Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Auswerten bi¬ närer Informationen, die auf der Magnetspur einer Ma¬ gnetspeicherkarte in Form von Flußwechseln nach dem Zweifrequenzcode gespeichert sind, bei dem eine Rela¬ tivbewegung zwischen der Magnetspeicherkarte und einem elektromagnetischen Wandler erzeugt wird, der durch die Magnetflußänderungen induzierte Spannungsimpulse ab¬ gibt, und bei dem die gegenseitigen zeitlichen Abstände der Spannungsimpulse zum Gewinnen der Informationen ausgewertet werden, indem zu Beginn eines Abtastvorgan¬ ges mit gleichbleibenden Vorinformationen eine Normie¬ rung erfolgt.

Ein solches Verfahren wird zum Lesen von Informationen verwendet, die mit einem magnetischen Aufzeichnungsge- rät zuvor auf einer Magnetkarte abgespeichert worden

sind. Derartige Magnetkarten haben eine breite Verwen¬ dung im privaten und im geschäftlichen Bereich gefun¬ den. Beispielsweise dienen sie zur Personenidentifizie¬ rung, als Scheckkarte, als Berechtigungsausweis etc. Die Informationen sind auf einer oder mehreren Spuren nach einem bestimmten standardisierten Code aufgezeich¬ net. Ein solcher Code ist zum Beispiel in der ISO-Norm 7811/2-1985 (E) beschrieben und wird als Zweifrequenz¬ code bezeichnet. Bei diesem sind Flußwechsel, d.h. ma¬ gnetische Flüsse mit abwechselnden Vorzeichen der Ma¬ gnetisierungsrichtungen, in festen Abständen in der Ma¬ gnetspur eingeprägt. Um einen Binärwert 1 zu definie¬ ren, wird mittig zwischen diesen Flußwechseln ein wei¬ terer Flußwechsel eingefügt. Fehlt dieser weitere Flu߬ wechsel, so liegt der Binärwert 0 vor. Zum Auslesen der magnetischen Informationen wird die Magnetspur an einem elektromagnetischen Wandler mit annähernd konstanter Geschwindigkeit vorbeigeführt, beispielsweise indem ein Motor die Magnetkarte relativ zu einem festen Wandler befördert, ein beweglicher Wandler über die ortsfeste Magnetspur geführt wird oder indem eine Person mit einer Handbewegung die Magnetkarte längs eines Schlit¬ zes führt, in welchem der Wandler fest angeordnet ist.

Infolge der Abtastbewegung wird im Wandler z.B. nach dem elektrodynamischen Prinzip eine Spannung induziert, deren Vorzeichen von der Richtung des magnetischen Flusses auf der Magnetspur abhängt. Da die Abtastge¬ schwindigkeit in einem weiten Bereich variieren kann, müssen durch eine Normierung die zeitlichen Abstände der Flußwechsel bzw. der induzierten Spannungsimpulse vor dem eigentlichen Einlesen der Informationen festge¬ stellt werden. Gemäß der erwähnten ISO-Norm werden hierzu auf der Magnetspur in einem den Informationen

vorgeschalteten Bereich Flußwechsel mit Abständen von¬ einander aufgezeichnet, die dem Binärwert 0 entspre¬ chen.

Die technisch-physikalischen Eigenschaften einer Ma¬ gnetkarte müssen im allgemeinen innerhalb vorgegebener Toleranzgrenzen liegen, damit ein sicheres Auslesen der gespeicherten Informationen gewährleistet ist. Dies ist bei neuen und wenig gebrauchten Magnetkarten der Fall. Mit zunehmenden Alter und Benutzung der Magnetkarte können sich ihre Eigenschaften nachteilig ändern. So kann ihre Oberflächengestalt durch mechanische und thermische Beanspruchung verändert sein, beispielsweise Wölbungen oder Wellen aufweisen. Auf der Magnetspur können sich ferner Gebrauchsspuren, wie Kratzer, Ab¬ rieb, Schmutz oder feine Haarrisse zeigen. Weiterhin kann auch der in der Magnetspur eingeprägte magnetische Fluß durch Alterung, Überlagerung von magnetischem Störfluß sowie durch Temperatureinwirkung verringert sein. Neben solchen Veränderungen der Eigenschaften der Magnetkarte können auch Abnutzungen des elektromagneti¬ schen Wandlers wie Abrieb oder fehlerhafter Magnetisie¬ rungszustand sowie Schmutz das Erzeugen von Spannungs¬ impulsen beeinträchtigen. Diese Veränderungen der Ei¬ genschaften der Magnetkarte und des Wandlers können dazu führen, daß die vom Wandler abgegebene Spannung von Störsignalen überlagert ist, die binäre Informatio¬ nen vortäuschen, oder daß der Spannungsverlauf so ver¬ ändert ist, daß er außerhalb eines vorgegebenen Auswer¬ tebereichs liegt, in dem die in ihm enthaltene Informa¬ tion noch sicher ausgewertet werden kann. Die Folge davon ist, daß die gespeicherte Information fehlerhaft oder unvollständig ausgelesen wird. Die Magnetkarte

kann dann die ihr zugedachte Funktion nicht mehr erfül¬ len und ist für den Benutzer wertlos.

Beim bekannten Verfahren werden die binären Informatio¬ nen durch eine analoge Auswertung der Spannungsimpulse gewonnen. Dieser geht im allgemeinen eine Verstärkung der Spannungsimpulse voraus, die anschließend tiefpa߬ gefiltert und gleichgerichtet werden. Zum Erkennen der Maximalwerte der gleichgerichteten Spannungsimpulse, die, wie noch erläutert wird, zum Ermitteln des zeitli¬ chen Abstands der Impulse voneinander und damit der In¬ formationsgewinnung dienen, wird der zeitliche Verlauf der Spannungsimpulse differenziert und aus dem Ergebnis in einer Diskriminatorschaltung Rechteckimpulse er¬ zeugt, deren Anstiegsflanken den Zeitpunkt der Maximal¬ werte definieren. Unter Zuhilfenahme der Rechteckimpul¬ se wird es dann möglich, die Spannungsimpulse jeweils in ihrem Extremwert zu erfassen und so die gegenseiti¬ gen zeitlichen Abstände der Spannungsimpulse zur Infor¬ mationsgewinnung auszuwerten.

Eine solche Auswertung liefert aber nur bei einwand¬ freien Magnetkarten brauchbare Ergebnisse. Sind die Spannungsimpulse von vorher erwähnten Störsignalen überlagert, so entstehen durch die Differentiation Störimpulse. Beim nachfolgend erzeugten Rechtecksignal definiert die Anstiegsflanke nicht mehr den Extremwert des Spannungsimpulses, sondern einen Extremwert des Störsignals. Dadurch werden falsche Zeitabstände zwi¬ schen den Spannungsimpulsen ermittelt und die auf der Magnetspur abgespeicherten binären Informationen werden fehlerhaft ausgewertet.

Es ist daher Aufgabe der Erfindung, Verfahren zum Aus¬ werten binärer Informationen anzugeben, das eine zu¬ verlässige Auswertung der auf der Magnetspur einer Ma¬ gnetspeicherkarte magnetisch gespeicherten Information auch dann noch gewährleistet, wenn die Magnetspur und/oder der elektromagnetische Wandler durch Alte¬ rung, Verschmutzung oder Beschädigung beeinträchtigt ist.

Diese Aufgabe wird durch die in den Patentansprüchen 1, 7 und 10 angegebenen Verfahren gelöst.

Bei einer ersten Lösung der Aufgabe ist vorgesehen, daß der zeitliche Verlauf des Ausgangssignals des elektro¬ magnetischen Wandlers in durch die Normierung vorgege¬ benen Zeitabständen erfaßt wird, und daß ein in diesem Verlauf auftretender Extremwert festgestellt wird, und daß das Verhältnis der Art dieses Extremwertes zu der Art eines zuvor festgestellten Extremwertes zur Infor¬ mationsgewinnung ausgewertet wird.

