Verfahren und Vorrichtung zum Abfragen zumindest eines Werts zumindest eines Parameters von einem Modul und Verfahren und Modul zum Bereitstellen zumindest eines Wertes zumindest ei ^¬ nes Parameters

Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Abfragen zumindest eines Werts zumindest eines Parameters von einem Modul und ein Verfahren und ein Modul zum Bereitstellen zumindest eines Wertes zumindest eines Parameters.

In der Automatisierung und in der Energiedistribution werden mehr und mehr Geräte eingesetzt, die an örtliche Gegebenhei- ten angepasst werden können und müssen. Hierzu werden Konfigurationsinformationen erzeugt, mit denen die Geräte konfigu ^¬ riert werden.

So können diese Konfigurationsinformationen mit Hilfe von XML (XML- Extensible Markup Language) auf flexible und erweiter ^¬ bare Weise dargestellt werden. Nachfolgend ist ein struktu ^¬ riertes Dokument in XML [5, 6, 7] dargestellt, welches ver ^¬ schiedene Parameter für einen Sensor bereitstellt: <Knoten>

<Sensoren>

<TemperaturSensor id="123">

<Messrate>2</Messrate>

<Genauigkeit>0.1</Genauigkeit>

. . .

</ emperaturSensor>

<Drucksensor>

</Drucksensor>

</Sensoren>

<Aktoren>

<Aktoren> </Knoten>

Hier umfasst das Gerät einen Knoten, an dem Sensoren und Aktoren registriert sind. Das Gerät weist mehrere Sensoren auf, unter Anderem einen Temperatursensor. Dieser Sensor hat einen Konfigurationsparameter - kurz Parameter - „Messrate", der angibt, wie oft pro Sekunde ein Messwert ermittelt werden soll. Ferner kann der Sensor weitere Parameter bereitstellen, wie beispielsweise „Genauigkeit", wobei dieser Parameter die Genauigkeit des Sensors anzeigt. Im obigen Beispiel werden zwei Messwerte pro Sekunde mit einer Genauigkeit von 0,1 Grad ermittelt .

Neben der Konfiguration des Geräts ist auch das Auslesen von Parametern des Geräts, z.B. dem Messwert des Temperatursensors, notwendig. Hierzu wird beispielsweise eine Abfragespra ^¬ che XPATH [1] verwendet, die Anfragen an das Gerät in Anlehnung an die obige Struktur mittels Pfadausdrücken stellt. Um auf die Messrate im obigen Beispiel zuzugreifen könnte der folgende XPATh-Ausdruck genutzt werden:

/Knoten/Sensoren/TemperaturSensor/Messrate

Nachteilig bei der Verwendung von XPATH ist, dass das Gerät sowohl ein erstes Verfahren zum Konfigurieren der Parameter als auch ein zweites Verfahren zum Abrufen der Parameter unterstützen muss. Insbesondere für kleine Geräte mit sehr be ^¬ grenztem Speicherplatz und sehr geringer Rechenleistung, wie MikroController mit 2KByte Speicher, 5KByte Programmcode und einer Rechenleistung von 1 MIPS (MIPS - Million Instructions Per Second) , ist eine Verwendung von XPATH nahezu ausge ^¬ schlossen .

Eine weitere bekannte Sprache zum Abfragen von Datenstruktu- ren ist Query-by-Example, siehe Dokument [4] .

Daher stellt sich die Aufgabe für Geräte, die mit Hilfe von strukturierten Dokumenten, wie bspw. XML, konfiguriert wer- den, Verfahren, Vorrichtungen und Module vorzusehen, die eine Abfrage von Konfigurationsparameter in einfacher und effizienter Weise ermöglichen.

Diese Aufgabe wird durch die unabhängigen Ansprüche gelöst. Weiterbildungen der Erfindung sind den anhängigen Ansprüchen zu entnehmen.

