Titel

Chiplabor-Analysegerät und Gehäuse für ein Chiplabor-Analysegerät

Stand der Technik

Die Erfindung geht von einer Vorrichtung nach Gattung der unabhängigen Ansprüche aus.

In-vitro-Diagnostik (IVD) ist ein Feld von Medizinprodukten, welche aus humanen Proben spezifische Größen, wie z. B. Konzentration eines Moleküles,

Vorhandensein einer bestimmten DNA-Sequenz, Zusammensetzung von Blut etc., messen und eine Diagnose und Behandlungsentscheid zulassen. Dies kann in einer Verkettung von mehreren Laborschritten geschehen, wobei eine Probe so aufbereitet werden kann, dass eine Zielgröße störungsfrei messbar ist. Dabei können verschiedene Labormethoden angewandt werden, die jeweils ein für die Methode geeignetes Analysegerät aufweist. In patientennahen Geräten, sogenannten point-of-care-Geräten, kann es beispielsweise das Ziel sein, solche In-vitro-Diagnostik-Tests in einem Gerät abzubilden und eine Anzahl manueller Schritte seitens des Benutzers auf ein Minimum zu reduzieren. Dabei kann die Probe bzw. das Sample in eine Einwegkartusche eingegeben werden. Nach einer Eingabe der Kartusche in das Analysegerät kann der Diagnosetest vollautomatisch abgearbeitet werden. Solche Analysegeräte können

wartungsrelevante Komponenten wie beispielsweise Luftfilter oder Dichtlippen aufweisen. Auch können solche die Analysegeräte bei Wartungsarbeiten, z. B. bei einer Justierung von Optiken, geöffnet werden. Insbesondere wenn elektrische Spannungen von beispielsweise 100 bis 230 Volt an das

Analysegerät z. B. mittels Kaltgerätestecker herangeführt sind, sollten diese aus Sicherheitsaspekten vor dem Öffnen des Analysegerätes getrennt werden. Offenbarung der Erfindung

Vor diesem Hintergrund werden mit dem hier vorgestellten Ansatz ein Gehäuse für ein Chiplabor-Analysegerät und ein Chiplabor-Analysegerät gemäß den Hauptansprüchen vorgestellt. Durch die in den abhängigen Ansprüchen aufgeführten Maßnahmen sind vorteilhafte Weiterbildungen und Verbesserungen der im unabhängigen Anspruch angegebenen Vorrichtung möglich.

Gemäß Ausführungsformen kann insbesondere eine konstruktive Auslegung bzw. Ausformung eines Gehäuses für ein Chiplabor-Analysegerät vorgesehen sein, um eine Trennung einer elektrischen Energieversorgung während

Instandhaltungsarbeiten mit teilweisem oder vollständigem Öffnen des Gerätes zu erzwingen oder zumindest zu fördern. Hierbei kann das Gehäuse

beispielsweise so ausgeformt sein, dass ein Zugang für die Energieversorgung und ein Zugang zum Inneren des Chiplabor-Analysegerätes und zusätzlich oder alternativ zu instandhaltungsbedürftigen Komponenten auf unterschiedlichen Geräteseiten angeordnet sind. Durch eine Formgebung des Gehäuses kann zum Durchführen von Instandhaltungsarbeiten insbesondere ein Umlagern einer Standfläche des Chiplabor-Analysegerätes, an welcher der Zugang zum Inneren des Gerätes und zusätzlich oder alternativ zu instandhaltungsbedürftigen Komponenten angeordnet ist, auf jene Fläche oder Seite mit dem Zugang für die Energieversorgung verlangt und begünstigt werden.

Vorteilhafterweise kann gemäß Ausführungsformen insbesondere ein Gehäuse für ein Chiplabor-Analysegerät bzw. sogenanntes Lab-on-Chip-Analysegerät so ausgeformt sein oder werden, dass eine sichere Trennung einer elektrischen Energieversorgung während Instandhaltungsarbeiten erreicht werden kann. Hierbei kann durch eine Geometrie des Gehäuses verlangt oder begünstigt werden, dass das Chiplabor-Analysegerät durch Abziehen eines Stromkabels aus dem Gerät spannungsfrei geschaltet wird, bevor das Chiplabor-Analysegerät für Instandhaltungsarbeiten auf jene Seite mit dem Zugang für die