Diese Lösung beruht auf der Überlegung, daß die Störsi¬ gnale, die eine binäre Information vortäuschen können, während der Abtastung der Magnetspur zufällig auftre¬ ten. Wenn nun die Erfassung des Verlaufs des Aus¬ gangssignals nur in bestimmten Zeitabständen erfolgt, so werden diejenigen Störsignale ausgeblendet, die au¬ ßerhalb dieser Erfassungszeit liegen. Unter der An¬ nahme, daß die Störsignale mit einer annähernd gleich¬ verteilten Wahrscheinlichkeit im Verlauf des Ausgangs¬ signals vorkommen, wird die Wahrscheinlichkeit für das

durch ein Störsignal bedingte Ausfallen einer Magnet¬ karte um einen Faktor reduziert, der sich aus dem Quo¬ tienten aus gesamter Abtastzeit und Summe der Erfas¬ sungszeiten bei einem Abtastvorgang ergibt. Da die Er¬ fassungszeit sehr kurz sein kann, sie kann bei einer digitalen Erfassung abhängig vom verwendeten Sample- and-Hold-Baustein sowie vom A/D-Wandler im Mikrosekun- denbereich liegen, kann durch Anwendung dieses Prinzips die Zuverlässigkeit der Auswertung wesentlich verbes¬ sert werden.

In den durch die Normierung vorgegebenen Zeitabständen wird ein Extremwert des Ausgangssignals festgestellt und dessen Art, d.h. Maximalwert oder Minimalwert, mit der des im vorangegangenen Abschnitt festgestellten Ex¬ tremwerts verglichen. Das Feststellen des Extremwerts geschieht unabhängig vom Betrag der Spannungsamplitude des Ausgangssignals, so daß dessen Pegel nicht in die Auswertung eingeht. Dies bedeutet, daß auch bei kleinen Pegeln des Ausgangssignals infolge Schwächung des Ma¬ gnetflusses auf der Magnetspur oder infolge Abstands¬ schwankungen zwischen Wandler und Magnetspur die Infor¬ mationsauswertung möglich ist.

Aus dem Ergebnis des Vergleichs der Art des aktuellen Extremwerts mit der Art des vorangegangenen Extremwerts kann direkt auf das Vorliegen des Binärwerts 0 oder des Binärwerts 1 geschlossen werden. Dies soll anhand eines Beispiels näher erläutert werden. Gemäß dem bereits er¬ wähnten Zweifrequenzcode sind die zeitlichen Abstände zwischen Spannungsimpulsen eines Binärwerts 0 doppelt so lang wie die eines Binärwerts 1. Die Länge der Zeit¬ abstände für Binärwerte 0 sind zuvor bei der Normierung ermittelt worden. Wenn in einem solchen Zeitabstand im

Ausgangssignal ein Extremwert einer bestimmten Art, zum Beispiel ein Maximalwert oder ein Minimalwert, festge¬ stellt wird und der in einem Zeitabstand zuvor festge¬ stellte Extremwert von der gleichen Art ist, so bedeu¬ tet dies notwendigerweise, daß zwischen diesen Extrem¬ werten ein weiterer Extremwert anderer Art aufgetreten ist, denn definitionsgemäß haben aufeinander folgende Spannungsimpulse entgegengesetzte Vorzeichen und damit Extremwerte unterschiedlicher Art im Signalverlauf zur Folge. Die im Ausgangssignalverlauf enthaltene binäre Information hat demnach bei gleichartigen Extremwerten den Wert 1. Wenn die im Zeitabstand der Abtastung auf¬ einander folgenden Extremwerte in ihrer Art unter¬ schiedlich sind, d.h. auf einen Maximalwert folgt ein Minimalwert und umgekehrt, so liegt als Information der Binärwert 0 vor.

Eine bevorzugte Ausführungsform der Erfindung ist da¬ durch gekennzeichnet, daß für jeden Erfassungsvorgang ein Zeitabschnitt vorgegeben wird. Durch diese Maßnahme wird es möglich, das Vorliegen eines Extremwerts mit noch höherer Zuverlässigkeit und dessen zeitliche Lage im Zeitabschnitt festzustellen, denn zur Auswertung können mehrere im Zeitabschnitt liegende Werte des Aus¬ gangssignals herangezogen werden. Die Länge des Zeitab¬ schnitts kann je nach Anwendungsfall unterschiedlich sein. Bei nur gering gestörtem Ausgangssignal des Wand¬ lers reicht eine kurze Zeitabschnittslänge aus, während es bei stark gestörtem Ausgangssignal vorteilhaft ist, die Länge des Zeitabschnitts entsprechend größer zu wählen. Der Extremwert kann dann unter einer größeren Zahl von Werten des Ausgangssignals ausgewählt werden, und relative Maxima oder Minima im Signalverlauf können aussortiert werden. Je größer die Zahl dieser Werte

ist, um so genauer kann der Extremwert sowie seine Art ermittelt werden. Andererseits ist zu berücksichtigen, daß mit länger werdendem Zeitabschnitt auch der Einfluß von Störsignalen steigt. In der Praxis hat sich daher für viele Anwendungsfälle eine Zeitabschnittslänge kürzer als 1/6 der bei der Normierung ermittelten Zeit¬ abstände zwischen zwei Spannungsimpulsen bewährt.

Eine andere Lösung derselben Aufgabe zeichnet sich da¬ durch aus, daß im zeitlichen Verlauf des Ausgangssi¬ gnals des elektromagnetischen Wandlers aufeinander fol¬ gende Extremwerte unterschiedlicher Art festgestellt werden, daß die Zeit zwischen diesen Extremwerten ge¬ messen wird, daß das Verhältnis dieser Zeit zu den durch die Normierung vorgegebenen Zeitabständen zur In¬ formationsgewinnung ausgewertet wird, und daß im weite¬ ren Verlauf der Auswertung die nächste Zeitmessung erst beim nachfolgenden Extremwert beginnt, wenn die Zeit kürzer als die Zeitabstände ist.

Bei dieser Lösung werden zum Gewinnen der binären In¬ formationen die im Ausgangssignal des Wandlers in un¬ terschiedlichen Zeitabständen auftretenden Extremwerte ausgewertet. Diese sind unabhängig vom absoluten Span¬ nungspegel des Ausgangssignals, da sie nur relativ zu benachbarten Werten definiert sind. Sie bilden daher Maximalwerte, wenn die sie umgebenden Werte kleiner bzw. Minimalwerte, wenn diese Werte größer sind. Wird durch Schmutz oder durch einen vergrößerten Abstand zwischen Wandler und Magnetkarte die magnetische Kopp¬ lung zwischen dem Magnetfluß auf der Magnetspur und dem Wandler verringert, so ist auch der beim Abtasten der Magnetspur induzierte Spannungsimpuls entsprechend ver¬ ringert. Dies trifft nicht nur für seine Impulsspitze,

sondern auch für alle ihm benachbarten Spannungswerte zu, so daß der Extremwert durch Vergleich mit ihm be¬ nachbarten Werten eindeutig definiert ist. Somit blei¬ ben Störungen, die ein Abschwächen des Ausgangssignals des Wandlers bewirken, weitgehend ohne Einfluß auf die Auswertung der im Ausgangssignal enthaltenen binären Informationen.

Die Binärzustände der Informationen auf der Magnetkarte werden durch Zeitmessung ermittelt. Das Ergebnis dieser Messung wird mit dem Zeitabstand verglichen, der bei der Normierung mit den Vorinformationen ermittelt wor¬ den ist. Wenn die gemessene Zeit zwischen zwei aufein¬ ander folgenden Extremwerten mit Binärwert 0 unter¬ schiedlicher Art, d.h. ein Maximalwert folgt auf einen Minimalwert oder umgekehrt, annähernd gleich diesem Zeitabstand ist, so hat die von der Magnetspur gelesene magnetische Information den Binärwert 0 - ist sie klei¬ ner, so hat sie den Binärwert l. Nach einem ermittelten Extremwert, beispielsweise einem Maximalwert, wird die Zeit bis zum Auftreten des Extremwerts anderer Art, z.B. eines Minimalwerts, ermittelt. Beim gewählten Bei¬ spiel bedeutet dies, daß weitere in diese Zeit fallende Maximalwerte nicht berücksichtigt werden. Die Stör¬ sicherheit des Verfahrens wird somit erhöht.

