Leuchtdiodenchip und Verfahren zur Herstellung eines

Leuchtdiodenchips

Es wird ein Leuchtdiodenchip angegeben. Darüber hinaus wird ein Verfahren zur Herstellung eines Leuchtdiodenchips angegeben . Eine zu lösende Aufgabe besteht darin, Leuchtdiodenchips mit einer hohen Effizienz und einer hohen Lebensdauer anzugeben.

Diese Aufgabe wird unter anderem durch einen Leuchtdiodenchip mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1 gelöst. Bevorzugte Weiterbildungen sind Gegenstand der übrigen Ansprüche.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform umfasst der

Leuchtdiodenchip eine Halbleiterschichtenfolge. Die

Halbleiterschichtenfolge weist mindestens eine aktive Zone auf, die im Betrieb des Leuchtdiodenchips zur Erzeugung von Strahlung eingerichtet ist. Die erzeugte Strahlung ist bevorzugt inkohärent. Die Halbleiterschichtenfolge basiert bevorzugt auf einem III-V-Verbindungshalbleitermaterial . Bei dem Halbleitermaterial handelt es sich zum Beispiel um ein Nitrid-Verbindungshalbleitermaterial wie Al _n In _] __ _n _ _m Ga _m N oder um ein Phosphid-Verbindungshalbleitermaterial wie

Al _n In _] __ _n _ _m Ga _m P oder auch um ein Arsenid-

Verbindungshalbleitermaterial wie Al _n In _] __ _n _ _m Ga _m As oder wie Al _n Ga _m In _] __ _n _ _m AskP _] __k, wobei jeweils 0 ^ n 1, 0 ^ m 1 und n + m < 1 sowie 0 ^ k < 1 ist. Bevorzugt gilt dabei für zumindest eine Schicht oder für alle Schichten der

Halbleiterschichtenfolge 0 < n < 0,8, 0,4 < m < 1 und n + m < 0,95 sowie 0 < k < 0,5. Dabei kann die Halbleiterschichtenfolge Dotierstoffe sowie zusätzliche

Bestandteile aufweisen. Der Einfachheit halber sind jedoch nur die wesentlichen Bestandteile des Kristallgitters der Halbleiterschichtenfolge, also AI, As, Ga, In, N oder P, angegeben, auch wenn diese teilweise durch geringe Mengen weiterer Stoffe ersetzt und/oder ergänzt sein können.

Beispielsweise wird im Betrieb der Halbleiterschichtenfolge grünes, gelbes oder rotes Licht erzeugt. Grünes Licht bezieht sich dabei insbesondere auf eine Dominanzwellenlänge des emittierten Lichts zwischen einschließlich 500 nm und 540 nm, gelbes Licht auf einen Wellenlängenbereich zwischen 560 nm und 580 nm und rotes Licht beispielsweise auf einen

Wellenlängenbereich für die Dominanzwellenlänge von 600 nm bis 700 nm.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform basiert die

Halbleiterschichtenfolge auf dem Materialsystem InGaAlP oder InGaAlAsP. Das heißt bevorzugt, die Halbleiterschichtenfolge umfasst als Hauptbestandteile In, Ga, AI sowie P oder In, Ga, AI, As sowie P. In diesem Fall ist die

Halbleiterschichtenfolge insbesondere zur Erzeugung von rotem Licht oder zur Erzeugung von nahinfraroter Strahlung

eingerichtet. Nahinfrarote Strahlung bezeichnet

beispielsweise eine Strahlung mit einer Wellenlänge maximaler Intensität zwischen einschließlich 800 nm und 1500 nm.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform umfasst der

Leuchtdiodenchip eine StromaufWeitungsschicht . Die

Stromaufweitungsschicht dient dazu, in Richtung senkrecht zu einer Wachstumsrichtung der Halbleiterschichtenfolge und somit in einer lateralen Richtung eine Stromaufweitung zu erzielen. Speziell ausgehend von punktartigen elektrischen Kontaktflächen wird von der StromaufWeitungsschicht eine Stromspreizung in lateraler Richtung bewirkt.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform befindet sich die

Stromaufweitungsschicht direkt an der

Halbleiterschichtenfolge. Beispielsweise ist die

Stromaufweitungsschicht direkt auf die

Halbleiterschichtenfolge aufgewachsen, insbesondere

epitaktisch aufgewachsen. Die Halbleiterschichtenfolge und die Stromaufweitungsschicht können im selben Wachstumsreaktor unmittelbar nacheinander ohne Zwischenschritte mit derselben Methode erzeugt werden.

Die Stromaufweitungsschicht ist ebenfalls aus einem

Halbleitermaterial gebildet. Vorliegend wird die

Stromaufweitungsschicht jedoch rein begrifflich von der

Halbleiterschichtenfolge getrennt. So bezieht sich der

Begriff Halbleiterschichtenfolge auf die zur Lichterzeugung eingerichteten Schichten, wohingegen der Begriff

Stromaufweitungsschicht auf eine laterale Stromaufspreizung als Hauptfunktion dieser Schicht abzielt.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform basiert die

Stromaufweitungsschicht auf einem anderen Materialsystem als die Halbleiterschichtenfolge. Insbesondere ist bei der

Halbleiterschichtenfolge eine Hauptkomponente eines

Kristallgitters Phosphor. Mit anderen Worten basiert die Halbleiterschichtenfolge dann auf einem Phosphid. In diesem Fall handelt es sich bei der Stromaufweitungsschicht

bevorzugt um ein Arsenid. Insbesondere basiert die

Stromaufweitungsschicht auf dem Materialsystem AlGaAs. Gemäß zumindest einer Ausführungsform beinhaltet der

Leuchtdiodenchip zumindest eine Verkapselungsschicht. Die Verkapselungsschicht ist dazu eingerichtet, etwa die

Stromaufweitungsschicht vor einer Beschädigung, zum Beispiel durch Feuchtigkeit, zu schützen. Insbesondere AlGaAs neigt dazu, sich bei Einwirken von Feuchtigkeit zu zersetzen und damit die Funktionsfähigkeit des Leuchtdiodenchips zu

beeinträchtigen. Durch die Verkapselungsschicht sind solche Schäden an der Stromaufweitungsschicht reduzierbar.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform befindet sich die

Verkapselungsschicht stellenweise direkt auf der

Stromaufweitungsschicht und/oder auf der

Halbleiterschichtenfolge. Es ist möglich, dass die

Verkapselungsschicht alle freiliegenden Seitenflächen der

Halbleiterschichtenfolge und/oder der Stromaufweitungsschicht bedeckt. Freiliegend bedeutet hierbei insbesondere, dass entsprechende Flächen nicht von Halbleitermaterialien oder von Strom führenden Materialien bedeckt sind.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform weist die

Verkapselungsschicht eine mittlere Dicke auf, die mindestens 10 nm oder 20 nm oder 30 nm beträgt. Alternativ oder

zusätzlich liegt die mittlere Dicke der Verkapselungsschicht bei höchstens 300 nm oder 150 nm oder 90 nm. Insbesondere beträgt die mittlere Dicke ungefähr 40 nm oder 70 nm.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform weist die

Verkapselungsschicht eine mittlere Defektdichte von höchstens lO/mm^ oder l/mm^ oder 0,1 /mm^ auf. Solche sehr geringen Defektdichten führen zu einer hohen Dichtigkeit der

Verkapselungsschicht. Dies ist dadurch erzielbar, dass die Verkapselungsschicht über Atomlagenabscheidung erzeugt wird. Eine Atomlagenabscheidung, englisch Atomic Layer Deposition oder kurz ALD, ist etwa in der Druckschrift US 4,058,430 A angegeben. Der Offenbarungsgehalt dieser Druckschrift wird hiermit durch Rückbezug mit aufgenommen.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform weist die

Verkapselungsschicht eine spezifische Diffusionskonstante für Wasser und/oder Sauerstoff von höchstens 10 ^~ g/ ( _m 2 auf. Die spezifische Diffusionskonstante ist insbesondere

gerechnet auf eine Materialdicke von 100 nm. Bevorzugt beträgt die Diffusionskonstante höchstens 5 x 10-^ g/ ( _m 2 _f insbesondere höchstens 10-^ g/ (m^ d) . Gemäß zumindest einer Ausführungsform umfasst der

Leuchtdiodenchip eine oder mehrere Abdeckschichten. Die zumindest eine Abdeckschicht ist ganzflächig oder

stellenweise direkt auf die Verkapselungsschicht aufgebracht. Die Abdeckschicht ist bevorzugt undurchlässig für

Flüssigkeiten. Insbesondere ist die Abdeckschicht

undurchlässig für Wasser in flüssiger Form. Die Abdeckschicht wird bevorzugt über chemische oder physikalische

Gasphasenabscheidung, auch als CVD oder PVD bezeichnet, hergestellt .