Energieversorgung gekippt werden kann, um an den Zugang zum Inneren des Gerätes und zusätzlich oder alternativ an den Zugang zu

instandhaltungsbedürftigen Komponenten zu gelangen. Damit kann

insbesondere bei einem Auswechseln von Luftfilterelementen, beispielsweise Filtermaten, zunächst ein Lüfter gestoppt werden, bevor zum Beispiel eine als Zugang fungierende Klappe mit dem zu tauschenden Filterelement entnommen wird, wodurch der bei Spannungsversorgung rotierende Lüfter zuverlässig gestoppt werden kann. Somit kann eine Sicherheit für einen Benutzer bei einer Durchführung von Instandhaltungsarbeiten erhöht werden. Durch das

erzwungene oder begünstigte Trennen der Energieversorgung kann verhindert werden, dass ein Benutzer oder Servicetechniker bei Instandhaltungsarbeiten beim partiellen oder vollständigen Öffnen des Gerätes an spannungsführende Komponenten und zusätzlich oder alternativ sich bewegende Teile greift.

Es wird ein Gehäuse für ein Chiplabor-Analysegerät vorgestellt, wobei das Gehäuse folgende Merkmale aufweist: eine Kartuschenöffnung zum Einbringen einer Kartusche mit zu analysierendem Material in das Chiplabor-Analysegerät; eine Rückseite mit einer Anschlussöffnung zum Anschließen eines Kabels zur Energieversorgung an das Chiplabor-Analysegerät; und eine Standflächenseite mit einer Instandhaltungsschnitstelle zum Instandhalten des Chiplabor-Analysegerätes, wobei die Standflächenseite ausgeformt ist, um bei einem Betrieb des Chiplabor-Analysegerätes als Standfläche des Chiplabor- Analysegerätes zu fungieren, wobei die Rückseite ausgeformt ist, um bei aus der Anschlussöffnung entferntem Kabel und bei dem Instandhalten des Chiplabor- Analysegerätes als weitere Standfläche des Chiplabor-Analysegerätes zu fungieren.

Das Chiplabor-Analysegerät kann auch als ein Lab-on-chip-Analysegerät bezeichnet werden. Das Gehäuse kann ausgeformt sein, um das Chiplabor- Analysegerät vollständig oder zu einem Großteil einzuhausen. Bei der Kartusche kann es sich um eine mikrofluidische Chiplabor- Kartusche oder Lab-on-chip- Kartusche handeln. Die Kartuschenöffnung kann beispielsweise auf der

Vorderseite oder Oberseite des Gehäuses angeordnet sein. Die

Anschlussöffnung kann als eine Durchgangsöffnung durch das Gehäuse zum Einführen eines Steckers des Kabels ausgeformt sein. Durch die Anschlussöffnung kann eine Anschlussbuchse des Chiplabor-Analysegerätes zugänglich sein oder die Anschlussöffnung kann als eine solche

Anschlussbuchse ausgeformt sein. Bei dem Stecker kann es sich um einen Kaltgerätestecker handeln. Die Instandhaltungsschnittstelle kann ausgeformt sein, um einen Zugriff auf zumindest eine instandhaltungsbedürftige Komponente des Chiplabor-Analysegerätes zu ermöglichen.

Gemäß einer Ausführungsform können die Rückseite und die Standflächenseite aneinander angrenzende Flächen mit einer gemeinsamen Kante sein. Für Instandhaltungsarbeiten an dem Chiplabor-Analysegerät kann eine

Kippbewegung über die gemeinsame Kante ausgeführt werden. Eine solche Ausführungsform bietet den Vorteil, dass ein Wechsel von der Standflächenseite als Standfläche im Normalbetrieb des Chiplabor-Analysegerätes zu der

Rückseite als weitere Standfläche für Instandhaltungsarbeiten begünstigt oder gefördert werden kann, weil lediglich eine Kippbewegung von einer Seite auf eine angrenzende Seite durchzuführen ist. Das Chiplabor-Analysegerät kann eine Größe und ein Gewicht aufweisen, die es einer Bedienperson ermöglichen, die Kippbewegung einfach und ohne Hilfsmittel durchzuführen.

