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Patent Searching and Data


Title:
DISTANCE MEASURING SYSTEM
Document Type and Number:
WIPO Patent Application WO/2020/225120
Kind Code:
A1
Abstract:
The invention relates to a distance measuring system (10). A light source (18) emits light with a specified wavelength onto a coupling region (24) which is designed with a coupling diffraction structure (26) and which couples the light into a carrier medium (12) in the direction of a measuring region (28). The measuring region (28) is designed as a combination of an emission diffraction structure (30) and a receiving diffraction structure (32), and the emission diffraction structure (30) decouples coupled light into a measuring volume to be monitored in order to produce a reflection on an object outside of the carrier medium. The receiving diffraction structure (32) couples the reflected light which is incident on the receiving diffraction structure (32) from outside the carrier medium into the carrier medium (12) in the direction of a detector region (34). The detector region (34), which is formed with a detector diffraction structure (36), decouples the light onto a detector device (22), and the detector device (22) determines the distance to the object from the time it takes the light to propagate from the light source (18) to the detector device (22).

Inventors:
KLUG MARKUS (DE)
MOLL TOBIAS (DE)
SCHEUCHENPFLUG JOHANNES (DE)
Application Number:
PCT/EP2020/062108
Publication Date:
November 12, 2020
Filing Date:
April 30, 2020
Export Citation:
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Assignee:
AUDI AG (DE)
International Classes:
G01S7/481; G01S17/10; G01S17/931
Foreign References:
US20180232048A12018-08-16
DE102016118471A12018-03-29
DE102017208896A12018-11-29
US20180106901A12018-04-19
DE102016220232A12018-04-19
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Claims:
PATENTANSPRÜCHE:

Abstandsmesssystem (10) mit

- einem Trägermedium (12), welches dazu ausgebildet ist, als Lichtleiter mittels interner Reflexion eingekoppeltes Licht zu übertragen, und aufweisend einen Messbereich (28) für eine Abstrahlung und ein Empfangen von Licht, einen Einkoppelbereich (24) und einen Detek torbereich (34), die in unterschiedlichen Abschnitten des Trägerme diums angeordnet sind;

- einer Lichtquelle (18), die dazu ausgebildet und angeordnet ist, Licht mit einer vorgegebenen Wellenlänge auf den Einkoppelbereich (24) abzustrahlen; wobei

- der Einkoppelbereich (24) als ein holographisches Element mit einer Einkoppelbeugungsstruktur (26) ausgebildet und dazu ausgelegt ist, Licht mit der vorgegebenen Wellenlänge, das von der Lichtquelle (18) auf die Einkoppelbeugungsstruktur (26) fällt, in das Trägerme dium (12) in Richtung des Messbereichs (28) einzukoppeln; wobei

- der Messbereich (28) als eine Kombination aus einem holographi schen Element (17) mit einer Abstrahlbeugungsstruktur (30) und ei nem holographischen Element (16) mit einer Empfangsbeugungs struktur (32) ausgebildet ist, wobei die Abstrahlbeugungsstruktur (30) dazu ausgelegt ist, eingekoppeltes Licht der vorgegebenen Wellenlänge von dem Einkoppelbereich (24) aus dem Trägermedi um in ein zu überwachendes Messvolumen zur Reflexion an einem Objekt außerhalb des Trägermediums auszukoppeln, und wobei die Empfangsbeugungsstruktur (32) dazu ausgelegt ist, das reflektierte Licht der vorgegebenen Wellenlänge, das von außerhalb des Trä germediums auf die Empfangsbeugungsstruktur (32) fällt, in Rich tung des Detektorbereichs (34) in das Trägermedium (12) einzukop peln; wobei

- der Detektorbereich (34) als ein holographisches Element mit einer Detektorbeugungsstruktur (36) ausgebildet und dazu ausgelegt ist, eingekoppeltes Licht der vorgegebenen Wellenlänge von dem Messbereich (28), das auf die Detektorbeugungsstruktur (36) fällt, aus dem Trägermedium (12) auf eine Detektorvorrichtung (22) aus zukoppeln; wobei

- die Detektorvorrichtung (22) dazu ausgebildet ist, das auf die Detek torvorrichtung ausgekoppelte Licht der vorgegebenen Wellenlänge zu erfassen und aus einer Lichtlaufzeit des Lichts von der Lichtquel le (18) zu der Detektorvorrichtung (22) eine Distanz zu dem Objekt zu bestimmen.

Abstandsmesssystem (10) nach Anspruch 1 , wobei die Einkoppelbeu gungsstruktur (26), die Abstrahlbeugungsstruktur (32), die Empfangs beugungsstruktur (32) und die Detektorbeugungsstruktur (36) als ein optisches Gitter ausgebildet sind, insbesondere ein holographisches Volumengitter oder ein holographisches Oberflächengitter.

Abstandsmesssystem (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei der Einkoppelbereich (24), der Messbereich (28) und der Detek torbereich (34) einstückig mit dem Trägermedium (12) ausgebildet sind oder wobei das Trägermedium (12) als separates Element zu dem Ein koppelbereich (24), dem Messbereich (28) und dem Detektorbereich (34) ausgebildet ist.

Abstandsmesssystem (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das holographische Element (17) der Abstrahlbeugungsstruktur und das holographische Element (16) der Empfangsbeugungsstruktur miteinander verbunden sind, wobei aus Sicht des Messvolumens die Empfangsbeugungsstruktur (32) zwischen diesem und der Abstrahl beugungsstruktur (30) angeordnet ist und die Empfangsbeugungsstruk tur (32) die Abstrahlbeugungsstruktur (30) zumindest teilweise überla gert.

Abstandsmesssystem (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei der Einkoppelbereich (24) und der Detektorbereich (34) eine kleinere Abmessung als der Messbereich (28) aufweisen, wobei die Einkoppelbeugungsstruktur (26) eine Zerstreuungsgitterstruktur auf- weist, die dazu ausgebildet ist, Lichtstrahlen des Lichts, das auf die Einkoppelbeugungsstruktur (26) fällt, in Abhängigkeit eines Einfallsortes unterschiedlich stark abzulenken, sodass die Einkoppelbeugungsstruk tur (26) die Lichtstrahlen auf die Abstrahlbeugungsstruktur (30) auffä chert, und

wobei die Empfangsbeugungsstruktur (32) eine Bündelungsgitterstruk tur aufweist, die dazu ausgebildet ist, das reflektierte Licht, das von au ßerhalb des Trägermediums auf die Empfangsbeugungsstruktur (32) fällt, in Abhängigkeit des Einfallsortes unterschiedlich stark abzulenken, sodass die Empfangsbeugungsstruktur (32) die Lichtstrahlen auf die Detektorbeugungsstruktur (36) hin fokussiert, und wobei die Detek torbeugungsstruktur (36) eine entsprechende Zerstreuungsbeugungs struktur aufweist, die dazu ausgebildet ist, Lichtstrahlen des Lichts zum Auskoppeln aus dem Trägermedium (12) auf die Detektorvorrichtung (22) zu parallelisieren.

