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Patent Searching and Data


Title:
GLASS LENS PATTERN SHAPE MEASUREMENT DEVICE
Document Type and Number:
WIPO Patent Application WO/2009/078455
Kind Code:
A1
Abstract:
An arithmetic calculation control circuit (52) controls a measurement probe moving device (driving motor (6)) so that a glass lens pattern measurement probe (38) contacts with at least two points (measurement points (P1, P2)) of a glass lens pattern (Lm) held in a glass lens pattern hold device (glass lens pattern holder), seeks coordinates of the two points in accordance with a detection signal of a position detection device (linear scales (24, 40)) and obtains a curve value (Cv) of one of the refraction surfaces of the glass lens pattern from a difference between the coordinates of the two points.

Inventors:
WATANABE TAKAHIRO (JP)
WATANABE KENICHI (JP)
MIYASHITA KENJI (JP)
Application Number:
PCT/JP2008/073038
Publication Date:
June 25, 2009
Filing Date:
December 18, 2008
Export Citation:
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Assignee:
TOPCON CORP (JP)
HOYA CORP (JP)
WATANABE TAKAHIRO (JP)
WATANABE KENICHI (JP)
MIYASHITA KENJI (JP)
International Classes:
B24B9/14; G01B5/20; G02C7/02; G02C13/00
Foreign References:
JPH04332802A1992-11-19
JPH10217086A1998-08-18
JPS62137510A1987-06-20
Other References:
See also references of EP 2233880A4
None
Attorney, Agent or Firm:
NISHIWAKI, Tamio (6-7 Ginza 6-chome, Chuo-ku, Tokyo 61, JP)
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Claims:
 測定装置本体に設けられる玉型保持装置と、
 前記玉型保持装置に保持された玉型の周縁形状を測定する玉型用測定子と、
 前記玉型の外周面に沿って移動させる測定子移動装置と、前記玉型用測定子の座標を検出する位置検出装置と、
 前記位置検出装置からの検出信号に基づいて前記玉型の周面形状データを二次元情報として求めると共に、前記測定子移動装置を制御して、前記玉型保持装置に保持された玉型の2つの屈折面の一方の少なくとも2点に前記玉型用測定子を当接させて、前記位置検出装置からの検出信号に基づいて前記2点の座標を求め、前記2点の座標から前記玉型の一方の屈折面の曲率であるカーブ値を求める演算制御回路と、を備える玉型形状測定装置。
 請求項1に記載のレンズ枠形状測定装置において、前記装置本体はレンズ枠保持装置及び該レンズ枠保持装置に保持されるレンズ枠のヤゲン溝の周方向の三次元形状を測定させるレンズ枠用測定子を備え、前記玉型用測定子は前記レンズ枠用測定子に設けられていることを特徴とする玉型形状測定装置。
 請求項1に記載のレンズ枠形状測定装置において、前記演算制御回路は、前記玉型のカーブ値及び周面形状データから前記玉型の前記玉型の屈折面と外周面との間のコバ角の三次元コバ角形状データを求めて、前記三次元コバ角形状データに基づいて前記玉型の外周面へのコバ方向及び周方向への三次元溝掘位置データを求めることを特徴とする玉型形状測定装置。
 請求項1に記載のレンズ枠形状測定装置において、前記玉型用測定子は前記玉型の外周面に当接させる周面測定部及び前記玉型の一方の屈折面と外周面との間のコバ角に当接させる角測定部を備えると共に、
 前記演算制御回路は、測定子移動装置を作動制御して前記周面測定部を前記外周面に接触させ且つ前記角測定部を前記コバ角に接触させながら周方向に移動させて、前記位置検出装置からの検出信号に基づいて前記三次元コバ角形状データを求めることを特徴とする玉型形状測定装置。
 請求項3に記載のレンズ枠形状測定装置において、更にレンズの材質を入力する材質入力装置を備えると共に、
 前記演算制御回路は、前記周面形状データと前記材質入力装置により入力されるレンズの材質とから前記玉型の周方向における三次元コバ厚データを求めて、
前記三次元コバ角形状データ及び前記三次元コバ厚データに基づいて前記玉型の外周面へのコバ方向及び周方向への三次元溝掘位置データを求めることを特徴とする玉型形状測定装置。
Description:
玉型形状測定装置

 この発明は、メガネの玉型形状を測定す 玉型形状測定装置に関するものである。

 一般に、メガネフレーム(眼鏡フレーム) しては、リムフレーム(フルリム),リムレス レーム(ツーポイントフレーム),溝掘フレー (ハーフリム,ナイロール)等が知られている

 例えば、溝掘フレームの場合、玉型の外 面に周方向に延びる保持溝を形成しておい 、この玉型(眼鏡レンズ)の上側にハーフリ を固着すると共に、このハーフリムの両端 保持させたナイロールを玉型の下部側にお て保持溝内に配設し、このナイロールで玉 をハーフリムに締付固定するようにしてい 。

 このような溝掘フレームのためには、玉 の外周面に周方向に延びる保持溝を形成す 必要がある。この保持溝は、円形の未加工 鏡レンズの周縁を玉型形状データに基づい レンズ研削加工装置により玉型(眼鏡レンズ )の形状に研削した後、この玉型の外周面に 掘カッター等で周方向に延びる溝を環状に 成することにより得られる。

 ところで、玉型形状測定装置としては、 開平10-166250号公報に開示されたようなもの 知られている。この公報に開示された玉型 状測定装置は、測定装置本体に設けられた ンズ枠保持装置と、この測定装置本体のフ ームに水平回転可能に設けられた回転ベー と、この回転ベースを回転駆動する回転駆 モータを備えている。また、この玉型形状 定装置は、水平方向に直線的に進退移動可 に回転ベース上に装着されたスライダと、 のスライダに上下動可能に装着された測定 と、この測定軸の上端部に設けられ且つリ フレームのレンズ枠のヤゲン溝に係合させ レンズ枠用測定子を備えている。

 そして、この玉型形状測定装置では、レ ズ枠用測定子をヤゲン溝に沿って移動させ ことにより、回転ベースの回転角θiに対す レンズ枠の動径ρi(レンズ枠の幾何学中心か らヤゲン溝までの距離の変化)及び上下方向 移動量Ziをレンズ枠形状データ(θi,ρi,Zi)とし て求めることができるようになっている。

 また、このような玉型形状測定装置とし は、玉型が保持された玉型ホルダー(玉型保 持手段)を装置本体に着脱可能に設けると共 、玉型用測定子をスライダに起倒自在に設 たものも知られている。この玉型形状測定 置では、玉型用測定子を起立させると共に の玉型用測定子を玉型ホルダーに保持させ 玉型の外周面に当接させて、回転ベースを 転駆動モータで水平回転させることにより 玉型用測定子を玉型の外周面に沿って周方 に摺接移動させて、回転ベースの回転角θi 対する玉型の動径ρi(玉型の幾何学中心又は 学中心から周縁までの距離の変化)を玉型周 面形状データ(θi,ρi)として求めるようになっ ている。

 しかし、この玉型形状測定装置では、レ ズ枠の形状データは上述したように三次元 状データとして求めているが、玉型の形状 ータは回転角θiに対する動径ρiとして二次 的に求めているだけである。

