La présente invention appartient au domaine du contrôle non-destructif de structures. Plus particulièrement, la présente invention concerne un procédé de contrôle non-destructif utilisant des ondes de Lamb, notamment pour identifier une ou des zones d'une structure comportant probablement chacune un ou des défauts.

Les procédés de contrôle non-destructif sont largement mis en œuvre de nos jours pour le contrôle de structures pour rechercher des défauts en surface et/ou en profondeur desdites structures sans les dégrader. Par exemple, de tels procédés sont mis en œuvre dans l'industrie aéronautique lors de la production et/ou lors des opérations de contrôle en maintenance.

Par exemple dans le cas des procédés de contrôle non-destructif par ultrasons, des ondes acoustiques ultrasonores sont émises en direction de la structure à contrôler, et une partie des ondes ultrasonores émises est reçue après réflexion et/ou propagation dans ladite structure. Des caractéristiques (amplitude, temps de vol, etc.) des ondes reçues sont utilisées pour évaluer des caractéristiques structurelles de la structure inspectée.

L'émission/réception d'ondes ultrasonores doit s'effectuer en chaque point de la structure à inspecter, « en chaque point » s'entendant au sens de la précision ciblée pour la caractérisation d'éventuels défauts dans la structure. L'inspection détaillée en chaque point d'une structure de grandes dimensions avec une précision ciblée parfois inférieure au centimètre voire au millimètre, est longue et complexe à mettre en œuvre.

Dans le cas des structures aéronautiques, en particulier dans le cas de structures en matériaux composites qui nécessitent de telles inspections, lesdites structures s'étendent parfois sur plusieurs mètres, notamment dans le cas de panneaux de fuselage ou de voilure. La mise en œuvre des procédés de contrôle non-destructif connus entraîne des durées d'inspection qui pénalisent les cadences de production et/ou nécessitent une immobilisation pendant une durée importante des aéronefs lors des opérations de contrôle en maintenance. La présente invention propose de résoudre les problèmes susmentionnés au moyen d'un procédé de contrôle non-destructif d'une structure qui comporte selon l'invention une étape de détection dans laquelle :

- on génère des ondes ultrasonores de Lamb en un point A de la structure au moyen d'un transducteur d'émission,

- on détecte les ondes de Lamb en un point B de la structure distant du point A au moyen d'un transducteur de réception,

- on détermine si un critère de détection de la présence probable d'au moins un défaut à proximité d'un segment AB formé par les points A et B est vérifié, au moins en fonction de caractéristiques desdites ondes de Lamb détectées,

- on déplace les points A et B de sorte à balayer au moins une partie à contrôler de la structure,

- l'ensemble des segments AB pour lesquels le critère de détection a été vérifié détermine une ou des zones comportant probablement un ou des défauts.

Le procédé selon l'invention comporte en outre une étape d'inspection effectuée sur la ou les zones déterminées, comportant probablement un ou des défauts, lorsque de telles zones ont été déterminées, pour localiser et caractériser le ou les défauts.

Suivant d'autres caractéristiques du procédé selon l'invention :

- on déplace les points A et B de sorte à conserver une longueur L du segment AB supérieure à une précision ciblée dans l'étape d'inspection, de préférence la longueur L du segment AB est sensiblement constante,

- on utilise dans l'étape d'inspection le transducteur d'émission et le transducteur de réception après les avoir rapprochés pour assurer la précision ciblée,

- on déplace les points A et B de sorte à faire tourner le segment AB par rotation autour d'un centre de rotation, ou on déplace les points

A et B de sorte à translater le segment AB suivant un premier axe non parallèle au segment AB,

- l'étape de détection est exécutée une seconde fois au niveau de chaque zone comportant probablement au moins un défaut, déterminée lors de la première exécution, pour identifier au moins une seconde zone sur laquelle on effectue l'étape d'inspection,

- la seconde exécution de l'étape de détection est effectuée avec une orientation du segment AB différente de l'orientation du segment AB lors de la première exécution, et en déplaçant les points A et B de sorte à translater le segment AB suivant un second axe sécant avec le premier axe,

- les points A et B sont sur une même face de la structure, - le transducteur d'émission et le transducteur de réception sont à couplage aérien,

- le critère de détection est une comparaison d'une amplitude des ondes de Lamb détectées à une valeur seuil, ou une comparaison d'une différence d'amplitudes entre les ondes de Lamb générées et les ondes de Lamb détectées à une valeur seuil.