Abstandsmesssystem (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Abstrahlbeugungsstruktur (30) eine Bündelungsgitterstruktur und/oder eine Zerstreuungsgitterstruktur aufweist, die jeweils dazu aus gebildet sind, unterschiedliche Lichtstrahlen des Lichts, das auf die Ab strahlbeugungsstruktur (30) fällt, in Abhängigkeit des Einfallsortes un terschiedlich stark abzulenken.

Abstandsmesssystem (10) nach Anspruch 6, wobei die Abstrahlbeu gungsstruktur (30) in vorgegebene Unterbereiche aufgeteilt ist, wobei sich die vorgegebenen Unterbereiche in der bereitgestellten Bünde lungsgitterstruktur oder Zerstreuungsgitterstruktur unterscheiden, um die Lichtstrahlen des Lichts zum Auskoppeln aus dem Trägermedium (12) bereichsweise in Abhängigkeit des Einfallsortes unterschiedlich stark abzulenken, um eine Abstrahlcharakteristik festzulegen.

Abstandsmesssystem (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Detektorvorrichtung (22) eine Photodiodenmatrix (38) auf weist, wobei die Photodiodenmatrix (28) dazu ausgelegt ist, das auf die Detektorvorrichtung (22) ausgekoppelte Licht entsprechend einer Ein trittsposition auf den Messbereich (28) und/oder eines Eintrittswinkels auf den Messbereich zuzuordnen.

Description:
Abstandsmesssystem

BESCHREIBUNG: Die Erfindung betrifft ein Abstandsmesssystem.

Ein Abstandsmesssystem kann beispielsweise ein LIDAR-System umfassen. Das LIDAR-System („Light Detection and Ranging“) ist eine optische Metho de, bei der über eine Laufzeitmessung von Lichtpulsen eine Entfernung zu einem Objekt, das sich in einem Raumbereich oder Messvolumen befindet, bestimmt werden kann. Es sind bereits verschiedene LIDAR-Systeme be kannt, die mittels optischer Elemente den Lichtstrahl in das Messvolumen leiten können und einen reflektierten Lichtstrahl von dem Messvolumen emp fangen können, um diesen auf eine Detektorvorrichtung zu lenken. Die Ab- Standsmessung beruht auf einer Laufzeitmessung des Lichts von der Licht quelle zum Detektor.

Aus der US 2018/0106901 A1 ist ein LIDAR-Sensor zur Detektion eines Objekts in der Umgebung und ein Verfahren zur Aktivierung eines LIDAR- Sensors bekannt.

Aus der DE 10 2016 220 232 A1 ist ein optisches Element für ein LIDAR- System bekannt, das eine Aufweitungsoptik und eine Projektionslinse auf weist, wobei die Aufweitungsoptik und/oder die Projektionslinse durch ein holographisches Element ausgebildet sind.

Nachteilig aus den bekannten Abstandsmesssystemen ist es, dass separate optische Elemente zueinander ausgerichtet werden müssen und beispiels weise durch eine mechanische Belastung verrutschen können. Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Abstandsmesssystem bereit zustellen, das robust gegenüber einer mechanischen Belastung ist.

Die Aufgabe wird durch die Gegenstände der unabhängigen Patentansprü che gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind durch die abhän gigen Patentansprüche, die folgende Beschreibung sowie die Figuren offen bart.

Durch die Erfindung ist ein Abstandsmesssystem bereitgestellt. Das Ab standsmesssystem weist ein Trägermedium auf, das beispielsweise aus Glas oder aus Kunststoff gefertigt ist und welches dazu ausgebildet ist, als Lichtleiter mittels interner Reflexion eingekoppeltes Licht zu übertragen. Insbesondere kann als Trägermedium eine Glasplatte vorgesehen sein. Das Trägermedium weist einen Messbereich für eine Abstrahlung und Empfan gen von Licht, einen Einkoppelbereich und einen Detektorbereich auf, die in unterschiedlichen Abschnitten des Trägermediums angeordnet sind. Durch die starre Kopplung der besagten Bereiche mittels des Trägermediums kann das beschriebene Verrutschen verhindert werden. Die Abstandsmessfunkti on, die eine LIDAR-Funktion sein kann, wird über die im Folgenden be schriebene erfindungsspezifische Lichtführung erreicht.

Das Abstandsmesssystem umfasst eine Lichtquelle, die dazu ausgebildet und angeordnet ist, Licht mit einer vorgegebenen Wellenlänge auf den Ein koppelbereich abzustrahlen. Die Lichtquelle kann insbesondere eine LED oder einen Laser, vorzugsweise eine Laserdiode, umfassen, die Licht mit der vorgegebenen Wellenlänge abstrahlen kann. Die vorgegebenen Wellenlänge bezieht sich dabei auf eine Abstrahlwellenlänge der Lichtquelle, die je nach verwendeter LED oder verwendeten Laser vorgegeben ist. Vorzugsweise kann die vorgegebene Wellenlänge in einem infraroten Wellenlängenbereich von 800 Nanometern bis 1000 Nanometern liegen, insbesondere bei 850 Nanometern, 905 Nanometern, 1064 Nanometern oder 1550 Nanometern.

Der Einkoppelbereich ist als ein holographisches Element mit einer Einkop pelbeugungsstruktur ausgebildet und dazu ausgelegt, Licht mit der vorgege- benen Wellenlänge, das von der Lichtquelle auf die Einkoppelbeugungs struktur fällt, in das Trägermedium in Richtung des Messbereichs einzukop peln, wobei der Messbereich als eine Kombination aus einem holographi schen Element mit einer Abstrahlbeugungsstruktur und einem holographi schen Element mit einer Empfangsbeugungsstruktur ausgebildet ist, wobei die Abstrahlbeugungsstruktur dazu ausgelegt ist, eingekoppeltes Licht der vorgegebenen Wellenlänge von dem Einkoppelbereich aus dem Trägerme dium in ein zu überwachendes Messvolumen zur Reflexion an einem Objekt außerhalb des Trägermediums auszukoppeln, und wobei die Empfangsbeu gungsstruktur dazu ausgelegt ist, das reflektierte Licht der vorgegebenen Wellenlänge, das von außerhalb des Trägermediums auf die Empfangsbeu gungsstruktur fällt, in Richtung des Detektorbereichs in das Trägermedium einzukoppeln.