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Abfragen zumindest eines Wertes zumindest eines Parameters von einem Modul, wo ^¬ bei mittels eines Basisschemas der zumindest eine Parameter als Element beschreibbar ist und mittels einer Werteausprä ^¬ gung des Elements zumindest einer der Parameter konfiguriert werden kann,

mit folgenden Schritten:

- Generieren eines Schemas durch Ergänzen des Basisschemas um eine Abfragefunktion derart, dass das Element des zumindest einen Parameters, dessen zumindest eine Wert abgefragt werden soll, mittels der Abfragefunktion markierbar ist;

- Erzeugen eines ersten strukturierten Dokuments auf Basis des Schemas derart, dass das erste strukturierte Dokument so ^¬ wohl zumindest dasjenige Element für den zumindest einen Pa ^¬ rameter aufweist, dessen zumindest eine Wert abgefragt werden soll, als auch diesem Element die Abfragefunktion zuordnet;

- Abfragen des zumindest einen Wertes des zumindest einen Pa ^¬ rameters mittels des ersten strukturierten Dokuments, wobei der zumindest eine Parameter aufgrund der Abfragefunktion dem Modul mitteilbar und der zumindest eine Wert des zumindest einen Parameters hieraufhin auslesbar ist.

Das Verfahren zeigt den Vorteil, dass die Abfrage, so wie die Konfiguration des Moduls, als strukturiertes Dokument auf Ba ^¬ sis nur eines Schemas erfolgen kann, da die zu konfigurierenden als auch abzufragenden Parameter durch das Schema konfiguriert und abgefragt werden können. Hierdurch muss auf dem Modul außer einem Parser für strukturierte Dokumente kein weiterer Parser, wie XPATH, implementiert werden. Dadurch werden Ressourcen, wie Speicherplatz oder Rechenleistung für den weiteren Parser, auf dem Modul eingespart.

Unter einem strukturierten Dokument ist ein Dokument in tex- tueller oder binärer Form zu verstehen, das auf Basis des

Schemas erzeugt wird. Sowohl die textuelle als auch die binä ^¬ re Form können auf einer Beschreibungssprache XML (XML- Ex- tensible Markup Language) [5, 6, 7] basieren. Die binäre Form folgt vorzugsweise den Standards BIM [2] oder EXI [3] .

In einer ersten Erweiterung wird die Abfragefunktion mittels einer besonderen Werteausprägung der Werteausprägung des Elements bereitgestellt. Hierdurch ist eine einfache Signalisie ^¬ rung der Abfragefunktion möglich. Als besondere Werteausprä- gung können spezifische Zahlen und Zeichen dienen. Ferner kann die besondere Werteausprägung dadurch realisiert werden, dass lediglich das Element signalisiert wird, jedoch die Wer ^¬ teausprägung weggelassen wird. Wird ferner ein Inhalt der besonderen Werteausprägung je Element spezifisch gewählt, muss auf bestehende Wertebereiche der Werteausprägungen anderer im ersten strukturierten Dokument verwendeter Elemente keine Rücksicht genommen werden. Dies möglicht eine besonders effiziente Kodierung. Wird al- ternativ ein Inhalt der besonderen Werteausprägung für alle Elemente einheitlich gewählt, so kann der Parser für das strukturierte erste Dokument einfach realisiert werden, da der Parser lediglich auf einen einzigen Inhalt bei allen abzufragenden Elementen bzgl. der Abfragefunktion reagieren muss.

Ferner kann ein drittes Attribut dem Element derart zugeord ^¬ net werden, dass das dritte Attribut die besondere Werteaus ^¬ prägung explizit angibt. Hierdurch kann die besondere Werte- ausprägung dynamisch angepasst werden.

In einer zweiten Erweiterung wird die Abfragefunktion mittels eines ersten Attributs des Elements bereitgestellt. Hierdurch wird eine einfache Realisierung der Abfragefunktion ermöglicht. Zudem kann die zweite Erweiterung eingesetzt werden, falls der Wertebereich der Werteausprägung des Elements keine besondere Werteausprägung zulässt oder eine Kodierung der be- sonderen Werteausprägung nur mit großem Aufwand möglich ist.