Gemäß zumindest einer Ausführungsform umfasst der

Leuchtdiodenchip eine oder mehrere Reflexionsschichten. Bei der zumindest einen Reflexionsschicht handelt es sich um eine nichtmetallische Schicht, beispielsweise aus einem elektrisch isolierenden Material. Insbesondere ist die Reflexionsschicht dazu eingerichtet, zu einer Totalreflexion von in der

Halbleiterschichtenfolge erzeugter Strahlung zu dienen. Ein Material, aus dem die Reflexionsschicht hergestellt ist, ist bevorzugt transparent für die in der Halbleiterschichtenfolge erzeugte Strahlung. Die Reflexionsschicht ist bevorzugt aus einem Oxid oder Nitrid gebildet. Gemäß zumindest einer Ausführungsform befindet sich die

Reflexionsschicht an einer der Halbleiterschichtenfolge abgewandten Seite der Stromaufweitungsschicht . Dabei kann die Reflexionsschicht direkt an die Stromaufweitungsschicht grenzen. Ebenso ist es möglich, dass die Reflexionsschicht von der Stromaufweitungsschicht beabstandet aufgebracht ist.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform befindet sich die

Reflexionsschicht stellenweise direkt an der

Verkapselungsschicht. Insbesondere bedeckt die

Verkapselungsschicht Seitenflächen der Reflexionsschicht.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform befindet sich zumindest eine Stromleitschicht an einer der Stromaufweitungsschicht abgewandten Seite der Reflexionsschicht. Die Stromleitschicht ist bevorzugt zu einer ohmschen Stromleitung in Richtung senkrecht zur aktiven Zone eingerichtet. Insbesondere ist die mindestens eine Stromleitschicht aus einem Metall oder einem elektrisch leitfähigen Oxid, auch als TCO bezeichnet, hergestellt .

Gemäß zumindest einer Ausführungsform ist die

Stromleitschicht dazu eingerichtet, eine Stromführung hin zu zumindest einer elektrischen Kontaktfläche zu bewirken.

Beispielsweise werden alle Kontaktflächen für einen

bestimmten Anschlusstyp, zum Beispiel für einen p-Kontakt oder für einen n-Kontakt, durch die Stromleitschicht mit Strom versorgt. Bevorzugt ist die mindestens eine

Stromleitschicht oder ist zumindest eine der Stromleitschichten aus einem für die in der

Halbleiterschichtenfolge erzeugten Strahlung undurchlässigen und reflektierenden Material gebildet. Mit anderen Worten kann zumindest eine der Stromleitschichten einen Spiegel für die erzeugte Strahlung bilden. Ferner kann eine weitere

Stromleitschicht eine Haftvermittlungsschicht bilden.

In mindestens einer Ausführungsform umfasst der

Leuchtdiodenchip eine Halbleiterschichtenfolge, die auf

InGaAlAsP, bevorzugt auf InGaAlP, basiert und die zur

Erzeugung von sichtbarem Licht oder nahinfraroter Strahlung eingerichtet ist. Eine StromaufWeitungsschicht befindet sich direkt an der Halbleiterschichtenfolge und basiert auf

AlGaAs . Eine Verkapselungsschicht ist stellenweise direkt auf der StromaufWeitungsschicht und/oder auf der

Halbleiterschichtenfolge aufgebracht. Eine mittlere Dicke der Verkapselungsschicht liegt zwischen einschließlich 10 nm und 200 nm und eine Defektdichte der Verkapselungsschicht beträgt höchstens lO/mm^.

Auf der Verkapselungsschicht ist zumindest stellenweise direkt wenigstens eine Abdeckschicht aufgebracht. An einer der Halbleiterschichtenfolge abgewandten Seite der

Stromaufweitungsschicht befindet sich in direktem oder in indirektem Kontakt zumindest eine nichtmetallische

Reflexionsschicht, die zur Totalreflexion von Strahlung eingerichtet ist. Die zumindest eine Reflexionsschicht ist stellenweise direkt oder indirekt von der

Verkapselungsschicht bedeckt, beispielsweise an einer

Hauptseite oder an einer Seitenfläche. An einer der

Stromaufweitungsschicht abgewandten Seite der

Reflexionsschicht befindet sich in direktem oder indirektem Kontakt stellenweise zumindest eine Stromleitschicht, die als Spiegelschicht und/oder als Haftvermittlungsschicht

ausgebildet sein kann oder aus solchen Schichten bestehen kann. Die zumindest eine Stromleitschicht kann direkt an elektrische Kontaktflächen zur Einprägung von Strom in die Halbleiterschichtenfolge grenzen.

Werden Leuchtdiodenchips auf der Basis von InGaAlP in einer feuchten Umgebung gelagert oder betrieben, so tritt bei Schichten aus AlGaAs mit einem hohen Aluminiumgehalt

regelmäßig eine Korrosion des AlGaAs auf. Dies kann zu inhomogenen Leuchtbildern und bei starker Ausprägung zu einem Spannungsanstieg und auch zu einem Totalausfall der

Leuchtdiodenchips führen. Um dem entgegenzuwirken, besteht eine Möglichkeit darin, eine Schichtdicke der AlGaAs-Schicht möglichst gering zu halten und einen möglichst kleinen

Aluminiumgehalt zu wählen.

Ebenso werden AlGaAs-Schichten durch dielektrische Schichten wie Siliziumnitrid oder Siliziumdioxid so gut wie möglich gegen Feuchtezugang geschützt. Solche dielektrischen

Schichten sind jedoch nur begrenzt feuchtedicht, sodass eine Alterung des Leuchtdiodenchips nur zeitlich verzögert wird. Andererseits ist eine Anhaftung solcher dielektrischen

Schichten an das Halbleitermaterial nur vergleichsweise schlecht. Solche dielektrischen Schichten vermögen daher keine hinreichende Altersstabilisierung zu bewirken.

Weiterhin besteht eine Möglichkeit darin, die AlGaAs-Schicht durch GaP als Kontaktmaterial zu ersetzen, um die

alterungsanfällige Komponente in solchen Leuchtdiodenchips zu ersetzen.

Bei den hier beschriebenen Leuchtdiodenchips ist eine hinreichend dicke AlGaAs-Schicht verwendbar. Dies wird dadurch erzielt, dass eine mit Atomlagenabscheidung erzeugte, hochdichte Verkapselungsschicht zum Schutz der AlGaAs- Stromaufweitungsschicht verwendet wird. Durch die erhöhte Lebensdauer der Leuchtdiodenchips sind die vergleichsweise hohen Erzeugungskosten für die Verkapselungsschicht durch Atomlagenabscheidung rechtfertigbar .

