通信设备， 其包括上所述介质滤波器。

本发明中， 因介质本体上设有用于调试介质谐振器的谐振 频率的第一盲 孔， 从而改变了所述介质谐振器的介质本体的介质 结构， 或， 因介质本体上设 有用于调试介质滤波器的耦合带宽的第二盲孔 ，从而改变了所述介质滤波器的 介质本体的介质结构。 从理论上讲， 根据电磁场原理， 所述介质本体的介质结 构的改变，可以导致电磁场在所述介质谐振器 内和介质滤波器内的分布发生变 化。根据仿真发现， 电磁场在所述介质谐振器内和介质滤波器内的 分布发生变 化会改变所述介质谐振器的频率及介质滤波器 的耦合带宽，而由介质谐振器构 成的介质滤波器的频率又会因介质谐振器的频 率的改变而改变，即可以调节所 述介质滤波器的频率或耦合带宽，从而实现改 变所述介质滤波器的频率或耦合 带宽的目的。 附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案 ，下面将对实施例中所需要 使用的附图作筒单地介绍，显而易见地， 下面描述中的附图仅仅是本发明的一 些实施例， 对于本领域普通技术人员来讲， 在不付出创造性劳动的前提下， 还 可以根据这些附图获得其他的附图。

图 1是本发明实施方式提供的介质谐振器的分解� �意图；

图 2是图 1所示的介质谐振器的组装示意图；

图 3a是本发明的一种实施方式提供的介质滤波器� ��分解示意图； 图 3b是本发明的另一种实施方式提供的介质滤波� ��的分解示意图； 图 3c是本发明的另一种实施方式提供的介质滤波� ��的分解示意图； 图 4是图 3b所示的介质滤波器的组装示意图；

图 5是图 4中沿直线 ΠΙ-ΠΙ的剖视图；

图 6是图 5中圆 IV的放大示意图。

图 7是图 3b所示的介质滤波器的频率随第一盲孔的宽度� ��化的仿真示意 图；

图 8是图 3b所示的介质滤波器的频率随第一盲孔的深度� ��化的仿真示意 图； 图 9是图 3b所示的介质滤波器的耦合带宽随第二盲孔的� ��度变化的仿真 示意图。 具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明 实施例中的技术方案进行清 楚、 完整地描述， 显然， 所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例， 而不是 全部的实施例。基于本发明中的实施例， 本领域普通技术人员在没有作出创造 性劳动前提下所获得的所有其他实施例， 都属于本发明保护的范围。

请一并参考图 1和图 2, 为本发明的实施方式提供的一种介质谐振器 10。 所述介质谐振器 10包括由介质构成的介质本体 12和覆盖介质本体 12的导电 层 125, 所述介质本体 12包括第一盲孔 122, 所述第一盲孔 122从所述导电层 125向所述介质本体 12内部延伸， 所述第一盲孔 122的内壁为介质， 所述第 一盲孔 122用于改变所述介质谐振器 10的谐振频率。其中，介质本体 12的表 面可以分为设有所述第一盲孔 122的第一表面 121和未设有所述第一盲孔 122 的第二表面 123, 所述第一表面 121和所述第二表面 123附着导电层 125。

因介质本体 12上设有第一盲孔 122, 从而改变了所述介质谐振器 10的介 质本体 12 的介质结构。 从理论上讲， 根据电磁场原理， 所述介质谐振器 10 的介质本体 12的介质结构的改变，可以导致电磁场在所述� ��质谐振器 10内和 由介质谐振器 10构成的介质滤波器 100 (如图 3所示） 内的分布发生变化。 根据仿真发现， 电磁场在所述介质谐振器 10内的分布发生变化会改变所述介 质谐振器 10的频率， 也可以调节由介质谐振器 10构成的所述介质滤波器 100 的频率， 从而实现改变所述介质谐振器 10, 或由介质谐振器 10构成的介质滤 波器 100的频率的目的。