Der Detektorbereich ist als ein holographisches Element mit einer Detek torbeugungsstruktur ausgebildet und dazu ausgelegt, eingekoppeltes Licht der vorgegebenen Wellenlänge von dem Messbereich, das auf die Detek torbeugungsstruktur fällt, aus dem Trägermedium auf eine Detektorvorrich tung auszukoppeln, wobei die Detektorvorrichtung dazu ausgebildet ist, das auf die Detektorvorrichtung ausgekoppelte Licht der vorgegebenen Wellen länge zu erfassen und aus einer Lichtlaufzeit des Lichts von der Lichtquelle zu der Detektorvorrichtung eine Distanz zu dem Objekt zu bestimmen.

Mit anderen Worten kann Licht mit einer vorgegebenen Wellenlänge von einer Lichtquelle in einen Einkoppelbereich abgestrahlt werden, wo es von einer Einkoppelbeugungsstruktur, die ein holographisches Element sein kann, in ein Trägermedium einkoppelt wird. Innerhalb des Trägermediums kann das Licht durch interne Reflexion, das heißt Totalreflexion, zu einem Messbereich übertragen werden.

In dem Messbereich sind zumindest zwei holographische Elemente vorgese hen, die beispielsweise je eine eigene Beugungsstruktur aufweisen können, nämlich die Abstrahlbeugungsstruktur und die Empfangsbeugungsstruktur, wobei die holographischen Elemente beispielsweise in einer Schichtenbau- weise mittels eines Transferklebers miteinander verbunden sein können. Die Abstrahlbeugungsstruktur kann das Licht aus dem Trägermedium auskop peln und auf ein zu überwachendes Messvolumen abstrahlen, in dem das Licht an einem Objekt reflektiert werden kann und zurück in das Trägermedi um fallen kann, wo die Empfangsbeugungsstruktur das reflektierte Licht in Richtung des Detektorbereichs in das Trägermedium einkoppeln kann. In Richtung des Detektorbereichs bedeutet hier eine makroskopische Richtung vom Messbereich zum Detektorbereich entlang des Trägermediums, bezie hungsweise einen Richtungsvektor in die Ausbreitungsrichtung des Lichts mittels interner Reflexion. Ein Lichtpfad kann hier natürlich aufgrund der internen Reflexion einen Zick Zack Verlauf aufweisen.

Auch Detektorbereich ist als ein holographisches Element mit einer Detek torbeugungsstruktur ausgebildet, die das von dem Objekt im Messvolumen reflektierte Licht auf eine Detektorvorrichtung beugen kann. Die Detektorvor richtung kann dann das eintreffende Signal des reflektierten Lichts detektie- ren und aus einer Laufzeit des Lichts von der Lichtquelle zu der Detektorvor richtung eine Distanz zu dem Objekt bestimmen. Vorzugsweise kann die Lichtquelle hierzu das Licht in einem Lichtpuls abstrahlen, wobei gleichzeitig zur Abstrahlung des Lichtpulses eine Zeitmessung gestartet werden kann, die beim Eintreffen des Lichtpulses auf die Detektorvorrichtung gestoppt wird. Aus dieser Zeit kann dann mittels der Lichtgeschwindigkeit und einer Berücksichtigung der Laufzeit des Lichts in dem Abstandsmesssystem, das bedeutet nur die Laufzeit des Lichts von dem Verlassen des Messbereichs bis zum Wiedereintritt in den Messbereich wird gemessen, der Abstand zu dem Objekt bestimmt werden.

Ein holographisches Element, das auch als holographisch-optisches Element (HOE) bezeichnet wird, ist ein optisches Element, dessen Funktionsprinzip auf Holographie beruht und das mittels holographischer Verfahren, das heißt holographischer Belichtung, hergestellt werden kann. Dazu kann ein Interfe renzmuster, das bei einer Überlagerung zweier kohärenter Wellen gleicher Wellenlänge entsteht, auf einer lichtempfindlichen Schicht des holographi schen Elements aufgezeichnet werden. Auf diese Weise lassen sich optische Gitter, Linsen, Spiegel und Strahlteiler hersteilen, die Eigenschaften wie entsprechende konventionelle optische Elemente besitzen, jedoch eine ge ringere Dicke aufweisen.

Durch die Erfindung ergibt sich der Vorteil, dass das Abstandsmesssystem robuster und widerstandsfähiger gegenüber äußeren Einflüssen, wie bei spielsweise einer mechanischen Belastung, ist, da eine kompaktere Bauwei se mit weniger separaten Bauteilen erreicht werden kann. Des Weiteren wird für das Abstandsmesssystem weniger Bauraum benötigt. Zusätzlich könnte das Abstandsmesssystem durch die Lichtleitung des Trägermediums auf transparente und gekrümmte Flächen aufgebracht werden, wie beispielswei se in eine Fenster- oder Seitenscheibe oder einen Scheinwerfer eines Kraft fahrzeugs oder in ein Display, insbesondere in ein Handydisplay.

Zu der Erfindung gehören auch Ausführungsformen, durch die sich zusätzli che Vorteile ergeben.

Eine Ausführungsform sieht vor, dass die Einkoppelbeugungsstruktur, die Abstrahlbeugungsstruktur, die Empfangsbeugungsstruktur und die Detek torbeugungsstruktur als ein optisches Gitter ausgebildet sind, insbesondere ein holographisches Volumengitter oder ein holographisches Oberflächengit ter.