Gemäß zumindest einer Ausführungsform liegt ein

Aluminiumanteil in dem AlGaAs der Stromaufweitungsschicht bei mindestens 20 % oder 40 % oder 60 %. Alternativ oder

zusätzlich liegt der Aluminiumanteil bei höchstens 80 % oder 70 % oder 60 %. Beispielsweise bedeutet ein Aluminiumanteil von 50 %, dass 50 % der Gitterplätze von Gallium in dem

Kristallgitter GaAs durch Aluminiumatome ersetzt sind.

Bevorzugt weist die Stromaufweitungsschicht mehrere

Teilschichten mit unterschiedlichem Al-Gehalt auf.

Beispielsweise liegt eine dünne Teilschicht aus GaAs vor, gefolgt von einer dickeren Teilschicht aus AlGaAs, wiederum gefolgt von einer noch dickeren AlGaAs-Teilschicht mit höherem Al-Gehalt. Bei einem Leuchtdiodenchip zur Erzeugung von sichtbarem Licht liegt so insbesondere eine 5 nm dicke GaAs-Schicht vor, gefolgt von einer 50 nm-AlGaAs-Schicht mit einem Al-Gehalt von 60 %, gefolgt von einer 200 nm AlGaAs- Schicht mit einem Al-Gehalt von 70 %; die genannten Werte für die Dicke und den Al-Gehalt gelten bevorzugt mit einer

Toleranz von höchstens 25 % oder 10 %. Ist der

Leuchtdiodenchip zur Erzeugung von infraroter Strahlung eingerichtet, so ist es möglich, dass die

Stromaufweitungsschicht aus nur einer einzigen Schicht, etwa aus AlGaAs mit 24 % AI, gebildet ist. Die GaAs-Teilschicht kann der Halbleiterschichtenfolge zugewandt oder von der Halbleiterschichtenfolge abgewandt sein. Gemäß zumindest einer Ausführungsform ist die

Verkapselungsschicht eine A^C^-Schicht . Mit anderen Worten ist die Verkapselungsschicht dann eine homogene Schicht aus Aluminiumoxid. Eine Schichtdicke der Verkapselungsschicht ist bevorzugt über die gesamte Verkapselungsschicht hinweg gleichbleibend .

Gemäß zumindest einer Ausführungsform weist die Abdeckschicht eine größere mittlere Dicke auf als die Verkapselungsschicht. Beispielsweise liegt die mittlere Dicke der Abdeckschicht bei mindestens 80 nm oder 150 nm oder 200 nm. Alternativ oder zusätzlich beträgt die mittlere Dicke der Abdeckschicht höchstens 1 ym oder 600 nm oder 400 nm. Gemäß zumindest einer Ausführungsform bedeckt die

Verkapselungsschicht äußere Facetten der

Stromaufweitungsschicht vollständig und direkt. Die äußeren Facetten der Stromaufweitungsschicht sind dabei solche

Facetten, die am weitesten außen am Leuchtdiodenchip liegen.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform überragen die

Reflexionsschicht und/oder die zumindest eine

Stromleitschicht jeweils die Stromaufweitungsschicht und/oder die Halbleiterschichtenfolge seitlich, in Draufsicht gesehen. Mit anderen Worten kann eine Grundfläche der

Reflexionsschicht und/oder eine Grundfläche der

Stromleitschicht größer sein als eine Grundfläche der

Stromaufweitungsschicht und/oder der

Halbleiterschichtenfolge .

Gemäß zumindest einer Ausführungsform ist die

Verkapselungsschicht direkt auf solche Teilgebiete der

Reflexionsschicht aufgebracht, die die StromaufWeitungsschicht seitlich überragen. Insbesondere ist die Reflexionsschicht dann an einer der

Halbleiterschichtenfolge zugewandten Seite in dem Teilgebiet, das sich neben der Halbleiterschichtenfolge befindet,

vollständig von der Verkapselungsschicht bedeckt.

Seitenflächen der Reflexionsschicht, die näherungsweise parallel zur Wachstumsrichtung der Halbleiterschichtenfolge orientiert sind, können frei sein von der

Verkapselungsschicht .

Gemäß zumindest einer Ausführungsform schließt die

Reflexionsschicht in Draufsicht gesehen bündig mit der

Stromaufweitungsschicht ab. Dies kann bedeuten, dass in

Draufsicht gesehen ein Rand der Reflexionsschicht und der Stromaufweitungsschicht mit einer Toleranz von höchstens 1 ym oder 0,5 ym oder 0,1 ym oder exakt übereinander liegen.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform bedeckt die

Verkapselungsschicht äußere Facetten der

Stromaufweitungsschicht und/oder der Reflexionsschicht direkt und vollständig. Mit anderen Worten sind dann äußere

Begrenzungsflächen der Reflexionsschicht und/oder der

Stromaufweitungsschicht durch die Verkapselungsschicht geschützt .

Gemäß zumindest einer Ausführungsform ist die

Verkapselungsschicht in Draufsicht gesehen neben der

Stromaufweitungsschicht direkt auf eine der

Stromleitschichten oder auf die Stromleitschicht aufgebracht. Hierdurch ist eine vollständige Verkapselung der

Reflexionsschicht erzielbar. Insbesondere ist es möglich, dass die Reflexionsschicht ringsum vollständig von der Stromaufweitungsschicht zusammen mit der Verkapselungsschicht und der Stromleitschicht umschlossen ist.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform umfasst der

Leuchtdiodenchip außerdem eine Zusatzverkapselungsschicht . Die Zusatzverkapselungsschicht ist ebenso wie die

Verkapselungsschicht mittels Atomlagenabscheidung erzeugt und weist daher, entsprechend der Verkapselungsschicht, eine hohe Beständigkeit gegenüber Diffusion und eine geringe

Defektdichte auf.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform sind die

Zusatzverkapselungsschicht und die Verkapselungsschicht aus demselben Material hergestellt. Insbesondere bestehen beide Schichten aus AI2O3. Die Zusatzverkapselungsschicht und die Verkapselungsschicht sind bevorzugt in voneinander

verschiedenen Verfahrensschritten hergestellt. Insbesondere finden zwischen dem Erzeugen der Zusatzverkapselungsschicht und der Verkapselungsschicht weitere Verfahrensschritte statt.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform ist die

Zusatzverkapselungsschicht direkt an einer der

Halbleiterschichtenfolge abgewandten Seite der

Stromaufweitungsschicht aufgebracht. Diese Seite der

Stromaufweitungsschicht kann vollständig von der

Zusatzverkapselungsschicht , zusammen mit der elektrischen

Kontaktfläche, bedeckt sein. Gemäß zumindest einer Ausführungsform berühren sich die

Zusatzverkapselungsschicht und die Verkapselungsschicht stellenweise. Dabei ist in einem Berührbereich, in dem sich die Zusatzverkapselungsschicht und die Verkapselungsschicht berühren, bevorzugt eine dichte Verkapselung gegeben. Mit anderen Worten weist der Berührbereich dann, im Vergleich etwa zur Verkapselungsschicht , keine erhöhte Durchlässigkeit, etwa für Feuchtigkeit oder Sauerstoff, auf.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform steht die

Reflexionsschicht an keiner Stelle in direktem Kontakt mit der Halbleiterschichtenfolge und/oder der

Stromaufweitungsschicht . Insbesondere befindet sich zwischen der Stromaufweitungsschicht und der Reflexionsschicht

ausschließlich die Zusatzverkapselungsschicht , zumindest stellenweise .

Gemäß zumindest einer Ausführungsform sind die

Halbleiterschichtenfolge und die Stromaufweitungsschicht ringsum vollständig von der Verkapselungsschicht zusammen mit der optional vorhandenen Zusatzverkapselungsschicht und zusammen mit den elektrischen Kontaktflächen eingeschlossen. Insbesondere ist auch eine Strahlungshauptseite der

Halbleiterschichtenfolge, die der Stromaufweitungsschicht abgewandt ist, vollständig von einer elektrischen

Kontaktfläche und der Verkapselungsschicht bedeckt. Auf der Strahlungshauptseite kann auch die Abdeckschicht aufgebracht sein .