Vorzugsweise wird zur Spezifizierung einer Ausführung der Abfragefunktion das Element des Schemas um zumindest ein zwei ^¬ tes Attribut ergänzt. Hiermit kann die Ausführung der Abfrage des Parameters über das erste Dokument gesteuert werden. Ins ^¬ besondere wird durch das zumindest eine zweite Attribut eine Anzahl an Ebenen in dem durch die Elemente des ersten strukturierten Dokuments aufgespannten Baum signalisiert, für die die Wertausprägungen als Wert der Parameter zurückgegeben werden sollen. Hierdurch kann die Bereitstellung des zumindest einen Wertes spezifisch gesteuert werden, um bspw. einen zur Bereitstellung des zumindest einen Wertes benötigten Speicherplatzes gering zu halten. In vorteilhafter Weise wird eine Antwort auf die Abfrage des zumindest einen Wertes mittels eines zweiten strukturierten Dokuments durchgeführt, das auf Basis des Schemas erzeugt wird und zumindest die zu dem zumindest einen Wert korrespon ^¬ dierende Werteausprägung zusammen mit dem dazugehörigen Ele- ment aufweist. Hierdurch wird eine Abfrage des zumindest ei ^¬ nen Wertes weiter vereinfacht werden, da die Antwort auf die Abfrage, so wie die Abfrage, mit Hilfe eines strukturierten Dokuments auf Basis des Schemas erzielt wird. Vorzugsweise wird zumindest eines der strukturierten Dokumen ^¬ te in textueller Form erzeugt, wodurch eine gute Lesbarkeit durch den Parser bereitgestellt wird.

Alternativ dazu kann zumindest eines der strukturierten Doku- mente entweder (i) in binärer Form oder (ii) zunächst tex ^¬ tueller Form und dann durch Kodierung mittels eines Text-zu- Binär Kodierers in binärer Form erzeugt werden, wobei die bi ^¬ näre Form insbesondere nach einem der Standards BIM oder EXI realisiert wird. Hierdurch wird die Abfrage des zumindest ei ^¬ nen Wertes mit Hilfe der binären Form sehr kompakt codiert und kann auf dem Modul ressourcenschonend, d.h. reduzierter Speicherplatz und reduzierte Rechenleistung, implementiert und ausgeführt werden. Die binäre Kodierung gemäß EXI [3] oder BIM [2] ermöglicht, dass ein Parser des strukturierten Dokuments in binärer Form direkt auf den binären Daten, d.h. ohne Decodierung von der binären zu der textuellen Form, operieren kann.

In einer vorzugsweisen Erweiterung wird zumindest eines der strukturierten Dokumente und/oder das Schema gemäß einer Beschreibungssprache XML [5, 6, 7] erzeugt. Durch den Einsatz einer standardisierten Beschreibungssprache kann eine kosten- günstige Realisierung erreicht werden, da bei der Implementierung auf bestehende Module zurückgegriffen werden kann.

Die Erfindung betrifft ferner ein Verfahren zum Herstellen eines Schemas zum Abfragen zumindest eines Wertes zumindest eines Parameters eines Moduls, wobei mittels eines Basissche ^¬ mas der zumindest eine Parameter als Element beschreibbar ist und mittels einer Werteausprägung des Elements zumindest ei ^¬ ner der Parameter konfiguriert werden kann, wobei das Schema durch Ergänzen des Basisschemas um eine Abfragefunktion der- art erzeugt wird, dass das Element des zumindest einen Para ^¬ meters, dessen zumindest eine Wert abgefragt werden soll, mittels der Abfragefunktion markierbar ist. Hierdurch wird ein Konfigurieren und Abfragen von zumindest einem Wert des zumindest einen Parameters des Moduls auf Basis eines einzi- gen Schemas erzielt, die mit Hilfe eines einzigen Parsers für strukturierte Dokumente realisiert werden können ohne einen zusätzlichen Parser, wie XPATH, implementieren zu müssen. Somit wird eine Realisierung mit geringem Speicherbedarf ermöglicht. Zudem kann das Herstellverfahren gemäß einem der Er- Weiterungen des Verfahrens zum Abfragen erweitert werden. Die Vorteile sind analog zu den bezüglich des Verfahrens zum Ab ^¬ fragen . Des Weiteren betrifft die Erfindung eine Vorrichtung zum Abfragen zumindest eines Wertes zumindest eines Parameters von einem Modul, wobei mittels eines Basisschemas der zumindest eine Parameter als Element beschreibbar ist und mittels einer Werteausprägung des Elements zumindest einer der Parameter konfiguriert werden kann,

mit folgenden Mitteln:

- Erstes Mittel zum Generieren eines Schemas durch Ergänzen des Basisschemas um eine Abfragefunktion derart, dass das Element des zumindest einen Parameters, dessen zumindest eine Wert abgefragt werden soll, mittels der Abfragefunktion markierbar ist;