具体地， 第一盲孔 122截面面积的大小和深度可以改变介质谐振器 10的 谐振频率， 如增加第一盲孔 122的截面面积和深度可以升高介质谐振器 10的 谐振频率， 即升高介质滤波器 100的频率。 其中， 第一盲孔 122的截面面积的 形状在本发明中可以不予限定， 比如， 可以为圆形、 六角形、 方形或其他不规 则的形状，该第一盲孔 122向介质本体内延伸的方式，也可以不予限定 ，比如， 可以为垂直延伸， 梯形延伸， S形延伸， 也可以为其他不规则的延伸方式。 第 一盲孔 122的数量在本发明中也可以不予限定， 比如， 可以为 1个， 也可以为 多于 1个， 具体可视实际需求进行设置， 在本实施例中， 其数量为 1 , 设置在 介质谐振器 10的电场最强处， 这样对于频率的调节影响最大。

进一步， 随着第一盲孔 122的宽度的增加， 即随着第一盲孔 122的截面面 积的增加， 介质谐振器 10的谐振频率升高了。 随着第一盲孔 122的深度的增 加， 介质谐振器 10的谐振频率升高了。

更进一步， 可以通过在所述第一盲孔 122中插入调试组件 30以改变所述 介质谐振器 10的谐振频率。

综上所述， 本发明的介质谐振器 10即可以通过改变所述第一盲孔 122的 截面面积和深度中的至少一项来改变所述介质 谐振器 10的谐振频率， 又可以 通过插入所述第一盲孔 122的调试组件 30的插入长度的改变来改变所述介质 谐振器 10的谐振频率， 从而解决了现有技术中因通过打磨介质以及反 复镀银 的方法来调节介质谐振器 10的谐振频率而导致的无法大批量生产及调试� ��便 的问题。

在本实施方式中，所述介质本体 12的材料可以是具有高介电常数 (介电常 数大于 1), 低损耗（QF值大于 1000 )及稳定的温度系数等性质的材料， 比如 陶瓷， 钛酸盐等。

在本实施方式中， 所述第二表面 123相互连接， 所述第一表面 121与其中 一部分所述第二表面 123连接。 具体地， 第一表面 121可以为介质本体 12的 顶面， 与第一表面 121相对的其中一个第二表面 123被称为底面。 同时， 第一 表面 121不包括第一盲孔 122的内壁， 即第一盲孔 122的内壁不附着导电层 125。

在本实施方式中，所述第一盲孔 122可以垂直从第一表面 121向介质本体 12内部延伸。 所述第一盲孔 122的截面形状可以为方形。 所述介质本体 12为 长方体。 当介质本体 12为长方体时， 所述第二表面 123相互垂直连接， 所述 第一表面 121与其中一部分所述第二表面 123垂直连接。

在其它实施方式中， 所述第一盲孔 122也可以以其它方式从第一表面 121 向介质本体 12内部延伸，如斜着延伸，梯形或 S型延伸等。所述第一盲孔 122 的截面形状可以为圆形、 六边形及椭圆形等其它形状。 所述介质本体 12可以 为圆柱体、 六边形体等其它形状。

在本实施方式中 ,导电层 125可以为导电薄膜并通过电镀的方式形成于所 述第一表面 121和所述第二表面 123。

在其它实施方式中，导电层 125可以通过胶水粘合的方式形成于所述第一 表面 121和所述第二表面 123。

在本实施方式中， 导电层 125由银、 铜等金属材料制成。

作为本发明的进一步改进，所述介质谐振器 10还可以包括盖板 20和所述 调试组件 30, 所述盖板 20用于固定所述调试组件 30。 盖板 20的面积除了可 以使其固定住调试组件 30之外， 还可以进一步增大， 比如， 和介质本体 12 的第一表面 121的形状一致， 起到对介质谐振器 10的热量进行散发， 即散热 的作用。