Wenn ein Binärwert 0 erkannt wird, so wird die nächste Zeitmessung bei demselben Extremwert gestartet, der die letzte Zeitmessung beendet hat, und es wird die Zeit bis zum Eintreffen des nächsten Extremwerts anderer Art festgestellt. Wenn jedoch ein Binärwert 1 erkannt wird, so wird die nächste Zeitmessung nicht mit dem Extrem¬ wert gestartet, der die letzte Messung beendet hat,

sondern erst beim darauf folgenden Extremwert. Durch diese Maßnahme wird erreicht, daß die Zeitmessung je¬ weils bei dem Spannungsimpuls neu gestartet wird, des¬ sen Periode gleich dem bei der Normierung ermittelten Zeitabstand ist. Spannungsimpulse mit kleinerer Periode bzw. höherer Frequenz werden nicht zum Starten einer Zeitmessung verwendet. Diese hat somit einen eindeuti¬ gen Bezugspunkt, und Fehlinterpretationen der im Aus¬ gangssignal auftretenden Spannungsimpulse oder hochfre¬ quenter Störimpulse werden vermieden.

Eine bevorzugte Ausführungsform der vorstehend genann¬ ten Lösung zeichnet sich dadurch aus, daß die gemessene Zeit mit dem 0,7-fachen der bei der Normierung ermit¬ telten Zeitabstände verglichen wird. Beim Zweifrequenz¬ code haben die Flußwechsel mit Binärwert 0 einen zeit¬ lichen Abstand, der doppelt so groß ist wie der des Bi¬ närwerts 1. Beim Vergleich der gemessenen Zeit zwischen zwei Extremwerten unterschiedlicher Art mit dem 0,7- fachen der Normierungszeitabstände haben die gemessenen Zeiten für den Binärwert l und den Binärwert 0 im Nor¬ malfall jeweils den gleichen zeitlichen Abstand zum Re¬ ferenzwert. Dieser Abstand kann als Störabstand für das Erkennen eines Binärwertes aufgefaßt werden. Durch die Verfahrensschritte der Weiterbildung ist der Störab¬ stand für beide Binärwerte gleich lang, nämlich das 0,3-fache des Normierungszeitabstandes. Die binären In- for ationszustände werden mit gleichem Störabstand er¬ faßt, wodurch die Zuverlässigkeit des Auswertungsver¬ fahrens weiter optimiert ist.

Die vorgenannte Ausführungsform kann derart wetergebil- det sein, daß die gewonnenen Informationen einer Feh¬ lerprüfung unterzogen werden, und daß beim Auftreten

eines Fehlers die gemessenene Zeit mit dem 0,7- bis 0,66-Fachen oder mit dem 0,7- bis 0,75-Fachen der Zeit¬ abstände verglichen wird.

Durch diese Maßnahme wird die Störsicherheit des vorgenannten Auswertungsverfahrens noch weiter erhöht. Wird nämlich ein Lesefehler, z.B. durch eine Parity-Bit Prüfung, festgestellt, so kann dieser möglicherweise darin begründet sein, daß der Störabstand, gebildet durch den zeitlichen Abstand zum Referenzwert, zu klein ist. Je nach dem, ob der Fehler bei der Erkennung des Binärwerts l oder 0 auftritt, wird nun durch die ge¬ nannten Maßnahmen der Störabstand in die eine oder die andere Richtung vergrößert. Es ist auch möglich, den Störabstand bei Auftreten eines Fehlers zunächst in eine beliebige Richtung zu vergrößern. Wird dann bei der nachfolgenden Auswertung abermals ein Fehler fest¬ gestellt, so wird daraufhin der Störabstand in die an¬ dere Richtung vergrößert. Dadurch wird spätestens beim zweiten Versuch der Störabstand tatsächlich vergrößert und dem aufgetretenen Fehler entgegengewirkt.

Eine dritte Lösung der gestellten Aufgabe ist dadurch gekennzeichnet, daß der zeitliche Verlauf des Ausgangs¬ signals über jeden durch die Normierung vorgegebenen Zeitabstand erfaßt wird, daß für jeweils einen Binärzu¬ stand der Information mindestens ein Verlaufsmuster mit der Länge des Zeitabstandes bereitgestellt wird, daß der erfaßte Verlauf des Ausgangssignals mit mindestens zwei Verlaufsmustern verglichen wird, und daß das Ver¬ gleichsergebnis mit der geringsten Abweichung ermittelt wird.

Diese Lösung beruht auf der Überlegung, daß der zeitli¬ che Verlauf des Ausgangssignals für jeden Binärzustand der Information eine charakteristische Kurvenform hat. Diese kann für jeden Binärzustand in Form mindestens eines Verlaufsmusters angegeben werden. Wenn nun der Istverlauf des Ausgangssignals mit einem dieser Ver¬ laufsmuster übereinstimmt, so liegt eine hohe Wahr¬ scheinlichkeit dafür vor, daß die im Ausgangs¬ signalverlauf abgebildete binäre Information den Wert hat, der dem entsprechenden Verlaufsmuster zugeordnet ist.

Die vorliegende dritte Lösung nutzt diese Erkenntnis, indem sie den Ausgangssignalverlauf eines Normierungs- zeitabstandes mit mindestens zwei Verlaufsmustern ver¬ gleicht, die den Binärzuständen 0 und 1 zugeordnet sind. Da der tatsächliche Ausgangssignalverlauf infolge von überlagerten Störungen vom theoretischen Verlauf abweicht, kann zwischen den Vergleichsmustern und dem Ausgangssignalverlauf im allgemeinen keine exakte Über¬ einstimmung festgestellt werden. Deshalb werden die Ab¬ weichungen des Verlaufs des Musters von dem des Aus¬ gangssignals festgestellt und das Verlaufsmuster mit der geringsten Abweichung ermittelt. Dieses ist dem tatsächlichen Ausgangssignalverlauf am ähnlichsten und sein ihm zugeordneter Binärwert wird als die auf der Magnetspur vorhandene Information verwendet.

Wenn dem Ausgangssignalverlauf ein Störsignal überla¬ gert ist oder wenn sich seine Kurvenform infolge Dämp¬ fung verändert, so werden die beim Vergleich mit den Verlaufs ustern jeweils festgestellten Abweichungen größer. Solange die jeweiligen Abweichungen im Verhält¬ nis zum erwarteten Ausgangssignal nicht zu groß sind,

kann die binäre Information im Ausgangssignal noch ein¬ deutig bestimmt werden. Da sich die jeweiligen Kurven¬ formen des Ausgangssignalverlaufs für die verschiedenen Binärwerte stark unterscheiden und sich dies in den Ab¬ weichungen auswirkt, ist auch bei einem verrauschten Ausgangssignalverlauf oder bei stark gedämpften Aus¬ gangssignalen noch eine zuverlässige Informations¬ auswertung gewährleistet.

Eine Ausgestaltung der vorgenannten Lösung ist dadurch gekennzeichnet, daß für den Binärwert 0 als Verlaufs¬ muster eine Gerade mit konstanter positiver oder nega¬ tiver Steigung und für den Binärwert 1 eine Gerade mit konstanter positiver und dann negativer Steigung oder umgekehrt mit Vorzeichenwechsel in der Mitte des Zeit¬ abstandes bereitgestellt wird.

Die genannten Verläufe sind jeweils charakteristisch für den Verlauf des Ausgangssignals für Binärwerte 0 bzw. l. Dabei ist jeweils zu unterscheiden, ob das Aus¬ gangssignal zu Beginn der Erfassung einen Maximalwert oder einen Minimalwert hat. Eine Gerade mit einer kon¬ stanten positiven Steigung ähnelt daher einem Ausgangs¬ signalverlauf, der dem Binärwert 0 entspricht und der mit einem negativen Spannungsimpuls beginnt. Eine Ge¬ rade mit negativer Steigung ähnelt einem Ausgangssi¬ gnalverlauf mit Binärwert 0, der mit einem Maximalwert beginnt. Bei Binärwerten. 1 tritt zwischen den Normie- rungszeitabständen ein weiterer Spannungsimpuls auf. Daher ähnelt eine Gerade in Form eines umgekehrten V einem Spannungsverlauf, der mit einem Minimalwert und eine Gerade in Form eines V einem Verlauf, der mit einem Maximalwert beginnt.