- Zweites Mittel zum Erzeugen eines ersten strukturierten Dokuments auf Basis des Schemas derart, dass das erste struktu- rierte Dokument sowohl zumindest dasjenige Element für den zumindest einen Parameter aufweist, dessen zumindest eine Wert abgefragt werden soll, als auch diesem Element die Ab ^¬ fragefunktion zuordnet;

- Drittes Mittel zum Abfragen des zumindest einen Wertes des zumindest einen Parameters mittels des ersten strukturierten

Dokuments, wobei der zumindest eine Parameter aufgrund der Abfragefunktion dem Modul mitteilbar und der zumindest eine Wert des zumindest einen Parameters hieraufhin auslesbar ist. Diese Vorrichtung kann ferner mittels zumindest eines vierten Mittels erweitert werden, das derart ausgestaltet ist, dass damit zumindest einer der Verfahrensschritte gemäß vorstehen ^¬ der Ausführungen zum Verfahren zum Abfragen durchführbar ist.

Die Vorrichtung und ihre Erweiterungen weisen dieselben Vor- teile auf, wie die jeweils korrespondierenden Schritte bzgl. des Verfahrens zum Abfragen.

Die Erfindung betrifft überdies ein Verfahren zum Bereitstel ^¬ len zumindest eines Wertes zumindest eines Parameters durch ein Modul, wobei mittels eines Basisschemas der zumindest ei ^¬ ne Parameter als Element beschreibbar ist und mittels einer Werteausprägung des Elements zumindest einer der Parameter konfiguriert werden kann, mit folgenden Schritten: - Empfangen eines ersten strukturierten Dokuments auf Basis eines Schemas, wobei das Schema durch Ergänzen des Basissche ^¬ mas um eine Abfragefunktion derart generiert ist, dass das Element des zumindest einen Parameters, dessen zumindest eine Wert abgefragt werden soll, mittels der Abfragefunktion markierbar ist und das erste strukturierte Dokument sowohl zu ^¬ mindest dasjenige Element für den zumindest einen Parameter aufweist, dessen zumindest eine Wert abgefragt werden soll, als auch diesem Element die Abfragefunktion zuordnet;

- Bereitstellen des zumindest einen Wertes des zumindest ei ^¬ nen Parameters aufgrund des Empfangs des ersten strukturier ^¬ ten Dokuments derart, dass aufgrund der Abfragefunktion das Element und der zu dem Element korrespondierende Parameter ermittelt und der zumindest eine Wert des zumindest einen Pa- rameters, insbesondere in einem zweiten strukturierten Doku ^¬ ment, bereitgestellt wird.

Das Verfahren zum Bereitstellen kann anlog zum Verfahren zum Abfragen erweitert werden. Das Verfahren zum Bereitstellen und die jeweiligen Erweiterungen weisen dieselben Vorteile wie die jeweiligen Schritte des Verfahrens zum Abrufen auf.

Schließlich betrifft die Erfindung ein Modul zum Bereitstel ^¬ len zumindest eines Wertes zumindest eines Parameters durch ein Modul, wobei mittels eines Basisschemas der zumindest ei ^¬ ne Parameter als Element beschreibbar ist und mittels einer Werteausprägung des Elements zumindest einer der Parameter konfiguriert werden kann, mit folgenden Einheiten:

- Erste Einheit zum Empfangen eines ersten strukturierten Do- kuments auf Basis eines Schemas, wobei das Schema durch Er ^¬ gänzen des Basisschemas um eine Abfragefunktion derart gene ^¬ riert ist, dass das Element des zumindest einen Parameters, dessen zumindest eine Wert abgefragt werden soll, mittels der Abfragefunktion markierbar ist und das erste strukturierte Dokument sowohl zumindest dasjenige Element für den zumindest einen Parameter aufweist, dessen zumindest eine Wert abge ^¬ fragt werden soll, als auch diesem Element die Abfragefunkti ^¬ on zuordnet; - Zweite Einheit zum Bereitstellen des zumindest einen Wertes des zumindest einen Parameters aufgrund des Empfangs des ers ^¬ ten strukturierten Dokuments derart, dass aufgrund der Abfra ^¬ gefunktion das Element und der zu dem Element korrespondie ^¬ rende Parameter ermittelt und der zumindest eine Wert des zu ^¬ mindest einen Parameters, insbesondere in Form eines zweiten strukturierten Dokuments, bereitgestellt wird.