La description suivante de modes de l'invention est faite en se référant aux figures, dans lesquelles des références identiques désignent des éléments identiques ou analogues, qui représentent de manière non limitative :

- Figures 1 a et 1 b : deux exemples d'agencement de transducteurs ultrasonores par rapport à une structure à contrôler,

- Figures 2a à 2d : des représentations schématiques du déroulement du procédé selon un premier mode de mise en œuvre,

- Figures 2e à 2h : des représentations schématiques du déroulement du procédé selon une variante du mode illustré sur les figures 2a à 2d,

- Figures 3a à 3d : des représentations schématiques du déroulement du procédé selon un second mode de mise en œuvre.

La présente invention concerne un procédé de contrôle non-destructif de structures, en particulier des structures de faible épaisseur par rapport aux autres dimensions desdites structures, telles que par exemple des panneaux ou plaques de fuselage d'aéronef, notamment de tels panneaux fabriqués en matériau composite. Dans la suite de la description, une épaisseur d'une structure 1 est considérée entre une première face 10 de la structure 1 et une seconde face 11 opposée à ladite première face, suivant une direction définie localement, dite direction transversale. Selon l'invention, le procédé de contrôle non-destructif de la structure

1 comporte une première étape, dite étape de détection de défauts, dans laquelle on détermine sur la structure 1 à inspecter des zones comportant probablement au moins un défaut.

Lorsque l'on détermine l'existence d'une zone comportant probablement au moins un défaut, une étape d'inspection connue est exécutée sur ladite zone. Dans le cas où plusieurs zones sont déterminées, l'étape d'inspection est exécutée sur chaque zone.

Dans l'étape de détection de défauts selon l'invention, on génère en un point A des ondes de Lamb qui se propagent dans la structure 1 et qui sont détectées en un point B distant du point A, formant avec ledit point A un segment AB pour chaque position des points A et B.

Les ondes de Lamb, ou ondes de plaque, sont des ondes connues par exemple de la publication scientifique « Guided Lamb Waves for Identification of Damage in Composite Structures : A Review », des auteurs Zhongqing Su, Lin Ye, et Ye Lu, publiée dans la revue « Journal of Sound and Vibration », numéro 295 (2006).

Les ondes de Lamb sont guidées entre les première et seconde faces

10 et 11 de la structure 1 , et se propagent sensiblement longitudinalement dans la structure 1 , c'est-à-dire suivant une direction de propagation localement sensiblement perpendiculaire à la direction transversale suivant laquelle est considérée localement l'épaisseur de ladite structure.

Pour obtenir de telles ondes de Lamb, on utilise le plus souvent un dispositif à ondes ultrasonores qui est généralement dimensionné pour fonctionner avec des longueurs d'ondes du même ordre de grandeur que l'épaisseur de la structure 1 , pour exciter des modes de vibration propres de la structure 1. Cela conduit le plus souvent à considérer des fréquences comprises entre 50 kilohertz et 5 mégahertz compte tenu des épaisseurs couramment rencontrées, en particulier pour les structures aéronautiques. Pour générer les ondes de Lamb dans la structure 1 , on émet par exemple des ondes ultrasonores en direction de ladite structure au moyen d'un premier transducteur ultrasonore, dit transducteur d'émission 20. Des ondes ultrasonores sont reçues par un second transducteur ultrasonore distant, dit transducteur de réception 21 , après propagation sensiblement longitudinalement dans ladite structure sous la forme d'ondes de Lamb, et sont mesurées par un appareil de mesure non représenté sur les figures. Les positions des transducteurs d'émission 20 et de réception 21 déterminent les positions des extrémités respectivement A et B par rapport à une partie de ladite structure à inspecter.

Tel que représenté de manière schématique sur les figures 1a et 1 b, lesdits transducteurs d'émission et de réception sont agencés au voisinage de la structure 1. Dans l'exemple de la figure 1 a, les transducteurs d'émission 20 et de réception 21 sont au contact avec la structure 1 , et sont généralement couplés à ladite structure par couplage liquide (eau, gel, etc.). Dans l'exemple de la figure 1 b, lesdits transducteurs d'émission et de réception ne sont pas au contact avec la structure 1 , et sont couplés généralement à ladite structure par couplage liquide ou aérien.