 このため、玉型に保持溝を加工するには レンズ研削加工装置に直列に装着したレン 回転軸間に未加工眼鏡レンズを保持させ、 の状態で未加工眼鏡レンズの周縁部を玉型 面形状データ(θi,ρi)に基づいて研削砥石に り研削加工する前に、レンズ回転軸と一体 未加工眼鏡レンズを所定角度δθずつ回転さ せて、未加工眼鏡レンズの動径ρiにおける前 側屈折面及び後側屈折面のレンズ回転軸に沿 う方向の位置データをコバ厚測定手段により 測定しておく必要があった。

 ところで、例えば眼鏡店等においてメガ を作る場合に、装用者は展示されているサ プルメガネから好みのものを選択するのが 般的である。このようなサンプルメガネで 、通常、フレーム或いはリムレスフレーム デモレンズ(ダミーレンズ)を取り付けてい のが現状である。しかも、フレーム(リム)に 取り付けられたデモレンズの周面(コバ面)は フレーム(リム)の三次元形状に沿う形状に 成されていている。

 しかし、実際の眼鏡レンズでは、屈折面 曲率がメガネの処方値によって異なり、又 コバ厚もレンズ周縁研削時のレンズ回転中 によっても異なる。このため、溝掘フレー では、ハーフリムに実際の眼鏡レンズを装 する場合、ハーフリムを眼鏡レンズの周縁 状に沿うように曲げ加工したりしていた。

 このようなハーフリムの曲げ加工をする となく、ハーフリムに眼鏡レンズを装着で るのが望ましい。この為には、ハーフリム 三次元形状を測定できればよいが、上述し 測定装置では、ハーフリムの三次元形状を 定できなかった。

 そこで、この発明は、デモレンズ等の玉 の周面形状及び屈折面の曲率を求めること より、溝掘フレームでもハーフリムの三次 形状を特定できる玉型形状測定装置を提供 ることを目的とするものである。

 この目的を達成するため、この発明の玉 形状測定装置は、測定装置本体に設けられ 玉型保持装置と、前記玉型保持装置に保持 れた玉型の周縁形状を測定する玉型用測定 と、前記玉型の外周面に沿って移動させる 定子移動装置と、前記玉型用測定子の座標 検出する位置検出装置と、前記位置検出装 からの検出信号に基づいて前記玉型の周面 状データを二次元情報として求める演算制 回路を備えている。しかも、前記演算制御 路は、前記測定子移動装置を制御して、前 玉型保持装置に保持された玉型の2つの屈折 面の一方の少なくとも2点に前記玉型用測定 を当接させて、前記位置検出装置からの検 信号に基づいて前記2点の座標を求め、前記2 点の座標から前記玉型の一方の屈折面の曲率 であるカーブ値を求めるようになっている。

 この発明によれば、デモレンズ等の玉型 周面形状及び屈折面の曲率を求めることに り、溝掘フレームでもハーフリムの三次元 状を特定できる。

この発明にかかる玉型形状測定装置の 分概略斜視図である。 図1の玉型形状測定装置の測定機構の斜 視図である。 図2の測定機構の正面図である。 図2の測定機構の背面図である。 図4の測定機構の右側面図である。 図2の測定機構の回転ベースの駆動装 を示す模式図である。 図2のスライダ駆動機構を説明するた の模式図である。 図5Bの平面図である。 図2のスライダの原点検出装置の概略 明図である。 図2の測定子の昇降機構を示す斜視図で ある。 図6の昇降機構によるレンズ枠の測定の ための説明図である。 図7の左側面図である。 図1に示した玉型用測定子の部分拡大斜 視図である。 図9の側面図である。 図1に示した玉型形状測定装置の制御 路図である。 図1に示した玉型形状測定装置に設け れるレンズ材質入力装置の部分説明図であ 。 図10Bのレンズ材質入力装置を有する 御回路図である。 図6の測定子の昇降機構の作用を説明 る斜視図である。 図11の昇降機構によるレンズ枠の測定 ための説明図である。 図11の昇降機構のリニアスケールの説 図である。 図13の右側面図である。 図6の測定子の昇降機構の作用を説明 る斜視図である。 図15の昇降機構によるレンズ枠の測定 ための説明図である。 図16の左側面図である。 図2の昇降機構による玉型測定の説明 である。 図2の昇降機構による玉型測定の説明 である。 図1~図5の玉型形状測定装置により玉型 の屈折面の曲率を求めるためのフローチャー トである。 図1~図5の玉型形状測定装置により玉 の曲率を測定により求めるための説明図で る。 図21Aの部分拡大図である。 眼鏡レンズのカーブ値の説明図であ 。 図22Aのカーブ値と玉型の屈折面の2つ 測定点間の差との関係を示した特性線図で る。

 以下、この発明の実施の形態を図面に基づ て説明する。
[構成]
 この発明に係る玉型形状測定装置は、型板, デモレンズまたはレンズ枠等の玉型の玉型形 状を測定するのに用いられるここで、玉型の 幾何学中心から玉型の周面までの距離(径)は 型の周方向における多数の位置で変化する で、この距離が変化する径は動径というこ ができる。図1はこの動径を測定する玉型形 状測定装置を示したもので、この玉型形状測 定装置は測定装置本体1を有する。

 この測定装置本体1は、下部の測定機構収 納用のケース部1aと、ケース部1aの上部に配 されたレンズ枠保持機構1bを有する。そして 、図1のケース部1a内の底部には図2に示した ース2が設けられている。

 また、レンズ枠保持機構1bは、ケース部に 定された一対の平行なガイドロッド(ガイド 材)1c,1cを有する。しかも、このガイド部材1 c,1cにはスライド枠3,3が相対接近・離反可能 保持されている。このスライド枠3,3は、図 しないコイルスプリング等で互いに接近す 方向にバネ付勢されている。このスライド 3,3は、互いに対向させられていてメガネ(眼 )のレンズ枠(図示せず)が当接させられる縦 3a,3aを有する。また、スライド枠3,3は、レ ズ枠を保持させるレンズ枠保持装置3bをレン ズ枠保持手段として有する。このレンズ枠保 持レンズ枠保持3bは、縦壁3aから突出する下 側の保持棒3b1と、保持棒3b1に対して上側か 開閉可能にスライド枠3に取り付けられた上 の保持棒3b2を有する。このレンズ枠保持レ ズ枠保持3bは、図示しないメガネの左右の ンズ枠に対してそれぞれ設けられる。尚、 のようなレンズ枠保持機構1bとしては、例え ば特開平10-328992号公報等に開示された構成、 又はその他周知の技術を採用できる。従って 、レンズ枠保持機構1bの詳細な説明は省略す 。
<測定機構>
 また、ベース2上には図2~図5に示したような 測定機構1dが設けられている。この測定機構1 dは、ベース2上に固定されたベース支持部材4 を有する。このベース支持部材4には大径の 動ギヤ5が鉛直軸を中心に水平回転自在に取 付けられている。また、ベース2には、図5A 模式的に示した駆動モータ6が従動ギヤ(タ ミングギヤ)5に隣接して取り付けられている 。この駆動モータ6の出力軸6aにはピニオン( イミングギヤ)7が固定され、このピニオン7 従動ギヤ5にはタイミングベルト8が掛け渡さ れている。

 そして、駆動モータ6を作動させると、駆 動モータ6の出力軸6aの回転がピニオン7及び イミングベルト8を介して従動ギヤ5に伝達さ れて、従動ギヤ5が回転させられるようにな ている。尚、駆動モータ6には2相ステッピン グモータが用いられている。