Dieses Modul kann ferner mittels zumindest einer dritten Ein ^¬ heit erweitert werden, das derart ausgestaltet ist, dass da ^¬ mit zumindest einer der Verfahrensschritte gemäß vorstehender Ausführungen zum Verfahren zum Bereitstellen durchführbar ist .

Das Modul und ihre Erweiterungen weisen dieselben Vorteile auf, wie die jeweils korrespondierenden Schritte bzgl. des Verfahrens zum Bereistellen.

Die Erfindung und ihre Weiterbildungen werden nachfolgend anhand von Zeichnungen näher erläutert. Im Einzelnen zeigen:

Figur 1 Basisschema zur Konfiguration eines Moduls

Figur 2 Schema zum Konfiguratieren und Abfragen von zu- mindet einem Wert zumindest eines Parameters des Moduls ermöglicht

Figur 3 Konfigurieren des Moduls mittels eines struktu ^¬ rierten Dokuments

Figur 4 Kodierung des strukturierten Dokuments von einer textuellen Form in eine binäre Form und Dekodie- rung des strukturierten Dokuments von einer binären in eine textuelle Form.

Figur 5A/B Erstes Beispiel einer Abfrage mittels eines ers ^¬ ten strukturierten Dokuments und einer Bereit- Stellung mittels eines zweiten strukturierten Dokuments

Figur 6 Zweites Beispiel einer Abfrage

Figur 7A/B Drittes Beispiel einer Abfrage von Werten mehre ^¬ rer Parameter und Bereitstellung der Werte

Figur 8A/B Viertes Beispiel zum Abfragen und Bereitstellen von Werten mehrerer Parameter

Figur 9A/B Fünftes Beispiel zum Abfragen und Bereitstellen von Werten mehrerer Parameter unter Verwendung eines zweiten Attributs zur Spezifizierung einer Ausführung der Abfrage

Figur 10 Eine Vorrichtung zum Abfragen zumindest eines

Wertes zumindest eines Parameters Figur 11 Ein Modul zum Bereitstellen zumindest eines Wertes zumindest eines Parameters

Elemente mit gleicher Funktion und Wirkungsweise sind in den Figuren mit denselben Bezugszeichen versehen.

Figur 1 zeigt ein Basisschema BSC zur Konfiguration eines Mo ^¬ duls, welches gleichbedeutend mit dem auch verwendeten Beg ^¬ riff Gerät ist. Dieses Basisschema basiert auf einer Sprache XML (XML- Extensible Markup Language) . Die einzelnen Elemente repräsentieren dabei folgende Konfigurationsparameter - im Folgenden auch Parameter genannt:

Elementname Parameter

KN Knoten

SID Sensoridentifikation

MSR Messrate (Anzahl an Messwerten pro Sekunde)

ACC Genauigkeit (der Messwerte)

VAL Messwert MAN HerstellerInformationen

COM Herstellername

YEA Herstellungsj ahr Dieses Basisschema gemäß XML (Extended Markup Language) [5, 6, 7] weist Werteausprägungen der Elemente auf, die einen Wert für den zum Element korrespondierenden Parameter wiedergeben. XML definiert dazu Standard-Datentypen, wie string oder integer. Daneben können auch eigene neue Datentypen er- zeugt werden, wie beispielsweise typeACC, der für das Element ACC die Werteausprägungen 1, 0.1, und 0.01 zulässt. Das Ele ^¬ ment ACC wird definiert, wie viele Stellen nach dem Komma der Parameter Messwert seinen Wert anzeigt, also mit 0, 1 oder zwei Stellen nach dem Komma.