Le couplage aérien est particulièrement avantageux, notamment dans le cas de structures de grandes dimensions, pour lesquelles le couplage liquide est peu adapté, en particulier le couplage liquide par immersion.

Sur les exemples représentés sur les figures 1 a et 1 b, les transducteurs d'émission 20 et de réception 21 sont agencés du côté de la première face 10 de la structure 1. Dans ce cas, les extrémités A et B du segment AB sont localisées sur une même face de la structure 1.

Suivant un autre exemple non représenté, lesdits transducteurs d'émission et de réception sont agencés du côté respectivement de la première face 10 et de la seconde face 11. Dans ce cas, les extrémités A et B du segment AB sont localisées sur des faces différentes de la structure 1. Suivant encore un autre exemple non représenté, lesdits transducteurs d'émission et de réception sont agencés au voisinage respectivement d'un premier bord 12 de la structure 1 et d'un second bord 13 opposé audit premier bord. Dans ce cas, les extrémités A et B du segment AB sont localisées respectivement sur le premier bord 12 et le second bord 13.

Du fait de l'effet de guidage, l'atténuation subie par les ondes de Lamb est limitée, et des ondes émises au niveau de l'extrémité A par le transducteur d'émission 20 et reçues au niveau de l'extrémité B par le transducteur de réception 21 sont détectées pour des valeurs d'une longueur L du segment AB pouvant aller dans certains cas jusqu'à plusieurs mètres.

Une atténuation anormale des ondes reçues indique la présence probable d'au moins un défaut à proximité du segment AB. La présence d'au moins un défaut est détectée en évaluant un critère de détection. Par exemple, le critère de détection consiste à comparer l'amplitude des ondes ultrasonores reçues à une valeur seuil prédéterminée en dessous de laquelle la probabilité que la structure 1 comporte au moins un défaut à proximité du segment AB est non négligeable.

Suivant un autre exemple non limitatif, le critère de détection consiste à comparer une différence d'amplitude entre les ondes de Lamb générées en A et les ondes de Lamb détectées en B à une valeur seuil : si la différence est trop importante, la probabilité que la structure 1 comporte au moins un défaut à proximité du segment AB est non négligeable.

Au cours de l'étape de détection, les points A et B sont déplacés par rapport à la structure 1 de sorte à balayer toute la partie de ladite structure à inspecter. Pour une pluralité de positions des points A et B par rapport à ladite structure, c'est-à-dire pour une pluralité de segments AB, on détermine si au moins un défaut est probablement présent à proximité de chaque segment AB en évaluant le critère de détection. Pour la mise en œuvre de l'étape de détection, on considère de préférence une valeur de la longueur L du segment AB supérieure à une précision ciblée dans l'étape d'inspection. Une telle valeur de la longueur L n'autorise pas la caractérisation des défauts avec la précision ciblée, mais permet d'identifier des segments AB à proximité desquels la présence d'au moins un défaut est probable.

De préférence, on considère une valeur de la longueur L significativement supérieure à la précision ciblée dans l'étape d'inspection, par exemple dix fois supérieure, voire cent fois supérieure ou plus. Ceci est possible notamment du fait qu'on cherche à identifier des segments AB à proximité desquels la présence d'au moins un défaut est probable, et qu'on ne cherche pas nécessairement à déterminer les coordonnées des défauts le long des segments identifiés. La valeur de la longueur L est toutefois limitée en pratique par la fiabilité recherchée du critère de détection. Plus la longueur L est grande, plus les ondes de Lamb reçues en B seront atténuées, et plus il sera difficile de détecter des atténuations anormales, probablement liées à la présence d'au moins un défaut au voisinage du segment AB.

De préférence le déplacement des points A et B se fait à longueur L du segment AB sensiblement constante ce qui présente l'avantage de permettre l'utilisation d'une même valeur seuil de détection pour tous les segments AB.

Les figures 2a à 2d illustrent l'étape de détection dans le cas d'un mode préféré de mise en œuvre dans lequel on déplace les points A et B de sorte à translater le segment AB suivant un axe y qui, dans l'exemple non limitatif représenté, est sensiblement perpendiculaire au segment AB. On considère le cas non limitatif d'une translation vers les y positifs. La détection au cours du déplacement s'effectue de manière sensiblement continue ou pas à pas avec un pas de préférence sensiblement constant.

