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Title:
METHOD FOR MONITORING A MEASURING DEVICE SYSTEM
Document Type and Number:
WIPO Patent Application WO/2021/069192
Kind Code:
A1
Abstract:
The method comprises: generating a measurement signal (s1) by means of a measuring device (M1) such that the measurement signal (s1) has at least one signal parameter which follows both a temporal change (Δx1/Δt; Δx1'/Δt) in a primary measurement variable (x1) and a temporal change (Δy1/Δt) in a disturbance variable (y1) independent of said measurement variable (x1) in each case with a temporal change; and generating a measurement signal (s2) by means of a measuring device (M2) such that the measurement signal (s2) has at least one signal parameter which follows a temporal change (Δx2/Δt; Δx2'/Δt) in a primary measurement variable (x2) with a temporal change. Furthermore, the method comprises: determining measurement values (XI) of a first type, representing the primary measurement variable (x1) or a secondary measurement variable (f(x1)→x1') dependent thereon, on the basis of at least the signal parameter of the measurement signal (s1); and determining measurement values (XII) of a second type, representing the primary measurement variable (x2) or a secondary measurement variable (f(x2) → x2') dependent thereon, on the basis of at least the signal parameter of the measurement signal (s2). Furthermore, the method comprises: using both measurement values (XI) of the first type and measurement values (XII) of the second type to determine an error characteristic (Err), wherein the error characteristic (Err) represents a speed error (ΔXI/ΔXII), caused by a change in the disturbance variable (y1), of the measuring device system, specifically a deviation between the rate of change (ΔXI/Δt) of the measurement values (XI) of the first type and the rate of change (ΔXII/Δt) of the measurement values (XII) of the second type.

Inventors:
TSCHABOLD PETER (CH)
Application Number:
PCT/EP2020/076172
Publication Date:
April 15, 2021
Filing Date:
September 18, 2020
Export Citation:
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Assignee:
FLOWTEC AG (CH)
International Classes:
G01D3/036; G01D3/08; G01F1/00; G08B21/00
Domestic Patent References:
WO2009134268A12009-11-05
WO2009134268A12009-11-05
WO2016176224A12016-11-03
WO2018083453A12018-05-11
Foreign References:
DE102013106157A12014-12-18
DE102011076838A12012-12-06
US20070084298A12007-04-19
US20110161018A12011-06-30
US20120042732A12012-02-23
Attorney, Agent or Firm:
ANDRES, Angelika (DE)
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Claims:
P A T E N T A N S P R Ü C H E

1 . Verfahren zum Überwachen eines mittels eines ersten Meßgeräts (M1) und mittels eines zweiten Meßgeräts (M2) gebildeten, insb. dem Erfassen von Meßgrößen eines in einer Rohrleitung strömenden Fluids dienlichen, Meßgeräte-Systems, insb. nämlich Verfahren zum Überprüfen einer Funktionstüchtigkeit des Meßgeräte-Systems und/oder zum Feststellen einer Störung des Meßgeräte-Systems, welches Verfahren folgende Schritte umfaßt:

- Erzeugen eines, insb. elektrischen, ersten Meßsignals (s1) mittels des ersten Meßgeräts (M1), derart, daß das Meßsignal (s1) wenigstens einen ersten Signalparameter, insb. eine Amplitude, eine Frequenz oder einen Phasenwinkel, aufweist, der sowohl einer zeitlichen

Änderung (Ax1/At; AxT/At) einer ersten primären Meßgröße (x1) als auch einer zeitlichen Änderung (Ay1/At) einer von nämlicher ersten Meßgröße (x1) unabhängigen, insb. eine Funktionstüchtigkeit des Meßgeräte-Systems beeinträchtigenden und/oder eine Störung des Meßgeräte-Systems bewirkenden, Störgröße (y1) jeweils mit einer zeitlichen Änderung folgt;

- Erzeugen eines, insb. elektrischen, zweiten Meßsignals (s2) mittels des zweiten Meßgeräts (M2), derart, daß das Meßsignal (s2) wenigstens einen ersten Signalparameter, insb. eine Amplitude, eine Frequenz oder einen Phasenwinkel, aufweist, der einer zeitlichen Änderung (Ax2/At; Ax2‘/At) einer, insb. von der ersten primären Meßgröße (x1) abhängigen und/oder von der Störgröße (y1) unabhängigen, zweiten primären Meßgröße ( x2) mit einer zeitlichen Änderung folgt;

- Ermitteln von die erste primäre Meßgröße (x1) oder eine davon abhängige erste sekundäre Meßgröße ( f(x1) -> x1 ‘) repräsentierenden Meßwerten (Xi) erster Art anhand wenigstens des ersten Signalparameters des ersten Meßsignals (s1);

- Ermitteln von die zweite primäre Meßgröße (x2) oder eine davon abhängige zweite sekundäre Meßgröße ( f(x2) -> x2‘) repräsentierenden Meßwerten (Xu) zweiter Art anhand wenigstens des ersten Signalparameters des zweiten Meßsignals (s2);

- Verwenden sowohl von Meßwerten (Xi) erster Art als auch von Meßwerten (Xu) zweiter Art zum Ermitteln einer Fehlerkennzahl (Err), wobei die Fehlerkennzahl (Err) einen durch eine Änderung der Störgröße (y1) verursachten, insb. erhöhten und/oder als kritisch eingestuften, Geschwindigkeitsfehler (AXI/AXM) des Meßgeräte-Systems, nämlich eine Abweichung zwischen einer, insb. momentanen oder mittleren, Änderungsrate (AXi/At) der Meßwerte (Xi) erster Art und einer, insb. momentanen oder mittleren, Änderungsrate (AXn/At) der Meßwerte (Xu) zweiter Art repräsentiert, insb. nämlich quantifiziert.

2. Verfahren nach einem der vorherigen Ansprüche, weiters umfassend: Erzeugen einer ein Ausmaß der Störgröße (y1) zumindest qualitativ anzeigenden, insb. als Alarm deklarierten, Meldung in Abhängigkeit von der ermittelten Fehlerkennzahl (Err).

3. Verfahren nach einem der vorherigen Ansprüche, weiters umfassend:

- Ausgeben von Meßwerten (Xi) erster Art und/oder Meßwerten (Xu) zweiter Art als qualifizierte Meßwerte des Meßgeräte-Systems in Abhängigkeit von der ermittelten Fehlerkennzahl (Err); und/oder

- Verhindern einer Ausgabe zumindest von Meßwerten (Xi) erster Art als qualifizierte Meßwerte des Meßgeräte-Systems in Abhängigkeit von der ermittelten Fehlerkennzahl (Err).

4. Verfahren nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei das Ermitteln der Fehlerkennzahl (Err) ein, insb. wiederkehrendes, Berechnen wenigstens eines die Fehlerkennzahl (Err) quantifizierenden Kennzahlwertes (XEIT), insb. nämlich ein Berechnen mehrerer, zeitlich aufeinanderfolgender Kennzahlwerte, umfaßt, insb. derart, daß eine ansteigende Fehlerkennzahl (Err) einen zunehmenden Geschwindigkeitsfehler (DCI/DCM) repräsentiert.