Gemäß zumindest einer Ausführungsform handelt es sich bei der elektrischen Kontaktfläche um eine Kontaktmetallisierung. Mit anderen Worten ist dann die elektrische Kontaktfläche aus einem Metall oder einer Metalllegierung gebildet. Bevorzugt befinden sich an der Stromaufweitungsschicht mehrere

Kontaktflächen aus demselben Material. An der

Strahlungsaustrittsseite der Halbleiterschichtenfolge ist bevorzugt eine weitere elektrische Kontaktfläche angebracht. Diese Kontaktfläche an der Strahlungsaustrittsseite kann aus einem anderen, bevorzugt metallischen Material gebildet sein.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform ist die

Reflexionsschicht zumindest stellenweise in zwei oder mehr als zwei Teilschichten aufgeteilt. Die Teilschichten der Reflexionsschicht folgen entlang der Wachstumsrichtung der Halbleiterschichtenfolge aufeinander . Gemäß zumindest einer Ausführungsform befindet sich zumindest stellenweise zwischen den zwei Teilschichten der

Reflexionsschicht die Verkapselungsschicht und/oder die

Zusatzverkapselungsschicht . Hierdurch ist eine effiziente Prozessierbarkeit erzielbar bei gleichzeitig hohem Schutz der Stromaufweitungsschicht vor Feuchtigkeit durch die

Verkapselungsschicht und/oder die Zusatzverkapselungsschicht .

So kann die Verkapselungsschicht und/oder die

Zusatzverkapselungsschicht als Ätzstoppschicht dienen. Gemäß zumindest einer Ausführungsform stellt die

Verkapselungsschicht und/oder die Zusatzverkapselungsschicht eine Ätzstoppschicht für die Stromaufweitungsschicht , die Halbleiterschichtenfolge und/oder die Reflexionsschicht dar. Mit anderen Worten ist in diesem Fall die

Stromaufweitungsschicht gegenüber der Verkapselungsschicht und/oder der Zusatzverkapselungsschicht selektiv ätzbar. Eine Ätzselektivität liegt beispielsweise bei mindestens 500:1 oder 10000:1. Gemäß zumindest einer Ausführungsform durchdringt die

Reflexionsschicht die Stromaufweitungsschicht stellenweise vollständig. Mit anderen Worten ist die

Stromaufweitungsschicht stellenweise von einer Unterseite der Halbleiterschichtenfolge komplett entfernt. In zumindest einem Teilbereich des Gebiets, aus dem die

Stromaufweitungsschicht vollständig entfernt ist, liegt die Reflexionsschicht direkt an der Halbleiterschichtenfolge an. Die Reflexionsschicht kann auch stellenweise in die

Halbleiterschichtenfolge eindringen, sodass die

Halbleiterschichtenfolge teilweise entfernt ist und

Ausnehmungen und/oder Gräben aufweist. Gemäß zumindest einer Ausführungsform weist die

Stromaufweitungsschicht einen äußeren, umlaufenden Rand auf. Dieser umlaufende Rand ist durch ein Material der

Reflexionsschicht von einem Zentrum der

Stromaufweitungsschicht elektrisch isoliert. Dabei befinden sich die elektrischen Kontaktbereiche für die

Stromaufweitungsschicht in dem Zentrum. Durch eine solche Anordnung ist verhinderbar, dass eine Bestromung der aktiven Zone direkt an Facetten der Halbleiterschichtenfolge erfolgt. Hierdurch ist eine Effizienz des Leuchtdiodenchips erhöhbar.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform bildet die

Reflexionsschicht um die Stromaufweitungsschicht herum einen umlaufenden Rand, in Draufsicht gesehen. In diesem

umlaufenden Rand grenzt die Reflexionsschicht bevorzugt direkt an die Halbleiterschichtenfolge und bedeckt äußere Begrenzungsflächen der Stromaufweitungsschicht bevorzugt vollständig .

Gemäß zumindest einer Ausführungsform weist der Rand eine Breite von mindestens 1 ym oder 3 ym oder 5 ym auf.

Alternativ oder zusätzlich liegt diese Breite bei höchstens 20 ym oder 15 ym oder 10 ym. Die Breite des Rands macht beispielsweise mindestens 0,1 % oder 0,3 % einer mittleren Kantenlänge der Halbleiterschichtenfolge aus, in Draufsicht gesehen. Ebenso kann der Rand höchstens 3 % oder 1 % oder 0,5 % der mittleren Kantenlänge ausmachen. Gemäß zumindest einer Ausführungsform befindet sich an einer der Halbleiterschichtenfolge abgewandten Seite der

Stromleitschicht ein Träger. Der Träger ist dazu

eingerichtet, den Leuchtdiodenchip mechanisch zu

stabilisieren und zu tragen. Mit anderen Worten kann es sich bei dem Träger um diejenige Komponente des Leuchtdiodenchips handeln, die diesen mechanisch stützt. Beispielsweise ist der Träger über zumindest ein Lot mechanisch und/oder elektrisch und/oder thermisch direkt mit der Stromleitschicht verbunden. Gemäß zumindest einer Ausführungsform weist der elektrische Kontaktbereich einen Zentralbereich und einen Randbereich auf. In dem Zentralbereich wird Strom aus dem elektrischen Kontaktbereich in die StromaufWeitungsschicht eingeprägt. In dem Zentralbereich folgen somit die nachfolgend genannten Schichten in der angegebenen Reihenfolge bevorzugt direkt aufeinander: die StromaufWeitungsschicht, eine metallische Kontaktschicht, eine metallische Anhaftschicht und eine erste Stromleitschicht, wobei die erste Stromleitschicht zugleich eine Spiegelschicht ist.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform folgen in dem

Randbereich die folgenden Schichten in der angegebenen

Reihenfolge bevorzugt unmittelbar aufeinander: die

Stromaufweitungsschicht , die Kontaktschicht, die

Anhaftschicht, die Zusatzverkapselungsschicht , eine zweite Stromleitschicht und die erste Stromleitschicht. Bei der zweiten Stromleitschicht handelt es sich um eine bevorzugt lichtdurchlässige Schicht, etwa aus einem transparenten leitfähigen Oxid wie ITO. Die zweite Stromleitschicht dient bevorzugt als Haftvermittlungsschicht. Bei der ersten

Stromleitschicht handelt es sich bevorzugt um eine

lichtundurchlässige, metallische Schicht, etwa aus Gold, die als Spiegelschicht dient.

Darüber hinaus wird ein Verfahren angegeben, mit dem ein Leuchtdiodenchip gemäß einer oder mehrerer der oben genannten Ausführungsformen hergestellt wird. Merkmale des

Leuchtdiodenchips sind daher auch für das Verfahren offenbart und umgekehrt.

In mindestens einer Ausführungsform des Verfahrens wird die Verkapselungsschicht mittels Atomlagenabscheidung

hergestellt. Demgegenüber wird die Abdeckschicht mittels chemischer oder physikalischer Gasphasenabscheidung und im Gegensatz zur Verkapselungsschicht nicht durch

Atomlagenabscheidung hergestellt . Bei der physikalischen Gasphasenabscheidung, auch als PVD bezeichnet, handelt es sich etwa um ein

Verdampfungsverfahren, um Sputtern, um Ionenimplantation oder um eine so genannte ICB-Technik (Ionized Cluster Beam

Deposition) . Bei der chemischen Gasphasenabscheidung handelt es sich beispielsweise um plasmaunterstützte, induktiv oder kapazitiv gekoppelte, heißdrahtaktivierte oder katalytische Gasphasenabscheidung. Die CVD kann bei Niederdruck oder bei atmosphärischem Druck durchgeführt werden. Ebenso kann eine metallorganische oder organometallische chemische

Gasphasenabscheidung erfolgen.