 また、図2~図5に示したように、従動ギヤ5 上には回転ベース9が一体に固定されている この回転ベース9には、原点検出手段すなわ 原点検出装置としてのフォトセンサ9aが取 付けられている。この場合、例えば、ベー 2上に、原点位置指示用の発光装置9bを発光 段として配設しておいて、この発光装置9bか ら線状又は点状の光束を原点マークとして上 方に向けて照射し、この原点マークとしての 光束をフォトセンサ9aが検出したときに、回 ベース9の水平回転の原点位置とすることが できる。尚、原点検出装置は、実質的にフォ トセンサ9aと発光装置9bとを備えている。ま 、原点検出装置としては、透過型のフォト ンサや反射型のフォトセンサ或いは近接セ サ等の周知の技術を採用することができる

 更に、回転ベース9の長手方向両端部には 、図2~図4に示したように、上下に延び且つ互 いに対向する平行なレール取付板10,11が一体 固定されている。また、図3に示したように レール取付板10の一側部とレール取付板11の 側部には側板12の長手方向端部がそれぞれ固 定され、図4に示したようにレール取付板10の 他側部とレール取付板11の他側部には側板13 長手方向端部がそれぞれ固定されている。

 また、図2~図4に示したように、対向する ール取付板10,11の上部間には互いに平行で つ軸状の一対のガイドレール14,14が水平に配 設されている。この各ガイドレール14の両端 はレール取付板10,11に固定されていて、ガ ドレール14,14にはスライダ15が長手方向に進 移動可能に保持されている。

 更に、側板12には、図2,図3に示したよう 、レール取付板10に近接させて側方に水平に 突出するプーリ支持板部12aが折曲により一体 に形成されていると共に、レール取付板11に 接させてモータ取付用のブラケット16が固 されている。

 そして、プーリ支持板部12aには従動プー 17が上下に延びる軸線を中心に水平回転自 に取り付けられ、ブラケット16にはスライダ 移動用の駆動モータ18の上端部が固定されて る。この駆動モータ18にはDCモータが用いら れている。また、この駆動モータ18は出力軸1 8aの軸線が上下に向けられていて、この出力 18aには図5B,図5Cに示すように駆動プーリ19が 取り付けられている。

 このプーリ17,19には環状のワイヤ20が掛け 渡され、このワイヤ20の一端部近傍の部分は 状のワイヤ保持部材21に保持されている。 のワイヤ保持部材21はブラケット22,22″を介 てスライダ15に固定されている。また、ワ ヤ20の両端部はコイルスプリング23を介して 結されている。これにより、駆動モータ18 正転又は逆転させると、出力軸18a及び駆動 ーリ19が正転又は逆転させられて、スライダ 15が図3中左又は右に移動させられるようにな っている。

 また、ブラケット22″と側板12との間には 、図5Dに示したように、スライダ15の移動位 (移動量)の原点を検出するための原点センサ 20aが原点検出手段すなわち原点検出装置とし て介装されている。この原点センサ20aには反 射型のセンサを用いている。このセンサは、 上下に延びるスリット状の反射面(図示せず) 設けられた反射板20bを有すると共に、発光 子と受光素子を備えた反射型のフォトセン 20cを有する。そして、反射板20bはブラケッ 22″に設けられ、フォトセンサ20cは側板12に 設けられている。

 尚、原点センサ20aとしては、透過型のフ トセンサや近接センサ等の周知の技術を採 することができる。

 また、図4の側板13の長手方向中央部には 図5のように側方に水平に突出する支持板部 13aが一体に折曲により形成されている。この 側板13とスライダ15との間には、図4に示した うに、ガイドレール14の延びる方向へのス イダ15の水平方向の移動位置を検出するリニ アスケール24が介装されている。このリニア ケール24は、玉型の周面の周方向における 数の位置を検出する際に用いる位置検出装 (位置測定手段)、即ち玉型の動径を検出する 際に用いる動径検出センサ(動径検出装置)と て機能する。

 このリニアスケール24は、ガイドレール14 と平行にスライダ15に保持された軸状のメイ スケール25と、支持板部13aに固定されてメ ンスケール25の位置情報を読み取る検出ヘッ ド26を備えている。この検出ヘッド26は、メ ンスケール25の位置検出用情報(移動量検出 情報)からスライダ15の水平方向への移動位 を検出するようになっている。このリニア ケール24には、例えば周知の磁気式のものや 光学式のものを用いることができる。

 例えば、磁気式の場合、メインスケール2 5に軸線方向に磁極S,Nの磁気パターンを位置 出用情報(移動量検出用情報)として交互に微 小間隔で設けておいて、この磁気パターンを 検出ヘッド(磁気変化検出用ヘッド)26で検出 ることにより、スライダ15の移動量(移動位 )を検出できる。また、光学式の場合、メイ スケール25を板状に形成し且つこのメイン ケール25に長手方向に微小間隔のスリットを 設け、メインスケール25を挟むように発光素 と受光素子を配設すると共に、発光素子か の光をメインスケール25のスリットを介し 受光素子により検出して、スリットの数を めることにより、スライダ15の移動量(移動 置)を検出できる。

 また、スライダ15の略中央部には図2に示し ように貫通孔15aが形成され、この貫通孔15a は上下に延びるガイド筒27が挿通されてい 。このスライダ15の下方には、図4に示した うに、支持枠28が配設されている。
この支持枠28は、上端部がスライダ15に保持 れた縦フレーム29,30と、縦フレーム29,30の下 部に固定された横板(底板)31を備えている。

 この横板(底板)31には、上下に延び且つ互 いに平行に設けられた軸状の一対の支持部材 32,32の下端部が固定されている(図8参照)。こ 支持部材32,32の上端部には保持部材(連結部 )33が固定され、この保持部材33には側面形 をL字状に形成したガイド支持部材34の縦壁34 aが固定されている。このガイド支持部材34の 横壁(上壁)34b上にはガイド筒27の下端部が固 されている。

 そして、ガイド筒27には上下に延びる測 子軸35が上下動自在に嵌合保持され、測定子 軸35の上端部には測定子取付部材36が一体に けられている。この測定子取付部材36は、測 定子軸35の上端部に垂直に取り付けられた取 部36aと、取付部36aから上方に延びる垂直部3 6bからL字状に形成されている。この垂直部36b の上端部には取付部36aと平行にレンズ枠用測 定子37が一体に設けられている。

 しかも、測定子取付部材36の上端には、 9,図10に示したように、上方に突出する玉型 測定子38が一体に設けられている。この玉 用測定子38は、測定子軸35の軸線と平行に測 子取付部材36の垂直部36bの上端に取り付け 軸状測定部38aと、軸状測定部38aの上端部に けた先細りのテーパ部38bと、テーパ部38bの 端に連設された小径の穴係合軸部38cを有す 。尚、穴係合軸部38cの上端(先端)部は半球状 に形成され、その先端38c1は軸状測定部38aの 線と一致している。また、測定子取付部材36 の上端には、軸状測定部38aの基部外周に位置 させて角測定部としての段面38dが設けられて いる。この軸状測定部38aと段面38dの角には、 玉型Lmの玉型形状を玉型用測定子で測定する に、玉型Lmのコバ角が接触するように設け れている。