5. Verfahren nach dem vorherigen Anspruch, weiters umfassend:

- Vergleichen des wenigstens eines Kennzahlwertes der Fehlerkennzahl (CEGG) mit einem dafür vorgegebenen Schwellenwert (THEGG), wobei der Schwellenwert einen maximal zulässigen Geschwindigkeitsfehler des Meßgeräte-Systems repräsentiert, insb. nämlich quantifiziert;

- sowie Erzeugen der Meldung, falls der Kennzahlwert (CE,T) den Schwellenwert (THEGG) überschreitet bzw. überschritten hat.

6. Verfahren nach einem der vorherigen Ansprüche, weiters umfassend:

- Ausgeben von Meßwerten (Xi) erster Art und/oder Meßwerten (Xu) zweiter Art als qualifizierte Meßwerte des Meßgeräte-Systems, falls der wenigstens Kennzahlwert den Schwellenwert nicht überschritten hat; und/oder

- Verhindern einer Ausgabe zumindest von Meßwerten (Xi) erster Art als qualifizierte Meßwerte des Meßgeräte-Systems, falls der wenigstens eine Kennzahlwert den Schwellenwert überschritten hat.

7. Verfahren nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei das Ermitteln der Fehlerkennzahl (CE,T) ein Ermitteln einer Meßwerte-Differenz (DCi) erster Art, nämlich einer Differenz von zwei für ein vorgegebenes Zeitintervall (At) zeitlich aufeinanderfolgend ermittelte Meßwerte (Xi) erster Art, und ein Ermitteln einer Meßwerte-Differenz (AXn) zweiter Art, nämlich einer Differenz (AXn) von zwei für nämliches Zeitintervall (At) zeitlich aufeinanderfolgend ermittelte Meßwerte (Xu) zweiter Art, umfaßt.

8. Verfahren nach dem vorherigen Anspruch, wobei das Ermitteln der Fehlerkennzahl (CEGG) ein Ermitteln eines Quotienten aus der Meßwerte-Differenz (DCi) erster Art und der Meßwerte-Differenz (AXn) zweiter Art umfaßt.

9. Verfahren nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei das Ermitteln der Fehlerkennzahl (Err), insb. nämlich das Berechnen eine oder mehrerer die Fehlerkennzahl (Err) quantifizierenden Kennzahlwerten (XEIT), ein Ermitteln sowohl einer Änderungsrate (AXi/At) der Meßwerte (Xi) erster Art aus der Meßwerte-Differenz (AXi) erster Art und dem vorgegebenen Zeitintervall (At) als auch einer Änderungsrate (AXn/At) der Meßwerte (Xu) zweiter Art aus der Meßwerte-Differenz (AXi) erster Art und dem vorgegebenen Zeitintervall (At) umfaßt.

10. Verfahren nach dem vorherigen Anspruch, wobei das Ermitteln der Fehlerkennzahl (CEGG) ein Ermitteln eines Quotienten aus der Änderungsrate (AXi/At) der Meßwerte (Xi) erster Art und der Änderungsrate (AXn/At) der Meßwerte (Xu) zweiter Art umfaßt.

11 . Verfahren nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei das erste Meßgerät ein Coriolis- Massedurchfluß-Meßgerät, insb. ein Coriolis-Massedurchfluß-/Dichte-Meßgerät, ist.

12. Verfahren nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei das erste Meßgerät dafür eingerichtet ist, einen Massestrom und/oder einen Volumenstrom, insb. auch eine Dichte, eines durch nämliches Meßgerät strömenden Fluids zu messen.

13. Verfahren nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei das zweite Meßgerät ein Differenzdruck-Meßgerät ist.

14. Verfahren nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei das zweite Meßgerät dafür eingerichtet ist, eine Druckdifferenz innerhalb eines durch nämliches Meßgerät strömenden Fluids und/oder einen Volumenstrom nämlichen Fluids zu messen.

15. Verfahren nach einem der vorherigen Ansprüche,

- wobei die erste primäre Meßgröße (x1) ein Massestrom (rh = dM/dt -> x1) eines das erste Meßgerät, insb. nämlich sowohl das erste Meßgerät als auch das zweite Meßgerät, durchströmenden Fluids ist; und/oder - wobei die erste sekundäre Meßgröße (x1 ‘) ein Volumenstrom (v = dV/dt -> x1 ‘) eines das erste Meßgerät, insb. nämlich sowohl das erste Meßgerät als auch das zweite Meßgerät, durchströmenden Fluids ist; und/oder

- wobei die zweite primäre Meßgröße (x2) eine Druckdifferenz (Dr -> x2) innerhalb eines das zweite Meßgerät, insb. nämlich sowohl das zweite Meßgerät als auch das erste Meßgerät, durchströmenden Fluids ist; und/oder

- wobei die zweite sekundäre Meßgröße (x2‘) ein Volumenstrom (v = dV/dt -> x2‘) eines das zweite Meßgerät, insb. nämlich sowohl das zweite Meßgerät als auch das erste Meßgerät, durchströmenden Fluids ist; und/oder

- wobei die Störgröße (y1) ein magnetischer Fluß bzw. eine magnetische Flußdichte (B -> y1) eines Magnetfelds innerhalb des ersten Meßgeräts ist, insb. nämlich eines sich außerhalb des ersten Meßgräts (M1) schließenden bzw. durch einen außerhalb des ersten Meßgeräts (M1) positionierten Magneten verursachten magnetischen Felds.

16. Verfahren nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei wenigstens das erste Meßsignal (s1) wenigstens einen zweiten Signalparameter aufweist, der einer zeitlichen Änderung einer, insb. von wenigstens einer der ersten und zweiten primären Meßgrößen (x1 , x2) und/oder von der Störgröße (y1) unabhängigen, dritten primären Meßgröße (p -> x3) mit einer zeitlichen Änderung folgt.

17. Verfahren nach dem vorherigen Anspruch, weiters umfassend: Verwenden des ersten Meßsignals (s1) auch zum Ermitteln von die dritte primäre Meßgröße (x3) repräsentierenden Meßwerten (Xm) dritter Art.

18. Verfahren nach dem vorherigen Anspruch, weiters umfassend:

- Verwenden auch von Meßwerten dritter Art (Xm) zum Ermitteln der Meßwerte (Xi) erster Art; und/oder

- Verwenden auch von Meßwerten (Xm) dritter Art zum Ermitteln der Meßwerte (Xu) zweiter Art.

19. Verfahren nach einem der Ansprüche 16 bis 18, wobei die dritte primäre Meßgröße (x3) eine Dichte (p -> x3) eines das erste Meßgerät (M1), insb. nämlich sowohl das erste Meßgerät (M1) als auch das zweite Meßgerät (M2), durchströmenden Fluids ist.

20. Verfahren nach einem der vorherigen Ansprüche, weiters umfassend:

- Verwenden des ersten Meßgeräts (M1) zum Erzeugen eines, insb. elektrischen, dritten Meßsignals (s3), das wenigstens einen Signalparameter, insb. eine Amplitude, eine Frequenz oder einen Phasenwinkel, aufweist, der sowohl der zeitlichen Änderung (Ax1/At; AxT/At) der ersten primären Meßgröße (x1) als auch der zeitlichen Änderung (Ay1/At) der Störgröße (y1) jeweils mit einer zeitlichen Änderung folgt; - sowie Ermitteln von Meßwerten (Xi) erster Art anhand auch des wenigstens einen

Signalparameters des dritten Meßsignals (s3).