在本实施方式中， 所述盖板 20的材料可以是金属材料， 或是至少下表面 镀有金属的材料， 这样可以起到防止介质谐振器 10内的电磁波能量泄露的作 用。

在本实施方式中， 所述盖板 20焊接于所述第一表面 121 , 从而盖板 20和 第一表面 121的结合比较牢靠， 即盖板 20和介质本体 12的结合比较牢靠。在 其它实施方式中， 所述盖板 20通过胶水粘合于所述第一表面 121 , 从而使得 盖板 20和介质本体 12之间的安装筒单方便。

因盖板 20安装于介质本体 12的第一表面 121 , 即盖板 20遮盖介质本体 12的第一盲孔 122, 从而防止电磁波从介质本体 12的顶面泄露。

在本实施方式中 ,所述调试组件 30安装于所述盖板 20对应所述第一盲孔 122的位置处， 即盖板 20作为调试组件 30安装于介质本体 12的载体， 从而 方便调试组件 30在介质本体 12上的安装。

进一步， 所述盖板 20设有第一孔 24, 所述第一孔 24与所述第一盲孔 122 连通， 所述调试组件 30通过所述第一孔 24与所述第一盲孔 122配合， 用于调 试所述介质谐振器 10的谐振频率。

更进一步， 所述调试组件 30包括螺釘 34和螺母 32, 所述螺母 32用于将 所述螺釘 34固定于所述盖板 20。 在本实施方式中， 螺釘 34可以被称为调试 螺釘， 因为该调试螺釘是用于调试频率的螺釘 34, 其材料可以是金属的， 也 可以部分或全部材质为其他介质材料， 如塑料。 其中， 当调试螺釘部分材质为 其他介质材料时，调试螺釘插入谐振腔内的部 分材料为介质， 与盖板连接的部 分材料为金属， 这样可以更好的防止介质谐振器 10内的电磁波能量的泄露。 在其它实施方式中， 所述调试组件 30包括螺釘 34, 所述第一孔 24为螺 纹孔， 所述螺釘 34通过所述螺纹孔固定于所述盖板 20。

安装时，盖板 20安装于介质本体 12设有第一盲孔 122的面上， 在本实施 例中， 为第一表面 121 , 调试组件 30安装于盖板 20上， 从而介质本体 12、 盖 板 20和调试组件 30组装为介质谐振器 10。

使用时， 如需要调试介质谐振器 10的频率， 将螺釘 34通过盖板 20的第 一孔 24伸入介质本体 12的第一盲孔 122中， 通过螺釘 34在第一盲孔 122中 的长度的不同来改变介质本体 12内部的电磁场分布， 从而改变介质谐振器 10 的频率， 即调试介质滤波器 100的频率。 其中， 螺釘 34伸入第一盲孔 122中 的长度越长， 介质谐振器 10 的频率越低。 反之， 螺釘 34伸入第一盲孔 122 中的长度越短， 介质谐振器 10的频率越高。 当然， 也可以没有调试组件 30, 介质谐振器 10的频率通过第一盲孔 122的截面面积和宽度来调节。

请一并参考图 3至图 6, 本发明的介质滤波器 100包括至少一个上述介质 谐振器 10。 其中， 如图 3a所示， 介质滤波器 100中所包括的谐振腔上设有上 述实施例所描述的第一盲孔 122, 其中， 是在一个谐振腔上设置上述第一盲孔 122, 还是在多个谐振腔上设置上述第一盲孔 122, 可以视实际需求进行设计， 在本发明可以中不予限定。其中，介质滤波器 100的频率由组成其介质谐振器 10的频率决定。

在另一实施方式中， 所述介质滤波器 100可以包括至少两个如图 1和图 2 所示的介质谐振器 10, 所述两个介质谐振器 10的盖板 20可以连为一体， 这 样， 可以使得装配更筒易， 而且可以通过盖板 20 面积的增大， 强化盖板 20 所起到的对介质滤波器 100进行散热的功能。