 しかも、前記演算制御回路52は、測定子 動装置(駆動モータ6)を動制御して前記周面 定部(軸状測定部38a)を前記外周面に接触させ 且つ前記角測定部(段面38d)を前記コバ角に接 させながら周方向に移動させて、また、図6 ~図8に示したように、測定子軸35の下端部に ブラケット39が固定されている。しかも、図 13に示したように、ブラケット39とガイド支 部材34との間には、上下方向の移動位置を検 出するリニアスケール40が上下方向の位置検 装置(位置検出手段)すなわち高さ検出セン (高さ検出手段である高さ検出装置)として介 装されている。

 このリニアスケール40は、上下に向けて 定子軸35と平行に配設された軸状のメインス ケール41と、メインスケール41の上下方向へ 移動量から測定子37,38の上下方向への移動位 置を検出する検出ヘッド42を備えている。こ メインスケール41は、上端部が保持部材33に 固定され且つ下端部がブラケット39に固定(又 は保持)されている。また、検出ヘッド42は、 保持部材33に保持されている。このリニアス ール40にも上述したリニアスケール24と同様 な磁気式又は光学式のものを採用する。

 尚、図6~図8に示したように、ブラケット3 9と横板(底板)31との間には測定子軸35を上方 バネ付勢するコイルスプリング43が介装され ている。更に、測定子軸35の下端部近傍には ブラケット39の上方に位置し且つ測定子軸35 と直交する係合軸44が取り付けられている。 た、横板(底板)31上には図6に示したようにU 状に形成したブラケット45が固定され、こ ブラケット45の対向壁45a,45aには支持軸46の両 端部が軸線周りに回動可能に保持され、この 支持軸46に押さえレバー47が固定されている この押さえレバー47は係合軸44の上部に当接 せられている。しかも、この押さえレバー4 7と横板31との間にはレバー引き下げ用の引張 りコイルスプリング48が介装されている。こ 引張りコイルスプリング48の引張りバネ力 、コイルスプリング43のバネ力よりも大きく 設定されている。

 また、支持軸46には、上昇位置規制レバ 49が固定されている。この上昇位置規制レバ ー49は、押さえレバー47による係合軸44の上昇 位置を規制して、測定子軸35及びレンズ枠用 定子37と玉型用測定子38の上昇位置を設定す るのに用いられる。この上昇位置規制レバー 49は押さえレバー47と同方向に延びている。

 そして、この上昇位置規制レバー49の下方 はアクチュエータモータ50が配設されている 。このアクチュエータモータ50は、横板31上 固定されたモータ本体50aと、このモータ本 50aから上方に向けて突出し且つ軸線が測定 軸35と平行に設けられたシャフト51を有する このシャフト51の上端には、位置規制レバ 49が引張りコイルスプリング48の引張りバネ により当接させられている。
 尚、このアクチュエータモータ50にはDCモー タが用いられている。しかも、アクチュエー タモータ50は、正転させることによりシャフ 51が上方に進出し、逆転させることにより ャフト51が下方に移動するようになっている 。

 尚、コイルスプリング43,支持軸46,押さえレ ー47,引張りコイルスプリング48,上昇位置規 レバー49,アクチュエータモータ50等は、測 子37,38の昇降機構を構成している。
<制御回路>
 また、図10Aに示したように上述したフォト ンサ(原点検出装置)9aからの原点検出信号, 点検出装置(原点検出手段)であるフォトセン サ20cからの原点検出信号,リニアスケール24の 検出ヘッド26からの移動量検出信号(位置検出 信号)、及びリニアスケール40の検出ヘッド42 らの移動量検出信号(位置検出信号)等は、 算制御回路(制御回路)52に入力されるように っている。また、この演算制御回路52は、 動モータ6,18及びアクチュエータモータ50を 動制御するようになっている。

 また、スライド枠3,3の一方の側壁には、図1 に示したようにホルダー検出装置53がホルダ 検出手段として設けられている。このホル ー検出装置53には、マイクロスイッチ等が いられている。このホルダー検出装置53から の検出信号は、図10Aに示したように演算制御 回路52に入力されるようになっている。図中 54は測定開始用のスタートスイッチである
[作用]
 以下、このような玉型形状測定装置の作用 説明する。
(a)レンズ枠形状の測定
 この玉型形状測定装置でメガネのレンズ枠 形状測定、又はデモレンズ等の玉型の形状 定を行う前には、アクチュエータモータ50 シャフト51の上端が図6~図8に示したように最 下端(下死点)に位置している。この位置では さえレバー47が、コイルスプリング43よりも バネ力の強い引張りコイルスプリング48によ て、支持軸46を中心に下方に回動するよう 動付勢されている。これにより押さえレバ 47は、係合軸44を介して測定子軸35を下方に し下げて、レンズ枠用測定子37及び玉型用測 定子38を最下端に位置させている。

 この状態の玉型形状測定装置でメガネの ンズ枠の形状測定を行う場合には、例えば 開平10-328992号公報におけるように、図7の左 右のレンズ枠LF(RF)を有するメガネフレームMF 図1のスライド枠3,3間に配設し(図1ではメガ フレームMFの図示を省略)、レンズ枠LF(RF)を 7の如く保持棒3b1,3b2間で挟持させる。この 持は特開平10-328992号公報と同様である。

 また、この保持棒3b1,3b2間に保持されたレ ンズ枠LF(RF)は、図7に示したように測定開始 の状態ではレンズ枠用測定子37よりも上方に 位置するように設定されている。即ち、レン ズ枠用測定子37は、レンズ枠LF(RF)よりも下方 初期位置(イ)に位置させられている。しか 、図7に示したように、レンズ枠用測定子37 び玉型用測定子38は、保持棒3b1,3b2間に保持 れたレンズ枠LF(RF)の略中央の初期位置(i)に 応するように位置させられる。

 この位置では、フォトセンサ9aが発光装 9bからの光束から回転ベース9の水平回転の 点を検出し、原点センサ20aがスライダ15の移 動位置の原点を検出している状態となってい る。

 尚、レンズ枠が三次元方向に湾曲してい も、レンズ枠の保持棒3b1,3b2による保持部分 は他の部分よりも最も低く設定した高さとな る。この保持部分では、レンズ枠LF(RF)のヤゲ ン溝Ymの高さも設定した高さとなり、レンズ の形状測定開始位置Bとなる。

 この状態から図10Aのスタートスイッチ54 ONさせると、演算制御回路52はアクチュエー モータ50を正転させて、図6~図8の位置から ャフト51を図11~図14の位置まで上方に所定量 け進出(上昇)させる。この際、シャフト51は 、上昇位置規制レバー49の自由端部を引張り イルスプリング48のバネ力に抗して上方に 定量持ち上げて、上昇位置規制レバー49を支 持軸46と一体に回動させる。

 これに伴い、押さえレバー47は、支持軸46 と一体に回動して、自由端部が上方に所定量 上昇させられる。この押さえレバー47の自由 部の上昇により、係合軸44がコイルスプリ グ43のバネ力により押さえレバー47の自由端 に追従して上昇させられ、測定子軸35が所 量上昇させられる。

 この測定子軸35の上昇量、即ちアクチュ ータモータ50によるシャフト51の上方への進 (上昇)量は、レンズ枠用測定子37の先端が図 7の初期位置(イ)から上述した形状測定開始位 置Bのヤゲン溝Ymに臨む高さ(ロ)まで上昇する Lとなる。