Description:
Verfahren zum Überwachen eines Meßgeräte-Systems

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Überwachen eines mittels eines ersten Meßgeräts und mittels eines zweiten Meßgeräts gebildeten Meßgeräte-Systems, insb. nämlich Verfahren zum Überprüfen einer Funktionstüchtigkeit des Meßgeräte-Systems und/oder zum Feststellen einer Störung des Meßgeräte-Systems.

In der industriellen Meßtechnik werden zur Ermittlung einer oder mehrerer Meßgrößen, beispielsweise eines Massestroms und/oder einer Dichte, eines in einer Prozeßleitung, beispielsweise einer Rohrleitung strömenden Meßstoffs oftmals jeweils mittels zwei oder mehreren (Einzel-)Meßgeräten gebildete Meßgeräte-Systeme bzw. Meßanordnungen eingesetzt. Beispiele für ein solches mittels eines ersten Meßgeräts und mittels wenigstens eines zweiten Meßgeräts gebildeten Meßgeräte-System sind u.a auch aus der US-A 2007/0084298, der US-A 2011/0161018, der US-A 2012/0042732, der WO-A 2009/134268, der WO-A 2016/176224 oder der WO-A 2018/083453 bekannt.

Bei einem solchen Meßgeräte-System dient das erste Meßgerät zum Erzeugen eines, typischerweise elektrischen, ersten Meßsignals, das wiederum wenigstens einen Signalparameter, beispielsweise nämlich eine Amplitude, eine Frequenz oder einen Phasenwinkel, aufweist, der einer zeitlichen Änderung einer ersten primären Meßgröße mit einer zeitlichen Änderung folgt, sowie zum Ermitteln von nämliche erste primäre Meßgrößen oder eine davon abhängige erste sekundäre Meßgröße repräsentierenden Meßwerten erster Art anhand wenigstens des ersten Signalparameters des ersten Meßsignals und dient das zweite Meßgerät zum Erzeugen eines, typischerweise elektrischen, zweiten Meßsignals, das ebenfalls wenigstens einen Signalparameter aufweist, der einer zeitlichen Änderung einer, ggf. auch von der ersten primären Meßgröße abhängigen, zweiten primären Meßgröße mit einer zeitlichen Änderung folgt sowie zum Ermitteln von die zweite primäre Meßgröße oder eine davon abhängige zweite sekundäre Meßgröße repräsentierenden Meßwerten zweiter Art anhand wenigstens des ersten Signalparameters des zweiten Meßsignals. Zum Erfassen und Umwandeln der jeweiligen primären Meßgröße in das diese jeweils repräsentierende Meßsignal weist jedes der Meßgerät jeweils einen entsprechenden Meßwandler auf, der wiederum mit einer das jeweils gelieferte Meßsignal entsprechend auswertende Meßgerät-Elektronik des jeweiligen Meßgeräts elektrisch verbunden ist. Die Meßwandler können beispielsweise strömungstechnisch in Reihe oder auch strömungstechnisch parallel geschaltet sein. Bei den in der US-A 2007/0084298, der US-A 2011/0161018,

US-A 2012/0042732 bzw. WO-A 2009/134268 beschriebenen Meßgeräte-Systemen ist beispielsweise das erste Meßgerät jeweils dafür eingerichtet, als erste primär Meßgröße einen Massestrom und/oder als eine erste sekundäre Meßgröße einen Volumenstrom des durch dieses Meßgerät strömenden Fluids zu messen und ist das zweite Meßgerät dafür eingerichtet, als zweite primäre Meßgröße einen Druck und/oder eine Druckdifferenz innerhalb eines durch nämliches Meßgerät strömenden Fluids, beispielsweise auch einen Druckabfall über dem ersten Meßgerät, und/oder als eine zweite sekundäre Meßgröße einen Volumenstrom nämlichen Fluids zu messen.

Bei dem ersten Meßgerät kann es sich beispielsweise um ein konventionelles Coriolis-Massedurchfluß-Meßgerät bzw. Coriolis-Massedurchfluß/-Dichte-Meßgerät handeln und das zweite Meßgerät kann beispielsweise ein Differenzdruck-Volumendurchfluß-Meßgerät sein. Darüberhinaus kann ein solches Meßgeräte-System auch so ausgebildet sein, daß, wie auch in der US-A 2007/0084298 oder der WO-A 2009/134268 beschrieben, wenigstens eines von dessen ersten und zweiten Meßgeräten das jeweilige Meßsignal mittels beiden Meßwandlern generiert bzw. daß der Meßwandler des einen der beiden Meßgerät zumindest anteilig auch als Bestandteil des Meßwandler des jeweils anderen Meßgerät dient.

Wie u.a. in der WO-A 2009/134268 erörtert, können die vorbezeichneten Meßwerte erster und zweiter Art u.a. auch dafür verwendet werden, um anhand einer Abweichung zwischen den nominell weitgehend gleichen Meßwerten das Meßgeräte-Systems daraufhin zu überwachen, ob bzw. inwieweit eine Störung des Meßgeräte-Systems, beispielsweise in Gestalt eines Belags an einer Innenwand eines oder mehrerer in die Messung involvierten Rohre, vorliegt, derart, daß aufgrund des Vorliegens der Störung einerseits und einer erhöhten (Quer-)Empfindlichkeit wenigstens eines der Meßsignale bzw. dessen wenigstens einen Signalparameter auf eine entsprechende Störgröße anderseits, derart, die Meßwerte erster Art und/oder die Meßwerte zweiter Art einen inakzeptabel hohen Meßfehler aufweisen. Eine weitere entsprechend zu diagnostizierende Störung eines solchen Meßgeräte-Systems kann beispielsweise auch vorliegen, falls das Meßgeräte-Systems starken elektrischen und/oder magnetischen Feldern, etwa infolge von in der Nähe stationierten hohe elektrische Gleichströme führenden Anlagen oder starken Magneten. Im Ergebnis einer solchen Störung kann die zeitliche Änderung zumindest eines der Signalparameter der ersten und zweiten Meßsignale zumindest teilweise auf eine solche Störung bzw. deren zeitliche Änderung zurückzuführen sein, mithin können damit ermittelte Meßwerte in durchaus erheblichem Maße verfälscht sein.

Untersuchungen an Meßgeräte-Systeme der vorbezeichneten Art haben allerdings ferner ergeben, daß bei Anwendung eines solchen Verfahrens zur Diagnose von Störungen bei Meßgeräte-Systemen der in Rede stehenden Art bzw. zur Überwachung solcher Meßgeräte-Systeme, nicht zuletzt aufgrund der typischerweise unterschiedlichen Meßgenauigkeiten der ersten und zweiten Meßgeräte einerseits und der typischerweise unterschiedlichen Empfindlichkeiten der von den Meßgeräte gelieferten Meßsignale auf solche Störungen anderseits eine Schwelle für die Detektion nämlicher Störungen durchaus erheblich über dem eigentlich akzeptierten Toleranzmaß für Meßfehler liegen kann; dies im besonderen in der Weise, daß die Störung erst erkannt werden kann, wenn sie ein vergleichsweise hohes Ausmaß angenommen und/oder, etwa im Falle von über einen längeren Meßzeitraum hinweg totalisierter Meßwerte, zeitlich bereits lange angedauert hat.