Die genannten Kurvenverläufe der Verlaufsmuster können bei Anwendung des Auswertungsverfahrens auf einem Digi¬ talrechner mit geringem Programmieraufwand realisiert werden. Auch lassen sich bei solchen Verläufen die Ab¬ weichungen von dem tatsächlichen Ausgangssignalverlauf mit geringem Rechenaufwand feststellen, so daß die Aus¬ wertung nur kurze Zeit beansprucht.

In einer weiteren Ausgestaltung ist noch vorgesehen, daß die Abweichungen des zeitlichen Verlaufs des Aus¬ gangssignals von dem Verlauf desjenigen Verlaufsmusters mit geringster Abweichung bestimmt werden, daß eine Korrektur des Verlaufsmusters abhängig von diesen Ab¬ weichungen erfolgt, und daß im weiteren Verlauf der Auswertung das korrigierte Verlaufsmuster mit dem Aus¬ gangssignalverlauf verglichen sowie der Korrektur un¬ terzogen wird.

Die Spannungsamplitude des Ausgangssignals des Wandlers kann wie bereits erwähnt gedämpft oder der Signalver¬ lauf in seiner Kurvenform verändert sein. Gründe hier¬ für sind zum Beispiel der Abrieb des Wandlerkopfes, Verschmutzung, Änderung der magnetischen Feldstärke etc. Durch die Weiterbildung wird eine fortlaufende oder gleitende Anpassung der Verlaufsmuster an den tat¬ sächlichen Verlauf des Ausgangssignals bewirkt. Dadurch wird erreicht, daß die Abweichung von Ausgangssignal¬ verlauf und Verlaufsmuster mit geringster Abweichung minimal wird. Die Abweichungen bei anderen Verlaufsmu¬ stern bleiben unverändert, so daß der Störabstand zum Erkennen der BinärInformation vergrößert ist.

Eine andere Weiterbildung, die sich vorteilhaft mit den vorgenannten Verfahren und deren Weiterbildungen kombi¬ nieren läßt, ist dadurch gekennzeichnet, daß das Aus¬ gangssignal des elektromagnetischen Wandlers zu vorge¬ gebenen Zeitpunkten in Digitalwerte gewandelt wird, daß die Digitalwerte in der Reihenfolge ihres Auftretens gespeichert werden, und daß zum Gewinnen der Informa¬ tionen die gespeicherten Digitalwerte ausgewertet wer¬ den.

Diese Weiterbildung beruht auf der Überlegung, daß sich Auswertungsfehler vermeiden lassen, wenn die Auswertung der Spannungsimpulse zeitlich nicht eng mit deren Auf¬ treten am Wandler verknüpft ist. Dann nämlich muß die Auswertung nicht in Echtzeit durchgeführt werden, son¬ dern kann anhand der gespeicherten Digitalwerte zu einem späteren Zeitpunkt erfolgen, z.B. nach dem Abta¬ sten der Magnetspur auf der Magnetkarte. Dadurch lassen sich die vorher beschriebenen Verfahren sämtliche auf die von ein und derselben Magnetkarte herrührenden Spannungsimpulse anwenden und die Leistungsfähigkeit der verschiedenen Verfahren miteinander vergleichen. Das zur Auswertung vorgesehene Verfahren kann dann eine längere Zeit für die Auswertung beanspruchen als für die Abtastung der Magnetspur erforderlich ist.

Wenn die Auswertung der Digitalwerte nacheinander durch unterschiedliche Auswertungsvarianten erfolgt, wird je¬ weils ein Satz binärer Informationen gewonnen. Derarti¬ ge Auswertungsvarianten sind in den weiter oben genann¬ ten Verfahren beschrieben. Es können dann mehrere Sätze binärer Informationen untereinander verglichen werden und das Vergleichsergebnis einer Plausibilitätsprüfung unterzogen werden. Stimmen die Ergebnisse überein, so

ist mit sehr großer Wahrscheinlichkeit anzunehmen, daß die gewonnenen Informationen wahr sind. Durch diese Maßnahme kann die Sicherheit und Zuverlässigkeit der Auswertung binärer Informationen nochweiter erhöht wer¬ den.

In weiterer Ausgestaltung der Erfindung wird für die weitere Auswertung der Digitalwerte abhängig vom Ergeb¬ nis der Plausibilitätsprüfung eine bestimmte Auswer¬ tungsvariante ausgewählt. Damit ist es möglich, für die gespeicherten Digitalwerte einer Magnetkarte die opti¬ male Auswertungsvariante einzusetzen. Optimierungskri¬ terien können z.B. der Zeitaufwand oder die statisti¬ sche Sicherheit der Auswertung sein. Beispielsweise ist es möglich, die Auswertung bei einer typischen, eine bestimmte Verschmutzung aufweisenden Magnetkarte mehr¬ stufig durchzuführen, wobei für jede Stufe eine andere Auswertungsvariante verwendet wird. In der ersten Stufe ist es dann zweckmäßig, ein einfaches, dafür aber schnelles Auswertungsverfahren einzusetzen. Führt die¬ ses zu einem fehlerhaften Ergebnis, so wird die Auswer¬ tung in einer nachfolgenden zweiten Stufe unter Verwen¬ dung derselben Digitalwerte durch ein aufwendigeres und zuverlässigeres Auswertungsverfahren wiederholt. Die Auswertung wird in mehreren Stufen so lange fortge¬ setzt, bis ein einwandfreies Ergebnis vorliegt. Die Richtigkeit des Ergebnisses kann mittels bekannter Kon¬ trollverfahren, z.B. dem Parity-Bit-Verfahren, festge¬ stellt werden.

Ausführungsbeispiele der Erfindung werden im folgenden anhand der Zeichnung erläutert. Darin zeigt

Fig. 1 eine Magnetkarte mit einem ver¬ größerten Ausschnitt einer Ma¬ gnetspur,

Fig. 2 ein Blockschaltbild einer

Schaltungsanordnung zum Erfas¬ sen binärer Informationen,

Fig. 3 Signalverläufe und Binärzustän¬ de beim Zweifrequenzcode,

Fig. 4 ein Ablaufdiagramm zum Ermit¬ teln von Zeitabständen bei der Normierung,

Fig. 5 Signalverläufe beim Auswerten binärer Informationen durch Feststellen der Art der Extrem¬ werte in vorgegebenen Zeitab¬ ständen,

Fig. 6 ein Ablaufdiagramm zum Ermit¬ teln der binären Informationen nach Fig. 5,

Fig. 6a Signalverläufe bei einer

Variante des Auswertungsverfah¬ rens nach Fig. 5 und Fig. 6,

Fig. 7 Signalverläufe beim Auswerten binärer Informationen durch Zeitmessung,

Fig. 8 ein AblaufSchema der Verfah¬ rensschritte zum Auswerten bi¬ närer Informationen nach Fig. 7,

Fig. 9 vier Verlaufsmuster und deren

Abweichungen von einem vorgege¬ benen Ausgangssignalverlauf,

Fig. 10 drei weitere Ausgangssignal¬ verläufe mit dazu passenden Verlaufsmustern,

Fig. 11 ein Ablaufdiagramm für Verfah¬ rensschritte zum Auswerten bi¬ närer Informationen durch Ver¬ gleich mit Verlaufsmustern,

Fig. 12 ein korrigiertes Verlaufsmu¬ ster,

Fig. 13 ein Ablaufdiagramm zur Auswahl geeigneter Verlaufsmuster, und

Fig. 14 ein Ablaufdiagramm für ein Aus- wertungsverfahren, bei dem

Korrelationskoeffizienten be¬ rechnet werden.