Es unterscheiden sich die durch ALD erstellte

Verkapselungsschicht und die über CVD oder PVD erzeugte Abdeckschicht dadurch, dass eine Defektdichte bei der ALD- Verkapselungsschicht typisch kleiner als 0,1 Defekte pro Quadratmillimeter beträgt, wohingegen die CVD- oder PVD- Abdeckschicht eine Defektdichte von einigen 100 Defekten pro Quadratmillimeter aufweist. Dies ist beispielsweise über Transmissionselektronenmikroskopie, kurz TEM, nachweisbar. Aufgrund der vergleichsweise geringeren Defektdichte der ALD- Verkapselungsschicht ist auch eine Ätzrate, im Vergleich zur CVD- oder PVD-Abdeckschicht , reduziert. Beispielsweise über die Defektdichte und/oder die Ätzrate ist eindeutig

feststellbar, über welche Methode eine Schicht erzeugt wurde.

Nachfolgend werden ein hier beschriebener Leuchtdiodenchip und ein hier beschriebenes Verfahren unter Bezugnahme auf die Zeichnung anhand von Ausführungsbeispielen näher erläutert. Gleiche Bezugszeichen geben dabei gleiche Elemente in den einzelnen Figuren an. Es sind dabei jedoch keine

maßstäblichen Bezüge dargestellt, vielmehr können einzelne Elemente zum besseren Verständnis übertrieben groß

dargestellt sein.

Es zeigen:

Figuren 1, 3 bis 8 und 10 bis 16 schematische

Schnittdarstellungen von Ausführungsbeispielen hier beschriebenen Leuchtdiodenchips,

Figur 2 eine schematische Schnittdarstellung einer

Abwandlung eines Leuchtdiodenchips, und

Figur 9 eine schematische Draufsicht auf eine

Stromaufweitungsschicht für Ausführungsbeispiele von hier beschriebenen Leuchtdiodenchips. In Figur 1 ist ein Ausführungsbeispiel eines

Leuchtdiodenchips 1 gezeigt. Der Leuchtdiodenchip 1 umfasst eine Halbleiterschichtenfolge 2 mit einer aktiven Zone 22. Die Halbleiterschichtenfolge 2 basiert auf dem Materialsystem InGaAlP. Eine in der Halbleiterschichtenfolge 2 im Betrieb des Leuchtdiodenchips 1 erzeugte Strahlung, bevorzugt rotes Licht, tritt überwiegend an einer Strahlungshauptseite 20 aus der Halbleiterschichtenfolge 2 heraus.

An einer der Strahlungshauptseite 20 gegenüberliegenden Seite befindet sich direkt an der Halbleiterschichtenfolge 2 eine Stromaufweitungsschicht 3. Die Stromaufweitungsschicht 3 ist eine AlGaAs-Schicht . Eine Dicke der Stromaufweitungsschicht 3 liegt beispielsweise bei mindestens 120 nm und/oder bei höchstens 500 nm, bevorzugt bei ungefähr 200 nm. Eine Dicke der Halbleiterschichtenfolge 2 beträgt beispielsweise

ungefähr 5 ym, wobei ein Bereich zwischen der aktiven Zone 22 und der Strahlungshauptseite 20 eine Dicke von ungefähr 80 % ausmacht.

Anders als dargestellt kann die Stromaufweitungsschicht 3 auch aus mehreren Teilschichten zusammengesetzt sein, beispielsweise aus einer dicken AlGaAs-Schicht und einer dünnen GaAs-Schicht mit einer Dicke von mindestens 2 nm und/oder 10 nm, wobei sich die GaAs-Schicht bevorzugt an einer der Halbleiterschichtenfolge 2 abgewandten Seite der dickeren AlGaAs-Schicht befindet. Eine solche GaAs-Schicht ist bevorzugt auch in allen anderen Ausführungsbeispielen vorhanden.

Zur elektrischen Kontaktierung der Stromaufweitungsschicht 3 befindet sich an einer der Halbleiterschichtenfolge 2 abgewandten Seite eine elektrische Kontaktfläche 8. In Figur 1 ist nur eine Kontaktfläche 8 gezeichnet, jedoch liegen bevorzugt mehrere der Kontaktflächen 8 vor, wie auch in allen anderen Ausführungsbeispielen. Bei der Kontaktfläche 8 handelt es sich bevorzugt um einen p-Kontakt.

Die elektrische Kontaktfläche 8 wird durch eine metallische Kontaktschicht 73 gebildet. Die metallische Kontaktschicht 73 ist bevorzugt aus Gold hergestellt. Ferner sind eine

Haftvermittlungsschicht 72 und eine metallische

Spiegelschicht 71 vorhanden, bevorzugt eine Goldschicht oder alternativ auch eine Silberschicht. Nachfolgend wird die Spiegelschicht 71 auch als erste Stromleitschicht und die Haftvermittlungsschicht auch als zweite Stromleitschicht bezeichnet. Über die Stromleitschichten 71, 72 ist die elektrische Kontaktfläche 8 elektrisch kontaktiert. Die

Stromleitschichten 71, 72 erstrecken sich bevorzugt in lateraler Richtung über den gesamten Leuchtdiodenchip 1 hinweg. Die Spiegelschicht 71 hat beispielsweise eine Dicke von ungefähr 150 nm. Zwischen der Halbleiterschichtenfolge 2 und der Spiegelschicht 71 befindet sich die

Haftvermittlungsschicht 72. Bei der Haftvermittlungsschicht 72 handelt es sich bevorzugt um eine ITO-Schicht, etwa mit einer Dicke von ungefähr 100 nm. Durch die

Haftvermittlungsschicht 72 ist eine Anhaftung zwischen der Spiegelschicht 71 und der StromaufWeitungsschicht 3

verbessert .

In Richtung weg von der Halbleiterschichtenfolge 2 folgt den Schichten 71, 72 eine Lotschicht 91, beispielsweise ein AuSn- Lot, nach, mittels dessen die Halbleiterschichtenfolge 2 an einem Träger 9 befestigt ist. Über den bevorzugt elektrisch leitfähigen Träger 9 erfolgt eine laterale Stromaufweitung über den Leuchtdiodenchip 1 hinweg, die Schichten 71, 72 dienen vorwiegend lediglich zu einer Stromleitung in Richtung senkrecht zur aktiven Zone 22. Zwischen den Stromleitschichten 71, 72 und der

Stromaufweitungsschicht 3 befindet sich zumindest

stellenweise eine Reflexionsschicht 6. Die Reflexionsschicht 6 ist etwa aus Siliziumdioxid oder Siliziumnitrid oder einer Schichtsequenz aus diesen Materialien hergestellt. Eine Dicke der Reflexionsschicht 6 liegt bevorzugt bei mindestens 150 nm oder 200 nm oder 300 nm und/oder bei höchstens 1 ym oder 700 nm oder 600 nm. Die Reflexionsschicht 6 weist unterhalb der gesamten Halbleiterschichtenfolge 2 hinweg eine

gleichbleibende, konstante Dicke auf. Neben der

Halbleiterschichtenfolge 2 weist die Reflexionsschicht 6 eine reduzierte, gleichmäßig Dicke auf, sodass sich die

Verkapselungsschicht 4 zumindest zum Teil seitlich neben der Reflexionsschicht 6, die unter der Halbleiterschichtenfolge 2 liegt, befindet.