当所述介质滤波器 100包括至少两个介质谐振器 10时， 两个介质谐振器 10中的介质本体 12相连接的部分没有导电层 125 , 即介质滤波器 100的介质 本体 12的外表面设置有导电层 125 , 而内部没有导电层 125。 由于相邻的介质 谐振器 10相接的部分没有导电层 125 , —般， 在描述介质滤波器 100时， 将 多个介质谐振器 10的介质本体 12合称为介质滤波器的介质本体 12, 将多个 介质谐振器的导电层 125合称为覆盖于介质滤波器 100的介质本体 12的导电 层 125 ,而将 N个介质谐振器 10的介质本体 12形成的介质谐振腔称为介质滤 波器 100的 N个介质谐振腔（N为不小于 1的整数）。 在另一实施方式中， 如图 3b所示， 介质滤波器 100中所包括的谐振腔上 设有上述实施例所描述的第一盲孔 122 , 所述介质滤波器还包括耦合结构 40, 所述耦合结构 40用于连接每两个相邻的所述介质谐振器 10,所述介质本体 12 还包括至少一个第二盲孔 124, 所述第二盲孔 124用于调试所述耦合结构 40 的耦合带宽。所述第二盲孔 124从导电层 125向所述介质本体 12的内部延伸， 所述第二盲孔 124的内壁为介质，即所述第二盲孔 124的内表面不附着导电层 125。 第二盲孔 124的设置位置与耦合结构 40的位置相对应。 其中， 是在一个 耦合结构 40上设置， 还是在多个耦合结构 40上设置， 可以视实际需求进行， 即，介质滤波器 100上所包括的第二盲孔 124的数量在本发明中可以不予限定。 此外， 对于一个耦合结构 40的第二盲孔 124的数量在本发明中也可以不予限 定， 比如， 可以为 1个， 也可以为多于 1个， 具体可视实际需求进行设置。

在本实施例中，每个谐振腔上均设置有第一盲 孔，每相邻的两个谐振腔之 间的耦合结构 40上均设置有第二盲孔 124, 即， 每一个所述第二盲孔 124位 于每两个相邻的所述第一盲孔 122之间， 所述第一盲孔 122和所述第二盲孔 124间隔设计。

如图 3和图 4所示， 在一个实施方式中， 所述耦合结构 40可以包括多对 耦合槽 42, 每对耦合槽 42包括相对介质本质 12的纵长轴线对称的两个耦合 槽 42。 每对耦合槽 42的一个耦合槽 42从介质本体 12的一个长度较长的第二 表面 123向介质本体 12内部延伸， 另一个耦合槽 42从介质本体 12的一个长 度较长的第二表面 123向介质本体 12内部延伸，但两个耦合槽 42未连通，且 每一个耦合槽 42贯穿介质本体 12的顶面和底面。 在本实施方式中， 所述耦合 槽 42包括为四对耦合槽 42。 可以理解的是， 耦合结构 40也可以采用其他现 有方式实现谐振腔之间的耦合， 在本发明中不再赘述， 也可以不予限定（即本 发明可以和以后出现的耦合结构相结合）。

在本实施方式中， 所述第二盲孔 124的设置位置与所述耦合结构 40相对 应。 具体可以为， 每一对耦合槽 42之间设有一个第二盲孔 124, 即所述第二 盲孔 124在介质本体 12中的位置由所述耦合槽 42的位置决定。且所述第二盲 孔 124的数量与所述耦合槽 42的对数相同。

因介质本体 12上设有第一盲孔 122和第二盲孔 124, 从而改变了所述介 质滤波器 100的介质本体 12的介质结构。 从理论上讲， 根据电磁场原理， 所 述介质滤波器 100的介质本体 12的介质结构的改变， 可以导致电磁场在介质 滤波器 100内的分布发生变化。 根据仿真发现， 电磁场在所述介质滤波器 100 内的分布发生变化会改变所述介质滤波器 100的频率及耦合带宽，从而实现改 变所述介质滤波器 100的频率和耦合带宽的目的。