Figur 2 zeigt ein Schema SC gemäß XML, das zum Schema aus Fi ^¬ gur 1 um eine Abfragefunktion AF erweitert wurde. Die Bedeu ^¬ tung der in dem Basisschema aus Figur 1 erläuterten Elemente und Werteausprägungen bleibt im Schema aus Figur 2 erhalten. Mit Hilfe der Abfragefunktion wird dem, dem Parameter zugeordneten, Element eine Markierung zugewiesen, die angibt, dass der Wert dieses Parameters abgefragt werden soll. Zum einen lassen folgende Datentypen nun die Möglichkeit zu ein weiteres Zeichen zu definieren, wobei das weitere Zeichen ei- ne besondere Werteausprägung darstellt, mit der die Abfrage des durch den Datentypen konstruierten Elements signalisiert wird :

Datentyp besondere Werteausprägung VSP

typeMSR „?"

typeACC „X"

Zudem kann der Messwert implizit mittels der besonderen Werteausprägung „#" des Elements VAL abgefragt werden. Diese be- sondere Werteausprägung wird bei einer Messung nicht auftre ^¬ ten, so dass neben der expliziten Angabe wie in den obigen Datentypen auch eine implizite Definition der besonderen Werteausprägung derart erfolgen kann, dass die besondere Werte- ausprägung einen Wert einnimmt, der durch den Parameter des Geräts nicht erreicht wird. Zudem kann das Element und/oder der Datentyp um ein drittes Attribut ergänzt werden, welches die besondere Wertausprägung definiert. Ein Beispiel hierzu zeigt ein Datentyp typeACC2, der den bestehenden Datentypen typeACC um das dritte Attribut ergänzt. Dieses dritte Attri ^¬ but spezifiziert die Werteausprägung "X" als Abfragefunktion.

Anstelle von unterschiedlichen besonderen Werteausprägungen kann auch eine Zahl oder Zeichen die besondere Werteausprä ^¬ gung repräsentieren, wie beispielsweise „?". Bei den besonde ^¬ ren Werteausprägungen gehören die Anführungszeichen nicht zur Werteausprägung. Diese werden lediglich zur besseren Lesbarkeit der Beschreibung angegeben.

Daneben weist in Figur 2 das Element KN noch ein erstes Att ^¬ ribut ATI als Abfragefunktion AF auf, das einen Abfragewunsch des Elements KN - also des Wertes des Parameters Knoten - an ^¬ gibt. Das erste Attribut ATI mit einem Namen CAL kann die Werte 0 und 1 annehmen. Der Wert 1 signalisiert, dass der Wert für das Element KN abgefragt wird.

Die nachfolgenden Figuren 3 bis 9 zeigen Ausführungsbeispiele der Erfindung in Form eines Teils eines strukturierten, z.B. XML-basierten, Dokuments DOC.

Figur 3 zeigt das strukturierte Dokument DOC unter Berück ^¬ sichtung des Schemas SC, welches die Konfigurationsdaten zeigt. Dabei werden folgende Werte zur Konfiguration von Pa- rametern gesetzt:

Parameter Wert

Sensoridentifikation 123

Messrate 5

Auflösung 0.1

Herstellername Siemens

Herstellungsj ahr 2011 Figur 3 und Folgende zeigen jeweils eine textuelle Form TF des jeweiligen strukturierten Dokuments. Alternativ dazu kann das jeweilige strukturierte Dokument auch in einer binären Form erzeugt werden. Dies kann zum einen dadurch erfolgen, dass das jeweilige strukturierte Dokument direkt in einer bi ^¬ nären Form generiert wird. Zum anderen kann zunächst das je ^¬ weilige strukturierte Dokument in seiner textuellen Form er ^¬ zeugt und dann unter Anwendung eines XML-zu-Binär Kodieres, z.B. nach einem Standard BIM [2] oder EXI [3], in eine binäre Form BF kodiert bzw. komprimiert werden. Der XML-Binär Kodierer ENC formt die textuelle Form des strukturierten Dokuments DOC in eine binäre Form um, um ein Datenvolumen zu reduzieren. Jedoch bleiben Aufbau und Inhalt des ersten Dokumentes erhalten bzw. sind rekonstruierbar. Figur 4 zeigt diese Ko- dierung exemplarisch. Eine Dekodierung erfolgt analog zur Kodierung mittels eines Decoders DEC, z.B. eines Binär-zu-XML Decoders .