Über die Reflexionsschicht 6, die einen vergleichsweise niedrigen optischen Brechungsindex aufweist, wird eine

Totalreflexion von in der aktiven Zone 22 erzeugter Strahlung bewirkt. Darüber hinaus wirkt insbesondere die erste

Stromleitschicht 71 als metallische Spiegelschicht. Die

Reflexionsschicht 6 sowie die beiden Stromleitschichten 71, 72, also die Spiegelschicht 71 und die

Haftvermittlungsschicht 72, sind auch in Bereichen lateral neben der Halbleiterschichtenfolge 2 vorhanden, in Draufsicht gesehen. Optional erstreckt sich die zweite Stromleitschicht 72 auch zwischen der ersten Stromleitschicht 71 und der metallischen Kontaktschicht 73, wie in Figur 1 gezeigt. In einem Randprisma 95 durchdringt die Reflexionsschicht 6 zusammen mit den Stromleitschichten 71, 72 die

Stromaufweitungsschicht 3 vollständig und kann auch in die Halbleiterschichtenfolge 2 reichen. Hierdurch werden ein Zentrum 33 und ein in Draufsicht gesehen umlaufender Rand 36 der Stromaufweitungsschicht 3 gebildet. Die eine oder, bevorzugt, die mehreren Kontaktflächen 8 befinden sich in dem Zentrum 33. Der Rand 36 ist elektrisch durch die

Reflexionsschicht 6 von dem Zentrum 33 isoliert, da die

Halbleiterschichtenfolge 2 im Bereich zwischen der aktiven Zone 22 und der Stromaufweitungsschicht 3 nur eine geringe laterale elektrische Leitfähigkeit aufweist. Somit wird eine Stromeinprägung in die aktive Zone 22 direkt an einer Facette 25 der Halbleiterschichtenfolge 2 unterdrückt.

Zum Schutz der Halbleiterschichtenfolge 2 vor äußeren

Einflüssen ist auf allen freiliegenden Flächen sowie auch auf der Reflexionsschicht 6 eine Abdeckschicht 5 aufgebracht. Bei der Abdeckschicht 5 handelt es sich bevorzugt um eine

Siliziumnitridschicht, die mit CVD oder PVD aufgebracht ist.

Die Abdeckschicht 5 ist jedoch nicht ausreichend für einen dauerhaften, effizienten Schutz der vergleichsweise

feuchtigkeitsanfälligen Stromaufweitungsschicht 3 aus AlGaAs . Daher ist unterhalb der Abdeckschicht 5 eine

Verkapselungsschicht 4 erzeugt. Die Verkapselungsschicht 4 ist eine defektarme, hochqualitative Schicht, die mit

Atomlagenabscheidung erzeugt ist. Bevorzugt ist die

Verkapselungsschicht 4 aus Aluminiumoxid hergestellt, kann alternativ aber auch aus Tantaloxid oder Siliziumdioxid gefertigt sein. Durch die Verkapselungsschicht 4 ist, im Gegensatz zur Abdeckschicht 5, ein ausreichender Schutz der Stromaufweitungsschicht 3 gewährleistet. Der Leuchtdiodenchip 1 wird insbesondere wie folgt hergestellt : Die Halbleiterschichtenfolge 2 wird auf einem

Aufwachssubstrat , nicht gezeichnet, epitaktisch aufgewachsen. Dabei weist eine Wachstumsrichtung G weg von der

Strahlungshauptseite 20. Anschließend wird auf die

Halbleiterschichtenfolge 2 die Stromaufweitungsschicht 3 aufgewachsen, wonach die Stromaufweitungsschicht 3 etwa über Ätzen strukturiert wird, sodass das Randprisma 95 erzeugt wird. Anders als dargestellt kann dabei auch ein Material aus der Halbleiterschichtenfolge 2 entfernt werden, sodass dann das Randprisma 95 nicht nur bis an, sondern auch in die

Halbleiterschichtenfolge 2 hinein ragen kann, jedoch

bevorzugt nicht bis an die aktive Zone 22. Daraufhin werden nacheinander die Reflexionsschicht 6, die Stromleitschichten 71, 72, das Lot 91 und der Träger 9 angebracht. Daraufhin wird das nicht dargestellte Aufwachssubstrat entfernt. Optional wird eine in Figur 1 nicht gezeichnete Aufrauung an der Strahlungshauptseite 20 erzeugt und ferner optional eine ebenso wenig dargestellte Schutzschicht, etwa aus SiC>2 oder aus Siliziumnitrid, auf die

Strahlungshauptseite 20 aufgebracht. Daraufhin wird die

Halbleiterschichtenfolge 2 über Ätzen strukturiert, wodurch die Facetten 25 gebildet werden und wobei die

Reflexionsschicht 6 im Bereich neben der

Halbleiterschichtenfolge 2 in ihrer Dicke reduziert wird. Abschließend werden die Verkapselungsschicht 4 und die

Abdeckschicht 5 aufgebracht. In Figur 2 ist eine Abwandlung eines Leuchtdiodenchips illustriert. Dieser Leuchtdiodenchip weist keine

Verkapselungsschicht 4 auf, wie in Verbindung mit Figur 1 dargestellt. Hierdurch ist die StromaufWeitungsschicht 3 nicht hinreichend vor dem Einfluss von Feuchtigkeit

geschützt, wodurch eine Lebensdauer des Leuchtdiodenchips reduziert ist.

In Figur 3 ist ein weiteres Ausführungsbeispiel gezeigt.

Anders als gemäß Figur 1 überragt die Reflexionsschicht 6 die Stromaufweitungsschicht 3 in einer lateralen Richtung nicht oder nicht signifikant. In dem Bereich neben der

Stromaufweitungsschicht 3, in Draufsicht gesehen, ist die Reflexionsschicht 6 also vollständig entfernt oder, weniger bevorzugt, in einer reduzierten Dicke noch vorhanden. Das heißt, beim Erzeugen der Facetten 25 und beim Strukturieren der Halbleiterschichtenfolge 2 wird dann auch die

Reflexionsschicht 6 durch Ätzen teilweise oder vollständig in dem Bereich neben der Halbleiterschichtenfolge 2 entfernt.

Beim Herstellen des Leuchtdiodenchips 1 gemäß Figur 3 werden nach dem Strukturieren der Halbleiterschichtenfolge 2, der Stromaufweitungsschicht 3 und der Reflexionsschicht 6 dann die Verkapselungsschicht 4 und die Abdeckschicht 5 bevorzugt unmittelbar nacheinander aufgebracht. Somit kann im Bereich neben der Halbleiterschichtenfolge 2 die Verkapselungsschicht 4 direkt auf die zweite Stromleitschicht 72 aufgebracht werden. Hierbei zeigt die Verkapselungsschicht 4 insbesondere aus Aluminiumoxid eine gute Haftung auf ITO, Platin, Chrom, Siliziumdioxid oder Siliziumnitrid auf. Da die

Verkapselungsschicht 4 vergleichsweise schlecht auf Gold oder Silber haftet, ist die zweite Stromleitschicht 72 aus ITO im Bereich neben der Halbleiterschichtenfolge 2 bevorzugt noch vorhanden .

Die Reflexionsschicht 6 aus Siliziumdioxid ist

vergleichsweise gut durchlässig für Feuchtigkeit. Damit ist beim Ausführungsbeispiel, wie in Figur 3 gezeigt, ein

verbesserter Schutz der StromaufWeitungsschicht 3 erzielbar, da die Reflexionsschicht 6 auch an einer Seitenfläche von der Verkapselungsschicht 4 bedeckt ist. Hierdurch ist der

Transport von H2O durch die Reflexionsschicht 6 hindurch zu der Stromaufweitungsschicht 3 unterbunden oder zumindest stark reduziert.

Beim Ausführungsbeispiel des Leuchtdiodenchips 1, wie in Figur 4 gezeigt, ist kein Randprisma 95 vorhanden. Die

Reflexionsschicht 6 erstreckt sich damit in gleichbleibender Dicke und in einer Ebene liegend von der elektrischen

Kontaktfläche 8 bis hin zu einem Rand des Leuchtdiodenchips 1.