 そして、演算制御回路52は、駆動モータ18 を駆動制御して駆動プーリ19を回転させ、図2 ,図5Bのワイヤー20によりスライダ15をガイド ール14に沿って移動させる。この際、スライ ダ15は図7の矢印A1方向に移動させられる。こ 移動は、レンズ枠用測定子37の先端が形状 定開始位置Bで図12の如くヤゲン溝Ymに当接さ せられるまで行われる。しかも、レンズ枠用 測定子37の先端がヤゲン溝Ymに当接した状態 は、レンズ枠用測定子37はヤゲン溝Ymにコイ スプリング23のバネ力で弾接させられる。 の状態で、駆動モータ18が停止させられる。

 尚、レンズ枠用測定子37の先端がヤゲン Ymに当接したときには駆動モータ18にかかる 荷が増大して、駆動モータ18に流れる電流 増大するので、この電流変化を検出するこ で、レンズ枠用測定子37の先端がヤゲン溝Ym 当接したのを検出して、駆動モータ18を停 させることができる。

 この後、演算制御回路52は、更にアクチ エータモータ50を正転させて、図11~図14の位 からシャフト51を図15~図17の位置まで上方に 所定量だけ進出(上昇)させる。この際、シャ ト51は、上昇位置規制レバー49の自由端部を 引張りコイルスプリング48のバネ力に抗して 方に所定量持ち上げて、上昇位置規制レバ 49を支持軸46と一体に回動させる。

 これに伴い、押さえレバー47は、支持軸46 と一体に回動して、自由端部が上方に所定量 上昇させられ、この押さえレバー47の自由端 が係合軸44から所定量離反させられ、測定 軸35が上下変移可能となる。

 次に、演算制御回路52は、駆動モータ6を 動制御して、駆動モータ6を正転させる。こ の駆動モータ6の回転は、ピニオン7,タイミン グベルト8を介して従動ギヤ5に伝達され、従 ギヤ5が回転ベース9と一体に水平回転させ れる(図5A参照)。

 この回転ベース9の回転に伴い、スライダ 15及びこのスライダ15に設けられた多数の部 が回転ベース9と一体に水平回転し、レンズ 用測定子37の先端がヤゲン溝Ymに沿って摺接 移動する。この際、スライダ15がレンズ枠用 定子37と一体にガイドレール14に沿って移動 するので、スライダ15の原点位置からこのス イダ15が移動したときの移動量は、レンズ 用測定子37の先端の移動量と同じになる。こ の移動量は、リニアスケール24の検出ヘッド2 6の検出信号から演算制御回路52により求めら れる。

 しかも、測定子軸35の中心からレンズ枠 測定子37の先端までの寸法(長さ)は既知であ ので、スライダ15が原点にあるときの回転 ース9の回転中心からレンズ枠用測定子37の 端までの距離を予め設定しておけば、スラ ダ15がガイドレール14に沿って移動したとき おいて、回転ベース9の回転中心からレンズ 枠用測定子37の先端までの距離が変化しても この距離の変化は動径ρiとすることができ 。

 従って、駆動モータ6の回転による回転ベ ース9の回転角θiを駆動モータ6の駆動パルス から求め、この回転角θiに対応する動径ρi 求めることで、レンズ枠LF(RF)のヤゲン溝Ym 周方向の形状(レンズ枠形状)を極座標形式の レンズ枠形状情報(θi,ρi)として求めることが できる。

 また、レンズ枠用測定子37の先端がヤゲ 溝Ymに沿って摺接移動する際、レンズ枠LF(RF) に上下方向の湾曲がある場合、この上下方向 への湾曲状態はリニアスケール40の検出ヘッ 42の検出信号から演算制御回路52により上下 方向の変位量として求められる。この上下方 向への変位量は、上下方向の位置Ziとなる。

 従って、レンズ枠LF(RF)のレンズ枠形状は、 算制御回路52により三次元のレンズ枠形状 報(θi,ρi,Zi)として求められる。
(b)デモレンズ等の玉型の測定
(b-1)デモレンズ等の玉型のセット
 玉型形状測定装置でデモレンズ等の玉型の 状測定を行う場合には、例えば特開平10-3289 92号公報や特開平8-294855号公報等に開示され 周知の玉型ホルダーを用いることができる この特開平10-328992号公報の玉型ホルダーに モレンズ等の玉型を保持させるためには、 開平8-294855号公報に開示されたような吸着盤 及び吸着盤保持構造を採用できる。この玉型 ホルダーの構造はこの発明の本質ではないの で、その詳細な説明は省略する。

 上述した玉型ホルダーにデモレンズ等の玉 を保持させて、玉型ホルダーをスライド枠3 ,3間に配設し、特開平10-328992号公報の玉型ホ ダーの側壁又は特開平8-294855号公報の側部 フランジを固定保持棒3b1と可動保持棒3b2と 間で挟持させる。この際、玉型ホルダーに 持された玉型は、下方に向けられることに る。
(b-2)標準の玉型への玉型用測定子38の当接動 1
 この玉型ホルダー(図示せず)がホルダー検 装置53により検出されると、この検出信号が 演算制御回路52に入力される。これにより、 算制御回路52は、スライダ15を原点位置から ガイドレール14に沿って所定量移動させ、玉 用測定子38を玉型ホルダー(図示せず)に保持 された玉型の周縁の外側下方に位置させる。

 次に、演算制御回路52は、上述したよう アクチュエータモータ50を正転させて、レン ズ枠用測定子37を上述した図7の初期位置(イ) ら高さ(ロ)まで上昇させる。これに伴い、 型用測定子38もレンズ枠用測定子37と一体に 昇して、玉型ホルダー(図示せず)に保持さ た玉型の周縁に対応する高さまで上昇する

 この後、演算制御回路52は、駆動モータ18 を駆動制御して、駆動モータ18の回転をワイ 20でスライダ15に伝達させ、図18に示したよ に玉型用測定子38が玉型ホルダー(図示せず) に保持された玉型Lmの周面に当接するまで移 するように、スライダ15をガイドレール14に 沿って移動制御する。そして、図18に示した うに玉型用測定子38が玉型Lmの周面に当接し た後、駆動モータ18を停止させる。

 この際、このような制御は、予め実験等で められた標準の玉型のデータに基づいて行 ことができる。
(b-2)玉型への玉型用測定子38の当接動作2
 尚、玉型用測定子38を玉型Lmの周面に当接さ せる手順としては、他の方法でも良い。即ち 、先ずアクチュエータモータ50を正転させて 上昇位置規制レバー49の自由端部を図7の位 から引張りコイルスプリング48のバネ力に して上方に図15~図17の位置まで持ち上げ、支 持軸46を回動させる。この際、支持軸46は押 えレバー47を回動させて、押さえレバー47の 由端部を上昇位置規制レバー49の自由端部 同方向に上昇させる。これに伴い、係合軸44 がコイルスプリング43のバネ力により測定子 35と一体に上昇させられて、玉型用測定子38 が上昇させられ、玉型Lmの後側屈折面に当接 せられる。この後、駆動モータ18を駆動制 させて、スライダ15をガイドレール14に沿っ 所定速度で移動させ、玉型用測定子38を玉 Lmの後側屈折面に沿って周縁部側に移動させ て、玉型用測定子38を玉型Lmの後側屈折面の 縁から大きく外れる位置まで移動させる。 の際、玉型用測定子38が玉型Lmの後側屈折面 周縁から外れてコイルスプリング43のバネ によりレンズ枠用測定子37と一体に上昇して も、コイルスプリング43のバネ力は弱いので 玉型用測定子38の移動速度をある程度早く ておくことで、レンズ枠用測定子37が玉型Lm 衝突するのを回避できる。