Um die aktuelle Messrate beim Gerät abzufragen wird die Ab- fragefunktion AF mittels der besonderen Werteausprägung „?" im Element MSR aktiviert. Ein erstes strukturiertes Dokument DOC1 auf Basis des Schemas SC ist in Figur 5A zu sehen, das die Abfragefunktion aufweist. Hierbei wird die Sensoridenti ^¬ fikation angegeben, um den Sensor im Gerät zu adressieren, falls es mehrere Sensoren gibt. Die Werteausprägung des Ele ^¬ ments MSR wird gemäß der besonderen Werteausprägung auf „?" gesetzt. Auch das erste strukturierte Dokument DOC1 kann in textueller Form und binärer Form kodiert werden. Nach Empfang des ersten strukturierten Dokuments erkennt das Modul/Gerät, dass die besondere Werteausprägung für das Element MSR ge ^¬ setzt ist und damit der Wert des Parameters Messrate ausgele ^¬ sen und an eine Abfrageeinheit übertragen werden soll. Der auszulesende Wert kann in ein zweites strukturiertes Dokument DOC2 gemäß dem Schema SC eingetragen an die Abfrageinheit übertragen werden, siehe Figur 5B. Es ist auch möglich als zweites strukturiertes Dokument das erste strukturierte Doku ^¬ ment, in textueller oder binärer Form, zu verwenden und dabei die besondere Werteausprägung durch den angefragten Wert zu ersetzen .

Analog zur Abfrage der Messrate kann der Messwert, siehe Fi- gur 6, abgefragt werden. Hierbei wird als besondere Werteaus ^¬ prägung das Zeichen „#" im Element VAL gesetzt.

Neben der Abfrage einzelner Werte der Parameter können auch mehrere Werte auf einmal abgefragt werden. In dem Abfragedo- kument gemäß Figur 7A werden der Messwert und die Genauigkeit zusammen abgefragt. Hierzu werden jeweils die Elemente SID, ACC und VAL mit den dazugehörigen speziellen Werteausprägungen im zweiten Dokument signalisiert. Das weitere Vorgehen ist analog zu obiger Beschreibung. Das zweite strukturierte Dokument gemäß Figur 7B zeigt das Bereitstellen der Werte an ^¬ gefragten Parameter.

Figur 8A zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel, bei dem die Abfragefunktion mittels des ersten Attributs CAL erfolgt. Hierbei werden alle Parameter des Knotens mit der Sensoridentifikation „123" ausgelesen. Die bereitgestellten Werte der angefragten Parameter sind in Figur 8B zu sehen.

Figur 9A zeigt eine Modifikation des Ausführungsbeispiels ge- mäß Figur 8A, bei dem zusätzlich zur Abfragefunktion eine Ausführung der Abfrage mittels eines zweiten Attributs AT2 durchgeführt wird. Dieses zweite Attribut mit einem Namen DEP gibt an, wie viele Ebenen, gezählt ab der aktuellen Ebene durch die Abfrage in dem zweiten strukturierten Dokument zu- rückgegeben werden sollen. In Figur 9A hat DEP den Wert 1, wodurch nur die Werte der Parameter der aktuellen Ebene ausgelesen werden. Das zweite strukturierte Dokument in Figur 9B zeigt das Abfrageergebnis. Im Allgemeinen beschreibt das zweite strukturierte Dokument einen hierarchischen Baum, der durch das Schema definiert ist. Hierbei umfasst die aktuelle Ebene des Elements KN alle Elemente, die direkt von dem Ele ^¬ ment KN stammen. Ein Wert 2 für das zweite Attribut mit dem Namen DEP schließt alle Elemente der aktuellen Ebene und Kindelemente der Elemente der aktuellen Ebene ein.

Schließlich besteht eine Erweiterung der obigen Ausführungs- beispiele darin, dass die Sensoridentifikation, also das Ele ^¬ ment SID, in dem Anfragedokument nicht spezifiziert wird. Hierdurch wird die Anfrage alle Knoten betreffen, die in dem Gerät instantiiert sind (nicht durch eine Zeichnung darge ^¬ stellt) .