Abweichend von Figur 1 ist eine Zusatzverkapselungsschicht 42 vorhanden, bei der es sich ebenfalls um eine mittels

Atomlagenabscheidung erzeugte Schicht handelt. Auch die

Zusatzverkapselungsschicht 42 ist, wie die

Verkapselungsschicht 4, eine Aluminiumoxidschicht. Die

Zusatzverkapselungsschicht 42 wird vor der Reflexionsschicht 6 auf die Stromaufweitungsschicht 3 aufgebracht. Somit steht die Stromaufweitungsschicht 3 an keiner Stelle in direktem Kontakt mit der Reflexionsschicht 6 und ist vor Diffusion von Feuchtigkeit durch die Reflexionsschicht 6 hindurch

geschützt. Die Zusatzverkapselungsschicht 42 wird bevorzugt ganzflächig auf die noch unstrukturierte Halbleiterschichtenfolge 2 unmittelbar nach dem Erzeugen der Stromaufweitungsschicht 3 aufgebracht.

Im Bereich lateral neben der Halbleiterschichtenfolge 2 ist somit die Verkapselungsschicht 4 direkt auf die

Zusatzverkapselungsschicht 42 aufgebracht. Im Gegensatz zur Zusatzverkapselungsschicht 42 wird die Verkapselungsschicht 4 erst nach dem Strukturieren der Halbleiterschichtenfolge 2 erzeugt .

Beim Ausführungsbeispiel der Figur 5 ist die

Reflexionsschicht in zwei Teilschichten 6a, 6b aufgeteilt. Direkt an der Stromaufweitungsschicht 3 befindet sich die Teilschicht 6b. Im Bereich neben der Stromaufweitungsschicht 3 wird diese Teilschicht 6b beim Strukturieren der

Halbleiterschichtenfolge 2 mit entfernt. Dabei wirkt die Zusatzverkapselungsschicht 42, die bevorzugt eine ALD-Schicht aus AI2O3 ist, als Ätzstoppschicht, da dann die

Zusatzverkapselungsschicht 42 selektiv gegenüber dem

Halbleitermaterial als auch gegenüber S1O2 der

Reflexionsschicht 6b nur schlecht ätzbar ist. Die beiden Teilschichten 6a, 6b sind durch die

Zusatzverkapselungsschicht 42 voneinander separiert. Im

Bereich neben der Halbleiterschichtenfolge 2 ist damit, wie ebenso in Figur 4, die Verkapselungsschicht 4 unmittelbar auf die Zusatzverkapselungsschicht 42 aufgebracht, sodass in diesem Bereich die Teilschicht 6b vollständig entfernt ist.

Die Teilschicht 6b ist damit seitlich vollständig von der Verkapselungsschicht 4 und an einer der

Stromaufweitungsschicht 3 abgewandten Seite vollständig von der Zusatzverkapselungsschicht 42 bedeckt. Damit ist die Teilschicht 6b vollständig eingekapselt und die Stromaufweitungsschicht 3 ist vor Diffusion geschützt. Die beiden Teilschichten 6a, 6b können gleiche oder auch

voneinander verschiedene Dicken aufweisen. Beispielsweise ist jede der Teilschichten 6a, 6b zwischen einschließlich 150 nm und 300 nm, insbesondere ungefähr 200 nm, dick. Hierbei kann die Teilschicht 6b dünner gestaltet sein als die Teilschicht 6a und dann eine Dicke von mindestens 25 nm oder 50 nm und/oder von höchstens 80 nm oder 150 nm aufweisen. Anders als in Figur 5 dargestellt kann auch bei diesem

Ausführungsbeispiel ein Randprisma 95 vorhanden sein, analog etwa zu Figur 1.

Das Ausführungsbeispiel der Figur 6 entspricht dem

Ausführungsbeispiel der Figur 3, jedoch ohne das Randprisma 95.

Das Ausführungsbeispiel des Leuchtdiodenchips 1, wie in Figur 7 gezeigt, entspricht dem Ausführungsbeispiel der Figur 4. Jedoch ist in Figur 7 zusätzlich das Randprisma 95 vorhanden.

In Figur 8 ist eine Detailansicht der elektrischen

Kontaktfläche 8 gezeigt. Unmittelbar auf die metallische Kontaktschicht 73, die bevorzugt aus Gold ist, ist eine metallische Anhaftschicht 74 aufgebracht, die etwa aus

Platin, Chrom, Titan, Nickel oder Titan-Wolfram-Nitrid ist. Eine Dicke der Anhaftschicht 74 liegt beispielsweise bei höchstens 15 nm oder 5 nm. In einem Randbereich der

Kontaktfläche 8 folgt der Anhaftschicht 74 die

Zusatzverkapselungsschicht 42 nach, gefolgt von der zweiten Stromleitschicht 72, etwa aus ITO, und der ersten

Stromleitschicht 71, etwa aus Gold. In einem Zentralbereich der Kontaktfläche 8 ist die Zusatzverkapselungsschicht 42 nicht vorhanden. Ist die als Haftvermittlungsschicht dienende zweite Stromleitschicht 72 aus einem elektrisch isolierenden Material wie Siliziumdioxid gebildet, so ist die

Haftvermittlungsschicht 72 in dem Zentralbereich nicht vorhanden. Der Randbereich weist beispielsweise eine Breite von höchstens 10 % einer Gesamtbreite der Kontaktfläche 8 auf. Eine entsprechend gestaltete Kontaktfläche 8 kann auch in allen anderen Ausführungsbeispielen vorhanden sein.

In Figur 9 ist eine schematische Draufsicht auf die

Stromaufweitungsschicht 3 von mehreren Leuchtdiodenchips 1 gezeigt, die Schichten 4, 5, 6, 71, 72, 73, 74 sind zur Vereinfachung der Darstellung in Figur 9 nicht gezeichnet. Benachbarte Leuchtdiodenchips 1 sind durch einen

unstrukturierten Streifen voneinander separiert. Zu erkennen ist, dass das Randprisma 95 sich rahmenförmig um das gesamte Zentrum 33 mit den Kontaktflächen 8 in einer geschlossenen Bahn herum erstreckt. Ebenso umschließt der Rand 36

vollständig das Randprisma 95. Die Kontaktflächen 8 sind beispielsweise in einem rechteckigen oder, wie in Figur 9 dargestellt, hexagonalen Muster angeordnet.

Optional sind Lichtstreustrukturen 66 vorhanden, die die Kontaktflächen 8 in einem viereckigen Muster umgeben, wobei die Lichtstreustrukturen 66 in Draufsicht gesehen wie ein unregelmäßiges Fünfeck geformt sein können. Zusätzlich sind Streifenwälle 86 vorhanden, die bevorzugt deckungsgleich zu an der Strahlungshauptseite angebrachten

Stromaufweitungsstegen, in Figur 9 nicht gezeichnet,

verlaufen. Die Lichtstreustrukturen 66 und die Streifenwälle 86 sind bevorzugt analog zu dem Randprisma 95 aufgebaut, sodass in den Lichtstreustrukturen 66 und/oder in den Streifenwällen 86 die Reflexionsschicht 6 bis an oder bis in die Halbleiterschichtenfolge 2 geführt sein kann.

Ein solcher Aufbau mit Randprisma 95 und/oder

Lichtstreustruktur 66 und/oder Streifenwällen 86 ist

bevorzugt auch in allen anderen Ausführungsbeispielen

vorhanden .