 そして、玉型用測定子38が玉型Lmの後側屈折 面から外れる離脱位置は、玉型用測定子38が 昇したときの位置をリニアスケール40が検 することで判断できる。この離脱位置の玉 用測定子38の水平方向の位置はリニアスケー ル24の検出信号から得られる。従って、離脱 置におけるリニアスケール24,40からの検出 号により、玉型用測定子38が玉型Lmの後側屈 面から外れる位置は三次元座標データとし 求めることができる。また、この三次元座 データに基づいて、アクチュエータモータ5 0を駆動制御して上昇位置規制レバー49の自由 端部の高さを調整することで、押さえレバー 47の自由端部の高さを調整して、玉型用測定 38を玉型ホルダー(図示せず)に保持された玉 型Lmの周縁に対応する高さに調整できる。こ 後、演算制御回路52は、駆動モータ18を駆動 制御して、駆動モータ18の回転をワイヤ20で ライダ15に伝達させ、図18に示したように玉 用測定子38が玉型ホルダー(図示せず)に保持 された玉型Lmの周面に当接するまで移動する うに、スライダ15をガイドレール14に沿って 移動制御する。そして、図18に示したように 型用測定子38が玉型Lmの周面に当接した後、 駆動モータ18を停止させる。
(b-3)玉型用測定子38による玉型の周縁形状測
 この後、演算制御回路52は、更にアクチュ ータモータ50を正転させて、図11~図14の位置 らシャフト51を図15~図17の位置まで上方に所 定量だけ進出(上昇)させる。この際、シャフ 51は、上昇位置規制レバー49の自由端部を引 張りコイルスプリング48のバネ力に抗して上 に所定量持ち上げて、上昇位置規制レバー4 9を支持軸46と一体に回動させる。

 これに伴い、押さえレバー47は、支持軸46 と一体に回動して、自由端部が上方に所定量 上昇させられ、この押さえレバー47の自由端 が係合軸44から所定量離反させられ、測定 軸35が上下変移可能となる。この結果、玉型 用測定子38の下端周囲の段面38aがコイルスプ ング43のバネ力により玉型Lmのコバ端の下端 に当接させられる。

 次に、演算制御回路52は、駆動モータ6を 動制御して、駆動モータ6を正転させる。こ の駆動モータ6の回転は、ピニオン7,タイミン グベルト8を介して従動ギヤ5に伝達され、従 ギヤ5が回転ベース9と一体に水平回転させ れる。

 この回転ベース9の回転に伴い、スライダ 15及びこのスライダ15に設けられた多数の部 が回転ベース9と一体に水平回転し、玉型用 定子38が玉型Lmの周面(コバ端)に沿って摺接 動する。この際、スライダ15がレンズ枠用 定子37と一体にガイドレール14に沿って移動 るので、スライダ15の原点位置からこのス イダ15が移動したときの移動量は、レンズ枠 用測定子37の先端の移動量と同じになる。こ 移動量は、リニアスケール24の検出ヘッド26 の検出信号から演算制御回路52により求めら る。

 しかも、測定子軸35の中心からレンズ枠 測定子37の先端までの寸法(長さ)は既知であ ので、スライダ15が原点にあるときの回転 ース9の回転中心からレンズ枠用測定子37の 端までの距離を予め設定しておけば、スラ ダ15がガイドレール14に沿って移動したとき おいて、回転ベース9の回転中心から玉型用 測定子38までの距離が変化しても、この距離 変化は動径ρiとすることができる。

 従って、駆動モータ6の回転による回転ベ ース9の回転角θiを駆動モータ6の駆動パルス から求め、この回転角θiに対応する動径ρi 求めることで、玉型Lmの周面形状(玉型形状) を極座標形式の玉型形状情報(θi,ρi)として求 めることができる。

 また、玉型用測定子38が玉型Lmの周面に沿 って摺接移動する際、玉型Lmに上下方向の湾 がある場合、この上下方向への湾曲状態は ニアスケール40の検出ヘッド42の検出信号か ら演算制御回路52により上下方向の変位量と て求められる。この上下方向への変位量は 上下方向の位置Ziとなる。

 従って、玉型Lmの玉型形状は、演算制御 路52により三次元の玉型形状情報(θi,ρi,Zi)と して求められる。

 そして、演算制御回路52は、この玉型形状 報(θi,ρi,Zi)からダミーレンズである玉型Lmの 三次元周長を算出する。
(c)玉型Lmの後側屈折面の曲率の測定
 尚、(b)では三次元の玉型形状情報(θi,ρi,Zi) 求めて、ダミーレンズである玉型Lmの三次 周長を算出するようにしたが、必ずしもこ に限定されるものではない。

 即ち、上述した(b)の玉型Lmの周縁形状測定( 周形状測定)において二次元の玉型形状情報 (θi,ρi)しか得られない場合には、図19に示し 玉型Lmの後側屈折面fbの曲率を測定により算 出して、この算出した曲率と玉型形状情報(θ i,ρi)から玉型形状情報(θi,ρi)における玉型Lm コバ端の上下方向の位置Ziを求めることに り、三次元の玉型形状情報(θi,ρi,Zi)を得る とができる。そして、この三次元の玉型形 情報(θi,ρi,Zi)からダミーレンズである玉型Lm の三次元周長を算出することができる。以下 、玉型Lmの後側屈折面の曲率を求める手順を 明する。
ステップS1
 図20に示したように、ステップS1で玉型Lmの 縁形状測定(外周形状測定)において二次元 玉型形状情報(θi,ρi)を求め、ステップS2に移 行する。
ステップS2
 このステップS2で演算制御回路52は、図19に した玉型Lmの後側屈折面fbの曲率を測定する 。このためには、先ず上述したようにアクチ ュエータモータ50を(a)のレンズ枠の測定と同 に作動制御して、図示しないレンズホルダ に保持させた玉型Lmの後側屈折面fbに玉型用 測定子38の上端をコイルスプリング43のバネ で当接させる。

 ここで、玉型Lmは吸着盤に保持され、こ 吸着盤を図示しないレンズホルダーに着脱 能に取り付けることにより、玉型Lmはレンズ ホルダーに保持されている。しかも、レンズ ホルダーをレンズ枠3,3間に保持させた状態で は、レンズホルダーの吸着盤の上下に延びる 軸線(図示せず)とスライダ15が原点位置にあ ときの玉型用測定子38の上下に延びる軸線( 7の軸線O)とが一致するように設定しておく この軸線の一致位置(一致点)を、測定のX方 (玉型Lmの半径方向)の原点P0とする。

 また、図7に示したように、測定子軸35が も下方に降下させられて、レンズ枠用測定 37が初期位置(イ)にあるとき、玉型用測定子 38も最も下方の初期位置に位置させられてい 。このときの玉型用測定子38の上端(先端)位 置を初期位置(ハ)とし、この初期位置(ハ)を 21(a),図21(b)の測定のZ方向(上下方向)原点Z0と る。