Dabei kann die Anschlussöffnung benachbart zu der gemeinsamen Kante angeordnet sein. Genauer gesagt kann die Anschlussöffnung in einem die gemeinsame Kante aufweisenden Drittel der Rückseite des Gehäuses angeordnet sein. Eine solche Ausführungsform bietet den Vorteil, dass ein Wechsel von der Standfläche auf die weitere Standfläche für

Instandhaltungsarbeiten lediglich bei abgezogenem Kabel ermöglicht wird.

Auch kann die gemeinsame Kante abgerundet sein. Eine solche

Ausführungsform bietet den Vorteil, dass eine Kippbewegung von der

Standflächenseite auf die Rückseite noch weiter erleichtert werden kann.

Gemäß einer Ausführungsform können die Rückseite und die Standflächenseite einen spitzen Winkel oder einen rechten Winkel zwischen einander aufspannen. Eine solche Ausführungsform bietet den Vorteil, dass ein sicherer Stand des Chiplabor-Analysegerätes erreicht werden kann, selbst wenn für

Instandhaltungsarbeiten die weitere Standfläche genutzt wird. Ferner kann das Gehäuse zumindest ein elastisches Element aufweisen, das sich über einen Teilabschnitt der Standflächenseite und zusätzlich oder alternativ über einen Teilabschnitt der Rückseite erstreckt. Hierbei kann mindestens ein elastisches Element durchgehend ausgeformt sein. Das zumindest eine elastische Element kann beides Weise aus Gummi oder dergleichen ausgeformt sein. Eine solche Ausführungsform bietet den Vorteil, dass ein Verrutschen des Chiplabor-Analysegerätes vermieden werden kann. Bei einer durchgehenden Ausformung mindestens eines elastischen Elements, das sich über einen Teilabschnitt der Standflächenseite und über einen Teilabschnitt der Rückseite erstreckt, kann zudem eine Kippbewegung von der Standflächenseite auf die Rückseite unterstützt werden.

Insbesondere kann die Instandhaltungsschnittstelle zumindest eine Klappe aufweisen, mittels derer eine Gehäuseinnenseite, ein Luftfilter und zusätzlich oder alternativ eine andere Funktionskomponente des Chiplabor-Analysegerätes für das Instandhalten zugänglich machbar ist. Eine andere

Funktionskomponenten kann beispielsweise ein Dichtelement sein, insbesondere eine Dichtlippe oder dergleichen. Eine solche Ausführungsform bietet den Vorteil, dass eine einfache Instandhaltung von Funktionskomponenten des Chiplabor- Analysegerätes ermöglicht wird.

Auch kann das Gehäuse eine weitere Anschlussöffnung zum Anschließen mindestens eines weiteren Kabels zur Datenübertragung an das Chiplabor- Analysegerät aufweisen. Die weitere Anschlussöffnung kann in der Rückseite des Gehäuses ausgeformt sein. Eine solche Ausführungsform bietet den Vorteil, dass zumindest ein Chiplabor-Analysegerät beispielsweise an ein Netzwerk, einen Zentralrechner oder dergleichen angeschlossen werden kann.

Zudem kann das Gehäuse ein Fenster für eine Lesevorrichtung zum Lesen optoelektronisch lesbarer Symbole aufweisen. Bei der Lesevorrichtung kann es sich um eine sogenannte Barcode-Lesevorrichtung zum Lesen von Strichcodes oder dergleichen handeln. Eine solche Ausführungsform bietet den Vorteil, dass an Kartuschen angebrachte optoelektronisch lesbare Symbole ausgelesen werden können, um für jede Art von Kartusche eine spezifische Analyse mittels des Chiplabor-Analysegerätes zu ermöglichen.

Es wird ferner ein Chiplabor-Analysegerät mit einer Ausführungsform des vorstehend genannten Gehäuses vorgestellt.

Hierbei können Funktionskomponenten des Chiplabor-Analysegerätes innerhalb des Gehäuses angeordnet sein. Anders ausgedrückt können

Funktionskomponenten des Chiplabor-Analysegerätes durch das Gehäuse gegenüber einer Umgebung geschützt angeordnet sein.