具体地，第一盲孔 122截面的大小和深度可以改变介质滤波器 100的谐振 频率，如增加第一盲孔 122的截面面积和深度可以升高介质滤波器 100的谐振 频率。 第二盲孔 124截面的大小和深度可以改变介质滤波器 100的耦合带宽， 如增加第二盲孔 124的截面面积和增加第二盲孔 124的深度可以减少介质滤波 器 100的耦合带宽。其中， 第二盲孔 124的截面的形状在本发明中可以不予限 定， 比如， 可以为圆形、 六角形、 方形或其他不规则的形状， 该第二盲孔 124 向介质本体 12内延伸的方式， 也可以不予限定， 比如， 可以为垂直延伸， 梯 形延伸， S形延伸， 也可以为其他不规则的延伸方式。

进一步， 请参考图 7, 随着第一盲孔 122的宽度的增加， 即随着第一盲孔 122的截面面积的增加， 介质滤波器 100谐振频率升高了。 请参考图 8, 随着 第一盲孔 122的深度的增加， 介质滤波器 100的谐振频率升高了。 换而言之， 增加第一盲孔 122的截面面积和深度可以升高介质滤波器 100的谐振频率。请 参考图 9, 随着第二盲孔 124的截面面积和深度的增加介质滤波器 100的耦合 带宽减少了。

更进一步， 本发明通过在介质本体 12上设计所述第一盲孔 122和所述第 二盲孔 124, 从而实现改变所述介质滤波器 100的频率和耦合带宽的目的， 进 而解决了现有技术中因通过打磨介质以及反复 镀银的方法来调节介质滤波器 100的谐振频率和耦合带宽而导致的无法大批量 生产及调试不便的问题。

在本实施方式中， 所述第一盲孔 122为三个，所述多个第二盲孔 124为四 个， 所述第二盲孔 124的数量比所述第一盲孔 122的数量多一个。

介质本体 12每个谐振腔均设有一个第一盲孔 122, 这样可以使得本发明 的介质滤波器 100的阻带衰减较大， 信号选择性较好。

在本实施方式中 ,所述第一盲孔 122和所述第二盲孔 124均垂直从第一表 面 121向介质本体 12内部延伸。 所述第一盲孔 122和所述第二盲孔 124的截 面形状可以为方形。 所述介质本体 12为长方体。

在其它实施方式中，所述第一盲孔 122和所述第二盲孔 124也可以以其它 方式从第一表面 121向介质本体 12内部延伸， 如斜着延伸， 梯形或 S型延伸 等。所述第一盲孔 122和所述第二盲孔 124的截面形状可以为圆形、 六边形及 椭圆形等其它形状。 所述介质本体 12可以为圆柱体、 六边形体等其它形状。

在本实施方式中，所述第一盲孔 122的截面面积和深度可以均等于所述第 二盲孔 124的截面面积和深度。

在其它实施方式中，所述第一盲孔 122的截面面积可以等于所述第二盲孔 124的截面面积， 但所述第一盲孔 122的深度不等于所述第二盲孔 124深度； 或者， 所述第一盲孔 122的截面面积不等于所述第二盲孔 124的截面面积，但 所述第一盲孔 122的深度等于所述第二盲孔 124深度； 再者， 所述第一盲孔 122的截面面积和深度均不等于所述第二盲孔 124的截面面积和深度。 即， 第 一盲孔 122和第二盲孔 124的设计及设置之间是独立的，可以分别根据 实际需 求进行， 二者之间可以不相互影响。