Das Ausführungsbeispiel der Figur 10 entspricht dem

Ausführungsbeispiel der Figur 6, wobei zusätzlich das

Randprisma 95 vorhanden ist. Auch gemäß Figur 10 ist eine Seitenfläche 25 der Reflexionsschicht 6 von der

Verkapselungsschicht 4 bedeckt und lateral neben der

Halbleiterschichtenfolge 2 sind die Verkapselungsschicht 4 und die Zusatzverkapselungsschicht 42 direkt aufeinander und wiederum direkt auf der zweiten Stromleitschicht 72

aufgebracht .

Beim Ausführungsbeispiel der Figur 11 reicht die

Reflexionsschicht 6, von dem Randprisma 95 ausgehend, bis in Verlängerung der Facette 25 an die Verkapselungsschicht 4 heran. Mit anderen Worten ist die StromaufWeitungsschicht 3 aus dem Randbereich 36 vollständig entfernt und durch die Reflexionsschicht 6 ersetzt.

Auch beim Ausführungsbeispiel der Figur 12 ist die

Stromaufweitungsschicht 3 nicht mehr in dem Rand 36

vorhanden. Anders als in Figur 11 erstreckt sich die

Reflexionsschicht 6 in einer gleichbleibenden Dicke bis hin zur Verkapselungsschicht 4.

Beim Ausführungsbeispiel der Figur 13 befindet sich direkt an der Strahlungshauptseite 20 eine lichtdurchlässige Schutzschicht 55, etwa aus einem elektrisch isolierenden Material wie S1O2 oder Siliziumnitrid oder auch aus einem elektrisch leitfähigen Material wie einem dünnen Metall oder einem TCO. Die Strahlungshauptseite 20 ist vollständig von der Schutzschicht 55 bedeckt. Direkt auf die Schutzschicht 55 ist die Verkapselungsschicht 4 angebracht. Eine solche

Schutzschicht 55 kann auch in allen anderen

Ausführungsbeispielen vorhanden sein.

Die Schutzschicht 55 befindet sich insbesondere an und/oder in einer Aufrauung der Strahlungshauptseite 20. Eine Dicke der Schutzschicht 55 liegt im Falle eines TCOs oder eines elektrisch isolierenden Materials für die Schutzschicht zum Beispiel bei mindestens 40 nm oder 70 nm und/oder bei

höchstens 500 nm oder 300 nm. Es ist möglich, dass durch die Schutzschicht 55 eine nicht gezeichnete Aufrauung teilweise oder vollständig planarisiert wird, ebenso wie dies für die Verkapselungsschicht 4 und die Abdeckschicht 5 gelten kann. Optional ist die StromaufWeitungsschicht 3, wie dies auch in allen anderen Ausführungsbeispielen möglich ist, aus mehreren Teilschichten aufgebaut, die in Figur 13 symbolisch durch eine Strichlinie voneinander getrennt sind.

Beim Ausführungsbeispiel der Figur 14 befindet sich direkt an der Strahlungshauptseite 20 ein elektrischer Kontakt 85, bei dem es sich bevorzugt um einen n-Kontakt handelt. Der Kontakt 85 kann aus einem oder aus mehreren Metallen, insbesondere in mehreren Teilschichten, gebildet sein und kann optional ein TCO umfassen. Im Bereich des Kontakts 85 sind die

Verkapselungsschicht 4 und die Abdeckschicht 5 sowie die optionale Schutzschicht 55 geöffnet. Ferner liegt der Kontakt 85 eben auf der Strahlungshauptseite 20 auf, sodass die

Strahlungshauptseite 20 an dem Kontakt 85 keine Vertiefung aufweist. Der Kontakt 85 überragt die Abdeckschicht 5 und ist bevorzugt dazu vorgesehen, mit einem Bonddraht elektrisch kontaktiert zu werden. Bei einer Kontaktprozessierung und Herstellung des Kontakts 85 kann die Schutzschicht 85, die als Passivierungsschicht dient, von Vorteil sein, da beim Öffnen der

Verkapselungsschicht 4 die Halbleiterschichtenfolge 2 durch die Schutzschicht 4 geschützt ist.

Ausgehend von dem Kontakt 4 können an der

Strahlungshauptseite 20 nicht gezeichnete

Stromaufweitungsstege vorhanden sein, um eine gleichmäßigere Stromverteilung über den Leuchtdiodenchip 1 hinweg zu

erzielen. Solche Stromaufweitungsstege verlaufen bevorzugt deckungsgleich mit den Streifenwällen 86 aus Figur 9.

Beim Ausführungsbeispiel der Figur 15 ist die Schutzschicht 55 nicht vorhanden. Dadurch kann es der Fall sein, dass der Kontakt 85 herstellungsbedingt bis in die

Halbleiterschichtenfolge 2 hinein ragt.

In Figur 16 ist ein Leuchtdiodenchip 1 gezeigt, bei dem der Kontakt 85 an der n-Seite der Halbleiterschichtenfolge vor dem Aufbringen der Verkapselungsschicht 4 und der

Abdeckschicht 5 aufgebracht wird. Hierdurch können mögliche Spalte zwischen der Schutzschicht 55 und dem Kontakt 85 geschlossen werden. Analog zur Kontaktfläche 8 an der

Stromaufweitungsschicht 3, vergleiche Figur 8, ist bevorzugt etwa bei Au-Kontakten 85 eine nicht gezeichnete Pt- Haftschicht vorhanden, um die Haftung der

Verkapselungsschicht 4 an dem Kontakt 85 sicherzustellen. Eine Öffnung der Verkapselungsschicht 4 und der Abdeckschicht 5 erfolgt bevorzugt nur an dem Kontakt 85, der auch zum externen elektrischen Kontaktieren etwa mit einem Bonddraht genutzt wird. Falls zum externen elektrischen Kontaktieren erforderlich, kann die Pt-Haftschicht in einem Bondbereich zum Beispiel durch Rücksputtern entfernt werden. Sind

Stromaufweitungsstege an der Strahlungshauptseite vorhanden, so wird im Bereich der Stromaufweitungsstege bevorzugt weder die Verkapselungsschicht 4 noch die Abdeckschicht 5 geöffnet.

Die Ausführungen mit der Schutzschicht 55 und dem Kontakt 85 der Figuren 13 bis 16 sind exemplarisch nur für den

Leuchtdiodenchip 1 der Figur 1 illustriert, können jedoch ebenso auf die Ausführungsbeispiele der Figuren 3 bis 11 übertragen werden.

Die hier beschriebene Erfindung ist nicht durch die

Beschreibung anhand der Ausführungsbeispiele beschränkt.

Vielmehr umfasst die Erfindung jedes neue Merkmal sowie jede Kombination von Merkmalen, was insbesondere jede Kombination von Merkmalen in den Patentansprüchen beinhaltet, auch wenn dieses Merkmal oder diese Kombination selbst nicht explizit in den Patentansprüchen oder Ausführungsbeispielen angegeben ist .

Diese Patentanmeldung beansprucht die Priorität der deutschen Patentanmeldung 10 2015 118 041.3, deren Offenbarungsgehalt hiermit durch Rückbezug aufgenommen wird. Bezugs zeichenliste

1 Leuchtdiodenchip

2 Halbleiterschichtenfolge

20 Strahlungshauptseite

22 aktive Zone

25 Facette

3 StromaufweitungsSchicht

33 Zentrum der StromaufWeitungsschicht

36 Rand der StromaufWeitungsschicht

4 VerkapselungsSchicht

42 ZusatzverkapselungsSchicht

5 Abdeckschicht

55 Schutzschicht

6 Reflexionsschicht

66 LichtStreustruktur

71 Spiegelschicht

72 HaftvermittlungsSchicht

73 metallische Kontaktschicht

74 metallische Anhaftschicht

8 elektrische Kontaktfläche

85 elektrischer Kontakt

86 Streifenwall

9 Träger

91 Lot

95 Randprisma

G Wachstumsrichtung