Ausführungsbeispiele des hier vorgestellten Ansatzes sind in den Zeichnungen dargestellt und in der nachfolgenden Beschreibung näher erläutert. Es zeigt:

Fig. 1 eine schematische Darstellung eines Chiplabor-Analysegerätes gemäß einem Ausführungsbeispiel;

Fig. 2 eine schematische Darstellung des Chiplabor-Analysegerätes aus Fig. 1 aus einer anderen Perspektive;

Fig. 3 eine schematische Darstellung des Chiplabor-Analysegerätes aus Fig. 1 bzw. Fig. 2 aus einer anderen Perspektive;

Fig. 4 eine schematische Darstellung des Chiplabor-Analysegerätes aus Fig. 1, Fig. 2 bzw. Fig. 3 aus einer anderen Perspektive;

Fig. 5 eine schematische Darstellung eines Teilabschnittes des Chiplabor- Analysegerätes aus Fig. 1, Fig. 2, Fig. 3 bzw. Fig. 4;

Fig. 6 eine schematische Darstellung des Chiplabor-Analysegerätes aus Fig. 1, Fig. 2, Fig. 3 bzw. Fig. 4 während eines Kippvorgangs von der

Standfläche auf die weitere Standfläche; Fig. 7 eine schematische Darstellung des Chiplabor-Analysegerätes aus Fig. 1, Fig. 2, Fig. 3, Fig. 4 bzw. Fig. 6 am Anfang eines

Instandhaltungsvorgangs; und

Fig. 8 eine schematische Darstellung des Chiplabor-Analysegerätes aus Fig. 1, Fig. 2, Fig. 3, Fig. 4, Fig. 6 bzw. Fig. 7 am Ende des

Instandhaltungsvorgangs.

In der nachfolgenden Beschreibung günstiger Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung werden für die in den verschiedenen Figuren

dargestellten und ähnlich wirkenden Elemente gleiche oder ähnliche

Bezugszeichen verwendet, wobei auf eine wiederholte Beschreibung dieser Elemente verzichtet wird.

Fig. 1 zeigt eine schematische Darstellung eines Chiplabor-Analysegerätes 100 gemäß einem Ausführungsbeispiel. Das Chiplabor-Analysegerät 100 kann für einen patientennahen Einsatz vorgesehen sein. Dabei ist das Chiplabor- Analysegerät 100 ausgebildet, um in Kartuschen eingebrachtes Material zu analysieren. Das Chiplabor-Analysegerät 100 weist ein Gehäuse 110 zum Aufnehmen von Funktionskomponenten des Chiplabor-Analysegerätes 100 auf. Hierbei ist das Chiplabor-Analysegerät 100, und insbesondere das Gehäuse 110, in einer schrägen Vorderansicht gezeigt.

Das Gehäuse 110 weist eine Vorderseite 112, eine Rückseite 114 und eine Standflächenseite 116 auf. Beispielshaft ist in der Vorderseite 112 eine

Kartuschenöffnung 111 zum Einbringen einer Kartusche mit zu analysierendem Material in das Chiplabor-Analysegerät 100 ausgeformt. In der Rückseite 114 ist eine Anschlussöffnung zum Anschließen eines Kabels zur Energieversorgung an das Chiplabor-Analysegerät 100 ausgeformt. In der Standflächenseite 116 ist eine Instandhaltungsschnittstelle zum Instandhalten des Chiplabor- Analysegerätes 100 ausgeformt bzw. angeordnet.

Dabei ist die Standflächenseite 116 ausgeformt, um bei einem Betrieb bzw.

Normalbetrieb des Chiplabor-Analysegerätes 100 als eine Standfläche des Chiplabor-Analysegerätes 100 zu fungieren. Die Rückseite 114 ist ausgeformt, um während Instandhaltungsarbeiten an dem Chiplabor-Analysegerät 100 als eine weitere Standfläche des Chiplabor-Analysegerätes 100 zu fungieren, wenn das Kabel aus der Anschlussöffnung der Rückseite 114 entfernt ist. Somit kann zum Durchführen von Instandhaltungsarbeiten das Chiplabor-Analysegerät 100 von der bei Normalbetrieb als Standfläche fungierenden Standflächenseite 116 auf die als weitere Standfläche zur Instandhaltung fungierenden Rückseite 114 gedreht werden, wobei ein eventuell vorhandenes Kabel aus der

Anschlussöffnung der Rückseite 114 zu entfernen ist, um die Rückseite 114 als weitere Standfläche nutzen zu können.