Optische Gitter, auch Beugungsgitter genannt, sowie deren Wirkungsweise und Herstellungsverfahren sind dabei allgemein bekannt. Grundsätzlich können optische Gitter als zumindest abschnittsweise periodische Struktu ren, sogenannte Gitterstrukturen, in einem Substrat ausgebildet sein, die durch den physikalischen Effekt der Beugung eine Lichtlenkung, wie sie zum Beispiel von Spiegeln, Linsen oder Prismen bekannt ist, herbeiführen kön nen. Fällt Licht, d.h. fallen Lichtstrahlen auf das optische Gitter, wobei die einfallenden Lichtstrahlen insbesondere die Bragg-Gleichung erfüllen, wer den die Lichtstrahlen durch das optische Gitter gebeugt oder abgelenkt. Die Lichtlenkung kann somit insbesondere durch Interferenzerscheinungen der durch das optische Gitter gebeugten Lichtstrahlen erfolgen. Die Ablenkstruk- tur kann entsprechend auch als Beugungsstruktur bezeichnet werden. Ein holographisches Oberflächengitter und ein holographisches Volumengitter sind holographisch-optische Elemente, die insbesondere durch ein Hologra phieverfahren hergestellt werden können.

Vorzugsweise kann ein optisches Gitter gegenüber dem einfallenden Licht Winkel- beziehungsweise richtungsselektiv und/oder weilenlängen- bezie hungsweise frequenzselektiv ausgebildet sein. Somit kann nur Licht, das aus einer vorbestimmten Einfallsrichtung, zum Beispiel in einem vorbestimmten Winkel, auf ein optisches Gitter fällt, abgelenkt werden. Licht, das aus einer anderen Richtung auf das optische Gitter fällt, wird vorzugsweise nicht abge lenkt oder umso weniger, je größer der Unterschied zur vorbestimmten Ein fallsrichtung ist. Zusätzlich oder alternativ kann auch nur Licht einer Wellen länge oder Licht, welches höchstens um einen vorbestimmten Wellenlän genbereich von der vorbestimmten Wellenlänge abweicht, von dem opti schen Gitter in einem bestimmten Beugungswinkel abgelenkt werden. An ders formuliert kann beispielsweise eine Optimalwellenlänge vorgegeben sein, bei der nur ein Anteil des Lichts in einem bestimmten Wellenlängen oder Frequenzbereich um die Optimalwellenlänge von dem optischen Gitter abgelenkt wird (beispielsweise eine zentrale Optimalwellenlänge und ein Bereich mit Wellenlängenwerten bis +/- 10 Prozent der Optimalwellenlänge), der übrige Anteil des Lichts kann hingegen ohne abgelenkt zu werden durch das Gitter propagieren. Von polychromatischem Licht, welches auf das opti sche Gitter trifft, kann somit wenigstens ein monochromatischer Lichtanteil abgespaltet werden. Der Ablenkeffekt ergibt sich somit frequenzselektiv und/oder winkelselektiv, wobei der Ablenkeffekt für ein Optimalwellenlänge maximal ist und zu längeren und kürzeren Wellenlängen hin abfällt oder schwächer wird, beispielsweise gemäß einer Gaußglocke abfällt. Insbeson dere wirkt der Ablenkeffekt nur auf einen Bruchteil des sichtbaren Lichtspekt rums und/oder in einem Winkelbereich kleiner als 90 Grad.

Besonders bevorzugt können optische Gitter mittels Belichtung eines Sub strats, also beispielsweise fotolithografisch oder holografisch, hergestellt werden. In diesem Zusammenhang können die optischen Gitter dann auch als holografische oder holografisch-optische Gitter bezeichnet werden. Es sind zwei Arten von holografisch-optischen Gittern bekannt: holografische Oberflächengitter (surface holografic gratings, kurz: SHG) und holografische Volumengitter (volume holografic gratings, kurz: VHG). Bei holografischen Oberflächengittern kann die Gitterstruktur durch optisches Verformen einer Oberflächenstruktur des Substrats erzeugt werden. Durch die veränderte Oberflächenstruktur kann auftreffendes Licht abgelenkt, zum Beispiel reflek tiert werden. Beispiele für holografische Oberflächengitter sind sogenannte Sägezahn- oder Blazegitter. Im Gegensatz dazu kann die Gitterstruktur bei holografischen Volumengittern in das ganze Volumen oder einen Teilbereich des Volumens des Substrats eingearbeitet sein. Holografische Oberflächen gitter und holografische Volumengitter sind in der Regel frequenzselektiv.

Als Material für ein Substrat zum Einarbeiten eines optischen Gitters eignet sich zum Beispiel besonders Glas, Vorzugsweise Quarzglas. Alternativ oder zusätzlich kann auch ein Polymer, insbesondere Fotopolymer, oder eine Folie, insbesondere eine fotosensitive Folie, zum Beispiel aus Kunststoff oder einem organischen Stoff verwendet werden. Zur Verwendung derartiger Substrate, sollte zusätzlich beachtet werden, dass das Material, insbesonde re in Substratform, flexible und lichtwellenleitende Eigenschaften aufweist. Substrate die eine Ablenkstruktur zum Beugen von Licht, beispielsweise in Form eines optischen Gitters aufweisen, können auch als holografisch optische Elemente (HOE) bezeichnet werden.

Eine weitere Ausführungsform sieht vor, dass der Einkoppelbereich, der Messbereich und der Detektorbereich einstückig mit dem Trägermedium ausgebildet sind oder das Trägermedium als separates Element zu dem Einkoppelbereich, dem Messbereich und dem Detektorbereich ausgebildet ist.

Im ersten Fall können der Einkoppelbereich, der Messbereich und der Detek torbereich somit beispielsweise direkt in eine Oberflächenstruktur des Trä germediums eingearbeitet werden. Somit kann das Trägermedium selbst als HOE ausgebildet sein, beispielsweise geätzt oder gelasert sein. Im zweiten Fall können der Einkoppelbereich, der Messbereich, der Detektorbereich und das Trägermedium separat ausgebildet sein. Dabei können der Einkoppelbe reich, der Messbereich und der Detektorbereich beispielsweise jeweils ein eigenes Element bilden und das Trägermedium kann ein weiteres Element bilden, welches an den anderen Elementen anliegt. Somit können die jewei ligen Bereiche als wenigstens ein jeweiliges HOE ausgebildet sein. Dies ermöglicht eine größer Auswahl bei der Nutzung eines Trägermediums. Beispielsweise können der Einkoppelbereich, der Messbereich und der De tektorbereich in unterschiedlichen Abschnitten einer holografischen Folie oder Platte ausgebildet sein. Zum Befestigen der Folie oder Platte an dem Trägermedium kann die Folie oder Platte an das Trägermedium angeklebt sein. Alternativ kann die holografische Folie auch als Adhäsionsfolie ausge bildet sein und direkt, also ohne Klebstoff, durch molekulare Kräfte an der Oberfläche des Trägermediums haften.