Dans les figures 2a à 2h et 3a à 3d, la structure 1 ou la partie considérée de ladite structure comporte un défaut 5 interne, qui est représenté de façon schématique par une surface hachurée, dont les dimensions sont volontairement exagérées pour faciliter la compréhension du procédé.

Par exemple, le déplacement des points A et B s'effectue par déplacement des transducteurs d'émission 20 et de réception 21 au moyen d'un dispositif de guidage 3, comportant dans l'exemple non limitatif représenté sur les figures 2a à 2d :

- deux rails y 30 et 31 sensiblement parallèles à l'axe y, comportant de préférence des moyens d'immobilisation du dispositif de guidage 3 sur la structure 1 tels que des ventouses, - un support 32 sur lequel les transducteurs d'émission 20 et de réception 21 sont agencés, ledit support étant sensiblement parallèle à un axe x (perpendiculaire à l'axe y dans l'exemple considéré) et étant adapté pour coulisser suivant les rails y 30 et 31 .

Sur la figure 2a, il est représenté le segment AB dans une position d'ordonnée yn suivant l'axe y, dite position yn, pour laquelle il n'y a pas de défaut à proximité du segment AB. L'évaluation du critère de détection conduit, dans le cas considéré ici d'un fonctionnement normal des transducteurs et de l'appareil de mesure, à considérer qu'il n'y a pas de défauts à proximité du segment AB.

Il en est de même pour tous les segments AB entre la position yn et une position y1 , représentée sur la figure 2b, qui est la première position pour laquelle le segment AB se trouve suffisamment proche du défaut 5 pour que l'évaluation du critère de détection au niveau de la position y1 conduise à considérer qu'il y a au moins un défaut à proximité du segment AB.

Il en est de même pour tous les segments AB entre la position y1 et une position y2, représentée sur la figure 2c, pour laquelle le segment AB se trouve toujours suffisamment proche du défaut 5 pour que l'évaluation du critère de détection au niveau de la position y2 conduise à considérer qu'il y a au moins un défaut à proximité du segment AB.

Dans une position suivante dite position ym et tel que représenté sur la figure 2d, le segment AB est suffisamment éloigné du défaut 5 pour que l'évaluation du critère de détection conduise à considérer qu'il n'y a pas de défaut à proximité du segment AB. Il en est de même dans l'exemple illustré pour toutes les positions suivantes du segment AB.

Dans un autre mode de mise en œuvre de l'étape de détection de défauts suivant l'invention, représenté sur les figures 3a à 3d, on déplace les points A et B de sorte à faire tourner le segment AB par rotation. Dans l'exemple non limitatif représenté sur les figures 3a à 3d, la rotation s'effectue autour d'un point O, et les points A, B et O sont alignés. On considère de manière non limitative le cas d'une rotation dans le sens trigonométrique, avec une détection effectuée au cours du déplacement de manière sensiblement continue ou pas à pas avec un pas de préférence sensiblement constant.

Par exemple, le déplacement des points A et B s'effectue par déplacement des transducteurs d'émission 20 et de réception 21 au moyen d'un dispositif de guidage 4, comportant dans l'exemple non limitatif représenté sur les figures 3a à 3d un support 40 sur lequel les transducteurs d'émission 20 et de réception 21 sont agencés, ledit support étant solidaire de moyens de rotation 41 comportant une base immobilisée par rapport à la structure 1.

Sur la figure 3a, il est représenté le segment AB dans une position d'angle au centre θn, dite position θn, dans laquelle l'évaluation du critère de détection conduit à considérer qu'il n'y a pas de défauts à proximité du segment AB. Il en est de même pour tous les segments AB entre la position θn et une position Θ1 , représentée sur la figure 3b, qui est la première position pour laquelle le segment AB se trouve suffisamment proche du défaut 5 pour considérer que la présence d'au moins un défaut est probable.

Il en est de même pour tous les segments AB entre la position Θ1 et une position Θ2, représentée sur la figure 3c, pour laquelle le segment AB est toujours suffisamment proche du défaut 5 pour que l'évaluation du critère de détection au niveau de la position Θ2 conduise à considérer qu'il y a au moins un défaut à proximité du segment AB.