Dem Rechnung tragend besteht eine Aufgabe der Erfindung darin, Meßgeräte-Systeme der vorbezeichneten Art dahingehend zu verbessern, daß allfällig darin auftretende Störungen bzw. entsprechende Verfälschungen von deren Meßwerten bereits frühzeitig und verläßlich erkannt werden können.

Zur Lösung der Aufgabe besteht die Erfindung in einem Verfahren zum Überwachen eines mittels eines ersten Meßgeräts und mittels eines zweiten Meßgeräts gebildeten, beispielsweise dem Erfassen von Meßgrößen eines in einer Rohrleitung strömenden Fluids dienlichen, Meßgeräte-Systems, beispielsweise nämlich Verfahren zum Überprüfen einer Funktionstüchtigkeit des Meßgeräte-Systems und/oder zum Feststellen einer Störung des Meßgeräte-Systems, welches Verfahren folgende Schritte umfaßt:

• Erzeugen eines, beispielsweise elektrischen, ersten Meßsignals mittels des ersten Meßgeräts, derart, daß das Meßsignal wenigstens einen ersten Signalparameter, beispielsweise eine Amplitude, eine Frequenz oder einen Phasenwinkel, aufweist, der sowohl einer zeitlichen Änderung einer ersten primären Meßgröße als auch einer zeitlichen Änderung einer von nämlicher ersten Meßgröße unabhängigen, beispielsweise eine Funktionstüchtigkeit des Meßgeräte-Systems beeinträchtigenden und/oder eine Störung des Meßgeräte-Systems bewirkenden, Störgröße jeweils mit einer zeitlichen Änderung folgt;

• Erzeugen eines, beispielsweise elektrischen, zweiten Meßsignals mittels des zweiten Meßgeräts, derart, daß das Meßsignal wenigstens einen ersten Signalparameter, beispielsweise eine Amplitude, eine Frequenz oder einen Phasenwinkel, aufweist, der einer zeitlichen Änderung einer, beispielsweise von der ersten primären Meßgröße abhängigen und/oder von der Störgröße unabhängigen, zweiten primären Meßgröße mit einer zeitlichen Änderung folgt;

• Ermitteln von die erste primäre Meßgrößen oder eine davon abhängige erste sekundäre Meßgröße repräsentierenden Meßwerten erster Art anhand wenigstens des ersten Signalparameters des ersten Meßsignals; • Ermitteln von die zweite primäre Meßgröße oder eine davon abhängige zweite sekundäre Meßgröße repräsentierenden Meßwerten zweiter Art anhand wenigstens des ersten Signalparameters des zweiten Meßsignals;

• Verwenden sowohl von Meßwerten erster Art als auch von Meßwerten zweiter Art zum Ermitteln einer Fehlerkennzahl, wobei die Fehlerkennzahl einen durch eine Änderung der Störgröße verursachten, beispielsweise erhöhten und/oder als kritisch eingestuften, Geschwindigkeitsfehler des Meßgeräte-Systems, nämlich eine Abweichung zwischen einer, beispielsweise momentanen oder mittleren, Änderungsrate der Meßwerte erster Art und einer, beispielsweise momentanen oder mittleren, Änderungsrate der Meßwerte zweiter Art repräsentiert, beispielsweise nämlich quantifiziert.

Nach einer ersten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß das Erzeugen einer ein Ausmaß der Störgröße zumindest qualitativ anzeigenden, beispielsweise als Alarm deklarierten, Meldung in Abhängigkeit von der ermittelten Fehlerkennzahl umfaßt.

Nach einer zweiten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß das Ausgeben von Meßwerten erster Art und/oder Meßwerten zweiter Art als qualifizierte Meßwerte des Meßgeräte-Systems in Abhängigkeit von der ermittelten Fehlerkennzahl erfolgt.

Nach einer dritten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß das eine Ausgabe zumindest von Meßwerten erster Art als qualifizierte Meßwerte des Meßgeräte-Systems in Abhängigkeit von der ermittelten Fehlerkennzahl verhindert wird.

Nach einer vierten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß das Ermitteln der Fehlerkennzahl ein, beispielsweise wiederkehrendes, Berechnen wenigstens eines die Fehlerkennzahl quantifizierenden Kennzahlwertes, beispielsweise nämlich ein Berechnen mehrerer, zeitlich aufeinanderfolgender Kennzahlwerte, umfaßt, beispielsweise derart, daß eine ansteigende Fehlerkennzahl einen zunehmenden Geschwindigkeitsfehler repräsentiert. Diese Ausgestaltung der Erfindung weiterbildend ist ferner vorgesehen, daß wenigstens ein Kennzahlwert der Fehlerkennzahl mit einem dafür vorgegebenen Schwellenwert verglichen wird, wobei der Schwellenwert einen maximal zulässigen Geschwindigkeitsfehler des Meßgeräte-Systems repräsentiert, beispielsweise nämlich quantifiziert, und daß die Meldung erzeugt wird, falls der Kennzahlwert den Schwellenwert überschreitet bzw. überschritten hat. Diese Ausgestaltung der Erfindung weiterbildend ist ferner vorgesehen, daß das Ausgeben von Meßwerten erster Art und/oder Meßwerten zweiter Art als qualifizierte Meßwerte des Meßgeräte-Systems erfolgt, falls der wenigstens Kennzahlwert den Schwellenwert nicht überschritten hat, und/oder das eine Ausgabe zumindest von Meßwerten erster Art als qualifizierte Meßwerte des Meßgeräte-Systems verhindert wird, falls der wenigstens eine Kennzahlwert den Schwellenwert überschritten hat.

Nach einer fünften Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß das Ermitteln der Fehlerkennzahl, beispielsweise nämlich das Berechnen eine oder mehrerer die Fehlerkennzahl quantifizierenden Kennzahlwerten, ein Ermitteln einer Meßwerte-Differenz erster Art, nämlich einer Differenz von zwei für ein vorgegebenes Zeitintervall zeitlich aufeinanderfolgend ermittelte Meßwerte erster Art, und ein Ermitteln einer Meßwerte-Differenz zweiter Art, nämlich einer Differenz von zwei für nämliches Zeitintervall zeitlich aufeinanderfolgend ermittelte Meßwerte zweiter Art, umfaßt.

Diese Ausgestaltung der Erfindung weiterbildend ist ferner vorgesehen, daß das Ermitteln der Fehlerkennzahl ein Ermitteln eines Quotienten aus der Meßwerte-Differenz erster Art und der Meßwerte-Differenz zweiter Art umfaßt.

Nach einer sechsten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß das Ermitteln der Fehlerkennzahl ein Ermitteln einer Meßwerte-Differenz erster Art, nämlich einer Differenz von zwei für ein vorgegebenes Zeitintervall zeitlich aufeinanderfolgend ermittelte Meßwerte erster Art, und einer Meßwerte-Differenz zweiter Art, nämlich einer Differenz von zwei für nämliches Zeitintervall zeitlich aufeinanderfolgend ermittelte Meßwerte zweiter Art, sowie ein Ermitteln sowohl einer Änderungsrate der Meßwerte erster Art aus der Meßwerte-Differenz erster Art und dem vorgegebenen Zeitintervall als auch einer Änderungsrate der Meßwerte zweiter Art aus der Meßwerte-Differenz erster Art und dem vorgegebenen Zeitintervall umfaßt. Diese Ausgestaltung der Erfindung weiterbildend ist ferner vorgesehen, daß das Ermitteln der Fehlerkennzahl ein Ermitteln eines Quotienten aus der Änderungsrate der Meßwerte erster Art und der Änderungsrate der Meßwerte zweiter Art umfaßt.