Eine weitere Ausführungsform sieht vor, dass das holographische Element der Abstrahlbeugungsstruktur und das holographische Element der Emp fangsbeugungsstruktur miteinander verbunden sind, wobei die Empfangs beugungsstruktur aus Sicht des Messvolumens zwischen diesem und der Abstrahlbeugungsstruktur angeordnet ist und die Empfangsbeugungsstruktur die Abstrahlbeugungsstruktur zumindest teilweise überlagert. Mit anderen Worten können die Abstrahlbeugungsstruktur und die Empfangsbeugungs struktur als zwei holographische Elemente ausgebildet sein, die flächig mit einander verbunden sind, insbesondere durch einen Transferkleber verklebt, wobei die Abstrahlbeugungsstruktur das Licht von der Lichtquelle durch die Empfangsbeugungsstruktur hindurchstrahlen kann, da diese für den Ein fallswinkel des Lichts von der Abstrahlbeugungsstruktur transparent ist. Das reflektierte Licht wiederum kann von der vor der Abstrahlbeugungsstruktur angeordneten Empfangsbeugungsstruktur abgelenkt werden, da hier der Einfallswinkel gemäß der Gitterstruktur der Empfangsbeugungsstruktur sen sitiv ist. Die holographischen Elemente können auch zueinander versetzt angeordnet sein, so dass sie sich nur in einem Teilbereich überlagern. Au ßerdem können auch mehr als zwei holographische Elemente, beispielswei se eine Schichtstruktur von drei oder mehr, verwendet werden. Durch diese Ausführungsform ergibt sich der Vorteil, dass ein Abstrahl- und Empfangsbe reich im Messbereich gleich ausgebildet sein können, wodurch ein Lichtweg außerhalb des Trägermediums zu dem Objekt in Hin- und Rückrichtung gleich ausgebildet sein kann. Zusätzlich kann eine stabilere Bauform des Abstandsmesssystems erreicht werden, da die holographischen Elemente nicht separat ausgebildet sind, sondern miteinander verbunden sind, wodurch eine Verschiebung der Abstrahlbeugungsstruktur und der Emp fangsbeugungsstruktur erschwert wird.

Eine weitere Ausführungsform sieht vor, dass der Einkoppelbereich und der Detektorbereich eine kleinere Abmessung als der Messbereich aufweisen, wobei die Einkoppelbeugungsstruktur eine Zerstreuungsgitterstruktur auf weist, die dazu ausgebildet ist, Lichtstrahlen des Lichts, das auf die Einkop pelbeugungsstruktur fällt, in Abhängigkeit eines Einfallsortes unterschiedlich stark abzulenken, sodass die Einkoppelbeugungsstruktur die Lichtstahlen auf die Abstrahlbeugungsstruktur auffächert oder streut, und wobei die Emp fangsbeugungsstruktur eine Bündelungsgitterstruktur aufweist, die dazu ausgebildet ist, das reflektierte Licht, das von außerhalb des Trägermediums auf die Empfangsbeugungsstruktur fällt, in Abhängigkeit des Einfallsortes unterschiedlich stark abzulenken, sodass die Empfangsbeugungsstruktur die Lichtstrahlen auf die Detektorbeugungsstruktur hin fokussiert und wobei die Detektorbeugungsstruktur eine entsprechende Zerstreuungsbeugungsstruk tur aufweist, die dazu ausgebildet ist, Lichtstrahlen des Lichts zum Auskop peln aus dem Trägermedium auf die Detektorvorrichtung zu parallelisieren. Mit anderen Worten kann eine Abbildung des Einkoppelbereichs auf eine Abmessung des Messbereichs vergrößert werden und eine Abbildung des Messbereichs auf eine Abmessung des Detektorbereich verkleinert werden, sodass eine Aufweitungsoptik beziehungsweise eine Kollimationsoptik mit tels der Beugungsstrukturen gebildet werden kann.

Eine Bündelungsgitterstruktur kann eine inhomogene Beugungsstruktur aufweisen, die beispielsweise Lichtstrahlen von einem Rand der Beugungs struktur stärker beugen kann als Lichtstrahlen von einer Mitte der Beugungs struktur, wodurch die Lichtstrahlen fokussiert werden können. Dementspre- chend kann eine Zerstreuungsgitterstruktur eine Gitterstruktur aufweisen, bei der Lichtstrahlen je nach auftreffender Position aufgefächert werden können. Vorzugsweise sind in dieser Ausführungsform die Bündelungsgitterstruktur und die Zerstreuungsgitterstruktur und die entsprechenden Abstände der beiden Strukturen so gewählt, dass die Lichtstrahlen von der Bündelungsgit terstruktur zu der Zerstreuungsgitterstruktur zusammenlaufen und von der Zerstreuungsgitterstruktur wieder parallelisiert werden oder alternativ von der Zerstreuungsgitterstruktur zu der Bündelungsgitterstruktur auseinanderlaufen und von der Bündelungsgitterstruktur wieder parallelisiert oder fokussiert werden. Diese Anordnung ist vergleichbar mit einem Galilei-Fernrohr, bei dem eine Sammellinse und eine Zerstreuungslinse derart hintereinander angeordnet sind, dass die Brennweiten der beiden Linsen hinter der Zer streuungslinse in einem Punkt zusammenfallen. Durch diese Ausführungs form ergibt sich der Vorteil, dass ein im Vergleich zum Messbereich kleiner Detektor für die Detektorvorrichtung verwendet werden kann und keine auf wändige Strahlaufweitung im Einkoppelbereich benötigt wird, wodurch Kos ten eingespart werden können.