Die Rückseite 114 und die Standflächenseite 116 sind gemäß dem hier dargestellten Ausführungsbeispiel als aneinander angrenzende Flächen oder Seiten des Gehäuses 110 ausgeführt. Die Rückseite 114 und die

Standflächenseite 116 weisen hierbei eine gemeinsame Kante 118 auf. Gemäß dem hier dargestellten Ausführungsbeispiel ist die gemeinsame Kante 118 abgerundet.

Wie es unter anderem in der Darstellung von Fig. 1 erkennbar ist, weist das Gehäuse 110 zusätzlich weitere Seiten auf, sodass sich in einer Seitenansicht des Chiplabor-Analysegerätes 100 lediglich beispielhaft ein Umriss des

Gehäuses 110 in Gestalt eines unregelmäßigen Fünfecks ergibt.

Gemäß einem Ausführungsbeispiel ist die Vorderseite 112 geneigt und die Rückseite vertikal ausgerichtet, wenn das Chiplabor-Analysegerät 100 im betriebsbereiten Zustand auf der Standflächenseite 116 steht.

Fig. 2 zeigt eine schematische Darstellung des Chiplabor-Analysegerätes 100 aus Fig. 1 aus einer anderen Perspektive. Hierbei ist das Chiplabor-Analysegerät 100, und insbesondere das Gehäuse 110, in einer Seitenansicht gezeigt.

Darstellungsbedingt sind in Fig. 2 von dem Chiplabor-Analysegerät 100 das Gehäuse 110 mit der Vorderseite 112, der Rückseite 114, der Standflächenseite 116 und der gemeinsamen Kante 118 gezeigt. Auch in der Darstellung von Fig. 2 ist der Umriss des Gehäuses 110 in Gestalt eines unregelmäßigen Fünfecks erkennbar. Dabei ist zwischen der Rückseite 114 und der Standflächenseite 116 ein rechter Winkel aufgespannt. Gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel kann zwischen der Rückseite 114 und der Standflächenseite 116 ein spitzer Winkel aufgespannt sein.

Fig. 3 zeigt eine schematische Darstellung des Chiplabor-Analysegerätes 100 aus Fig. 1 bzw. Fig. 2 aus einer anderen Perspektive. Das Chiplabor- Analysegerät 100, und insbesondere das Gehäuse 110, ist dabei in einer Rückansicht gezeigt. Darstellungsbedingt sind in Fig. 3 von dem Chiplabor- Analysegerät 100 das Gehäuse 110 mit der Rückseite 114, der gemeinsamen Kante 118, der Anschlussöffnung 313 und einer weiteren Anschlussöffnung 315 gezeigt.

In der Rückseite 114 ist die Anschlussöffnung 313 zum Anschließen eines Kabels zur Energieversorgung an das Chiplabor-Analysegerät 100 ausgeformt. Durch die Anschlussöffnung 313 hindurch ist eine Anschlussbuchse des

Chiplabor-Analysegerätes 100 für das Kabel zugänglich. Insbesondere ist gemäß dem hier dargestellten Ausführungsbeispiel eine Anschlussbuchse für einen Kaltgerätestecker des Kabels zugänglich. Die Anschlussöffnung 313 ist benachbart zu der gemeinsamen Kante 118 angeordnet. Genauer gesagt ist die Anschlussöffnung 313 in einem an die gemeinsame Kante 118 angrenzenden Drittel der Rückseite 114 des Gehäuses 110 ausgeformt.

Gemäß dem hier dargestellten Ausführungsbeispiel weist das Gehäuse 110 die weitere Anschlussöffnung 315 zum Anschließen mindestens eines weiteren Kabels zur Datenübertragung an das Chiplabor-Analysegerät 100 auf. Die weitere Anschlussöffnung 315 ist benachbart zu der Anschlussöffnung 313 zum Anschließen des Kabels zur Energieversorgung ausgeformt bzw. angeordnet.