Nach einer siebenten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß das erste Meßgerät ein Coriolis-Massedurchfluß-Meßgerät, beispielsweise ein Coriolis-Massedurchfluß- /Dichte-Meßgerät, ist.

Nach einer achten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß das erste Meßgerät dafür eingerichtet ist, einen Massestrom und/oder einen Volumenstrom, beispielsweise auch eine Dichte, eines durch nämliches Meßgerät strömenden Fluids zu messen.

Nach einer neunten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß das zweite Meßgerät ein Differenzdruck-Meßgerät ist. Nach einer zehnten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß das zweite Meßgerät dafür eingerichtet ist, eine Druckdifferenz innerhalb eines durch nämliches Meßgerät strömenden Fluids und/oder einen Volumenstrom nämlichen Fluids zu messen.

Nach einer elften Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die erste primäre Meßgröße ein Massestrom eines das erste Meßgerät, beispielsweise nämlich sowohl das erste Meßgerät als auch das zweite Meßgerät, durchströmenden Fluids ist.

Nach einer zwölften Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die erste sekundäre Meßgröße ein Volumenstrom eines das erste Meßgerät, beispielsweise nämlich sowohl das erste Meßgerät als auch das zweite Meßgerät, durchströmenden Fluids ist.

Nach einer dreizehnten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die zweite primäre Meßgröße eine Druckdifferenz innerhalb eines das zweite Meßgerät, beispielsweise nämlich sowohl das zweite Meßgerät als auch das erste Meßgerät, durchströmenden Fluids ist.

Nach einer vierzehnten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die zweite sekundäre Meßgröße ein Volumenstrom eines das zweite Meßgerät, beispielsweise nämlich sowohl das zweite Meßgerät als auch das erste Meßgerät, durchströmenden Fluids ist.

Nach einer fünfzehnten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Störgröße ein magnetischer Fluß bzw. eine magnetische Flußdichte eines Magnetfelds innerhalb des ersten Meßgeräts ist, beispielsweise nämlich eines sich außerhalb des ersten Meßgräts schließenden bzw. durch einen außerhalb des ersten Meßgeräts positionierten Magneten verursachten magnetischen Felds.

Nach einer sechzehnten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß das wenigstens das erste Meßsignal wenigstens einen zweiten Signalparameter aufweist, der einer zeitlichen Änderung einer, beispielsweise von wenigstens einer der ersten und zweiten primären Meßgrößen und/oder von der Störgröße unabhängigen, dritten primären Meßgröße, beispielsweise einer Dichte eines das erste Meßgerätbzw. sowohl das erste Meßgerät als auch das zweite Meßgerät, durchströmenden Fluids, mit einer zeitlichen Änderung folgt. Diese Ausgestaltung der Erfindung weiterbildend ist ferner vorgeeshen, das erste Meßsignal auch zum Ermitteln von die dritte primäre Meßgröße repräsentierenden Meßwerten dritter Art zu verwenden. Nämliche Meßwerte dritter Art können zudem zum Ermitteln der Meßwerte erster Art und/oder zum Ermitteln der Meßwerte zweiter Art verwendet werden. Nach einer siebzehnten Ausgestaltung der Erfindung wird des erste Meßgerät auch zum Erzeugen eines, beispielsweise elektrischen, dritten Meßsignals verwendet, das wenigstens einen ersten Signalparameter, beispielsweise eine Amplitude, eine Frequenz oder einen Phasenwinkel, aufweist, der sowohl der zeitlichen Änderung der ersten primären Meßgröße als auch der zeitlichen Änderung der Störgröße jeweils mit einer zeitlichen Änderung folgt, und werden Meßwerte erster Art anhand auch des ersten Signalparameters des dritten Meßsignals ermittelt.

Ein Grundgedanke der Erfindung besteht darin, eine allfällige Störung des Meßgerät-Systems dadurch zu detektieren, daß die mit deren Eintreffen bzw. deren Verschwinden einhergehende signifikante, ggf. auch sprungartige Änderung des ersten Signalparameters des ersten Meßsignals bzw. der damit gewonnen Meßwerte erste Art detektiert und entsprechend ausgewertet wird; dies im besonderen in der Weise, daß die durch die Störung bewirkte Änderung der Meßwerte erster Art in Relation zu einer zeitgleichen, typischerweise sehr viel geringer ausfallenden bzw. vernachlässigbaren Änderung der Meßwerte zweiter Art durch dieselbe Störung ausgewertet, nämlich in eine den (Fehler-)Zustand des Meßgeräte-Systems zumindest qualitativ repräsentierende, ggf. aber auch entsprechend quantifizierende Fehlerkennzahl umgerechnet wird.

Die Erfindung sowie vorteilhafte Ausgestaltungen davon werden nachfolgend anhand von Ausführungsbeispielen näher erläutert, die in den Figuren der Zeichnung dargestellt sind. Gleiche bzw. gleichwirkende oder gleichartig fungierende Teile sind in allen Figuren mit denselben Bezugszeichen versehen; wenn es die Übersichtlichkeit erfordert oder es anderweitig sinnvoll erscheint, wird auf bereits erwähnte Bezugszeichen in nachfolgenden Figuren verzichtet. Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen oder Weiterbildungen, insb. auch Kombinationen zunächst nur einzeln erläuterter Teilaspekte der Erfindung, ergeben sich ferner aus den Figuren der Zeichnung und/oder aus den Ansprüchen an sich.

Im einzelnen zeigen:

Fig. 1a, 1 b, 1c, 1 d verschiedene Varianten eines für die Erfindung geeigneten Meßgeräte-Systems; und

Fig. 2 mit einem Meßgeräte-System gemäß einer der Fig. 1a, 1 b, 1c und 1 d experimentell ermittelte, zeitweise durch eine Störung beeinflußte Meßdaten (Meßwerte).