Eine weitere Ausführungsform sieht vor, dass die Abstrahlbeugungsstruktur eine Bündelungsgitterstruktur und/oder eine Zerstreuungsgitterstruktur auf weist, die jeweils dazu ausgebildet sind, unterschiedliche Lichtstrahlend des Lichts, das auf die Abstrahlbeugungsstruktur fällt, in Abhängigkeit des Ein fallsortes unterschiedlich stark abzulenken. Damit ist gemeint, dass eine unterschiedliche Winkeländerung der jeweiligen Lichtstrahlen des Lichts je nach Einfallsort erreicht werden kann, beispielsweise können in Bezug auf eine optische Achse äußere Lichtstrahlen mit einem größeren Winkel abge lenkt werden als innere Lichtstrahlen. Insbesondere kann vorgesehen sein, dass ein Zusammenwirken der Einkoppelbeugungsstruktur mit der Abstrahl beugungsstruktur die Lichtstrahlen zum Auskoppeln aus dem Trägermedium parallelisiert, auffächert oder auf einen Brennpunkt fokussiert. Auch kann die Abstrahlbeugungsstruktur mehrere Bereiche aufweisen, die je einer der Git terstrukturen aufweisen, wodurch die Abstrahlbeugungsstruktur auch eine Bündelungsgitterstruktur und eine Zerstreuungsgitterstruktur aufweisen kann. Diese Ausführungsform ergibt den Vorteil, dass verschiedene Abstrahlcha- rakteristika erzeugt werden können und beispielsweise ein großes Messvo lumen durch einen aufgefächerten Strahl abgetastet werden kann oder ein Objekt in dem Messvolumen durch eine fokussierten Lichtstrahl genauer abgetastet werden kann.

Vorzugsweise ist vorgesehen, dass die Abstrahlbeugungsstruktur in vorge gebene Unterbereiche, die beispielsweise eine unterschiedliche Größe auf weisen können, aufgeteilt ist, wobei sich die vorgegebenen Unterbereiche in der bereitgestellten Bündelungsgitterstruktur oder Zerstreuungsgitterstruktur unterscheiden, um die Lichtstrahlen des Lichts zum Auskoppeln aus dem Trägermedium bereichsweise in Abhängigkeit des Einfallsortes unterschied lich stark abzulenken, um eine Abstrahlcharakteristik festzulegen. Beispiels weise kann somit erreicht werden, dass vorgegebene Unterbereiche der Abstrahlbeugungsstruktur die Lichtstrahlen fokussieren, um eine feinere Abtastung des Messvolumens zu erzeugen, und vorgegebene Unterbereiche können die Lichtstrahlen in einem Abstrahlbereich auffächern, um eine groß flächige Abtastung zu erzeugen. Durch diese Ausführungsform ergibt sich der Vorteil, dass verschiedene Abstrahlcharakteristiken festgelegt werden können, um Bereiche eines Messvolumens mit unterschiedlicher Genauigkeit abzutasten. Beispielsweise kann vorgesehen sein, dass ein mittiger Unterbe reich dazu ausgebildet ist, eine feinere Abtastung durchzuführen und äußere Unterbereiche dazu, eine gröbere Abtastung durchzuführen.

Eine Ausführungsform sieht vor, dass die Detektorvorrichtung eine Photodio denmatrix aufweist, wobei die Photodiodenmatrix dazu ausgelegt ist, das auf die Detektorvorrichtung ausgekoppelte Licht entsprechend einer Eintrittsposi tion auf den Messbereich und/oder eines Einfallswinkels auf den Messbe reich zuzuordnen. Mit anderen Worten kann eine Photodiodenmatrix, die insbesondere ein Photomischdetektor (PMD-Sensor), sein kann vorgesehen sein, die ähnlich einer Fotokamera das Licht entsprechend der Eintrittspositi on in den Messbereich zuordnen kann, das heißt, dass die Photodioden matrix gleichzeitig für jede Photodiode der Photodiodenmatrix einen Abstand bestimmen kann. Alternativ oder zusätzlich kann auch vorgesehen sein, dass der Eintrittswinkel auf den Messbereich in der Photodiodenmatrix zugeordnet werden kann. Durch die Winkelselektivität der Empfangsbeugungsstruktur kann beispielsweise vorgesehen sein, dass nur Licht, das mit einem be stimmten Winkel in den Messbereich eintritt, in das Trägermedium und somit zu der Detektorvorrichtung eingekoppelt wird. Das bedeutet, dass die Emp- fangsbeugungsstruktur als ein Kollimator wirkt, der nur vorgegebene Ein trittswinkel weiterleitet. Beispielsweise kann die Photodiodenmatrix als Matrix von CCD- oder CMOS-Sensoren ausgebildet sein. Durch diese Ausführungs form ergibt sich der Vorteil, dass mit einer Lichtpulsabstrahlung eine Orts und Entfernungsinformation über ein gesamtes Messvolumen bestimmt wer- den kann. Somit kann eine TOF-Kamera (time of flight Kamera) realisiert werden, die ein gesamtes Abstandsszenario auf einmal aufnehmen kann. Vorzugsweise kann die somit bereitgestellte TOF-Kamera verwendet wer den, um eine Gestenerkennung vor einem Display oder einer Scheibe, in die das Abstandsmesssystem eingebaut sein kann, zu realisieren.

Die Erfindung umfasst auch die Kombinationen der Merkmale der beschrie benen Ausführungsformen.

Im Folgenden sind Ausführungsbeispiele der Erfindung beschrieben. Hierzu zeigt:

Fig. 1 eine schematische Überblicksdarstellung einer beispielshaften

Ausführungsform; Fig. 2 eine schematische Darstellung einer Funktionsweise einer beispielhaften Ausführungsform;

Fig. 3 eine schematische Seitenansicht gemäß einer beispielhaften

Ausführungsform;

Fig. 4 eine schematische Seitenansicht gemäß einer weiteren bei spielhaften Ausführungsform. Bei den im Folgenden erläuterten Ausführungsbeispielen handelt es sich um bevorzugte Ausführungsformen der Erfindung. Bei den Ausführungsbeispie len stellen die beschriebenen Komponenten der Ausführungsformen jeweils einzelne, unabhängig voneinander zu betrachtende Merkmale der Erfindung dar, welche die Erfindung jeweils auch unabhängig voneinander weiterbilden. Daher soll die Offenbarung auch andere als die dargestellten Kombinationen der Merkmale der Ausführungsformen umfassen. Des Weiteren sind die beschriebenen Ausführungsformen auch durch weitere der bereits beschrie benen Merkmale der Erfindung ergänzbar.

In den Figuren bezeichnen gleiche Bezugszeichen jeweils funktionsgleiche Elemente.

In Fig. 1 ist eine Überblicksdarstellung eines Abstandsmesssystems 10 ge mäß einer beispielhaften Ausführungsform dargestellt. Das Abstandsmess system 10 kann beispielsweise als LIDAR-System oder als TOF-Kamera ausgebildet sein. Das Abstandsmesssystem 10 kann ein Trägermedium 12 aufweisen, das beispielsweise mittels einer Schichtbauweise gefertigt ist, wobei eine erste Schicht eine Glasplatte 14 umfassen kann und eine zweite Schicht ein oder mehrere holographische Elemente 16, die beispielsweise eine Fotopolymerfolie sein können. Das zumindest eine holographische Element 16 kann dabei auf die Glasplatte 14 aufgeklebt oder eingearbeitet sein. Zusätzlich kann eine zweite Glasplatte 15 das zumindest eine hologra phische Element 16 als weitere Deckschicht umschließen.