Fig. 4 zeigt eine schematische Darstellung des Chiplabor-Analysegerätes 100 aus Fig. 1, Fig. 2 bzw. Fig. 3 aus einer anderen Perspektive. Das Chiplabor- Analysegerät 100, und insbesondere das Gehäuse 110, ist dabei in einer Unteransicht gezeigt. Darstellungsbedingt sind in Fig. 4 von dem Chiplabor- Analysegerät 100 das Gehäuse 110 mit der Standflächenseite 116, der gemeinsamen Kante 118, der Instandhaltungsschnittstelle 417, elastischen Elementen 420, einem Fenster 430 und einem Geräteetikett 440 gezeigt. Die Instandhaltungsschnitstelle 417 ist in der Standflächenseite 116 ausgeformt bzw. angeordnet, die bei einem Betrieb oder Normalbetrieb des Chiplabor- Analysegerätes 100 als Standfläche fungiert. Durch die

Instandhaltungsschnitstelle 417 ist eine Instandhaltung bzw. sind

Instandhaltungsarbeiten des Chiplabor-Analysegerätes 100 durchführbar.

Gemäß dem hier dargestellten Ausführungsbeispiel weist die

Instandhaltungsschnitstelle 417 eine Klappe auf, mitels derer eine ein Luftfilter des Chiplabor-Analysegerätes 100 für Instandhaltungsarbeiten zugänglich machbar ist. Zusätzlich oder alternativ kann die Instandhaltungsschnitstelle 417 eine Klappe aufweisen, mitels derer eine Gehäuseinnenseite und/oder eine andere Funktionskomponente, beispielsweise mindestens ein Dichtelement, insbesondere eine Dichtlippe, des Chiplabor-Analysegerätes 100 für

Instandhaltungsarbeiten zugänglich machbar ist.

Das Gehäuse 110 weist gemäß dem hier dargestellten Ausführungsbeispiel drei elastische Elemente 420 auf. Die elastischen Elemente 420 verkehren hierbei als Standfüße für das Chiplabor-Analysegerät 100. Dabei sind die elastischen Elemente 420 beispielsweise aus Gummi oder einem anderen elastischen Material ausgeformt. Die elastischen Elemente 420 erstrecken sich dabei über einen Teilabschnit der Standflächenseite 116 und/oder einen Teilabschnit der Rückseite des Gehäuses 110. Genauer gesagt erstreckt sich eines der elastischen Elemente 420 über einen Teilabschnit der Standflächenseite 116 und erstrecken sich zwei der elastischen Elemente 420 über einen Teilabschnit der Standflächenseite 116 und über einen Teilabschnit der Rückseite des Gehäuses 110.

Von dem Gehäuse 110 sind in der Darstellung von Fig. 4 ferner das Fenster 430 und das Geräteetiket 440 gezeigt. Das Fenster 430 ist für eine Lesevorrichtung zum Lesen optoelektronisch lesbarer Symbole auf Kartuschen vorgesehen.

Dabei ist das Fenster 430 in einer weiteren Seite des Gehäuses 110 ausgeformt, die an die Standflächenseite 116 angrenzt. Bei den elektronisch lesbaren Symbolen handelt es sich beispielsweise um Strichcodes oder dergleichen. Das Geräteetiket 440 ist an der Standflächenseite 116 angeordnet, insbesondere benachbart zu der Instandhaltungsschnitstelle 417. Fig. 5 zeigt eine schematische Darstellung eines Teilabschnittes des Chiplabor- Analysegerätes 100 aus Fig. 1, Fig. 2, Fig. 3 bzw. Fig. 4. Das Chiplabor- Analysegerät 100, und insbesondere das Gehäuse 110, ist dabei in einer schrägen Rückansicht gezeigt. Darstellungsbedingt sind in Fig. 5 von dem Chiplabor-Analysegerät 100 ein Teilabschnitt des Gehäuses 110 mit der Rückseite 114, der gemeinsamen Kante 118, der Anschlussöffnung 313, der weiteren Anschlussöffnung 315, einem Kabel 550 zur Energieversorgung und einem weiteren Kabel 560 zur Datenübertragung gezeigt. Hierbei ähnelt die Darstellung in Fig. 5 der Darstellung aus Fig. 3, wobei zusätzlich das Kabel 550 und das weitere Kabel 560 gezeigt sind. Das Kabel 550 weist gemäß dem hier dargestellten Ausführungsbeispiel einen Kaltgerätestecker auf. Durch Pfeile ist symbolisch veranschaulicht, dass das Kabel 550 aus der Anschlussöffnung 313 und das weitere Kabel 560 aus der weiteren Anschlussöffnung 315 entfernt bzw. abgezogen werden, um das Chiplabor-Analysegerät 100 für

Instandhaltungsarbeiten von der Standflächenseite auf die Rückseite 114 kippen zu können.