In Fig. 1a, 1b, 1c und 1d ist jeweils schematisch ein mittels eines ersten Meßgeräts M1 und eines zweiten Meßgeräts M2 gebildetes Meßgeräte-System M1+M2 zur Ermittlung von Meßwerten für zwei oder mehr Meßgrößen eines in einer Prozeßleitung, beispielsweise einer Rohrleitung, strömenden Meßstoffs dargestellt. Bei dem Meßgeräte-System M1+M2 wird das erste Meßgerät M1 zum Erzeugen eines, beispielsweise elektrischen, ersten Meßsignals s1 verwendet, das wiederum wenigstens einen Signalparameter, beispielsweise nämlich eine Amplitude, eine Frequenz oder einen Phasenwinkel, aufweist, der einer zeitlichen Änderung einer ersten primären Meßgröße x1 , beispielsweise einem Massestrom des im Meßgeräte-System M1+M2 strömenden Meßstoffs, mit einer zeitlichen Änderung folgt. Zudem wird das wird das erste Meßgerät M1 verwendet, um nämliche erste primäre Meßgrößen x1 oder eine davon abhängige erste sekundäre Meßgröße x1‘ ( f(x1) -^· x1 ‘), beispielsweise einen Volumenstrom des im Meßgeräte-System M1+M2 strömenden Meßstoffs, repräsentierende Meßwerten Xi erster Art anhand wenigstens des ersten Signalparameters des ersten Meßsignals zu ermitteln, beispielsweise in Form von digitalen Meßwerten. Darüberhinaus wird das zweite Meßgerät verwendet, um ein, beispielsweise elektrisches, zweites Meßsignal s2, das ebenfalls wenigstens einen Signalparameter aufweist, der einer zeitlichen Änderung einer, ggf. auch von der ersten primären Meßgröße x1 abhängigen, zweiten primären Meßgröße x2, beispielsweise einer Druckdifferenz des im Meßgeräte-System M1+M2 strömenden Meßstoffs, mit einer zeitlichen Änderung folgt, zu erzeugen und um die zweite primäre Meßgröße x2 oder eine davon abhängige zweite sekundäre Meßgröße x2‘ ( f(x2) -^· x2‘), beispielsweise einen Volumenstrom des im Meßgeräte-System M1+M2 strömenden Meßstoffs, repräsentierende, beispielsweise digitale, Meßwerte Xu zweiter Art anhand wenigstens des ersten Signalparameters des zweiten Meßsignals s2 zu ermitteln. Im besonderen kann das Meßgerät M1 ferner dafür eingerichtet sein bzw. verwendet werden, die vom Meßgerät M2 gemessene primäre Meßgröße x2 als sekundäre Meßgröße x1‘ zu messen, und/oder kann das Meßgerät M2 dafür eingerichtet sein bzw. verwendet werden, die die vom Meßgerät M1 gemessene primäre Meßgröße x1 als sekundäre Meßgröße x2‘ zu messen; dies beispielsweise auch derart, daß die Meßwerte Xi erster Art dieselbe Meßgröße repräsentieren wie die Meßwerte Xu zweiter Art. Alternativ oder in Ergänzung kann das Meßgerät M2, abgestimmt auf das Meßgerät M1 ferner so gewählt sein, daß die damit erfaßte primäre Meßgröße x2 von der primären Meßgröße x1 abhängig ist. Nach einerweiteren Ausgestaltung der Erfindung ist das erste Meßgerät M1 ferner dafür eingerichtet, als primäre Meßgröße x1 einen Massestrom rh1 (m1 = dM/dt -^· x1) und/oder als sekundäre Meßgröße x1 ‘ einen Volumenstrom V1 (V1 = dV/dt = rh/p -^· x1 ‘) des durch das Meßgerät M1 , ggf. auch durch das Meßgerät M2, strömenden Meßstoffs zu messen. Zudem ist das Meßgerät M2 dafür eingerichtet, als primäre Meßgröße x2 einen Druck p und/oder eine Druckdifferenz Dr2 (Dr -^· x2) innerhalb des durch nämliches Meßgerät M2, ggf. auch durch das Meßgerät M1 , strömenden Meßstoffs und/oder als sekundäre Meßgröße x2‘ einen

Volumenstrom V2 (V2 = dV/dt = f(VAp) -^· x2‘) des Meßstoffs zu messen. Bei dem Meßgerät M1 kann es sich dementsprechend beispielsweise um ein Coriolis-Durchfluß-Meßgerät oder beispielsweise auch um ein magnetisch-induktives Durchfluß-Meßgerät handeln und das Meßgerät M2 kann beispielsweise ein Differenzdruck-Durchfluß-Meßgerät oder ein Wirbel-Durchfluß-Meßgerät sein.

Zum Erfassen der jeweiligen primären Meßgröße und Umwandeln nämlicher Meßgröße in das jeweils repräsentierende Meßsignal s1 (x1 -> s1) bzw. s2 (x2 -> s2) weist jedes der Meßgeräte M1 , M2 jeweils einen in den Verlauf der Prozeßleitung eingegliederten Meßwandler auf, der - wie auch in den Fig. 1a, 1 b bzw. 1c angedeutet - dafür eingerichtet ist, im Betrieb des Meßgeräte-Systems M1+M2 von Meßstoff durchströmt zu werden. Desweiteren weist jedes der Meßgeräte M1 , M2 jeweils eine mit dem jeweiligen Meßwandler elektrisch verbundene Meßgerät-Elektronik auf, die wiederum dafür eingerichtet ist, das jeweils gelieferte Meßsignal s1 bzw. s2 zu empfangen und entsprechend auszuwerten, nämlich anhand dessen Meßwerte Xi erster Art bzw. Meßwerte Xu zweiter Art zu ermitteln (s1 -> Xi, s2 -> Xu). Nach einerweiteren Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß zumindest das Meßsignal s1 des Meßgeräts M1 wenigstens einen (von dessen ersten Signalparameter verschiedenen) zweiten Signalparameter aufweist, der einer zeitlichen Änderung einer, beispielsweise nämlich auch von wenigstens einer der primären Meßgrößen x1 , x2 und/oder von der Störgröße y1 unabhängigen, dritten primären Meßgröße x3 mit einer zeitlichen Änderung folgt; dies im besonderen in der Weise, daß das Meßsignal s1 auch dazu verwendet werden kann, um die dritte primäre Meßgröße x3 repräsentierende Meßwerten Xm dritter Art zu ermitteln bzw. zu berechnen. Nicht zuletzt für den vorbezeichneten Fall, daß das Meßgerät M1 als Coriolis-Massedurchfluß-Meßgerät ausgebildet ist, kann der zweite Signalparameter beispielsweise ein Frequenz und kann die dritte primäre Meßgröße x3 beispielsweise eine Dichte (p -> x3) des das Meßgerät M1 , ggf. auch das Meßgerät M2 durchströmenden Fluids sein. Alternativ oder in Ergänzung können Meßwerte Xm dritter Art zudem auch zum Ermitteln von Meßwerten Xi erster Art und/oder von Meßwerten Xu zweiter Art verwendet werden, beispielsweise um einen als Meßgröße x1 gemessenen Massestrom in einen Volumenstrom (V1 = rh1 / p -> Xi) oder einen als Meßgröße x2 gemessenen Volumenstrom in einen Massestrom (rh2 = V2 · p -> Xu) umzurechnen. Nicht zuletzt für diesen Fall, kann das Meßgerät M1 ferner auch eingerichtet sein bzw. verwendet werden, ein, beispielsweise ebenfalls elektrisches und/oder zum Meßsignal s1 Typ gleiches, drittes Meßsignal s3 zu generieren, das wenigstens einen Signalparameter, beispielsweise nämlich eine Amplitude, eine Frequenz oder einen Phasenwinkel, aufweist, der sowohl der vorbzeichneten zeitlichen Änderung Ax1/At (DcT/At) der primären Meßgröße x1 als auch der vorbezeichneten zeitlichen Änderung Ay1/At der Störgröße y1 jeweils mit einer zeitlichen Änderung folgt. Nämlicher Signalparameter des Meßsignals s3 kann in Ergänzung zum Signalparameter des Meßsignals s1 ferner dazu verwendet werden um die Meßwerte Xi erster Art zu ermitteln. Wie in Fig. 1a, 1b bzw. 1c jeweils schematisiert dargestellt, können die ersten und zweiten Meßgeräte M1 , M2 bzw. deren Meßwandler strömungstechnisch in Reihe geschaltet sein, beispielsweise derart, daß in beiden Meßgeräten M1 , M2 bzw. in beiden Meßwandlern derselbe Massestrom etabliert ist. Die Meßwandler bzw. die damit gebildeten Meßgeräte M1 , M2 können, wie in Fig. 1d angedeutet, aber auch strömungstechnisch parallel geschaltet sein, beispielsweise derart, daß durch beide Meßgeräte M1 , M2 bzw. beide Meßwandler derselbe Druckabfall im hindurchströmenden Meßstoff provoziert wird. Darüberhinaus kann das Meßgeräte-System M1+M2 auch in der Weise gebildet sein, daß es hinsichtlich der Art, des Aufbaus und/oder der Anordnung der Meßgeräte M1 , M2 bzw. deren Meßwandler zudem beispielsweise auch einem aus der US-A 2007/0084298, der US-A 2011/0161018, der US-A 2012/0042732, der WO-A 2009/134268 oder der WO-A 2016/176224 bekannten Meßgeräte-Systemen entspricht; dies beispielsweise auch derart, daß, wie u.a. auch in der US-A 2007/0084298 oder der WO-A 2009/134268 vorgeschlagen, wenigstens eines der Meßgeräten M1 , M2 das jeweilige Meßsignal s1 bzw. s2 mittels beider Meßwandler generiert bzw. der Meßwandler des einen der beiden Meßgeräte M1 oder M2 zumindest anteilig auch als Bestandteil des Meßwandlers des jeweils anderen Meßgeräts M1 bzw. M2 dient, beispielsweise nämlich die mittels des Meßgerät M2 gemessene Meßgröße x2 einem Druckabfall über dem Meßgerät M1 bzw. dessen Meßwandler entspricht (Dr -^· x2). Alternativ oder in Ergänzung kann das Meßgeräte-System M1+M2 ferner mit einer übergeordneten, Meßdaten erfassenden und auswertenden Recheneinheit R10, beispielsweise einer