Das Abstandsmesssystem 10 kann eine Lichtquelle 18 aufweisen, die bei spielsweise als eine Laserdiode ausgebildet sein kann und die Licht in das Trägermedium 12 abstrahlen kann. In dem Trägermedium 12 kann das von der Lichtquelle 18 abgestrahlte Licht durch Beugung umgelenkt werden und somit flächig über das Trägermedium 12 verteilt werden und von einer weite ren Beugungsstruktur aus dem Trägermedium 12 ausgekoppelt werden, was durch die ausgekoppelten Lichtstrahlen 20 dargestellt ist. Diese ausgekop pelten Lichtstrahlen 20 können vorzugsweise flächig in ein zu überwachen des Messvolumen zur Reflexion an einem Objekt (nicht gezeigt) außerhalb des Trägermediums abgestrahlt werden. Nach Reflexion an dem Objekt können die Lichtstrahlen als reflektiertes Licht 21 zurück in das Trägermedi um 12 eintreten.

In dem Trägermedium 12 kann dann eine weitere Beugungsstruktur das reflektierte Licht auf eine Detektorvorrichtung 22 lenken, die vorzugsweise eine Fotodiode aufweisen kann und die das Eintreffen des Lichts als elektro nisches Signal detektieren kann. Insbesondere kann eine Laufzeit des Lichts von einer Abstrahlung der Lichtquelle 18 bis zu der Detektion der Detektor vorrichtung 22 gemessen werden, um daraus eine Distanz zu dem Objekt zu bestimmen. Insbesondere kann dabei ein Zeitversatz abgezogen werden, der durch einen Lichtweg innerhalb des Trägermediums 12 entstehen kann.

Mit der in Fig. 2 gezeigten schematischen Darstellung des Abstandsmess system 10 soll eine Funktionsweise des Abstandsmesssystems 10 anhand der hier gezeigten beispielhaften Ausführungsform näher erläutert werden. In Fig. 2 ist das Abstandsmesssystem 10 mit einem Trägermedium 12, einer Lichtquelle 18 und einer Detektorvorrichtung 22 ausgebildet. Das Trägerme dium 12, das als Lichtleiter ausgebildet sein kann und eingekoppeltes Licht mittels interner Reflexion übertragen kann, kann vergleichbar mit dem Aus führungsbeispiel aus Fig. 1 zwei Glasplatten 14, 15 als flächige Deckschich ten für ein holographisches Element 16 und ein weiteres holographisches Element 17 aufweisen. Alternativ kann jedoch auch vorgesehen sein, dass statt der Glasplatten ein lichtleitender Kunststoff verwendet wird.

Das holographische Element 16 kann beispielsweise eine Fotopolymerfolie umfassen und mit der Glasplatte 14 über eine Klebeverbindung verbunden sein. Ferner kann das holographische Element 17 über eine Klebeverbin dung mit der Glasplatte 15 verbunden sein und die beiden holographischen Elemente 14 und 15 können miteinander über einen Transferkleber verbun den sein. Die Dicke der holographischen Elemente 16, 17 kann weniger als einen Millimeter betragen und die hier dargestellten Abmessungen sind nur zur Veranschaulichung des Beispiels gewählt. Das holographische Element 17 kann in einem Einkoppelbereich 24 derart ausgebildet sein, dass sich eine Einkoppelbeugungsstruktur 26 ergibt, die beispielsweise ein holographisches Oberflächengitter sein kann und die Licht von der Lichtquelle 18 in Richtung eines Messbereichs 28 in das Trägerme dium 12 einkoppeln kann, was durch den Pfeil von unten nach oben mit Spitze nach links in der Einkoppelbeugungsstruktur 26 angedeutet ist. Eben so kann das holographische Element 17 im Messbereich 28 mit einer Ab strahlbeugungsstruktur 30 ausgebildet sein, die beispielsweise als hologra phisches Volumengitter ausgebildet sein kann, und die das Licht von dem Einkoppelbereich 24 aus dem Trägermedium 12 auskoppeln kann, wobei das ausgekoppelte Licht insbesondere in eine Richtung zu einem zu mes senden Objekt durch das darüber angeordnete holographische Element 16 hindurchstrahlen kann, was durch die Pfeile von rechts nach links mit Spitze nach oben angedeutet ist. Das darüber angeordnete holographische Element 16, das eine Empfangsbeugungsstruktur 32, die beispielsweise als hologra phisches Volumengitter ausgebildet ist, aufweist, kann dabei für das Licht, das aus Richtung der Abstrahlbeugungsstruktur kommt, transparent sein, da ein Eintrittswinkel in das holographische Element 16 eine Winkelbedingung zur Ablenkung durch das holographische Element 16 nicht erfüllt.

Insbesondere kann die Empfangsbeugungsstruktur 32 in dem Messbereich 28 derart ausgebildet sein, dass nur Licht, das einen bestimmten Einfallswin kel, insbesondere von einem Bereich außerhalb des Trägermediums 12 auf den Messbereich 28 aufweist, abgelenkt werden. Das heißt, dass die Emp fangsbeugungsstruktur 32 vorzugsweise winkelselektiv sein kann und nur Eintrittswinkel von beispielsweise plus minus ein Grad von einer vordefinier ten Eintrittsrichtung in das Trägermedium 12 einkoppelt. Hierdurch kann ein optischer Kollimator erzeugt werden, der beispielsweise nur Lichtstrahlen in das Trägermedium 12 zulässt, die senkrecht auf den Messbereich 28 treffen.

Folglich kann das ausgekoppelte Licht beispielsweise von einem Objekt außerhalb des Trägermediums 12 reflektiert werden und zurück auf den Messbereich 28 fallen, wo es dann von der Empfangsbeugungsstruktur 32 zurück in das Trägermedium 12 in Richtung eines Detektorbereichs 34 ein- gekoppelt werden kann, was durch die Pfeile von oben nach unten mit Spitze links in der Empfangsbeugungsstruktur 32 angedeutet ist.