Fig. 6 zeigt eine schematische Darstellung des Chiplabor-Analysegerätes 100 aus Fig. 1, Fig. 2, Fig. 3 bzw. Fig. 4 während eines Kippvorgangs von der Standfläche auf die weitere Standfläche. Hierbei ist das Chiplabor-Analysegerät 100, und insbesondere das Gehäuse 110, in einer Seitenansicht gezeigt.

Darstellungsbedingt sind in Fig. 6 von dem Chiplabor-Analysegerät 100 das Gehäuse 110 mit der Vorderseite 112, der Rückseite 114, der Standflächenseite 116 und der gemeinsamen Kante 118 gezeigt. Durch einen Pfeil ist symbolisch der Kippvorgang bzw. eine Kippbewegung des Chiplabor-Analysegerätes 100 veranschaulicht. Bei dem Kippvorgang wird das Chiplabor-Analysegerät 100 von der im Normalbetrieb als Standfläche fungierenden Standflächenseite 116 über die gemeinsame Kante 118 auf die für Instandhaltungsarbeiten als weitere Standfläche fungierende Rückseite 114 gekippt.

Fig. 7 zeigt eine schematische Darstellung des Chiplabor-Analysegerätes 100 aus Fig. 1, Fig. 2, Fig. 3, Fig. 4 bzw. Fig. 6 am Anfang eines

Instandhaltungsvorgangs. Hierbei ist das Chiplabor-Analysegerät 100, und insbesondere das Gehäuse 110, in einer schrägen Seitenansicht auf der Rückseite 114 als weiterer Standfläche stehend gezeigt. Darstellungsbedingt sind in Fig. 7 von dem Chiplabor-Analysegerät 100 das Gehäuse 110 mit der Vorderseite 112, der Rückseite 114, der Standflächenseite 116, der

gemeinsamen Kante 118, der Instandhaltungsschnittstelle 417 in Gestalt der Filterklappe und ein verbrauchter Luftfilter 770 gezeigt. Die

Instandhaltungsschnittstelle 417 bzw. Filterklappe ist in der Darstellung von Fig. 7 geöffnet gezeigt. Durch Pfeilsymbole und ein Mülltonnensymbol ist veranschaulicht, dass der verbrauchte Luftfilter 770 entsorgt wird.

Fig. 8 zeigt eine schematische Darstellung des Chiplabor-Analysegerätes 100 aus Fig. 1, Fig. 2, Fig. 3, Fig. 4, Fig. 6 bzw. Fig. 7 am Ende des

Instandhaltungsvorgangs. Die Darstellung in Fig. 8 entspricht hierbei der Darstellung aus Fig. 7 mit Ausnahme dessen, dass anstelle des verbrauchten Luftfilters ein neuer Luftfilter 870 gezeigt ist. Durch einen Pfeil ist symbolisch veranschaulicht, dass der neue Luftfilter 870 in das Chiplabor-Analysegerät 100 eingesetzt wird.

Zusammenfassend gesagt und mit anderen Worten ausgedrückt ist in den Figuren 1 bis 8 ein Chiplabor-Analysegerät 100 gezeigt, wobei das Chiplabor- Analysegerät 100 beispielsweise in den Figuren 1, 2 und 5 während eines Normalbetriebs und auf der Standflächenseite 116 als Standfläche stehend dargestellt ist. In der Rückseite 114 ist die Anschlussöffnung 313, beispielsweise für einen Kaltgerätestecker, gemäß dem hier dargestellten Ausführungsbeispiel in einem an die gemeinsame Kante 118 angrenzenden Bereich der Rückseite 114 angeordnet, um eine elektrische Spannungsversorgung möglichst nahe an einem Labortisch zu führen und eine zuverlässige Trennung der