如图 3至图 6所示， 所述介质滤波器 100还包括多个调试组件 30和用于 固定所述调试组件 30的盖板 20, 所述调试组件 30安装于所述盖板 20对应所 述第一盲孔 122和所述第二盲孔 124的位置处。 所述调试组件 30插入所述第 二盲孔 124 中， 用于调试所述介质滤波器 100的耦合带宽 （此时， 调试组件 30可以被称为第二调试组件 ) ； 所述调试组件 30插入所述第一盲孔 122中， 用于调试所述介质滤波器 100的频率 （此时， 调试组件 30可以被称为第一调 试组件） 。

所述盖板 20还可以设有多个第二孔 22, 所述第二孔 22和所述第二盲孔

124连通。 换而言之， 所述盖板 20设有多个第一孔 24和多个第二孔 22, 所述 第一孔 24和所述第一盲孔 122连通。

在本实施方式中， 所述第一孔 24和所述第二孔 22可以被称为调试孔， 因 为调试组件 30通过所述第一孔 24插入第一盲孔 122和所述第二孔 22插入到 第二盲孔 124中， 以改变介质本体 12内谐振腔的电磁场分布， 故而可称之为 调试孔。

在本实施方式中， 每一个第一孔 24的轴线和每一个第一盲孔 122的轴线 重合， 即所述第一盲孔 122和所述第一孔 24——对应。每一个第二孔 22的轴 线和每一个第二盲孔 124的轴线重合， 即所述第二盲孔 124和所述第二孔 22 ——对应。 安装时， 盖板 20安装于介质本体 12的第一表面 121 , 调试组件 30安装 于盖板 20并分别插入所述第一盲孔 122和所述第二盲孔 124中， 从而多个介 质谐振器 10组装为介质滤波器 100。

使用时，如需要调试介质滤波器 100的频率，将螺釘 34通过盖板 20的第 一孔 24伸入介质本体 12的第一盲孔 122中， 通过螺釘 34在第一盲孔 122中 的长度的不同来改变介质本体 12内部的电磁场分布，从而改变介质滤波器 100 的频率。 其中， 螺釘 34伸入第一盲孔 122中的长度越长， 介质滤波器 100的 频率越低。 反之， 螺釘 34伸入第一盲孔 122中的长度越短， 介质滤波器 100 的频率越高。

如需要调试介质滤波器 100耦合带宽， 将螺釘 34通过盖板 20的第二孔

22伸入介质本体 12的第二盲孔 124中， 通过螺釘 34在第二盲孔 124中的长 度的不同来改变介质本体 12内部的电磁场分布， 从而改变介质滤波器 100的 耦合带宽。 其中， 螺釘 34伸入第二盲孔 124中的长度越长， 介质滤波器 100 的耦合带宽越大。 反之， 螺釘 34伸入第二盲孔 124中的长度越短， 介质滤波 器 100的耦合带宽越小。

更进一步，所述盖板 20上设置的调试组件 30的数量可以根据实际需要进 行调节， 也就是， 调试组件 30的数量可以和第一盲孔 122, 第二盲孔 124的 数量不相等。 例如， 当通过在介质本体 12上设计所述第一盲孔 122和所述第 二盲孔 124就可以确保所述介质滤波器 100的频率和耦合带宽时，则不需要调 试组件 30, 相应的， 盖板 20上也不设置相应的第一孔 24或第二孔 22。 或者， 所述盖板 20上可以仅在部分所述第一盲孔 122的位置处设置螺釘 34, 即在盖 板 20上设置部分第一孔 24, 通过调节螺釘 34使其伸入所述第一盲孔 122可 以降低所述介质滤波器 100的频率， 或使所述螺釘 34抽出所述第一盲孔 122 可以增加所述介质滤波器 100的频率。 所述盖板 20上可以仅在部分所述第二 盲孔 124的位置处设置螺釘 34, 即在盖板 20上设置部分第二孔 22, 通过调节 螺釘 34使其伸入所述第二盲孔 124可以增加所述介质滤波器 100的耦合带宽， 或使所述螺釘 34抽出所述第二盲孔 124可以减小所述介质滤波器 100的耦合 带宽。 同时， 也可以在所述盖板 20上对应所述第一盲孔 122的位置处均设置 螺釘 34,即在所述盖板 20上对应所述第一盲孔 122的位置处均设有第一孔 24, 所述螺釘 34插入所述第一孔 24但不伸入所述第一盲孔 122。 也可以在所述盖 板 20上对应所述第二盲孔 124的位置处均设置螺釘 34, 即在所述盖板 20上 对应所述第二盲孔 124的位置处均设有第二孔 22, 所述螺釘 34插入所述第二 孔 22但不伸入所述第二盲孔 124。 当在所述盖板 20对应所述第一盲孔 122或 所述第二盲孔 124的位置处不设置螺釘 34,或者所述螺釘 34插入孔第一孔 24 或第二孔 22但不伸入第一盲孔 122或第二盲孔 124时， 可以通过改变第一盲 孔 122 的截面面积和深度对频率进行调节， 同时可以通过改变第二盲孔 124 的截面面积和深度对耦合带宽进行调节。