In Fig. 1 ist eine Magnetkarte 10 mit einem Magnet¬ streifen 12 dargestellt, auf dem sich drei Magnetspuren 14, 16, 18 befinden. Ein Abschnitt 20 der Magnetspur 18 ist vergrößert dargestellt. Der Magnetspur 20 sind strichmusterartig magnetische Flüsse 22, 24, 26 einge¬ prägt. Der Abstand zwischen den magnetischen Flüssen wird abhängig von der binären Information 0 oder 1 va¬ riiert. Aufeinander folgend e magnetische Flüsse haben jeweils entgegengesetzte Magnetisierungsrichtungen, an¬ gedeutet durch Pfeile bei den magnetischen Flüssen 22, 24. Deshalb werden die Magnetflüsse 22 bis 26 auch als Flußwechsel bezeichnet. Die Anzahl der Flußwechsel pro Millimeter wird als Flußwechseldichte d bezeichnet und ist ein Maß für die pro Längeneinheit speicherbaren Bi¬ närwerte.

Fig. 2 zeigt in einer Blockdarstellung eine Schaltungs¬ anordnung zum Erfassen der auf der Magnetkarte 10 ge¬ speicherten Information. Die Magnetkarte 10 wird mit einer Geschwindigkeit v an einem elektromagnetischen Wandler 30 vorbeigeführt, so daß infolge der vom Wand¬ ler 30 erfaßten Magnetflußänderungen in seiner Spule Spannungsimpulse induziert werden, die in einem Tief¬ paßfilter 32 gefiltert werden. Das vom Filter 32 abge¬ gebene Signal wird durch einen Verstärker 34 zum Aus¬ gangssignal U verstärkt. Dieses wird in regelmäßig vor¬ gegebenen Zeitpunkten von einem A/D-Wandler 36 in Digi¬ talwerte gewandelt. Die Digitalwerte des Wandlers 36 werden einem Mikroprozessor 38 zugeführt, der die Ver¬ fahrensschritte zum Auswerten der Binärinformationen durchführt.

Die Impulsfolgefrequenz der Spannungsimpulse am Wandler 30 hängt von der Flußwechseldichte d der Magnetspur und

von der Relativgeschwindigkeit v zwischen Wandler 30 und Magnetkarte 10 ab. Um den Verlauf des Ausgangssi¬ gnals U des Wandlers 30 mit möglichst hoher zeitlicher Auflösung zu erfassen, beträgt die Abtastfrequenz des A/D-Wandlers mindestens das 16-fache der maximalen Impulsfolgefrequenz. Die Zeitpunkte für die A/D- Wandlung haben demgemäß einen Abstand Tad < (16vd) ^-1 . Bei einer Relativgeschwindigkeit von 200 mm/s und einer Flußwechseldichte d von 8,33/mm beträgt die Abtastfre¬ quenz 26656 Hz bzw. der Zeitabstand Tad 37,5μs.

In Fig. 3 sind in einem Bildteil a) Flußwechsel der Ma¬ gnetspur 18 dargestellt. Im Bildteil b) ist der Verlauf der vom Wandler 30 abgegebenen Spannung U über der Zeit t beim Abtasten dieser Flußwechsel dargestellt. Im un¬ teren Bildteil c) sind Binärzustände B über der Zeit t angegeben, die aus dem Spannungsverlauf U ermittelt werden.

Die Magnetspur 18 hat einen sogenannten Vornullenbe¬ reich 40, in welchem nur Flußwechsel eingeprägt sind, die dem Binärwert 0 entsprechen. An den Vornullenbe¬ reich 40 schließt sich der eigentliche Informationsbe¬ reich 42 an, der als Informationen Binärwerte 0 und 1 enthält.

Die Verschlüsselung der Informationen erfolgt nach dem Zweifrequenzcode. Bei diesem wechseln sich die Magneti- sierungsrichtungen aufeinander folgend er Magnetflüsse ab. In vorgegebenen Wegabständen, die Zeitabständen T bei der Abtastung entsprechen, sind jeweils ein Flu߬ wechsel vorgesehen. Wenn innerhalb eines Abstandes T ein weiterer Flußwechsel vorkommt, so signalisiert dies den Binärwert 1 - fehlt dieser Flußwechsel, so

signalisiert dies den Binärwert 0. Beim Abtasten der Flußwechsel werden abhängig von der Magnetisierungsrichtung positive oder negative Spannungsimpulse induziert, deren Verläufe im Bildteil b) der Fig. 3 dargestellt sind. Enthält die Magnetspur 18 lediglich Informationen mit dem Binärwert 0, so tre¬ ten die Spannungsimpulse mit nur einer Frequenz bzw. einer Periode T auf. Sind in der Magnetspur 18 auch Binärwerte 1 gespeichert, so enthält der Signalverlauf auch Signalanteile mit der doppelten Frequenz bzw. der halben Periodendauer T. Im Bildteil c sind die in den vorgegebenen Wegabständen, die den Zeitabständen T ent¬ sprechen, enthaltenen Binärwerte B dargestellt. Die Binärwerte stehen jeweils erst nach einem Extremwert¬ wechsel fest.

Da nicht immer sichergestellt ist, daß die Relativge¬ schwindigkeit v zwischen Wandler 30 und Magnetkarte 10 für alle Magnetkartenlesegeräte gleich ist, ist es er¬ forderlich, eine Normierung durchzuführen, bei der die Periode T zu bestimmen ist. Hierzu dient der Vornullen¬ bereich 40, der zu Beginn eines Abtastvorganges abgeta¬ stet wird. Aus den zeitlichen Abständen der Spannungs¬ impulse des Vornullenbereichs 40 kann der dem Binärwert 0 zugeordnete Zeitabstand T ermittelt werden. Die hierzu erforderlichen Verfahrensschritte sind in einem Ablaufdiagramm in Fig. 4 dargestellt.

In einem ersten Verfahrensschritt 46 werden die Zeitab- stände T für die binäre Information 0 durch Zeitmessung ermittelt. Hierzu können beispielsweise die vom A/D- Wandler 36 abgegebenen Digitalwerte auf Extremwerte analysiert werden. Bei einer festen Abtastfrequenz des

A/D-Wandlers 36 ist die Zahl der zwischen den Extrem¬ werten liegenden Digitalwerte ein Maß für den gesuchten Zeitabstand T.

Im Verfahrensschritt 48 werden aus mehreren Zeitabstän¬ den T des Vornullenbereichs 40 ein mittlerer Zeitab¬ stand Tm berechnet. Dadurch werden Zeitmeßfehler ausge- mittelt. Die weiteren Verfahrensschritte 50, 52, 54 be¬ ziehen sich auf eine Korrektur des mittleren Zeitabs¬ tandes Tm, die erforderlich ist, wenn im Verlaufe des Abtastens der Magnetspur 18 die Abtastgeschwindigkeit schwankt. Hierzu werden wie noch beschrieben wird wäh¬ rend des Abtastvorgangs fortlaufend die Zeitabstände Tist für binäre O-Werte bestimmt und der für die Aus¬ wertung benötigte Zeitabstand Tm fortlaufend korri¬ giert. Im Verfahrensschritt 50 wird der Zeitabstand Tm beim n-ten Auswertungsschritt mit dem aktuellen Zeitab¬ stand Tist verglichen und bei Abweichungen voneinander zum Schritt 52 verzweigt. In diesem wird durch eine arithmetische Mittelwertbildung der Zeitabstand Tm für den nächsten Auswertungsschritt n+1 gemäß der beim Ver¬ fahrensschritt 52 angegebenen Beziehung ermittelt. Das Ergebnis dieser Korrektur wird dann im Verfahrens¬ schritt 54 anderen an der Auswertung beteiligten Ver¬ fahrensabläufen übergeben und für die weitere Auswer¬ tung der Informationen verwendet. Nach der Korrektur wird zum Verfahrensschritt 50 weitergeleitet und der Zeitabstand Tm im weiteren Verlauf weiter korrigiert.