Speicherprogrammierbaren Steuerung (SPS), einem Durchflußrechner oder einer Workstation (PC), signaltechnisch gekoppelt sein - beispielsweise mittels Datenleitung und/oder mittels Funkverbindung - und kann das Meßgeräte-System zudem dafür eingerichtet sein, zumindest zeitweise Meßwerte erster und/oder zweiter Art an die Recheneinheit R10 zu übermitteln.

We bereits erwähnt kann beim Meßgeräte-System M1+M2 eines der von den Meßgeräten M1 , M2 gelieferten wenigstens zwei Meßsignale s1 bzw. s2 - beispielsweise nämlich das vom Meßgerät M1 gelieferte Meßsignal s1 - gegenüber einer mit einer (äußeren) Störung ( ) korrespondierenden und von der jeweiligen primären Meßgröße unabhängige Störgröße y1 eine hohe, insb. nämlich eine im Vergleich zu dem anderen der Meßsignale - beispielsweise dem Meßsignal s2 - erhöhte, Empfindlichkeit aufweisen; dies im besonderen in der Weise, daß dessen wenigstens einer (auf die jeweilige Meßgröße sensitiver) Signalparameter auch einer zeitlich Änderung nämlicher Störgröße y1 mit einer dementsprechenden zeitlichen Änderung folgt. Im Ergebnis einer solchen Störung ( ) des einen der Meßgeräte kann eine Meßgenauigkeit der anhand des Meßsignals gewonnenen Meßwerte verfälscht und damit einhergehend eine Funktionstüchtigkeit des gesamten Meßgeräte-Systems M1+M2 in erheblichem Maße beeinträchtigt sein; dies ggf. auch so, daß die damit generierten Meßwerte, beispielsweise nämlich, wie in Fig. 2 anhand experimentell ermittelter Meßdaten exemplarisch gezeigt, aus dem Meßsignal s1 gewonnene Meßwerte Xi erster Art, einen inakzeptabel hohen Meßfehler aufweisen. Beim erfindungsgemäßen Meßsystem M1+M2 ist im besonderen das vom Meßgerät M1 gelieferte Meßsignal s1 sowohl auf Meßgröße x1 als auch die Störgröße y1 sensitiv, derart, daß dessen erster Signalparameter sowohl der zeitlichen Änderung Dc1/Dί (Dc17Dί) der primären Meßgröße x1 als auch einer zeitlichen Änderung Ay1/At der, insb. von nämlicher ersten Meßgröße x1 unabhängigen, Störgröße y1 jeweils mit einer zeitlichen Änderung folgt. Störgröße y1 kann, nicht zuletzt für den vorbeschriebenen Fall, daß es sich bei dem Meßgerät M1 um ein Massestrom messendes Coriolis-Massedurchfluß-Meßgerät handelt, beispielsweise ein Belag an einer Innenwand eines oder mehrerer Rohre des Meßgeräts oder auch ein magnetischer Fluß bzw. einen magnetische Flußdichte (B ^ y1) eines äußeren, nämlich sich außerhalb des Meßgräts M1 schließenden bzw. durch einen außerhalb des Meßgeräts positionierten Magneten verursachten magnetischen Felds sein. Nach einerweiteren Ausgestaltung der Erfindung ist das Meßgerät M2, abgestimmt auf die Empfindlichkeit des Meßgeräts M1 bzw. des Meßsignals s1 auf die Störgröße y1 , so gewählt, daß das mittels des Meßgeräts M2 generierte Meßsignal s2 eine geringere Empfindlichkeit auf die Störgröße y1 aufweist als das Meßsignal s1 ; dies beispielsweise derart, daß das Meßsignal s2 keine oder lediglich eine zu vernachlässigende geringe Empfindlichkeit auf die Störgröße y1 aufweist bzw. daß desssen Signalparameter von der Störgröße y1 unabhängig ist.

Zum Überwachen Meßgeräte-Systems M1+M2, insb. nämlich zum Überprüfen der Funktionstüchtigkeit des Meßgeräte-Systems M1+M2 und/oder zum Feststellen einer allfällig auftretenden Störung ( ) des Meßgeräte-Systems M1+M2 ist erfindungsgemäß vorgesehen, sowohl anhand von Meßwerten Xi erster Art als auch anhand von Meßwerten Xu zweiter Art zunächst eine Fehlerkennzahl Err zu ermitteln, derart, daß die Fehlerkennzahl Err einen durch eine Änderung (dy1/dt -> Ay1/At) der Störgröße y1 verursachten Geschwindigkeitsfehler AXI/AXM des Meßgeräte-Systems M1+M2, nämlich eine Abweichung zwischen einer Änderungsrate AXi/At der Meßwerte Xi erster Art und einer - zeitgleich vorliegenden bzw. zeitgleich ermittelten (At) - Änderungsrate AXn/At der Meßwerte Xu zweiter Art repräsentiert. Das Ermitteln der Fehlerkennzahl Err kann beim erfindungsgemäßen Meßsystem M1+M2 beispielsweise in einem der Meßgeräte M1 , M2 bzw. dessen jeweiliger Meßgerät-Elektronik erfolgen, beispielsweise, wie auch in Fig. 1a und 1d schematisiert gezeigt, im Meßgerät M1 oder im Meßgerät M2 (Fig. 1b). Die Fehlerkennzahl Err kann aber beispielsweise auch, wie u.a. in Fig. 1c gezeigt, erst in der vorbezeichneten übergeordneten Recheneinheit R10 anhand von vom Meßgeräte-System M1+M2 generierten und an nämliche Recheneinheit R10 übermittelten Meßwerten erste und zweiter Art (Xi, XU). Wie u.a. aus Fig. 2 ersichtlich kann anhand des vorbezeichneten Geschwindigkeitsfehlers AXI/AXM, auch bereits anhand von dessen Betrag, bzw. der dementsprechend ermittelten Fehlerkennzahl die vorbezeichnete Störung sehr rasch und sehr verläßlich detektiert werden, indem nämlich gezielt die durch deren Eintreffen (bzw. deren Verschwinden) bewirkten signifikanten Änderungen des Meßsignals s1 bzw. dessen Signalparameters ausgewertet werden.