 このような条件において演算制御回路52 、駆動モータ18を作動制御して、この駆動モ ータ18に連動するワイヤ20によりスライダ15を ガイドレール14に沿って移動させて、玉型用 定子38の上端(先端)を玉型Lmの半径方向(X方 )の測定ポイントP2,P1に順次移動させる。こ 測定ポイントP2はX方向原点X0から距離X2だけ 型Lmの半径方向(X方向)に移動させた位置で り、測定ポイントP1はX方向原点X0から距離X1( X1>X2)だけ玉型Lmの半径方向(X方向)に移動さ た位置である。

 この際、演算制御回路52は、玉型Lmの後側屈 折面fbの距離X2,X1におけるZ方向(上下方向)高 Z2,Z1をリニアスケール40からの移動量検出信 から演算して求め、ステップS3に移行する 尚、Z方向高さZ2,Z1は、Z方向原点Z0からの距 である。
ステップS3
 このステップS3で演算制御回路52は、玉型Lm 後側屈折面fbの曲率からカーブ値を求める ここで、玉型Lmの後側屈折面fbの曲率中心O1 らZ方向原点Z0までの距離をδZとすると、曲 中心O1から測定ポイントP2までの高さはZ1+δZ なり、曲率中心O1から測定ポイントP1までの 高さはZ1+δZとなる。従って、測定ポイントP2 座標は(X2,Z2+δZ)、測定ポイントP1の座標は(X1 ,Z1+δZ)となる。

 そして、このような測定ポイントP2の座標(X 2,Z2+δZ)と、測定ポイントP1の座標(X1,Z1+δZ)か 曲率を求めるために円の方程式を用いて、 算制御回路52により演算させる。この円の方 程式は、玉型Lmの曲率半径をRとすると、
 X 2 +Z 2 =R 2
となる。この方程式から測定ポイントP1を通 式は、
 (X1) 2 +(Z1+δZ) 2 =R 2    ・・・(1)
となる。また、測定ポイントP2を通る式は、
 (X2) 2 +(Z2+δZ) 2 =R 2    ・・・(2)
となる。この式(1)-(2)を行うと、
(X1) 2 -(X2) 2 +(Z1+δZ) 2 -(Z2+δZ) 2 =0
となる。これを展開すると、
(X1) 2 -(X2) 2 +(Z1) 2 +2(Z1)・δZ+δZ 2 -(Z2) 2 -2(Z2)・δZ-δZ 2 =0
となる。そして、この式は、
(X1) 2 -(X2) 2 +(Z1) 2 +2(Z1)・δZ-(Z2) 2 -2(Z2)・δZ=0
となる。この式をδZについてまとめると
[2(Z1)-2(Z2)]δZ=(X2) 2 -(X1) 2 +(Z2) 2 -(Z1) 2
となり、この式からδZを求めることができる 。即ち、δZは、

として得られる。

 ところで、眼鏡レンズのカーブ値は、図2 2に示したような1カーブから8カーブまでの範 囲で設定されている。この1カーブから8カー の曲率半径R1~R8は、表1に示したように、

となっている。そして、上述したX1,X2を、
 X1=10mm、X2=5mm
とすると、表1に示したように1カーブから8カ ーブに対応して測定ポイントP1,P2のZ方向差δL (δL1~δL8)が得られる。換言すれば、測定ポイ トP1,P2のZ方向差(図21のδL)が例えばδL1の0.287 程度の場合、デモレンズである玉型Lmの曲率 径は1カーブ(カーブ値1)に対応するR1の523mm あると判断できる。

 尚、測定ポイントP1,P2のZ方向差(図21のδL)と カーブ値Cvは線形近似で表すことができ、そ 方程式は、
カーブ値=3.3695×Z方向差δL+0.0809
となる。そして、このカーブ値とCvとZ方向差 δL(δL1~δL8)との関係は、図22(b)に示したよう 直線的に比例する。

 このように演算制御回路52は、玉型Lmの後側 屈折面fbのカーブ値を求めて、ステップS4に 行する。
ステップS4
 このステップS4で演算制御回路52は、Z方向 δL(δL1~δL8)に基づいて求めたカーブ値Cvと玉 形状情報(θi,ρi)とから、玉型Lmの後側屈折 fbの周縁のZ方向の位置情報Zbiを求め、ステ プS5に移行する。
ステップS5
 このステップS5で演算制御回路52は、二次元 の玉型形状情報(θi,ρi)とステップS4で求めた 型Lmの後側屈折面fbの周縁のZ方向の位置情 Zbiとから、三次元の玉型形状情報(θi,ρi,Zbi) 求めて終了する。尚、図示は省略したが、 の三次元の玉型形状情報(θi,ρi,Zbi)はメモリ に記憶させられる。
(d)リムレスフレームのナイロール等のための 係合溝の情報(データ)の周長演算及び係合溝 加工
 また、演算制御回路52は、玉型Lmの三次元の 玉型形状情報(θi,ρi,Zbi)が得られると、玉型 状情報(θi,ρi,Zbi)からナイロール等のリムレ フレームのための係合溝の周長を演算によ 求める。

 一方、メガネ装用者の被検眼の屈折情報 基づく眼鏡レンズの処方値から円形の未加 眼鏡レンズを選択して、この未加工眼鏡レ ズをレンズ研削加工装置(図示せず)の一対 レンズ回転軸間に保持させ、この未加工眼 レンズの二次元の玉型形状情報(θi,ρi)に対 する位置のコバ厚Wiをレンズ研削加工装置の コバ厚測定装置(コバ厚測定手段)で測定する このレンズ研削加工装置の構成には周知の のを採用できるので、図面を用いての説明 省略する。尚、コバ厚Wiの測定に際しては 未加工眼鏡レンズの前側屈折面のレンズ回 軸と平行な方向の位置Zciと、未加工眼鏡レ ズの後側屈折面のレンズ回転軸と平行な方 の位置Zdiが求められる。この位置Zci,Zdiの求 方も周知の方法を採用できる。

 そして、この未加工眼鏡レンズの周縁を 次元の玉型形状情報(θi,ρi)に基づいてレン 研削加工装置(図示せず)により平研削加工 て、玉型形状情報(θi,ρi,Wi)の眼鏡レンズを 成する。この後、レンズ研削加工装置に設 られる溝掘砥石(図示せず)を用いて、ナイロ ール等のリムレスフレームのための係合溝を 玉型形状情報(θi,ρi,Wi)の眼鏡レンズの周面に 形成する。

 この際、係合溝は、玉型形状情報(θi,ρi,W i)の眼鏡レンズの周面に玉型形状情報(θi,ρi,Z ci)又は玉型形状情報(θi,ρi,Zdi)に基づいて、 次元の玉型形状情報(θi,ρi,Zbi)の形状に形成 る。尚、この毛係合溝は、玉型の一方の屈 面と外周面との角部から所定距離の部分に 成される。従って、この玉型形状情報(θi,ρ i,Wi)の眼鏡レンズの周面に形成される係合溝 デモレンズ等の玉型Lmに設けられる係合溝 同じに形成されるので、溝掘フレームのハ フリムを眼鏡レンズの周面に装着する際、 のハーフリムの曲げ加工等を行う必要がな なる。