因此，可以通过调节螺釘 34改变所述介质滤波器 100的所述第一盲孔 122 内的空气介质的分布，进而改变所述介质滤波 器 100内的电场和磁场中至少一 个的分布， 从而改变所述介质滤波器 100 的频率。 同时， 可以通过调节螺釘 34改变所述介质滤波器 100的所述第二盲孔 124内的空气介质的分布， 进而 改变所述介质滤波器 100内的电场和磁场中至少一个的分布，从而所 述介质滤 波器 100的耦合带宽。

因为通过将所述螺釘 34伸入到所述第一盲孔 122或所述第二盲孔 124内 , 可以改变所述介质滤波器 100的所述第一盲孔 122或所述第二盲孔 124内的空 气介质的分布，同时随着所述螺釘 34在所述第一盲孔 122或所述第二盲孔 124 内的移动，所述介质滤波器 100的所述第一盲孔 122或所述第二盲孔 124内的 空气介质的分布也随之不断改变，从而可以使 得所述介质滤波器 100具有不同 的频率和耦合带宽。 因此， 本发明实施例可以扩大所述介质滤波器 100的调试 范围。

更进一步， 因介质本体 12设有多个第一盲孔 122和多个第二盲孔 124, 螺釘 34在任意一个所述第一盲孔 122或所述第二盲孔 124内的移动， 所述介 质滤波器 100的所述任意一个第一盲孔 122或所述任意一个第二盲孔 124内的 空气介质的分布也随之不断改变，从而可以使 得所述介质滤波器 100具有不同 的频率和耦合带宽。 因此， 本发明实施例进一步可以扩大所述介质滤波器 100 的调试范围。

更进一步，因本发明的所述介质滤波器 100的频率的调节不仅可以通过所 述螺釘 34伸入所述第一盲孔 122的长度来调节， 而且可以通过改变所述第一 盲孔 122的截面面积和深度来调节。 同时， 本发明的所述介质滤波器 100耦合 带宽的调节不仅可以通过所述螺釘 34伸入所述第二盲孔 124的长度来调节， 而且可以通过改变所述第二盲孔 122的截面面积和深度来调节，从而进一步方 便调节所述介质滤波器 100的频率和耦合带宽， 增加了用户使用的方便性。

本发明中，所述第一盲孔 122及所述第二盲孔 124的顶部可以在同一面上。 所述盖板 20上对应所述第一盲孔 122及所述第二盲孔 124的顶部的位置可以 设置有调节所述介质滤波器 100的频率和耦合带宽的螺釘 34。 所述螺釘 34在 同一平面上，从而可以实现了在同一面对所述 介质滤波器 100的频率及耦合带 宽的调节，而不再像现有的介质滤波器 100需要通过打磨介质以及反复镀银的 方法来进行频率及耦合带宽的调节，即在介质 滤波器四周进行频率及耦合带宽 的调节， 同时也不妨碍在所述介质滤波器 100的四周进行元器件的装配，从而 给用户调试及装配带来了便利。 从理论上讲， 根据电磁场原理， 所述介质滤波 器 100的介质本体 12的介质结构的变化， 可以导致电磁场在所述介质滤波器 100内的分布也会发生变化。 根据仿真发现， 电磁场在所述介质滤波器 100内 的分布发生变化会改变所述介质滤波器 100的频率及耦合带宽，即可以调节所 述介质滤波器 100的频率和耦合带宽， 从而可以实现改变所述介质滤波器 100 的频率和耦合带宽的目的。