In Fig. 5 sind über der Zeit t verschiedene Signalver¬ läufe dargestellt, anhand der das Auswertungsverfahren durch Feststellen der Art der Extremwerte in vorgegebe¬ nen Zeitabständen beschrieben wird. Im Bildteil a) ist

der Ausgangsspannungsverlauf U des Wandlers 30 darge¬ stellt. In durch die Normierung vorgegebenen Zeitab¬ ständen T wird der Spannungsverlauf U abschnittsweise in seinem Extremwert abgetastet und die Art des Extrem¬ wertes, d.h. Maximalwert oder Minimalwert, ermittelt. Dies kann zum Beispiel durch einfaches Auswerten des Vorzeichens des Spannungswertes geschehen, wie dies im Bildteil b) angedeutet ist. Zur Informationsgewinnung wird die Art aufeinander folgend er Extremwerte mitein¬ ander verglichen. Sind die Extremwerte gleichartig, so wird der Binärwert 1 erzeugt (Bildteil d) in Fig. 5) . Sind die Extremwerte verschiedenartig, so wird der Binärwert 0 erzeugt. Da der Signalverlauf U nur in Zeitabständen T abgetastet wird, wird ein zwischen zwei Abtastvorgängen auftretender Störimpuls 62 nicht erfaßt und kann die Auswertung nicht beeinflussen. Auch die Höhe der Spannungsamplitude im Moment des Abtastens ist ohne Einfluß auf das Auswertungsergebnis, denn die in einem abgeschwächten Spannungsimpuls 60 noch enthaltene Information über die Art des Extremwerts reicht zum Feststellen des binären Werts 0 oder 1 aus.

Im Bildteil c) der Fig. 5 wird der Erfassungsvorgang in einem Zeitabschnitt 2Tf durchgeführt. Entsprechend der Abtastfrequenz des A/D-Wandlers 36 werden während des Zeitabschnitts 2Tf mehrere Digitalwerte ermittelt und unter diesen der Extremwert festgestellt. Dadurch wird es möglich, nicht nur die Art des Extremwerts, sondern auch seine zeitliche Lage festzustellen. Dies kann für die Zeitmessung des aktuellen Zeitabstandes Tist zum vorangegangenen Extremwert ausgenutzt werden. Der Zeit¬ abstand Tist kann dann wie beschrieben zur Korrektur des Zeitabstandes T bzw. des mittleren Zeitabstandes Tm verwendet werden.

In Fig. 6 sind die zum Ermitteln der Binärwerte nach Fig. 5 erforderlichen Verfahrensschritte in einem Ab¬ laufdiagramm angegeben. Im ersten Verfahrensschritt 66 werden Daten D, die in einen Zeitabschnitt oder in ein Zeitfenster 2Tf fallen, in den Mikroprozessor 38 einge¬ lesen. Daraufhin wird der Maximal- bzw. der Minimalwert dieser Daten festgestellt (Verfahrensschritt 68) . Aus der zeitlichen Lage des Extremwertes kann der Zeitab¬ stand Tist zum letzten Extremwert berechnet werden (Verfahrensschritt 70) . Dieser Zeitabstand Tist wird zur Korrektur des mittleren Zeitabstandes Tm nach Fig. 4 verwendet.

Im nächsten Verfahrensschritt 72 wird die Art des aktu¬ ellen Extremwerts bestimmt und mit der des vorherigen Extremwerts verglichen. Bei Übereinstimmung wird als Information der Binärwert 1 ausgegeben, bei fehlender Übereinstimmung der Binärwert 0 (Verfahrensschritt 76 bzw. 74) . Anschließend werden im Verfahrensschritt 78 die Zeitpunkte t(n+l) des nächsten Zeitfensters berech¬ net. Diese liegen symmetrisch im Abstand + Tf zum näch¬ sten Zeitpunkt t(n)+Tm.

In Fig. 6a wird eine Variante der Auswertung durch Feststellen der Art der Extremwerte in vorgegebenen Zeitabständen T anhand von Kurvenverläufen wiedergege¬ ben. Im oberen Bildteil ist der Ausgangsspannungs- verlauf U des Wandlers 30 dargestellt, wie er beim Ab¬ tasten von stark verschmutzten oder teilweise beschä¬ digten Magnetkarten erzeugt wird. Für Prüfzwecke kann ein derartiger Spannungsverlauf durch Bekleben der Magnetspur mit einem Tesafilmstreifen simuliert werden.

Charakteristisch für diesen Ausgangsspannungsverlauf U sind die verkleinerten Spannungsamplituden der Flu߬ wechsel mit halbem Zeitabstand T, die Binärwerte l re¬ präsentieren. Diese Amplitudenverringerung rührt von der verringerten Empfindlichkeit des Wandlers 30 bei vergrößertem Abstand zur Magnetspur her. Die Abtastung des Ausgangsspannungsverlaufs U im Zeitabstand T und das Gewinnen der binären Information aus den Extrem¬ werten erfolgt dem Prinzip nach in gleicher Weise wie vorher bei Fig. 5 und 6 beschrieben. Abweichend von der in Fig. 5 dargestellten Ausgangsspannung U ist diese um einen konstanten Betrag angehoben, so daß nur positive Spannungswerte im Spannungsverlauf U vorliegen. Zum Feststellen der Art der Extremwerte werden diese mit einem Schwellwert verglichen, wie nachfolgend beschrie¬ ben wird.

Der Schwellwert wird im einfachsten Fall durch arithme¬ tische Mittelwertbildung des Ausgangsspannungsverlaufs U ermittelt, beispielsweise in der Normierungsphase, bei der als Vorinformationen Binärwerte 0 mit definier¬ ter Spannungsamplitude vorliegen. Ein derartiger Schwellwert Sl ist im oberen Bildteil der Fig. 6a gestrichelt eingezeichnet. Die Art des Extremwertes wird, wie bereits erwähnt, durch Vergleich mit diesem Schwellwert Sl ermittelt. Ein Maximalwert liegt vor, wenn der Extremwert kleiner als der Schwellwert Sl ist. Aus dem Verhältnis der Art des festgestellten Extrem¬ werts zur Art des zuvor festgestellten Extremwerts wer¬ den dann, wie zuvor bei Fig. 5 und 6 beschrieben, die binären Informationen B gewonnen. Deren zeitlicher Ver¬ lauf ist im unteren Bildteil der Fig. 6a dargestellt.

Um den Störabstand beim Feststellen der Art des Extrem¬ wertes noch weiter zu erhöhen, kann der Schwellwert Sl nach einem festgestellten Extremwertwechsel um einen Betrag b geändert werden, der den Spannungsabstand zum zuletzt festgestellten Extremwert erhöht. Bei Anwendung dieses Prinzips ergibt sich der im oberen Bildteil mit S2 gekennzeichnete Verlauf des Schwellwertes. Wie aus dem Ausgangsspannungsverlauf U nach der Fig. 6a er¬ sichtlich ist, wird damit der vertikale Abstand zwi¬ schen den Spannungsamplituden mit halbem Zeitabstand T und dem Schwellwert S2 um den Betrag b vergrößert. Die Art des Extremwerts, d.h. Minimum oder Maximum, kann auf diese Weise mit hoher Zuverlässigkeit auch bei kleinen Extremwerten festgestellt werden.

Eine weitere Art der Auswertung binärer Informationen, die im Ausgangssignalverlauf U des Wandlers 30 enthal¬ ten sind, wird im folgenden anhand der Fig. 7 beschrie¬ ben. Im Bildteil a) ist der Ausgangssignalverlauf U über der Zeit t dargestellt, dessen Spannungsimpulse zum Teil stark abgeschwächt sind. Dies kann beispiels¬ weise eine Folge von Abstandsschwankungen zwischen Wandler 30 und Magnetkarte 10, hervorgerufen durch Schmutz auf der Magnetkarte 10 oder durch Welligkeiten, sein. Zur Informationsauswertung werden aufeinanderfol¬ gende Extremwerte unterschiedlicher Art festgestellt. Die zeitliche Lage dieser Extremwerte ist im Bildteil b) dargestellt. Da bei der Extremwertbildung lediglich ein Vergleich zwischen einander benachbarten Werten durchgeführt wird, ist das Ergebnis unabhängig vom Absolutbetrag der Spannung des Ausgangssignals U. Dies bedeutet, daß die Abschwächung der Spannungsamplituden infolge von Störeinwirkungen ohne Auswirkung auf die Informationsauswertung ist.