Nach einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, in Abhängigkeit von der ermittelten Fehlerkennzahl Err eine die Anwesenheit der Störung bzw. ein Ausmaß der Störgröße y1 zumindest qualitativ anzeigende, beispielsweise nämlich als Alarm deklarierte, Meldung zu erzeugen. Nämliche Meldung kann beispielsweise an einem der Meßgeräte M1 bzw. M2 oder auch jedem der Meßgeräte M1 , M2 ausgegeben werden, beispielsweise visuell wahrnehmbar mittels einer entsprechenden Signalleuchte (LED) und/oder einer Anzeigeeinheit des jeweiligen Meßgeräts. Alternativ oder in Ergänzung kann die Meldung auch als eine entsprechende Nachricht an die vorbezeichnete Recheneinheit R10 übermittelt werden. Die Fehlerkennzahl Err kann beispielsweise in der Weise ermittelt werden, daß sie die Störgröße y1 bzw. deren Einfluß auf das Meßsignal s1 quantifiziert, nämlich in Form von entsprechend berechneten Zahlenwerten repräsentiert; dies beispielsweise derart, daß die Kennzahl in Form einer dimensionslosen Kennzahl (Kenngröße) ermittelt wird und/oder daß eine Fehlerkennzahl Err mit einem hohen Zahlenwert eine einen hohen Meßfehler bewirkende (relevante) Störung und eine Fehlerkennzahl Err mit einem im Vergleich dazu niedrigeren Zahlenwert eine einen vergleichsweise geringeren, ggf. auch zunächst zu vernachlässigenden Meßfehler bewirkende Störung repräsentiert bzw. daß eine ansteigende Fehlerkennzahl Err einen zunehmenden Geschwindigkeitsfehler DCI/DCN repräsentiert. Die Fehlerkennzahl Err kann beispielsweise aber auch so ermittelt werden, daß sie das Vorliegen einer Störgröße y1 mit einem vorbestimmten, beispielsweise nämlich überhöhten und/oder als kritisch eingestuften, Ausmaß bzw. den damit einhergehenden Einfluß auf das Meßsignal s1 lediglich qualitativ wiedergibt, beispielsweise nämlich das Überschreiten eines dafür vorgegebenen Schwellenwerts signalisiert. Dementsprechend ist nach einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung vorgesehen, die Fehlerkennzahl Err dadurch zu ermitteln, indem (zunächst) wenigstens ein die Fehlerkennzahl Err bzw. den Geschwindigkeitsfehler quantifizierender, insb. digitaler,

Kennzahlwert CE GG berechnet wird; dies beispielsweise auch wiederkehrend und/oder derart, daß mehrere, zeitlich aufeinanderfolgender Kennzahlwerte berechnet werden. Der wenigstens eine Kennzahlwert CE GG der Fehlerkennzahl Err kann hernach beispielsweise mit einem dafür vorgegebenen, beispielsweise digitalen und/oder in der jeweiligen Meßgerät-Elektronik gespeicherten, Schwellenwert THE, T verglichen werden, beispielsweise nämlichem einem einen maximal zulässigen Geschwindigkeitsfehler CE gg, M ax des Meßgeräte-Systems M1+M2 repräsentierenden bzw. quantifizierenden Schwellenwert (CE GG, M QC -> THE N ·). Für den Fall, daß der Kennzahlwert CE GG den Schwellenwert THE GG überschreitet bzw. überschritten hat kann ferner die vorbezeichnete (Fehler-) Meldung entsprechend generiert werden. Nach einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, Meßwerte Xi erster Art und/oder Meßwerte Xu zweiter Art als qualifizierte Meßwerte des Meßgeräte-Systems in Abhängigkeit von der ermittelten Fehlerkennzahl Err auszugeben, beispielsweise nämlich falls der vorbezeichnete Kennzahlwert CE GG den dafür gesetzten Schwellenwert THE GG nicht überschritten hat, bzw. zumindest eine Ausgabe von Meßwerten Xi erster Art als qualifizierte Meßwerte des Meßgeräte-Systems in Abhängigkeit von der ermittelten Fehlerkennzahl Err zu verhindern, falls nämlich die Fehlerkennzahl Err ein zu hohen Meßfehler für Meßwerte Xi erster Art signalisiert bzw. falls der vorbezeichnete Kennzahlwert CE GG den dafür gesetzten Schwellenwert THE GG überschritten hat. Die Kennzahlwert CE GG können beispielsweise mit derselben Aktualisierungsrate ermittelt werden wie die Meßwerte erster und zweiter Art.

Nach einerweiteren Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, zum Ermitteln der Fehlerkennzahl CE GG bzw. zum Berechnen eines oder mehrerer Kennzahlwerten CE GG zunächst eine Meßwerte-Differenz DCi erster Art, nämlich einer Differenz von zwei für ein vorgegebenes Zeitintervall At zeitlich aufeinanderfolgend ermittelte Meßwerte Xi erster Art, und eine Meßwerte-Differenz AXn zweiter Art, nämlich einer Differenz AXn von zwei für nämliches Zeitintervall At zeitlich aufeinanderfolgend ermittelte Meßwerte Xu zweiter Art zu ermitteln. Basierend auf den Meßwerte-Differenzen erster Art und zweiter Art kann die Fehlerkennzahl CE GG bzw. können die Kennzahlwerten CE GG beispielsweise dadurch berechnete werden, daß zunächst sowohl eine Änderungsrate AXi/At der Meßwerte Xi erster Art aus der Meßwerte-Differenz AXi erster Art und dem vorgegebenen Zeitintervall At als auch eine Änderungsrate AXn/At der Meßwerte Xu zweiter Art aus der Meßwerte-Differenz AXi erster Art und dem vorgegebenen Zeitintervall At ermittelt werden, beispielsweise jeweils als eine momentane oder eine mittlere Änderungsrate, und hernach ein Quotienten aus nämlicher Änderungsrate AXi/At der Meßwerte Xi erster Art und der Änderungsrate AXn/At der Meßwerte Xu zweiter Art berechnet werden. Alternativ oder in Ergänzung kann die Fehlerkennzahl CE GG bzw. können die Kennzahlwerten CE GG anhand der vorbezeichneten Meßwerte-Differenzen AXn, AXi erster und zweitere Art sehr einfach auch dadurch ermittelt werden, indem ein entsprechender Quotient AXI/AXM (Differenzenquotient) aus der Meßwerte-Differenz AXi erster Art und der Meßwerte-Differenz AXn zweiter Art ermittelt, insb. nämlich berechnet, wird.