Dans une position suivante dite position θm et tel que représenté sur la figure 3d, le segment AB est suffisamment éloigné du défaut 5 pour que l'évaluation du critère de détection conduise à considérer qu'il n'y a pas de défaut à proximité du segment AB. Il en est de même dans l'exemple illustré pour toutes les positions suivantes du segment AB.

En mettant en œuvre l'étape de détection, on détermine si la structure

1 ou la partie considérée de ladite structure comporte des défauts et, le cas échéant, on détermine en outre une ou des zones de la structure 1 dans lesquelles se trouvent lesdits défauts, dont les dimensions sont avantageusement inférieures à celles de la structure 1.

Dans l'exemple représenté sur les figures 2a à 2d, une zone comportant probablement des défauts, à inspecter lors de l'étape d'inspection, correspond par exemple à une surface délimitée par le segment AB dans la position y1 et le segment AB dans la position y2, c'est-à-dire correspondant à un rectangle de longueur L et de largeur Ly, Ly étant l'écart entre les positions y1 et y2. Ladite zone est désignée par la référence S1 sur la figure 2d.

Dans l'exemple représenté sur les figures 3a à 3d, une zone comportant probablement des défauts correspond par exemple à une surface délimitée par le segment AB dans la position Θ1 et le segment AB dans la position Θ2, c'est-à-dire correspondant à une portion de couronne de largeur L et d'angle au centre Lθ, Lθ étant l'écart entre les positions Θ1 et Θ2. Ladite zone est désignée par la référence S1 sur la figure 3d.

De manière plus générale, chaque zone comportant probablement des défauts correspond à une surface comportant un ou des segments AB contigus à proximité desquels la présence d'au moins un défaut a été jugée probable.

Il est à noter que les segments AB d'une zone sont entièrement compris dans ladite zone, dans la mesure où l'étape de détection ne vise pas nécessairement à déterminer les coordonnées de l'au moins un défaut le long des segments AB pour lesquels le critère de détection a été vérifié.

Selon l'invention, on inspecte de façon détaillée dans l'étape d'inspection chaque zone de la structure 1 déterminée dans l'étape de détection comme comportant probablement un ou des défauts. L'inspection détaillée effectuée dans l'étape d'inspection localise et caractérise dans chaque zone le ou les défauts avec la précision ciblée.

On inspecte les zones de la structure 1 au moyen d'un dispositif d'inspection ultrasonore ou autre, comportant un ou des transducteurs dont une capacité de résolution est compatible avec la précision ciblée.

Dans un mode particulier de mise en œuvre, on utilise dans l'étape d'inspection des transducteurs ultrasonores qui génèrent et détectent des ondes de Lamb dans la structure 1 au niveau des zones comportant probablement des défauts, lesdits transducteurs étant séparés par une distance compatible avec la précision ciblée. De préférence, on utilise les transducteurs d'émission 20 et de réception 21 utilisés dans l'étape de détection, en les rapprochant suffisamment pour assurer la précision ciblée.

L'inspection des zones comportant probablement des défauts se fait par exemple par balayage continu ou pas à pas des coordonnées cartésiennes dans l'exemple représenté sur les figures 2a à 2d, des coordonnées polaires dans l'exemple représenté sur les figures 3a à 3d, ou autre. Dans le cas d'un balayage pas à pas, le pas considéré est de préférence sensiblement constant, égal ou inférieur au pas considéré dans l'étape de détection.

Tandis que dans les procédés de contrôle non-destructif connus l'inspection détaillée est effectuée sur toute la structure, elle n'est réalisée selon l'invention que si la présence d'au moins un défaut a été détectée dans l'étape de détection, et de préférence uniquement sur des zones identifiées préalablement comme comportant probablement au moins un défaut. On comprend donc que la durée de l'étape d'inspection est réduite dans le cas de la mise en œuvre du procédé selon l'invention, du fait d'une inspection effectuée le plus souvent sur des surfaces limitées de la structure 1. Le procédé s'avère d'autant plus avantageux que l'utilisation des ondes de Lamb permet de déterminer la présence de défauts sur des segments AB de grandes longueurs. En utilisant dans l'étape de détection une valeur de la longueur L significativement supérieure à la précision ciblée dans l'étape d'inspection, ladite étape de détection est exécutée rapidement sans pénaliser les cadences de contrôle des structures en raison de la surface couverte par un balayage du segment AB.