Z I

Anhand der Bildteile c) und d) ist die Informationsge¬ winnung durch Zeitvergleich dargestellt. Mit dem Fest¬ stellen eines Extremwerts wird zum Zeitpunkt t=0 eine Zeitmessung gestartet und die Zeit tl bis zum Eintref¬ fen des nächsten Extremwertes anderer Art gemessen. Diese Zeit tl wird mit einer Referenzzeit tr vergli¬ chen, die das 0,7-fache eines Zeitabstandes T oder Tm beträgt, der bei der Normierung ermittelt worden ist. Wenn die Zeit tl kleiner als die Referenzzeit tr ist, so wird der Binärwert 1 erzeugt (Bildteil d) in Fig. 7) . Anschließend wird der nächste Extremwert festge¬ stellt und bei diesem erneut eine Zeitmessung gestar¬ tet. Der nachfolgende Extremwert hat in diesem Beispiel einen zeitlichen Abstand t2 zum vorhergehenden Extrem¬ wert. Die Zeit t2 ist größer als die Referenzzeit tr, als Information wird dementsprechend der Binärwert 0 erkannt. Mit dem Beenden der Zeitmessung für einen Bi¬ närwert 0 wird sogleich eine neue Zeitmessung gestar¬ tet.

Die zum Auswerten der binären Informationen erforderli¬ chen Verfahrensschritte nach diesem Verfahren sind in Fig. 8 in einem Ablaufdiagramm dargestellt. In einem ersten Schritt 90 werden m digitalisierte Daten des Ausgangssignalverlaufs U in den Mikroprozessor 38 ein¬ gelesen. Die Zahl m wird so gewählt, daß unter den m Digitalwerten mindestens ein Wert ist, der einen Span¬ nungsimpuls und damit einen Extremwert des Signal¬ verlaufs U abbildet. Im nachfolgenden Verfahrensschritt 92 wird unter den m Daten ein Extremwert festgestellt und die Zeitmessung gestartet (Verfahrensschritt 94) . Daraufhin werden weitere m Daten eingelesen und der

nachfolgende Extremwert festgestellt (Verfahrensschrit- te 96 und 98) . Mit dem Feststellen eines Extremwerts wird im nachfolgenden Schritt 100 die Zeitmessung been¬ det. Da bei diesem Beispiel ein digitales Verfahren mit einer konstanten Wandlungsfrequenz bei der A/D-Wandlung verwendet wird, kann die Zeitmessung auf ein Feststel¬ len der Zahl der zwischen zwei Extremwerten liegenden Digitalwerte zurückgeführt werden. Diese Zahl ist dann mit dem Zeitabstand Tad zwischen zwei Digitalwandlungen zu multiplizieren, um den Absolutwert des Zeitabstands zu ermitteln. Die Zeitmessung muß beim Digitalverfahren nicht zeitgleich mit dem Erzeugen des Ausgangssignal¬ verlaufs U stattfinden, sondern kann zeitversetzt an¬ hand gespeicherter Werte vorgenommen werden.

Die gemessene Zeit wird mit einem Referenzwert tr ver¬ glichen, der das 0,7-fache des mittleren Zeitabstandes Tm beträgt (Verfahrensschritt 102) . Wenn die gemessene Zeit größer als die Referenzzeit tr ist, so wird im Schritt 104 der Binärwert B = 0 ausgegeben und an¬ schließend zum Verfahrensschritt 94 verzweigt, bei dem eine neue Zeitmessung gestartet wird. Ist die gemessene Zeit kleiner als der Referenzwert tr, so wird im Ver¬ fahrensschritt 106 der Binärwert B = 1 erzeugt und an¬ schließend der nachfolgende Extremwert festgestellt (Verfahrensschritte 90 und 92) . Erst dann wird eine weitere Zeitmessung gestartet.

Bei einem weiteren Auswertungsverfahren wird der zeit¬ liche Verlauf des Ausgangssignals U mit Verlaufsmustern verglichen. Solche Verlaufsmuster sind in der Fig. 9

wiedergegeben. Im Bildteil a) ist links ein Verlaufsmu¬ ster VLi dargestellt, das durch eine Gerade mit kon¬ stanter positiver Steigung innerhalb eines Zeitab¬ schnitts T gebildet wird, der dem bei der Normierung ermittelten Zeitabstand entspricht. Im Bildteil a) ist rechts das Verlaufsmuster VL^ zusammen mit dem Aus¬ gangssignalverlauf U in ein Diagramm eingezeichnet. Die Abweichungen zwischen den Verläufen des Ausgangssignals U und dem Verlaufsmüster VLi sind schraffiert darge¬ stellt. Die Summe der Abweichungen entspricht der schraffierten Fläche W.

Im Bildteil b) ist links als Verlaufsmüster VL2 eine Gerade mit konstanter negativer Steigung dargestellt. Im Diagramm rechts ist die Summe der Abweichungen des Verlaufsmusters VL2 vom Ausgangssignalverlauf U als Fläche W gekennzeichnet. Das Verlaufsmuster VL2 hat die charakteristische Form des Ausgangssignalverlaufs U eines Binärwerts 0, da es mit einem positiven Wert (Maximalwert) beginnt und mit einem negativen Wert (Minimalwert) endet. Entsprechendes gilt für das Ver¬ laufsmuster VLi, jedoch mit umgekehrten Vorzeichen. Die Verlaufsmuster VL ₃ und VL4 in den Bildteilen c) und d) geben die charakteristische Form des Ausgangssi¬ gnalverlaufs U für einen Binärwert 1 wieder, wobei einem Extremwert erster Art ein Extremwert anderer Art und darauf wieder ein Extremwert erster Art folgt. Beim Verlaufsmuster VL ₃ ist der Extremwert erster Art ein Minimalwert, beim Verlaufsmuster VL4 ein Maximalwert. Aus der Fig. 9 ergibt sich, daß die Abweichung W beim Vergleich des Verlaufsmusters VL ₂ mit dem Ausgangssi¬ gnalverlauf U (Bildteil b) in Fig. 9) den kleinsten Wert hat. Demgemäß entspricht der Ausgangssignalverlauf

U innerhalb des betrachteten Zeitabschnitts T dem Bi¬ närwert B = 0.

Als Abweichung W ist in diesem Beispiel die Fläche zwi¬ schen den Kurvenverläufen des Spannungssignals U und den Verlaufsmustern VLi bis VL4 verwendet worden. Diese Fläche W kann durch Aufsummierung oder Integralbildung aller Betragsabweichungen gewonnen wer¬ den. Aus diesen Abweichungen kann ein mittlerer Wert gebildet werden, der ein standardisiertes Maß für die Ähnlichkeit zwischen dem Verlauf des Ausgangssignals U und dem Verlauf der Verlaufsmuster VL^ bis VL4 an¬ gibt. Ensprechend kann auch eine mittlere quadratische Abweichung der Verläufe gebildet werden, bei dem die Abweichungen quadriert, aufsummiert und ein Mittelwert berechnet wird. Mit Hilfe der mittleren quadratischen Abweichung und/oder der mittleren Betragsabweichung können statistische Betrachtungen über die Veränderung der Kurvenform des Ausgangssignals U angestellt werden. Dadurch können kurz- und langzeitige Änderungen des Kurvenverlaufs, die z.B. auf einen systematischen Stör¬ einfluß zurückzuführen sind, erkannt werden.

In Fig. 10 sind drei Diagramme dargestellt, die die beste Übereinstimmung zwischen je einem der vier Ver¬ laufsmuster und verschiedenen Variationen des Ausgangs- signalverlaufs U wiedergeben. Im Bildteil a) ist dies für das Verlaufsmuster VLi für den Binärwert 0 darge¬ stellt. Im Bildteil b) ergibt der Vergleich des Ver¬ laufsmusters VL ₄ mit dem dargestellten Ausgangssi¬ gnalverlauf U die minimale Abweichung W. Dem Ausgangs¬ signalverlauf U wird daher der dem Verlaufsmuster VL ₄ entsprechende Binärwert 1 zugeordnet. Analoges gilt auch für den Vergleich gemäß Bildteil c) , bei dem im

Unterschied zum Bildteil b) der Ausgangssignalverlauf U mit einem negativen Spannungswert beginnt.