在另一实施方式中， 如图 3c所示， 所述介质滤波器 100可以包括上述的 第二盲孔 124 及相应的设计方案， 而不限定其是否包括上述的第一盲孔 122 及相应的设计方案。 具体的， 可以包括由介质构成的介质本体 12和覆盖于介 质本体上的导电层 125 , 所述介质本体 12包括至少两个介质谐振腔， 所述介 质滤波器还包括耦合结构 40, 所述耦合结构 40用于连接每两个相邻的所述介 质谐振腔， 所述介质本体 12还包括至少一个第二盲孔 124, 所述第二盲孔 124 用于调试所述耦合结构 40的耦合带宽， 所述第二盲孔 124从所述导电层 125 向所述介质本体 12内部延伸， 所述第二盲孔 124的内壁为介质， 所述第二盲 孔 124的设置位置与所述耦合结构 40相对应。 其中， 所述介质谐振腔由介质 构成， 对于是否设有如图 1和图 2所示的第一盲孔 122可以不予限定。

进一步， 所述介质滤波器 100包括调试组件 30和用于固定所述调试组件 30的盖板 20,所述调试组件 30安装于所述盖板 20对应第二盲孔 124的位置， 所述调试组件 30插入所述第二盲孔 124中， 用于调节所述介质滤波器 100的 耦合带宽。

综上所述，本发明的所述介质滤波器 100可以包括所述第一盲孔 122和第 二盲孔 124中的至少一个， 即， 包括第一盲孔 122及相应的本发明实施例提供 的设计方案，或者，包括第二盲孔 124及相应的本发明实施例提供的设计方案， 或者，包括第一盲孔 122和第二盲孔 124及相应的本发明实施例提供的设计方 案。

本发明还提供使用上述介质滤波器 100的通信设备，该通信设备可以为用 于无线通信的基站， 也可以为终端。 进一步的， 本发明还提供其他需要应用到 介质滤波器 100的设备， 比如雷达设备等。

在本发明中，将插入第一盲孔 122的调试组件称为第一调试组件， 用于固 定所述第一调试组件的盖板 20称为第一盖板。 插入第二盲孔 124的调试组件 称为第二调试组件， 用于固定所述第二调试组件的盖板 20称为第二盖板。 当 介质滤波器 100只包括第一盖板时，两个相邻的第一盖板可 以连为一体，这样， 可以使得装配更筒易， 而且可以通过盖板 20面积的增大， 强化盖板 20所起到 的对介质滤波器 100进行散热的功能； 当介质滤波器 100只包括第二盖板时， 两个相邻的第二盖板可以连为一体；当介质滤 波器 100包括第一盖板和第二盖 板时， 第一盖板和第二盖板可以连为一体， 这样， 可以使得装配更筒易， 而且 可以通过盖板 20面积的增大，强化盖板 20所起到的对介质滤波器 100进行散 热的功能。 同时，第一调试组件和第二调试组件的结构可 以相同，也可以不同； 第一盖板和第二盖板的结构可以相同， 也可以不同。

最后应说明的是： 以上实施例仅用以说明本发明的技术方案， 而非对其限 制； 尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说 明， 本领域的普通技术人员 应当理解： 本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本 技术领域的技术人员 在本发明揭露的技术范围内， 可轻易想到的变化或替换， 都应涵盖在本发明的 保护范围之内。 因此， 本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为 准。