 以上説明したように、この発明の実施の 態の玉型形状測定装置は、測定装置本体1に 設けられる玉型保持手段すなわち玉型保持装 置(図示しない玉型ホルダー)と、前記玉型保 装置(玉型ホルダー)に保持された玉型Lmの周 縁形状を測定する玉型用測定子38と、前記玉 Lmの外周面に沿って移動させる測定子移動 段としての測定子移動装置(駆動モータ6)と 前記玉型用測定子38の座標を検出する位置検 出手段としての位置検出装置(リニアスケー 24,40)と、前記位置検出装置(リニアスケール2 4,40)からの検出信号に基づいて前記玉型Lmの 面形状データを二次元情報として求める演 制御回路52を備えている。しかも、前記演算 制御回路52は、前記測定子移動装置(駆動モー タ6)を制御して、前記玉型保持装置(玉型ホル ダー)に保持された玉型Lmの2つの屈折面の一 の少なくとも2点(測定ポイントP1,P2)に前記玉 型用測定子38を当接させて、前記位置検出装 (リニアスケール24,40)からの検出信号に基づ いて前記2点の座標を求め、前記2点の座標か 前記玉型の一方の屈折面の曲率であるカー 値Cvを求めるようになっている。

 この構成によれば、デモレンズ等の玉型 周面形状及び屈折面の曲率を求めることに り、溝掘フレームでもハーフリムの三次元 状を特定できる。この結果、この玉型形状 報(θi,ρi,Wi)の眼鏡レンズの周面に形成され 係合溝はデモレンズ等の玉型Lmに設けられ 係合溝と同じに形成できるので、溝掘フレ ムのハーフリムを眼鏡レンズの周面に装着 る際、このハーフリムの曲げ加工等を行う 要がなくなる。

 尚、玉型の周縁形状加工データは、玉型 一方の屈折面のカーブ値Cvと玉型の外周面 状データである玉型形状データ(θi,ρi)から めることができる。しかし、この玉型の周 形状加工データは、必ずしも玉型形状測定 置で求める必要はなく、レンズ周縁研削加 装置で求めても良い。従って、玉型の一方 屈折面のカーブ値Cvを求めておけば、眼鏡レ ンズの周面に形成される係合溝の加工形状を レンズ周縁研削加工装置で玉型形状情報(θi, i,Wi)で特定ができるので、玉型の周縁形状加 工データは必ずしも玉型形状測定装置で求め る必要はない。

 また、この発明の実施の形態のレンズ枠 状測定装置において、前記装置本体1はレン ズ枠保持装置(レンズホルダー)及び該レンズ 保持装置(レンズホルダー)に保持されるレ ズ枠LF(RF)のヤゲン溝Ymの周方向の三次元形状 を測定させるレンズ枠用測定子37を備え、前 玉型用測定子38は前記レンズ枠用測定子37に 設けられている。

 この構成によれば、玉型用測定子38はレ ズ枠用測定子37に設けられているので、測定 装置(測定手段)の構造を簡単にできる。

 更に、この発明の実施の形態のレンズ枠 状測定装置において、前記演算制御回路52 、前記玉型Lmのカーブ値Cv及び周面形状デー [玉型形状情報(θi,ρi)]から前記玉型Lmの前記 玉型の屈折面と外周面との間のコバ角の三次 元コバ角形状データ[玉型形状情報(θi,ρi,Zbi)] を求めて、前記三次元コバ角形状データ[玉 形状情報(θi,ρi,Zbi)]に基づいて前記玉型Lmの 周面へのコバ方向及び周方向への三次元溝 位置データを求めるように成っている。

 この構成によれば、リムレスフレームの めのナイロール等の係合溝を形成する位置 正確に求めることができる。

 尚、玉型Lmの屈折面と外周面との間のコ 角のデータは玉型Lmの周面形状と玉型Lmのレ ズ光軸方向への形状から構成される。従っ 、三次元コバ角形状データ[玉型形状情報(θ i,ρi,Zbi)]は、玉型Lmの周面に沿う玉型形状デ タ(θi,ρi)と、この玉型Lmのレンズ光軸方向へ のデータZbiとからなっているので、玉型の屈 折面と外周面との間のコバ角の三次元形状デ ータということができる。

 また、この発明の実施の形態のレンズ枠 状測定装置において、前記玉型用測定子38 前記玉型Lmの外周面に当接させる周面測定部 (軸状測定部38a)及び前記玉型Lmの一方の屈折 と外周面との間のコバ角に当接させる角測 部(段面38d)を備えている。しかも、前記演算 制御回路52は、測定子移動装置(駆動モータ6) 作動制御して前記周面測定部(軸状測定部38a )を前記外周面に接触させ且つ前記角測定部( 面38d)を前記コバ角に接触させながら周方向 に移動させて、前記位置検出装置(リニアス ール24,40)からの検出信号に基づいて前記三 元コバ角形状データ[玉型形状情報(θi,ρi,Zbi) ]を求めるようになっている。

 この構成によれば、三次元コバ角形状デ タ[玉型形状情報(θi,ρi,Zbi)]を簡単に求める とができる。

 また、この発明の実施の形態のレンズ枠 状測定装置は、更にレンズの材質を入力す 材質入力装置(材質入力手)を備えることで る。例えば、図1の装置本体1の下部,側面の び上部の一部は、図10Bに示した本体ケースHc (図1では図示せず)により覆われるようになっ ているので、この本体ケースHcに液晶表示器L dpを表示装置として設け、この液晶表示器Ldp レンズ材質の材質選択メニューを表示させ と共に、この材質選択メニューからレンズ 質を選択するキーボードKbを設けて、この ーボードKbをレンズ材質入力装置としてもよ い。

 そして、このキーボードKbには「-+」スイ ッチSa又は「△」カーソルキーc1,「▽」カー ルキーc2が設けられていて、「-+」スイッチ Sa又は「△」カーソルキーc1,「▽」カーソル ーc2の操作は図10Cの演算制御回路52に入力さ れるようになっている。また、演算制御回路 52は、液晶表示器Ldpを制御して、「ガラス], プラスチック」,「孔屈折率プラスチック」, 「ポリカーボネート」,「アクリル」等のレ ズ材質の選択メニューを液晶表示器Ldpに表 させるようになっている。

 また、演算制御回路52は、「-+」スイッチ Sa又は「△」カーソルキーc1,「▽」カーソル ーc2の操作により、液晶表示器Ldpに表示さ た「ガラス],「プラスチック」,「孔屈折率 ラスチック」,「ポリカーボネート」,「アク リル」等のレンズ材質のいずれかを選択させ るようになっている。尚、液晶表示器Ldpにタ ッチセンサを設けて、このタッチセンサをレ ンズ材質入力装置とすることもできる。

 しかも、前記演算制御回路52は、前記周 形状データと前記材質入力装置により入力 れるレンズの材質とから前記玉型Lmの周方向 における三次元コバ厚データを求めて、前記 三次元コバ角形状データ[玉型形状情報(θi,ρi ,Zbi)]及び前記三次元コバ厚データ[玉型形状 報(θi,ρi,Zbi)]に基づいて前記玉型の外周面へ のコバ方向及び周方向への三次元溝掘位置デ ータを求めるようになっている。

 この構成によれば、三次元溝掘位置データ 得られるので、三次元溝掘位置データを用 ることにより眼鏡レンズの周面への溝掘加 を正確に行うことができる。
 




 
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