In Fig. 11 sind in einem Ablaufschema die zum Erkennen der Information durch Vergleich mit Verlaufsmustern er¬ forderlichen Verfahrensschritte dargestellt. Im Schritt 110 werden zunächst die Daten der Verlaufsmuster in einem Datenfeld bereitgestellt. Anschließend werden im Verfahrensschritt 112 die Daten des Ausgangssignals U eines Zeitabschnitts T in den Mikroprozessor 38 einge¬ lesen. Im Schritt 114 werden diese Daten mit den Daten der Verlaufsmuster VLi verglichen, d.h. es werden die Betragsabweichungen bzw. die quadratischen Abweichun¬ gen Wi mit i= 1, 2, 3, 4 ermittelt. Im nachfolgenden Schritt 116 wird der Minimalwert unter den vier Abwei¬ chungen ^ festgestellt. Das entsprechende Verlaufs¬ muster VLj _^ ^na-, άie größte Ähnlichkeit mit dem tat¬ sächlichen Kurvenverlauf des Ausgangssignals U. In den Verfahrensschritten 118 bis 130 wird sodann der Binär¬ wert ausgegeben, der dem festgestellten Verlaufsmuster VLi ki ^{s VL} 4 zugeordnet ist.

Anschließend wird in einem Verfahrensschritt 132 das festgestellte Verlaufsmuster VLi korrigiert. Hierzu werden die Abweichungen der Daten des Verlaufsmusters VLi ^von ^ ^en tatsächlichen Daten D des Ausgangssignals U ermittelt, und die aktuellen Daten des Verlaufsmu¬ sters VLi ^Uln die Hälfte dieser Abweichungen korri¬ giert. Im weiteren Verlauf der Informationsauswertung wird das so gewonnene korrigierte Verlaufsmüster VLi fortlaufend weiter korrigiert, so daß sich sein Verlauf immer mehr dem tatsächlichen Verlauf des Ausgangssi¬ gnals U annähert. Dadurch werden die Abweichungen Wi von zueinander passenden Verläufen des Ausgangssignals

U und des jeweiligen Verlaufs usters VL minimiert und damit die Sicherheit der Entscheidung für eines der Verlaufsmuster VLi k ^eLm Vergleich erhöht.

Die Auswirkungen dieser Korrektur sind in Fig. 12 dar¬ gestellt. Im linken Bildteil wird das Verlaufsmuster VLi durch eine Gerade mit positiver Steigung gebil¬ det. Durch Korrektur der Gerade um die Hälfte der Ab¬ weichungen des Verlaufsmusters VL vom Ausgangssi¬ gnalverlauf U entsteht ein Verlaufsmüster VLi' (Bild rechts) , das sich dem tatsächlichen Verlauf des Aus¬ gangssignals U besser anschmiegt. Dementsprechend ist die Abweichung W ¹ vom Ausgangsspannungsverlauf U klei¬ ner als die im Bild links.

Bei einer Variante der Auswertung durch Vergleich mit Verlaufsmustern kann die Wahl der Verlaufsmuster abhän¬ gig von dem zuvor festgestellten Ausgangssignalverlauf U erfolgen. Hierbei wird die Erkenntnis genutzt, daß der Signalverlauf aufeinander folgender Verlaufsab¬ schnitte annähernd stetig ist. Praktisch bedeutet dies, daß auf einen Ausgangssignalverlauf U gemäß Bildteil a) in Fig. 10 zwar ein Abschnitt des Spannungssignal- verlaufs U mit einem Binärwert 1 gemäß dem Bildteil b) folgen kann, jedoch nicht ein Signalverlauf U gemäß dem Bildteil c) . Entsprechendes gilt für Signalverläufe U mit Binärwert 0, d.h. auf den Spannungsverlauf gemäß Bildteil a) kann nur ein Spannungsverlauf U mit zu Be¬ ginn positiver Spannung folgen. Demgemäß kann der auf einen bereits ausgewerteten Spannungsverlauf U folgende Vergleich mit einem Verlaufsmüster VLi bis L4 auf diejenigen Muster beschränkt werden, die an den letzten Spannungswert des letzten Zeitabschnitts T angepaßt sind.

Die entsprechenden Verfahrensschritte zum Auswählen der geeigneten Verlaufsmuster sind dem Ablaufschema nach Fig. 13 zu entnehmen. In einem ersten Vergleichsschritt 140 wird abhängig vom beim vorherigen Vergleich n-1 festgestellten Verlaufsmuster VLi verzweigt. Wenn zuvor das Muster VLi oder VL4 als passend festge¬ stellt worden ist, dann werden für den folgenden Ver¬ gleich n im Verfahrensschritt 142 die Verlaufsmuster VL2 und VL4 bereitgestellt. Anderenfalls werden die Verlaufsmuster VLi und VL ₃ für den Vergleich ver¬ wendet (Verfahrensschritt 144) . Durch die Vorauswahl geeigneter Verlaufsmuster VLi wird die Zahl der durchzuführenden Vergleiche reduziert und damit die Informationsauswertung beschleunigt.

In Fig. 14 ist eine weitere Variante der Ermittlung binärer Informationen durch Vergleich mit Verlaufs¬ mustern in einem Ablaufschema dargestellt. Bei dieser Variante werden zum Feststellen der Ähnlichkeit zwi¬ schen dem Istverlauf der Ausgangsspannung U in einem Zeitabschnitt T und den Verlaufsmustern VLi Korrelationskoeffizienten Rxy,i gebildet. Heirzu werden in einem ersten Verfahrensschritt 150 die Daten der Verlaufsmüster VLi in einem Datenfeld bereitgestellt. Im nächsten Verfahrensschritt 152 werden die Daten des Ausgangssignals U eines betrachteten Zeitabscimitts T in den Mikroprozessor 38 eingelesen.

Im darauf folgenden Schritt 154 werden aus den Daten der vier Verlausmuster VLi und den Daten des Ausgangs¬ signals U jeweils ein normierter Korrelationskoeffizienten Rxy,i mit i = 1,2,2,4 nach der Formel

(x _k -x) (yjc-y)

Rxy , i =

(x _k -x) ² (yj -y) ²

gebildet. Darin sind x _k Daten des Verlaufsmusters VLi mit der Laufvariable k, x der Mittelwert über alle Werte x _k , y _k Daten des Ausgangssignals U, y der Mittelwert über alle Werte yj-, k die Laufvariable von 1 bis n, mit n dem größten

Wert der Laufvariable k.

Die so ermittelten Korrelationskoeffizienten Rxy,i haben einen Wertebreich von -1 bis +1. Der Wert +1 kennzeichnet die völlige Übereinstimmung des Ausgangs- spannungsverlaufs mit dem betreffenden Verlaufsmuster VLi. Der Wert -l kennzeichnet die völlige Gegen¬ läufigkeit von Spannungsverlauf U und Verlauf des Verlaufsmusters VLi. In der Praxis wird der berechnete Korrelationskoeffizient Rxy im allgemeinen zwischen diesen Extremwerten liegen. Dasjenige Verlaufsmüster VLi mit einem Korrelationskoeffizienten Rxy, der dem Wert +1 am nächsten kommt, ist unter den betrachteten vier Verlaufsmustern VLI bis VL4 dem Kurvenverlauf der Ausgangsspannung U am ähnlichsten. Der zu diesem Verlaufsmuster VLi gehörende Binärwert B wird uann als gültiger Binärwert B ausgegeben.

Die Bildung des Maximalwerts aus den vier Korrelations¬ koeffizienten Rxy,i erfolgt im Verfahrensschritt 156. In den darauf folgenden Schritten 158 bis 170 v.ird der

zum Verlaufsmuster VLi mit maximalem Koeffizienten Rxy gehörende Binärwert B ausgegeben. Anschließend wird zum Verfahrensschritt 152 verzweigt und die Auswertungs- prozedur auf den nächsten Zeitabschnitt T angewendet. Selbstverständlich können bei der Auswertung durch Korrelationskoeffizientenvergleich auch die in den Fig. 11, 12 und 13 dargestellten und weiter oben beschriebenen Verfahrensschritte der Korrektur der Verlaufsmuster VLi sowie der Auswahl der Verlau smuster VLi angewendet werden.