Figur 10 zeigt eine Vorrichtung DEV zum Abfragen eines Wertes Wl, W2 zumindest eines Parameters PI, P2 von einem Modul MOD, mit folgenden Mitteln Ml, M2, M3 :

- Erstes Mittel Ml zum Generieren eines Schemas SC, das die konfigurierbaren Parameter PI, P2 des Moduls als Elemente

MSR, VAL und den zu dem jeweiligen Parameter PI, P2 dazugehörigen Wert Wl, W2 als Werteausprägung VI, V2 referenziert und das Element MSR des zumindest einen Parameters PI, dessen Wert Wl abgefragt werden soll, mittels einer Abfragefunktion AF markiert;

- Zweites Mittel M2 zum Erzeugen eines ersten strukturierten Dokuments DOC1 auf Basis des Schemas SC derart, dass dieses sowohl zumindest dasjenige Element MSR für den Parameter PI aufweist, der abgefragt werden soll, als auch diesem Element MSR die Abfragefunktion AF zuordnet,

- Drittes Mittel M3 zum Abfragen des Wertes Wl des zumindest einen Parameters PI mittels des ersten strukturierten Doku ^¬ ments DOC1, wobei der zumindest eine Parameter PI aufgrund der Abfragefunktion AF dem Modul MOD mitteilbar und der Wert Wl des zumindest einen Parameters PI auslesbar ist.

Zudem verfügt die Vorrichtung DEV über zumindest ein viertes Mittel M4, das derart ausgestaltet ist, dass damit zumindest eines der Erweiterungen des Verfahrens durchführbar ist.

Figur 11 zeigt ferner das Modul MOD zum Bereitstellen eines Wertes Wl zumindest eines Parameters PI mit folgenden Einhei ^¬ ten El, E2: - Erste Einheit El zum Empfangen eines ersten strukturierten Dokuments DOC1 auf Basis eines Schemas SC, wobei das erste strukturierte Dokument DOC1 sowohl zumindest dasjenige Ele ^¬ ment MSR für den Parameter PI aufweist, der abgefragt werden soll, als auch diesem Element MSR die Abfragefunktion AF zuordnet, das Schema SC die Parameter PI des Moduls MOD be ^¬ schreibt und eine Abfragefunktion AF derart definiert, dass mit Hilfe der Abfragefunktion AF das dem zumindest einen Parameter PI zugeordnete Element MSR markierbar ist, dessen Wert abgefragt werden soll;

- Zweite Einheit E2 zum Bereitstellen des zumnindest einen Wertes Wl des zumindest einen Parameters PI aufgrund des Emp ^¬ fangs des ersten strukturierten Dokuments DOC1 derart, dass aufgrund der Abfragefunktion AF das Element MSR und der zu dem Element MSR korrespondierende Parameter PI ermittelt und der Wert Wl des zumindest einen Parameters PI, insbesondere in Form eines zweiten strukturierten Dokuments DOC2, bereitgestellt wird. Ferner kann das Modul MOD über zumindest eine dritte Einheit E3 verfügen, die derart ausgestaltet ist, dass damit zumin ^¬ dest Erweiterungen bei der Bereitstellung realisierbar sind.

Die Mittel Ml, M2, M3, M4 der Vorrichtung und die Einheiten El, E2 und E3 des Moduls können in Hardware, Software oder in einer Kombination aus Hard- und Software ausgeführt werden. Beispielsweise führt ein Prozessor die als Programmcode in einem an den Prozessor angegliederten Speicher abgelegten Schritte des Verfahrens aus. Ferner verfügt der Prozessor über eine Ein- und Ausgabeschnittstelle zum Austausch des ersten und zweiten strukturierten Dokuments, ggfs. nach deren Text-zu-Binär Kodierung - zum Konfigurieren des Moduls, Abfragen von Parameterwerten des Moduls und Empfangen von abgefragten Parameterwerten von dem Modul. Zudem können Zwischen- ergebnisse der einzelnen Verarbeitungsschritte Speicher zu ^¬ sätzlich abgelegt werden. Des Weiteren können die Mittel Ml, M2, M3, M4 und die Einheiten El, E2, E3 des Moduls auch durch eine feste Verdrahtung von elektronischen Bauteilen mit einem Speichermodul realisiert werden.

Die Erfindung und ihre Weiterbildung wurden anhand mehrerer Beispiele erläutert. Die Erfindung ist jedoch nicht nur auf die Beispiele beschränkt. Zudem können die Ausführungsbei ^¬ spiele auch kombiniert werden.

Literatur

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[4] Query-By-Example,

http://en.wikipedia.org/wiki/Query by Example, Stand: 6 Juli 2011

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