In dem Detektorbereich 34 kann das holographische Element 16 derart aus gebildet sein, dass eine Detektorbeugungsstruktur 36, die beispielsweise als holographisches Oberflächengitter ausgebildet ist, das reflektierte Licht aus dem Trägermedium 12 in Richtung der Detektorvorrichtung 22 auskoppeln kann, wo dann eine Lichtlaufzeit des Lichts von der Lichtquelle 18 zu der Detektorvorrichtung 22 bestimmt werden kann. Hierbei kann die Detektorvor richtung 22 vorzugsweise eine Photodiodenmatrix 38 aufweisen, die das auf die Detektorvorrichtung 22 ausgekoppelte Licht entsprechend einer Eintritts position des reflektierten Lichts auf den Messbereich, ähnlich einer Fotoka mera, zuordnen kann. Beispielsweise kann ein Lichtstrahl, der auf eine Ecke des Messbereichs und damit auf eine Ecke der Empfangsbeugungsstruktur 32 fällt, auf eine entsprechende Ecke der Photodiodenmatrix 38 geleitet werden, wodurch für jeden reflektierten Lichtstrahl, der auf die Empfangs beugungsstruktur 32 zurück reflektiert wird, eine Lichtlaufzeit bestimmt wer den kann, woraus ein dreidimensionales Distanzbild bestimmt werden kann.

Der Einkoppelbereich 24, der Messbereich 28 und der Detektorbereich 34 können einstückig mit dem Trägermedium 12 ausgebildet sein. Alternativ kann jedoch auch vorgesehen sein, dass das Trägermedium 12 als separa tes Element zu dem Einkoppelbereich 24, dem Messbereich 28 und dem Detektorbereich 34 ausgebildet ist.

Der Einkoppelbereich 24 und der Detektorbereich 34 können insbesondere eine kleinere Abmessung als der Messbereich 28 aufweisen. Hierzu kann die Einkoppelbeugungsstruktur 26 eine Zerstreuungsgitterstruktur aufweisen, die Lichtstrahlen des Lichts von der Lichtquelle 18 in Abhängigkeit eines Einfall sorts auf die Einkoppelbeugungsstruktur 26 unterschiedlich stark ablenken kann, sodass die Einkoppelbeugungsstruktur 26 die Lichtstrahlen derart in das Trägermedium 12 einkoppelt, dass diese auf die Abstrahlbeugungsstruk tur 30 aufgefächert werden. Ebenso kann die Empfangsbeugungsstruktur eine Bündelungsgitterstruktur aufweisen, die Lichtstrahlen des reflektierten Lichts von außerhalb des Trägermediums 12 in Abhängigkeit des Einfallsorts auf die Empfangsbeugungsstruktur 32 unterschiedlich stark ablenken, so- dass die Lichtstrahlen auf die Detektorbeugungsstruktur 36 hin fokussiert werden. Die Detektorbeugungsstruktur 36 kann eine zu der Bündelungsgit terstruktur der Empfangsbeugungsstruktur 32 passende Zerstreuungsbeu gungsstruktur aufweisen, die die Lichtstrahlen des reflektierten Lichts zum Auskoppeln aus dem Trägermedium 12 auf die Detektorvorrichtung 22 paral- lelisieren kann.

Die Abstrahlbeugungsstruktur 30 kann je nach Ausgestaltung des Ab standsmesssystems 10 eine Bündelungsgitterstruktur und/oder eine Zer streuungsgitterstruktur aufweisen, die je nach Ausgestaltung einer Ab strahlcharakteristik und einem Zusammenwirken mit der Einkoppelbeu gungsstruktur 26 die Lichtstrahlen zum Auskoppeln aus dem Trägermedium 12 parallelisieren, auffächern oder auf einen Brennpunkt fokussieren kann.

In Fig. 3 ist eine derartige beispielhafte Auffächerung von Lichtstrahlen ge zeigt. Hierbei können Lichtstrahlen der Lichtquelle 18 über die Einkoppel beugungsstruktur 26 auf die Abstrahlbeugungsstruktur 30 aufgefächert wer den, wobei die Abstrahlbeugungsstruktur 30 beispielsweise eine weitere Zerstreuungsbeugungsstruktur aufweisen kann, die die Lichtstrahlen des Lichts zum Auskoppeln aus dem Trägermedium 12 auf ein zu überwachen des Messvolumen auffächert und somit einen weiten Überwachungsbereich abdecken kann. Die Empfangsbeugungsstruktur 32 kann entsprechend aus gebildet sein, sodass sie nur einen Einfallswinkel der Lichtstrahlen zum Ein koppeln in das Trägermedium 12 in Richtung der Detektorvorrichtung 22 zulässt, die den gleichen Einfallswinkel aufweisen wie die Abstrahlrichtung, was durch die Doppelpfeile 40 angedeutet ist.

In Fig. 4 ist ein Abstandsmesssystem 10 gemäß einer weiteren beispielhaf ten Ausführungsform dargestellt. Hierbei kann das Trägermedium 12 ähnlich ausgebildet sein wie das Trägermedium 12 in Fig. 2. Die Abstrahlbeugungs struktur 30 kann jedoch in vorgegebene Unterbereiche 42 unterteilt sein, die insbesondere eine unterschiedliche Größe aufweisen können, und wobei sich die vorgegebenen Unterbereiche 42 in der für jeden Unterbereich be reitgestellten Gitterstruktur unterscheiden können. Beispielsweise können bestimmte Bereiche eine Zerstreuungsgitterstruktur aufweisen und andere Unterbereiche eine Bündelungsgitterstruktur, wodurch die Lichtstrahlen des Lichts zum Auskoppeln aus dem Trägermedium 12 bereichsweise unter schiedlich stark abgelenkt werden. Dadurch kann eine vorbestimmte Ab strahlcharakteristik erzeugt werden. Beispielsweise können Unterbereiche die Lichtstrahlen auffächern, wodurch ein weiter Bereich abgetastet wird, der eine geringe Auflösung aufweist, beispielsweise Bereiche 43 und 44, es können jedoch auch Bereiche vorgesehen sein, die eine Bündelungsgit terstruktur aufweisen und einen schmalen Bereich mit einer hohen Abtastrate abtasten können, wie beispielsweise Bereiche 45 und 46.

Insgesamt zeigen die Beispiele, wie durch die Erfindung ein Abstandsmess- System, insbesondere in LIDAR oder eine TOF-Kamera, über ein hologra phisch optisches Element bereitgestellt werden kann.