Spannungsversorgung vor Instandhaltungsarbeiten zu erzwingen oder zu fördern. Insbesondere Fig. 2 zeigt die Rundung bzw. abgerundete gemeinsame Kante 118 zwischen der Rückseite 114 und der Standflächenseite 116. Im Service- und/oder Wartungsfall bzw. für Instandhaltungsarbeiten wird das Chiplabor-Analysegerät 100 über diese Rundung bzw. abgerundete gemeinsame Kante 118 gerollt. Über die abgerundete gemeinsame Kante 118 erstrecken sich gemäß dem hier dargestellten Ausführungsbeispiel umlaufende elastische Elemente 420 bzw. Gummifüße, um einen Kippvorgang des Chiplabor- Analysegerätes 100 von der Standflächenseite 116 auf die Rückseite 114 zu erleichtern. Dabei kann das Chiplabor-Analysegerät 100 bei in die Anschlussöffnung 313 eingestecktem und somit herausstehendem

Kaltgerätestecker des Kabels 550 erst gekippt werden, wenn dieser

Kaltgerätestecker vor dem Kippvorgang aus der Anschlussöffnung 313 herausgezogen wird. Damit wird die Spannungsversorgung vollständig von dem Chiplabor-Analysegerät 100 getrennt.

Fig. 4 zeigt auch die als Filterklappe ausgeführte Instandhaltungsschnittstelle 417, die zu öffnen ist, um im Wartungsfall beispielsweise den verbrauchten Luftfilter 770 durch den neuen Luftfilter 870 zu ersetzen. Erst nach dem

Kippvorgang des Chiplabor-Analysegerätes 100 auf die Rückseite als weitere Standfläche 114 gelangt ein Nutzer oder Servicetechniker an die

Instandhaltungsschnittstelle 417, zum Beispiel eine Filtereinheit. Bei einem Öffnen der Instandhaltungsschnittstelle 417 bzw. Filterklappe und Entfernen der Filtermatte bzw. des verbrauchten Luftfilters 770, ist die Spannungsversorgung getrennt und unter dem Luftfilter 770 bzw. 870 angeordnete, bei Betrieb rotierende Lüfter steht still. Damit wird verhindert, dass der Benutzer in rotierende bzw. sich bewegende Bauteile greift. Fig. 4 zeigt ebenfalls die elastischen Elemente 420 bzw. Gummifüße oder sogenannte Rubber-Bumper, die für einen sicheren Stand des Chiplabor-Analysegerätes 100 im Normalbetrieb dienen und aufgrund der auf die Rückseite 114 umlaufenden Ausführung auch den

Kippvorgang auf die Rückseite 114 des Chiplabor-Analysegerätes 100 erleichtern.

In den Figuren 5 bis 8 ist nochmals der Ablauf des Vorgangs zur Vorbereitung und Durchführung von Instandhaltungsarbeiten skizziert, beispielhaft gezeigt für ein Wechseln des Luftfilters 770 bzw. 870 im Wartungsfall. Fig. 5 zeigt das Ziehen des Kabels 550 mit dem Kaltgerätestecker, was erreicht werden soll, bevor das Chiplabor-Analysegerät 100 wie in Fig. 5 gezeigt auf die Rückseite 114 des Gehäuses 110 gekippt werden kann. Wie in Fig. 7 gezeigt, wird dann die Instandhaltungsschnittstelle 417 bzw. Filterklappe geöffnet, der verbrauchte Luftfilter 770 entfernt und ausgetauscht. Im Moment des Austauschens steht der Lüfter still und das Chiplabor-Analysegerät 100 ist stromlos geschaltet. Nach erfolgtem Austausch oder auch anderen Wartungs-/Servicearbeiten und dem Verschließen der Instandhaltungsschnittstelle 417 wird das Chiplabor- Analysegerät 100 wieder auf die Standflächenseite 116 zurückgekippt, wird das Kabel 550 mit dem Kaltgerätestecker wieder an die Anschlussöffnung 313 angeschlossen und kann das Chiplabor-Analysegerät 100 wieder normal betrieben werden. Umfasst ein Ausführungsbeispiel eine„und/oder“-Verknüpfung zwischen einem ersten Merkmal und einem zweiten Merkmal, so ist dies so zu lesen, dass das Ausführungsbeispiel gemäß einer Ausführungsform sowohl das erste Merkmal als auch das zweite Merkmal und gemäß einer weiteren Ausführungsform entweder nur das erste Merkmal oder nur das zweite Merkmal aufweist.