En considérant une valeur de la longueur L significativement supérieure à la précision ciblée, le procédé permet d'éliminer rapidement de grandes zones correspondant aux segments AB pour lesquels le critère de détection n'a pas été vérifié.

Dans un mode particulier de réalisation, particulièrement adapté au cas d'un déplacement des points A et B par translation, l'étape de détection de défauts est à nouveau exécutée pour chaque zone identifiée comme comportant probablement au moins un défaut, avant l'étape d'inspection, pour identifier au moins une seconde zone, qui correspond à la zone effectivement inspectée dans l'étape d'inspection.

La seconde exécution de l'étape de détection est effectuée en modifiant l'orientation du segment AB, en modifiant l'orientation de l'axe de translation des points A et B, et en balayant la zone identifiée considérée. De préférence, la nouvelle orientation du segment AB est sensiblement parallèle à l'axe de translation considéré lors de la première exécution, et le nouvel axe de translation est de préférence sensiblement perpendiculaire à l'axe de translation considéré lors de la première exécution. La seconde exécution de l'étape de détection de défauts est illustrée sur les figures 2e à 2h, dans le cas de la première exécution de l'étape de détection illustrée sur les figures 2a à 2d, au cours de laquelle une zone comportant probablement au moins un défaut a été identifiée, comprise entre les positions y1 et y2 du segment AB.

Dans l'exemple non limitatif représenté sur les figures 2e à 2h, l'orientation du segment AB après modification est sensiblement parallèle à l'axe y, et le déplacement des points A et B s'effectue par translation suivant l'axe x, suivant les x positifs. Par exemple la nouvelle orientation du segment AB est obtenue par rotation du support 32, et la translation suivant l'axe x est assurée au moyen de rails x 33 et 34 sensiblement parallèles à l'axe x.

Avantageusement, et c'est le cas considéré dans l'exemple illustré, on ajuste la longueur L de sorte à se focaliser sur la première zone identifiée, par exemple en la choisissant sensiblement égale à la largeur Ly de ladite première zone. La valeur seuil du critère de détection doit également être ajustée pour tenir compte du nouvel écartement entre les points A et B.

Sur la figure 2e, il est représenté le segment AB dans une position d'abscisse xn suivant l'axe x, dite position xn, suffisamment éloignée du défaut 5 pour considérer qu'il n'y pas défaut à proximité du segment AB. II en est de même pour tous les segments AB entre la position xn et une position x1 , représentée sur la figure 2f, dans laquelle l'évaluation du critère de détection conduit à considérer qu'il y a au moins un défaut à proximité du segment AB. Il en est de même pour tous les segments AB entre la position x1 et une position x2, représentée sur la figure 2g. Dans une position suivante dite position xm et tel que représenté sur la figure 2h, le segment AB est suffisamment éloigné du défaut 5 pour que l'évaluation du critère de détection conduise à considérer qu'il n'y a pas de défaut à proximité du segment AB.

A partir d'une zone identifiée au cours de la première exécution de l'étape de détection, on identifie au moins une seconde zone comportant probablement des défauts. Dans l'étape d'inspection on inspecte uniquement les secondes zones identifiées.

Dans l'exemple représenté, la seconde zone correspond par exemple à une surface délimitée par le segment AB dans la position y1 et la position y2, et par le segment AB dans la position x1 et la position x2, c'est-à-dire correspondant à un rectangle de dimensions Ly et Lx, Lx étant l'écart entre les positions x1 et x2. Ladite seconde zone est désignée par la référence S2 dans la figure 2h.

Il est à noter qu'une seconde exécution de l'étape de détection de défauts sur une zone comportant une pluralité de défauts conduit dans certains cas à identifier une pluralité de secondes zones.

En fonction des dimensions des zones, il s'avère le cas échéant avantageux d'exécuter à nouveau l'étape de détection. En exécutant à nouveau l'étape de détection au niveau de chaque zone comportant probablement au moins un défaut, on identifie des secondes zones dont les dimensions sont le plus souvent encore réduites par rapport aux dimensions des zones identifiées lors de la première exécution de l'étape de détection, ce qui contribue à réduire encore la durée de l'étape d'inspection, dans laquelle on inspecte de manière détaillée uniquement les secondes zones.